ジッタ測定方法、ジッタ測定装置及び画像形成装置
【課題】 不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定装置の提供。
【解決手段】 反射ミラー１０を周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面（２３）で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置。光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出する２つの検出器Ａ，Ｂと、１走査の為に反射ミラー１０が始動する都度、検出器Ａ，Ｂの最初の検出信号を抽出する２つの抽出手段１と、２つの抽出手段１が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段２とを備え、その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する構成である。
【解決手段】 反射ミラー１０を周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面（２３）で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置。光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出する２つの検出器Ａ，Ｂと、１走査の為に反射ミラー１０が始動する都度、検出器Ａ，Ｂの最初の検出信号を抽出する２つの抽出手段１と、２つの抽出手段１が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段２とを備え、その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する構成である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナの、走査線毎の所要時間のムラを測定するジッタ測定方法、ジッタ測定装置、及びこのジッタ測定装置の主要部を備えたプリンタ、複写機及び複合機等の画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
レーザスキャナヘッド方式のレーザプリンタでは、レーザ光源からの光をコリメータレンズにて平行光とし、ポリゴンミラーを回転させることで平行レーザ光を感光体上で印刷幅に走査している。このようなレーザプリンタでは、走査光学系を構成する光偏向器の偏向面の製造誤差、及び光偏向器の駆動機構の駆動誤差等により、被走査面を走査する際のジッタである走査時間のムラが発生する。
この走査時間のムラを高精度に測定することにより、その走査ムラの原因探求が容易になり、高精度に光走査が可能なレーザプリンタ、複写機及び複合機等の走査光学系の製作が可能となる。
【０００３】
図１９は、従来のレーザプリンタの走査時間のムラ（ジッタ）を測定する為の構成例を模式的に示す説明図である。光ビームの走査線の両端部付近に、光センサである検出器Ａ，Ｂを設けておき、レーザダイオードＬＤからの光ビームを、等速度的に一方向に回転するポリゴンミラー３６に反射させて走査する。その際の検出器Ａ，Ｂは、例えば、最初のミラー面による走査線では、検出信号ＳＡ１，ＳＢ１をそれぞれ出力し、以下、光ビームを反射するミラー面が替わる都度、走査線が新しくなり、検出信号ＳＡ３，ＳＢ３，ＳＡ５，ＳＢ５‥‥が出力される。
検出信号は、検出器Ａ，Ｂ別に図２０（ａ）（ｂ）のように出力されるので、走査時間は、検出器Ａの検出信号から検出器Ｂの検出信号迄の時間ｔ１，ｔ２，ｔ３であり、これらに基づき、走査時間のムラを求めることが出来る。
【０００４】
近年、光ビームの走査機構として、ポリゴンミラーに代えて、小型に構成されたミラーであるマイクロミラー（微小揺動ミラー素子）を反射ミラーに使用する、ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタの開発が進んでいる。マイクロミラーは、半導体製造プロセス等における技術を応用して、種々の機械要素の小型化を実現するＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）技術により、光を反射する機械要素として、ミラーの小型化を図ったものである。
このマイクロミラーは、静電力にて往復回動され、その回動角によって光の反射経路を変更する為、光ビームの走査機構としては好適であり、マイクロミラーを用いて光ビームの走査を行うシステムの開発が行われている（例えば、特許文献１参照）。
ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタにおいても、ミラーの製造誤差及び駆動機構の駆動誤差により、走査時間のムラ（ジッタ）が発生する。
【０００５】
ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタの走査時間のムラは、例えば、図３に模式的に示すような構成により測定される。光ビームの走査線の両端部付近に、光センサである検出器Ａ，Ｂを設けておき、レーザダイオードＬＤからの光ビームを、周期的に往復回動するマイクロミラー（ガルバノミラー）１０に反射させて走査する。その際の検出器Ａ，Ｂは、例えば、最初の走査線では、検出信号ＳＡ１，ＳＢ１をそれぞれ出力し、光ビームが走査の開始点に復帰する際に、更に検出信号ＳＢ２，ＳＡ２をそれぞれ出力する。以下、走査する都度、検出信号ＳＡ３，ＳＢ３，ＳＡ５，ＳＢ５‥‥が出力されるが、その都度、走査の開始点へ復帰する際に、検出信号ＳＡ４，ＳＢ４‥‥が出力される。
【特許文献１】特開平１１−３０５１５９号公報
【特許文献２】特開平６−２８９３０５号公報
【特許文献３】特開平１０−１４８７７５号公報
【特許文献４】特開２００２−２９６５２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したように、ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタの走査時間のムラを測定する際、検出信号は、検出器Ａ，Ｂ別に、図４（ａ）（ｂ）に示すように出力される。走査時間は、検出器Ａの検出信号ＳＡ１，ＳＡ３，ＳＡ５‥‥から検出器Ｂの検出信号ＳＢ１，ＳＢ３，ＳＢ５‥‥迄の時間であり、これらに基づき、走査時間のムラを求めることが出来る。しかし、走査時間を算出するには、図１７（ａ）（ｂ）に示すように、走査の開始点へ復帰する際の検出信号ＳＡ２，ＳＢ２，ＳＡ４，ＳＢ４‥‥が不要である。これらを除去して、検出器Ａ，Ｂ別の検出信号列を、図１８（ａ）（ｂ）に示すように補正し、走査時間ｔ１，ｔ２，ｔ３を算出可能なように処理しなければならないという問題がある。
【０００７】
また、ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタでは、走査時の感光ドラムへの静電潜像の書込みタイミングを得る為に、上述した同様の理由により、不要な検出信号を除去して、検出器Ａ，Ｂ別の検出信号列を補正しなければならないという問題がある。
本発明は、上述したような事情に鑑みてなされたものであり、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定方法を提供することを目的とする。
【０００８】
また、本発明は、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、不要な検出信号を除去して、走査時の感光ドラムへの静電潜像の書込みタイミングを得ることが出来るガルバノスキャナ方式の画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記２つの検出器の最初の各検出信号を抽出し、抽出した各検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とする。
【００１０】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、抽出した前記２つの検出器の検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とする。
【００１１】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、前記終端部付近の検出器の検出信号により反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、該検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により出力信号が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とし、有効とした一方の検出信号から他方の検出信号迄を、１走査の所要時間として演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とする。
【００１２】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の１端部付近に、該光ビームを受光検出する検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出し、抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算し、演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定することを特徴とする。
【００１３】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とする。
【００１４】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの抽出手段が、１走査の為に反射ミラーが始動する都度、検出器の最初の検出信号を抽出する。演算する手段が、２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算し、その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する。
【００１５】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とする。
【００１６】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。２つの抽出手段が、反転保持手段の出力信号及び検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出し、演算する手段が、２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する。その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する。
【００１７】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段と、該手段が有効とした２つの検出信号間の時間を、１走査の所要時間として演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とする。
【００１８】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。２つの検出器が、光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。抽出する手段が、終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及びその検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出し、抽出する手段が検出信号を抽出した後、有効とする手段が、始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、２つの検出器が出力した検出信号を有効とする。演算する手段が、その有効とした２つの検出信号間の時間を、１走査の所要時間として演算し、その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する。
【００１９】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査線の１端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから、前記検出器の最初の検出信号を抽出する手段と、該手段が抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定するように構成してあることを特徴とする。
【００２０】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。検出器が、光ビームの走査線の１端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、抽出する手段が、１走査の為に反射ミラーが始動してから、検出器の最初の検出信号を抽出する。演算する手段は、その抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算し、演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定する。
【００２１】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の各検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２２】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの抽出手段が、１走査の為に反射ミラーが始動する都度、検出器の最初の各検出信号を抽出する。２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【００２３】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２４】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。２つの抽出手段が、反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出し、２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【００２５】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段とを備え、該手段が有効とした２つの検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２６】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。２つの検出器が、光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。抽出する手段が、終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及びその検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する。抽出する手段が検出信号を抽出した後、始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、有効とする手段が、２つの検出器が出力した検出信号を有効とし、有効とする手段が有効とした２つの検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【００２７】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査線の始端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する手段とを備え、該手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２８】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。検出器が、光ビームの走査線の始端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、抽出する手段が、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する。抽出する手段が、抽出した検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【発明の効果】
【００２９】
本発明に係るジッタ測定方法によれば、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定方法を実現することが出来る。
【００３０】
また、本発明に係るジッタ測定装置によれば、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定装置を実現することが出来る。
【００３１】
また、本発明に係る画像形成装置によれば、不要な検出信号を除去して、走査時の感光ドラムへの静電潜像の書込みタイミングを得ることが出来るガルバノスキャナ方式の画像形成装置を実現することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下に、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。
（実施の形態１）
図１は、本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態１の構成を示すブロック図である。このジッタ測定装置は、検出器Ａ，Ｂの各検出信号が検出器Ａ，Ｂ別に波形処理回路１に与えられる。波形処理回路１は、検出器Ａ，Ｂの各検出信号列から不要な検出信号を除去し、除去した後の各検出信号列を、検出器Ａ，Ｂ別にジッタ測定器２に与える。ジッタ測定器２は、与えられた検出器Ａ，Ｂの検出信号列から、各走査毎の走査時間を算出し、これらに基づき、走査時間のムラを測定（算出）する。
【００３３】
図２は、本発明に係るジッタ測定装置の走査光学系の構成例を模式的に示す説明図である。この走査光学系は、マイクロミラー１０の光入射側には、レーザ光を出射するレーザダイオードＬＤ、及びレーザダイオードＬＤからのレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズ２２が配設されている。マイクロミラー１０の光反射側には、感光体２３に結像する為のｆ−θレンズ２４及びシリンドリカルミラー２５が配設されている。
コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、マイクロミラー１０に照射され、マイクロミラー１０が周期的に往復回動することにより、平行レーザ光がプリント幅に走査される。
【００３４】
ミラー駆動部３０は、マイクロミラー１０の固有周波数の交流電圧をマイクロミラー１０に与えて共振状態で往復回動させる。
パーソナルコンピュータ等の外部機器からの画像データ、又は読み取った画像データは、一旦、メモリ３１に記憶された後、平行レーザ光の走査タイミングに合わせて、変調部３２に与えられ、変調部３２は、与えられた画像データにより、レーザダイオードＬＤが出射するレーザ光を変調する。但し、ジッタ測定の際には、メモリ３１及び変調部３２は接続されていなくても良い。
シリンドリカルミラー２５の受光面上の、走査線の両端部付近に当たる位置には、図１に示す検出器Ａ，Ｂが設けられており、図１に示す構成で、波形処理回路１及びジッタ測定器２が接続されている。
【００３５】
図３は、本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。このジッタ測定方法では、図２に示したように、光ビームの走査線の両端部付近に、光センサである検出器Ａ，Ｂを設けておき、レーザダイオードＬＤからの光ビームを、周期的に往復回動するマイクロミラー（ガルバノミラー）１０に反射させて走査する。
【００３６】
その際、検出器Ａ，Ｂは、例えば、最初の走査線では、検出信号ＳＡ１，ＳＢ１をそれぞれ出力し、光ビームが走査の開始点に復帰する際に、更に検出信号ＳＢ２，ＳＡ２をそれぞれ出力する。以下、走査する都度、検出信号ＳＡ３，ＳＢ３，ＳＡ５，ＳＢ５‥‥が出力されるが、その都度、走査の開始点へ復帰する際に、検出信号ＳＡ４，ＳＢ４‥‥が出力される。
検出器Ａ，Ｂの各検出信号ＳＡ，ＳＢは、上述したように、それぞれ図４（ａ）（ｂ）に示すように出力される。
【００３７】
図５は、波形処理回路１（図１，２）の構成例を示すブロック図である。この波形処理回路１は、検出器Ａの検出信号ＳＡが、Ｄ（delay）型フリップフロップＤＦＦ２のセット端子ＳＥＴ、及びＤ型フリップフロップＤＦＦ１のクロック端子ＣＫに与えられ、また、ＯＲゲート５の一方の入力端子に与えられる。ＯＲゲート５の他方の入力端子には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ１Ｑが与えられ、ＯＲゲート５の出力信号ＯＡは、ジッタ測定器２（図１，２）に与えられる。
【００３８】
検出器Ｂの検出信号ＳＢが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のクロック端子ＣＫ、及びＤ型フリップフロップＤＦＦ１のセット端子ＳＥＴに与えられ、また、インバータ３を通じてＮＡＮＤゲート４の一方の入力端子に与えられる。ＮＡＮＤゲート４の他方の入力端子には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２Ｑが与えられ、ＮＡＮＤゲート４の出力信号ＯＢは、ジッタ測定器２（図１，２）に与えられる。
【００３９】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２は、入力信号のＬレベルからＨレベルへの立上りにより作動する。また、反転出力端子バーＱ及びデータ端子Ｄが接続されており、クロック端子ＣＫへの入力信号が立上る都度、出力端子Ｑからの出力信号が反転するＴ（toggling）型フリップフロップとして作動する。
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各リセット端子ＲＥＳには、測定の開始時に、ＬレベルからＨレベルへ立上るクリア信号ＣＬＲが与えられる。
【００４０】
以下に、このような構成の波形処理回路１の動作を、それを示す図６のタイミングチャートを参照しながら説明する。尚、ここでは、回路の都合上、検出信号ＳＡ，ＳＢを反転させている。
測定開始時には、クリア信号ＣＬＲが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各リセット端子ＲＥＳに与えられ（ｃ）、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ１Ｑ，ＦＦ２Ｑは、Ｌレベルにリセットされる（ｄ）（ｅ）。
【００４１】
最初の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ１が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルであるので（ｄ）、検出信号ＳＡ１がＯＲゲート５から信号ＯＡとして出力され（ｆ）、検出信号ＳＡ１の立上りにより、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ１Ｑ，ＦＦ２ＱがＨレベルになる（ｄ）（ｅ）。
最初の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ１が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので（ｅ）、検出信号ＳＢ１がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｇ）。また、検出信号ＳＢ１の立上りにより、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００４２】
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ２が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので（ｅ）、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｇ）。また、検出信号ＳＢ２の立上りにより（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる（ｅ）。
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ２が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルであるので（ｄ）、ＯＲゲート５から出力信号ＯＡとしては出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ２の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルになる（ｄ）。
【００４３】
２回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ３が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルであるので（ｄ）、検出信号ＳＡ３がＯＲゲート５から出力信号ＯＡとして出力され（ｆ）、検出信号ＳＡ３の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルになる（ｄ）。
２回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ３が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので（ｅ）、検出信号ＳＢ３がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｇ）。また、検出信号ＳＢ３の立上りにより、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００４４】
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ４が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので（ｅ）、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｇ）。また、検出信号ＳＢ２の立上りにより（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる（ｅ）。
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ４が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルであるので（ｄ）、ＯＲゲート５から出力信号ＯＡとしては出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ４の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルになる（ｄ）。
【００４５】
３回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ５が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルであるので（ｄ）、検出信号ＳＡ５がＯＲゲート５から出力信号ＯＡとして出力され（ｆ）、検出信号ＳＡ５の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルになる（ｄ）。
３回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ５が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので（ｅ）、検出信号ＳＢ５がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｇ）。また、検出信号ＳＢ３の立上りにより、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる（ｅ）。以下、同様に、１走査毎に検出器Ａ，Ｂからの最初の各検出信号が抽出され、出力信号ＯＡ，ＯＢ（ｆ）（ｇ）として、ジッタ測定器２（図１，２）に与えられて行く。
【００４６】
ジッタ測定器２は、与えられた出力信号ＯＡ，ＯＢ（ｆ）（ｇ）の立下りエッジ間の時間を、走査時間ｔ１，ｔ２，ｔ３‥‥として算出して行き、算出した走査時間のムラ（ジッタ）を算出して行き記録する。走査時間のムラが所定値を超えた場合は、図示しない表示装置に、走査時間のムラが大きいことを表示する為の信号を出力する。
尚、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２には、動作に伴う内部ジッタが発生するが、上述したように、出力信号ＯＡ，ＯＢの立下りエッジ（ｆ）（ｇ）には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の内部ジッタは含まれないので、この波形処理回路１を通しても、ジッタの劣化は生じない。
【００４７】
また、ガルバノミラー本来の往復回動での、走査光（平行レーザ光）の走査光学系の往復のジッタ測定も必要であるが、従来のジッタ測定装置では、図７に示すような検出信号からは、直接測定することは出来ない。
往復のジッタを測定するには、図８に示すように、「検出信号ＳＢ２と検出信号ＳＡ２」、「検出信号ＳＢ４と検出信号ＳＡ４」のように入れ替えることにより、従来のポリゴンミラーのジッタ測定装置で、往復のジッタ測定が可能になる。図１のように、検出器Ａ，Ｂと従来のポリゴンミラーのジッタ測定器との間に、波形処理回路を介在させることにより、既存測定器を利用して、ガルバノスキャナのジッタ測定装置を構成することが可能となる。
【００４８】
（実施の形態２）
図９は、本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態２の波形処理回路の構成例を示すブロック図である。この波形処理回路１ａは、検出器Ａの検出信号ＳＡが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のセット端子ＳＥＴ、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３のクロック端子ＣＫ、及びアナログスイッチ７の端子Ｘ２、Ｙ１に与えられる。
【００４９】
検出器Ｂの検出信号ＳＢが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のクロック端子ＣＫ、及びアナログスイッチ７の端子Ｘ１、Ｙ２に与えられ、また、インバータ３を通じてＮＡＮＤゲート４の一方の入力端子に与えられる。ＮＡＮＤゲート４の他方の入力端子には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２Ｑが与えられ、ＮＡＮＤゲート４の出力信号ＯＢは、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４のクロック端子ＣＫに与えられる。
【００５０】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２，ＤＦＦ３，ＤＦＦ４は、入力信号のＬレベルからＨレベルへの立上りにより作動する。また、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２は、反転出力端子バーＱ及びデータ端子Ｄが接続されており、クロック端子ＣＫへの入力信号が立上る都度、出力端子Ｑからの出力信号が反転するＴ型フリップフロップとして作動する。
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のリセット端子ＲＥＳには、測定の開始時に、ＬレベルからＨレベルへ立上るクリア信号ＣＬＲが与えられる。
【００５１】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４のセット端子ＳＥＴ、データ端子Ｄ、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３のセット端子ＳＥＴ、リセット端子ＲＥＳには、電源電圧ＶＣＣ（Ｈレベル）が与えられている。Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４の反転出力端子バーＱ及びＤ型フリップフロップＤＦＦ３のデータ端子Ｄが接続され、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３の反転出力端子バーＱの出力信号ＦＦ３Ｑは、微分器６に与えられている。微分器６の出力は、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４のリセット端子ＲＥＳに与えられている。
【００５２】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４の出力端子Ｑの出力信号ＦＦ４Ｑは、アナログスイッチ７の制御端子ＳＥＬに与えられる。アナログスイッチ７は、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのとき、端子Ｘ１を、出力信号ＺＢを出力する端子Ｚ１に接続し、Ｈレベルのとき、端子Ｙ１を端子Ｚ１に接続する。また、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのとき、端子Ｘ２を、出力信号ＺＡを出力する端子Ｚ２に接続し、Ｈレベルのとき、端子Ｙ２を端子Ｚ２に接続するが、ここでは、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのときの接続のみが有効となるように設定しておく。
本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態２のその他の構成は、上述した実施の形態１の構成（図１，２，３）と同様であるので、図１，２において、ジッタ測定器２ａ及び波形処理回路１ａを図示して、説明を省略する。
【００５３】
以下に、このような構成の波形処理回路１ａの動作を、それを示す図１０のタイミングチャートを参照しながら説明する。尚、ここでは、回路の都合上、検出信号ＳＡ，ＳＢを反転させている。
測定開始時には、クリア信号ＣＬＲが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のリセット端子ＲＥＳに与えられ、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２Ｑは、Ｌレベルにリセットされる。Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３，ＤＦＦ４の各出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ３Ｑ，ＦＦ４Ｑは、各入力端子ＳＥＴ，Ｄ，ＣＫ，ＲＥＳの各入力レベルにより、Ｌレベルである。
【００５４】
最初の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ１が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ２を端子Ｚ２に接続しており、検出信号ＳＡ１が信号ＺＡとして出力される（ｆ）。また、検出信号ＳＡ１の立上りにより、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ３ＱがＨレベルになり（ｃ）、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる。
【００５５】
最初の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ１が与えられると（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので、検出信号ＳＢ１がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ１を端子Ｚ１に接続しており、検出信号ＳＢ１が信号ＺＢとして出力され（ｇ）、出力信号ＯＢの立上りにより、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルになる（ｅ）。
【００５６】
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ２が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＢ２は信号ＺＢとして出力されない（ｇ）。
尚、図１０のタイミングチャート（ｆ）（ｇ）において、矢印が付加された信号ＳＢ２，ＳＡ２，ＳＢ４，ＳＡ４は、仮想信号であり後述する。
【００５７】
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ２が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＡ２は信号ＺＡとして出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ２の立上りにより、反転出力信号ＦＦ３ＱがＬレベルになり（ｃ）、微分器６の微分信号により、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００５８】
２回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ３が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ２を端子Ｚ２に接続しており、検出信号ＳＡ３が信号ＺＡとして出力される（ｆ）。また、検出信号ＳＡ３の立上りにより、出力信号ＦＦ３ＱがＨレベルになり（ｃ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる。
【００５９】
２回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ３が与えられると（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので、検出信号ＳＢ３がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ１を端子Ｚ１に接続しており、検出信号ＳＢ３が信号ＺＢとして出力され（ｇ），出力信号ＯＢの立上りにより、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルになり（ｅ）、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる。
【００６０】
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ４が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＢ４は信号ＺＢとして出力されない（ｇ）。
【００６１】
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ４が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＡ４は信号ＺＡとして出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ４の立上りにより、反転出力信号ＦＦ３ＱがＬレベルになり（ｃ）、微分器６の微分信号により、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００６２】
３回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ５が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ２を端子Ｚ２に接続しており、検出信号ＳＡ５が信号ＺＡとして出力される（ｆ）。また、検出信号ＳＡ５の立上りにより、出力信号ＦＦ３ＱがＨレベルになり（ｃ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる。
【００６３】
３回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ５が与えられると（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので、検出信号ＳＢ５がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ１を端子Ｚ１に接続しており、検出信号ＳＢ５が信号ＺＢとして出力され（ｇ），出力信号ＯＢの立上りにより、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルになり（ｅ）、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる。以下、同様に、検出器Ａ，Ｂからの各検出信号が、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルのときに、信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）として抽出され、１走査毎に検出器Ａ，Ｂからの最初の各検出信号が、信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）として、ジッタ測定器２ａ（図１，２）に与えられて行く。
【００６４】
ジッタ測定器２ａは、与えられた出力信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）の立下りエッジ間の時間を、走査時間ｔ１，ｔ２，ｔ３‥‥として算出して行き、算出した走査時間のムラ（ジッタ）を算出して行き記録する。走査時間のムラが所定値を超えた場合は、図示しない表示装置に、走査時間のムラが大きいことを表示する為の信号を出力する。
【００６５】
尚、本実施の形態２では、アナログスイッチ７は、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのときの接続のみが有効となるように設定してあるが、逆に、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｈレベルのときの接続のみが有効となるように設定しておくことも出来る。この場合、図１０のタイミングチャート（ｆ）（ｇ）において、矢印が付加された信号ＳＢ２，ＳＡ２，ＳＢ４，ＳＡ４のみが、信号ＺＡ，ＺＢとして、ジッタ測定器２ａ（図１，２）に与えられて行く。
【００６６】
ジッタ測定器２ａは、与えられた出力信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）の立下りエッジ間の時間を、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する時間ｔ１″，ｔ２″‥‥として算出して行き、算出した時間のムラ（ジッタ）を算出することが出来る。
尚、アナログスイッチ７は、入力信号をそのまま切り替えることが出来、アナログスイッチ７内でジッタ量の劣化は発生しない。
【００６７】
（実施の形態３）
図１１は、本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態３の構成を示すブロック図である。このジッタ測定装置は、検出器Ｃの検出信号が波形処理回路１ｂに与えられる。波形処理回路１ｂは、検出器Ｃの検出信号列から不要な検出信号を除去し、除去した後の検出信号列をジッタ測定器２ｂに与える。ジッタ測定器２ｂは、与えられた検出信号列から、各走査毎の経過時間を算出し、これらに基づき、走査時間のムラを測定（算出）する。
このジッタ測定装置の走査光学系の構成例は、図２に示す走査光学系において、検出器Ｂを除去し、検出器Ａを検出器Ｃに、波形処理回路１を波形処理回路１ｂに、ジッタ測定器２をジッタ測定器２ｂにそれぞれ置き換えたものである。
【００６８】
図１２は、本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。このジッタ測定方法では、平行レーザ光の走査線の１端部付近に、光センサである検出器Ｃを設けておき、レーザダイオードＬＤからの平行レーザ光を、周期的に往復回動するマイクロミラー（ガルバノミラー）１０に反射させて走査する。
【００６９】
その際、検出器Ｃは、例えば、平行レーザ光が走査の開始点に向かう際に、検出信号ＳＣ１を出力する。次に、最初の走査の際に、検出信号ＳＣ２を出力し、平行レーザ光が走査の開始点に復帰する際に、更に、検出信号ＳＣ３を出力する。以下、走査する都度、検出信号ＳＣ４，ＳＣ６‥‥が出力されるが、その都度、走査の開始点へ復帰する際に、検出信号ＳＣ５，ＳＣ７‥‥が出力される。
検出器Ｃの検出信号ＳＣは、上述したように、図１４（ａ）に示すように出力される。
【００７０】
図１３は、波形処理回路１ｂ（図１１）の構成例を示すブロック図である。この波形処理回路１ｂは、検出器Ｃの検出信号ＳＣが、ＡＮＤゲート８の一方の入力端子、及びＡＮＤゲート１１の一方の入力端子に与えられる。ＡＮＤゲート８の出力端子は、タイマ９の制御端子に与えられ、タイマ９の出力端子Ｑは、ＡＮＤゲート１１の他方の入力端子に接続され、タイマ９の反転出力端子バーＱは、ＡＮＤゲート８の他方の入力端子に接続されている。ＡＮＤゲート１１の出力端子は、波形処理回路１ｂの出力信号ＯＣを出力する。
タイマ９は、制御信号の立下りで計時を開始し、所定時間を計時している期間は、出力端子ＱからＨレベル信号を出力する。タイマ９が計時する所定時間は、平行レーザ光が、走査区間を外れてから、折り返して再度、走査区間に入る迄の所要時間より長く、また、平行レーザ光の走査周期の１／２より短く設定する。
【００７１】
以下に、このような構成の波形処理回路１ｂの動作を、それを示す図１４のタイミングチャートを参照しながら説明する。
平行レーザ光が走査を開始する際に、走査の開始点に向かい、検出器Ｃから検出信号ＳＣ１が与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート８がＨレベル信号を出力し、その立下り（検出信号ＳＣ１の立下り）で、タイマ９が、所定時間の計時を開始すると共に、出力端子ＱからＨレベルの信号を出力し（ｂ）、反転出力端子バーＱからＬレベルの信号を出力する（ｃ）。
【００７２】
次いで、最初の走査の際に、検出器Ｃから検出信号ＳＣ２を与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート１１から、検出信号ＳＣ２が信号ＯＣとして出力される。
タイマ９は、所定時間の計時が終了すると、出力端子Ｑからの信号をＬレベルにし（ｂ）、反転出力端子バーＱからの信号をＨレベルにする（ｃ）。
【００７３】
平行レーザ光が、最初の走査を終了して、走査の開始点に復帰し、検出器Ｃから検出信号ＳＣ３が与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート８がＨレベル信号を出力し、その立下り（検出信号ＳＣ３の立下り）で、タイマ９が、所定時間の計時を開始すると共に、出力端子ＱからＨレベルの信号を出力し（ｂ）、反転出力端子バーＱからＬレベルの信号を出力する（ｃ）。
次いで、２回目の走査の際に、検出器Ｃから検出信号ＳＣ４を与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート１１から、検出信号ＳＣ４が信号ＯＣとして出力される。
タイマ９は、所定時間の計時が終了すると、出力端子Ｑからの信号をＬレベルにし（ｂ）、反転出力端子バーＱからの信号をＨレベルにする（ｃ）。
【００７４】
平行レーザ光が、２回目の走査を終了して、走査の開始点に復帰し、検出器Ｃから検出信号ＳＣ５が与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート８がＨレベル信号を出力し、その立下り（検出信号ＳＣ５の立下り）で、タイマ９が、所定時間の計時を開始すると共に、出力端子ＱからＨレベルの信号を出力し（ｂ）、反転出力端子バーＱからＬレベルの信号を出力する（ｃ）。
【００７５】
次いで、３回目の走査の際に、検出器Ｃから検出信号ＳＣ６を与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート１１から、検出信号ＳＣ６が信号ＯＣとして出力される。
タイマ９は、所定時間の計時が終了すると、出力端子Ｑからの信号をＬレベルにし（ｂ）、反転出力端子バーＱからの信号をＨレベルにする（ｃ）。以下、同様に、１走査毎に検出器Ｃからの最初の検出信号が抽出され、出力信号ＯＣ（ｄ）として、ジッタ測定器２ｂ（図１１）に与えられて行く。
【００７６】
ジッタ測定器２ｂは、与えられた出力信号ＯＣ間の時間を算出して行き、算出した時間のムラを、走査時間のムラ（ジッタ）として算出して行き記録する。走査時間のムラが所定値を超えた場合は、図示しない表示装置に、走査時間のムラが大きいことを表示する為の信号を出力する。
尚、上述した実施の形態１〜３では、画像形成装置に備えられたジッタ測定装置として記述してあるが、独立したジッタ測定装置である場合も、同様の構成及び動作である。
【００７７】
（実施の形態４）
図１５は、本発明に係る画像形成装置の実施の形態４であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。このレーザプリンタは、マイクロミラー１０の光入射側には、レーザ光を出射するレーザダイオードＬＤ、及びレーザダイオードＬＤからのレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズ２２が配設されている。マイクロミラー１０の光反射側には、感光体２３に結像する為のｆ−θレンズ２４及びシリンドリカルミラー２５が配設されている。
コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、マイクロミラー１０に照射され、マイクロミラー１０が周期的に往復回動することにより、平行レーザ光がプリント幅に走査される。
【００７８】
ミラー駆動部３０は、マイクロミラー１０の固有周波数の交流電圧をマイクロミラー１０に与えて共振状態で往復回動させる。
パーソナルコンピュータ等の外部機器からの画像データは、一旦、メモリ３１に記憶された後、平行レーザ光の走査タイミングに合わせて、変調部３２に与えられ、変調部３２は、与えられた画像データにより、レーザダイオードＬＤが出射するレーザ光を変調する。
シリンドリカルミラー２５の受光面上の、走査線の両端部付近に当たる位置には、検出器Ａ，Ｂが設けられており、それぞれ波形処理回路１に接続されている。波形処理回路１の出力信号は変調部３２に与えられる。波形処理回路１の構成例は、実施の形態１で説明した波形処理回路１の構成（図５）と同様であるので、説明を省略する。
【００７９】
このような構成のレーザプリンタでは、ミラー駆動部３０が、マイクロミラー１０を共振状態で往復回動させる。レーザダイオードＬＤが出射し、コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、往復回動するマイクロミラー１０により反射され、ｆ−θレンズ２４を透過し、シリンドリカルミラー２５により方向変換されて、感光体２３の表面を走査する。
【００８０】
この際、検出器Ａ，Ｂは、平行レーザ光を検出し、その検出信号ＳＡ，ＳＢを波形処理回路１に与える。波形処理回路１は、与えられた検出信号ＳＡ，ＳＢに基づき、走査の開始及び終了を示す出力信号ＯＡ及びＯＢを変調部３２に与える。尚、波形処理回路１の詳細な動作は、実施の形態１で説明した波形処理回路１の動作（図６）と同様であるので、説明を省略する。
【００８１】
変調部３２は、与えられた出力信号ＯＡ及びＯＢに基づき、１走査毎に、感光体２３の表面に静電潜像を書込むタイミングを求め、求めたタイミング（開始及び終了）により、レーザ光をメモリ３１からの画像データに応じて変調する。
感光体２３の表面に形成された静電潜像は、図示しない現像部、転写部及び定着部等で、トナーにより現像され、現像された画像は用紙に転写された後、定着（加熱）処理されて、印刷が終了する。
【００８２】
（実施の形態５）
本発明に係る画像形成装置の実施の形態５であるレーザプリンタの走査光学系の構成は、上述した実施の形態４であるレーザプリンタの走査光学系の構成と略同様である。但し、波形処理回路１が波形処理回路１ａに置き換えられた構成であり、波形処理回路１ａの構成例は、実施の形態２で説明した波形処理回路１ａの構成（図９）と同様であるので、説明を省略する。
【００８３】
このような構成のレーザプリンタでは、波形処理回路１ａが、与えられた検出信号ＳＡ，ＳＢに基づき、走査の開始及び終了を示す出力信号ＯＡ及びＯＢを変調部３２に与える動作の他は、上述した実施の形態４のレーザプリンタの動作と同様であるので、説明を省略する。また、波形処理回路１ａの詳細な動作は、実施の形態２で説明した波形処理回路１ａの動作（図１０）と同様であるので、説明を省略する。
【００８４】
（実施の形態６）
図１６は、本発明に係る画像形成装置の実施の形態６であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。このレーザプリンタは、シリンドリカルミラー２５の受光面上の、走査線の始端部付近に当たる位置に、検出器Ｃが設けられており、波形処理回路１ｂに接続されている。尚、走査線の終端部付近に当たる位置には、検出器は設けられていない。
波形処理回路１ｂの出力信号は変調部３２に与えられる。その他の構成は、上述した実施の形態４であるレーザプリンタの走査光学系の構成と同様であるので、説明を省略する。また、波形処理回路１ｂの構成例は、実施の形態３で説明した波形処理回路１ｂの構成（図１３）と同様であるので、説明を省略する。
【００８５】
このような構成のレーザプリンタでは、ミラー駆動部３０が、マイクロミラー１０を共振状態で往復回動させる。レーザダイオードＬＤが出射し、コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、往復回動するマイクロミラー１０により反射され、ｆ−θレンズ２４を透過し、シリンドリカルミラー２５により方向変換されて、感光体２３の表面を走査する。
【００８６】
この際、検出器Ｃは、平行レーザ光を検出し、その検出信号ＳＣを波形処理回路１ｂに与える。波形処理回路１ｂは、与えられた検出信号ＳＣに基づき、走査の開始を示す出力信号ＯＣを変調部３２に与える。尚、波形処理回路１ｂの詳細な動作は、実施の形態３で説明した波形処理回路１ｂの動作（図１４）と同様であるので、説明を省略する。
【００８７】
変調部３２は、与えられた出力信号ＯＣに基づき、１走査毎に、感光体２３の表面に静電潜像を書込む開始タイミングを求め、求めた開始タイミングにより、レーザ光をメモリ３１からの画像データに応じて変調する。
感光体２３の表面に形成された静電潜像は、図示しない現像部、転写部及び定着部等で、トナーにより現像され、現像された画像は用紙に転写された後、定着（加熱）処理されて、印刷が終了する。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るジッタ測定装置の走査光学系の構成例を模式的に示す説明図である。
【図３】本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。
【図４】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【図５】波形処理回路の構成例を示すブロック図である。
【図６】波形処理回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図７】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【図８】波形処理回路の動作を説明する為の説明図である。
【図９】波形処理回路の構成例を示すブロック図である。
【図１０】波形処理回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図１１】本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。
【図１３】波形処理回路の構成例を示すブロック図である。
【図１４】波形処理回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図１５】本発明に係る画像形成装置の実施の形態であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。
【図１６】本発明に係る画像形成装置の実施の形態であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。
【図１７】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【図１８】波形処理回路の動作を説明する為の説明図である。
【図１９】従来のジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。
【図２０】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【符号の説明】
【００８９】
１，１ａ，１ｂ 波形処理回路
２，２ａ，２ｂ ジッタ測定器
３ インバータ
４ ＮＡＮＤゲート
５ ＯＲゲート
６ 微分器
７ アナログスイッチ
８，１１ ＡＮＤゲート
９ タイマ
１０ マイクロミラー（ガルバノミラー）
２２ コリメータレンズ
２３ 感光体
２４ ｆ−θレンズ
２５ シリンドリカルミラー
３０ ミラー駆動部
Ａ，Ｂ，Ｃ 検出器
ＤＦＦ１〜ＤＦＦ４ Ｄ型フリップフロップ
ＬＤ レーザダイオード
、
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナの、走査線毎の所要時間のムラを測定するジッタ測定方法、ジッタ測定装置、及びこのジッタ測定装置の主要部を備えたプリンタ、複写機及び複合機等の画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
レーザスキャナヘッド方式のレーザプリンタでは、レーザ光源からの光をコリメータレンズにて平行光とし、ポリゴンミラーを回転させることで平行レーザ光を感光体上で印刷幅に走査している。このようなレーザプリンタでは、走査光学系を構成する光偏向器の偏向面の製造誤差、及び光偏向器の駆動機構の駆動誤差等により、被走査面を走査する際のジッタである走査時間のムラが発生する。
この走査時間のムラを高精度に測定することにより、その走査ムラの原因探求が容易になり、高精度に光走査が可能なレーザプリンタ、複写機及び複合機等の走査光学系の製作が可能となる。
【０００３】
図１９は、従来のレーザプリンタの走査時間のムラ（ジッタ）を測定する為の構成例を模式的に示す説明図である。光ビームの走査線の両端部付近に、光センサである検出器Ａ，Ｂを設けておき、レーザダイオードＬＤからの光ビームを、等速度的に一方向に回転するポリゴンミラー３６に反射させて走査する。その際の検出器Ａ，Ｂは、例えば、最初のミラー面による走査線では、検出信号ＳＡ１，ＳＢ１をそれぞれ出力し、以下、光ビームを反射するミラー面が替わる都度、走査線が新しくなり、検出信号ＳＡ３，ＳＢ３，ＳＡ５，ＳＢ５‥‥が出力される。
検出信号は、検出器Ａ，Ｂ別に図２０（ａ）（ｂ）のように出力されるので、走査時間は、検出器Ａの検出信号から検出器Ｂの検出信号迄の時間ｔ１，ｔ２，ｔ３であり、これらに基づき、走査時間のムラを求めることが出来る。
【０００４】
近年、光ビームの走査機構として、ポリゴンミラーに代えて、小型に構成されたミラーであるマイクロミラー（微小揺動ミラー素子）を反射ミラーに使用する、ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタの開発が進んでいる。マイクロミラーは、半導体製造プロセス等における技術を応用して、種々の機械要素の小型化を実現するＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）技術により、光を反射する機械要素として、ミラーの小型化を図ったものである。
このマイクロミラーは、静電力にて往復回動され、その回動角によって光の反射経路を変更する為、光ビームの走査機構としては好適であり、マイクロミラーを用いて光ビームの走査を行うシステムの開発が行われている（例えば、特許文献１参照）。
ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタにおいても、ミラーの製造誤差及び駆動機構の駆動誤差により、走査時間のムラ（ジッタ）が発生する。
【０００５】
ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタの走査時間のムラは、例えば、図３に模式的に示すような構成により測定される。光ビームの走査線の両端部付近に、光センサである検出器Ａ，Ｂを設けておき、レーザダイオードＬＤからの光ビームを、周期的に往復回動するマイクロミラー（ガルバノミラー）１０に反射させて走査する。その際の検出器Ａ，Ｂは、例えば、最初の走査線では、検出信号ＳＡ１，ＳＢ１をそれぞれ出力し、光ビームが走査の開始点に復帰する際に、更に検出信号ＳＢ２，ＳＡ２をそれぞれ出力する。以下、走査する都度、検出信号ＳＡ３，ＳＢ３，ＳＡ５，ＳＢ５‥‥が出力されるが、その都度、走査の開始点へ復帰する際に、検出信号ＳＡ４，ＳＢ４‥‥が出力される。
【特許文献１】特開平１１−３０５１５９号公報
【特許文献２】特開平６−２８９３０５号公報
【特許文献３】特開平１０−１４８７７５号公報
【特許文献４】特開２００２−２９６５２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したように、ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタの走査時間のムラを測定する際、検出信号は、検出器Ａ，Ｂ別に、図４（ａ）（ｂ）に示すように出力される。走査時間は、検出器Ａの検出信号ＳＡ１，ＳＡ３，ＳＡ５‥‥から検出器Ｂの検出信号ＳＢ１，ＳＢ３，ＳＢ５‥‥迄の時間であり、これらに基づき、走査時間のムラを求めることが出来る。しかし、走査時間を算出するには、図１７（ａ）（ｂ）に示すように、走査の開始点へ復帰する際の検出信号ＳＡ２，ＳＢ２，ＳＡ４，ＳＢ４‥‥が不要である。これらを除去して、検出器Ａ，Ｂ別の検出信号列を、図１８（ａ）（ｂ）に示すように補正し、走査時間ｔ１，ｔ２，ｔ３を算出可能なように処理しなければならないという問題がある。
【０００７】
また、ガルバノスキャナ方式のレーザプリンタでは、走査時の感光ドラムへの静電潜像の書込みタイミングを得る為に、上述した同様の理由により、不要な検出信号を除去して、検出器Ａ，Ｂ別の検出信号列を補正しなければならないという問題がある。
本発明は、上述したような事情に鑑みてなされたものであり、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定方法を提供することを目的とする。
【０００８】
また、本発明は、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、不要な検出信号を除去して、走査時の感光ドラムへの静電潜像の書込みタイミングを得ることが出来るガルバノスキャナ方式の画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記２つの検出器の最初の各検出信号を抽出し、抽出した各検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とする。
【００１０】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、抽出した前記２つの検出器の検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とする。
【００１１】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、前記終端部付近の検出器の検出信号により反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、該検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により出力信号が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とし、有効とした一方の検出信号から他方の検出信号迄を、１走査の所要時間として演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とする。
【００１２】
本発明に係るジッタ測定方法は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、前記光ビームの走査域の１端部付近に、該光ビームを受光検出する検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出し、抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算し、演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定することを特徴とする。
【００１３】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とする。
【００１４】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの抽出手段が、１走査の為に反射ミラーが始動する都度、検出器の最初の検出信号を抽出する。演算する手段が、２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算し、その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する。
【００１５】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とする。
【００１６】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。２つの抽出手段が、反転保持手段の出力信号及び検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出し、演算する手段が、２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する。その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する。
【００１７】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段と、該手段が有効とした２つの検出信号間の時間を、１走査の所要時間として演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とする。
【００１８】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。２つの検出器が、光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。抽出する手段が、終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及びその検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出し、抽出する手段が検出信号を抽出した後、有効とする手段が、始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、２つの検出器が出力した検出信号を有効とする。演算する手段が、その有効とした２つの検出信号間の時間を、１走査の所要時間として演算し、その演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定する。
【００１９】
本発明に係るジッタ測定装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、前記光ビームの走査線の１端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから、前記検出器の最初の検出信号を抽出する手段と、該手段が抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定するように構成してあることを特徴とする。
【００２０】
本発明に係るジッタ測定方法及び本発明に係るジッタ測定装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタを測定する。検出器が、光ビームの走査線の１端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、抽出する手段が、１走査の為に反射ミラーが始動してから、検出器の最初の検出信号を抽出する。演算する手段は、その抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算し、演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定する。
【００２１】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の各検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２２】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの抽出手段が、１走査の為に反射ミラーが始動する都度、検出器の最初の各検出信号を抽出する。２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【００２３】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２４】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。２つの検出器が、光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。２つの抽出手段が、反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出し、２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【００２５】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段とを備え、該手段が有効とした２つの検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２６】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。２つの検出器が、光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、２つの反転保持手段が、検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する。抽出する手段が、終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及びその検出信号に基づき、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する。抽出する手段が検出信号を抽出した後、始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、有効とする手段が、２つの検出器が出力した検出信号を有効とし、有効とする手段が有効とした２つの検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【００２７】
本発明に係る画像形成装置は、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、前記光ビームの走査線の始端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する手段とを備え、該手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする。
【００２８】
この画像形成装置では、反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えている。検出器が、光ビームの走査線の始端部付近に設けられ、光ビームを受光検出し、抽出する手段が、１走査の為に反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する。抽出する手段が、抽出した検出信号のタイミングに基づき、感光体表面に静電潜像を書込む。
【発明の効果】
【００２９】
本発明に係るジッタ測定方法によれば、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定方法を実現することが出来る。
【００３０】
また、本発明に係るジッタ測定装置によれば、不要な検出信号を除去して、ガルバノスキャナ方式の画像形成装置の走査時間のムラを測定することが可能なジッタ測定装置を実現することが出来る。
【００３１】
また、本発明に係る画像形成装置によれば、不要な検出信号を除去して、走査時の感光ドラムへの静電潜像の書込みタイミングを得ることが出来るガルバノスキャナ方式の画像形成装置を実現することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下に、本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。
（実施の形態１）
図１は、本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態１の構成を示すブロック図である。このジッタ測定装置は、検出器Ａ，Ｂの各検出信号が検出器Ａ，Ｂ別に波形処理回路１に与えられる。波形処理回路１は、検出器Ａ，Ｂの各検出信号列から不要な検出信号を除去し、除去した後の各検出信号列を、検出器Ａ，Ｂ別にジッタ測定器２に与える。ジッタ測定器２は、与えられた検出器Ａ，Ｂの検出信号列から、各走査毎の走査時間を算出し、これらに基づき、走査時間のムラを測定（算出）する。
【００３３】
図２は、本発明に係るジッタ測定装置の走査光学系の構成例を模式的に示す説明図である。この走査光学系は、マイクロミラー１０の光入射側には、レーザ光を出射するレーザダイオードＬＤ、及びレーザダイオードＬＤからのレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズ２２が配設されている。マイクロミラー１０の光反射側には、感光体２３に結像する為のｆ−θレンズ２４及びシリンドリカルミラー２５が配設されている。
コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、マイクロミラー１０に照射され、マイクロミラー１０が周期的に往復回動することにより、平行レーザ光がプリント幅に走査される。
【００３４】
ミラー駆動部３０は、マイクロミラー１０の固有周波数の交流電圧をマイクロミラー１０に与えて共振状態で往復回動させる。
パーソナルコンピュータ等の外部機器からの画像データ、又は読み取った画像データは、一旦、メモリ３１に記憶された後、平行レーザ光の走査タイミングに合わせて、変調部３２に与えられ、変調部３２は、与えられた画像データにより、レーザダイオードＬＤが出射するレーザ光を変調する。但し、ジッタ測定の際には、メモリ３１及び変調部３２は接続されていなくても良い。
シリンドリカルミラー２５の受光面上の、走査線の両端部付近に当たる位置には、図１に示す検出器Ａ，Ｂが設けられており、図１に示す構成で、波形処理回路１及びジッタ測定器２が接続されている。
【００３５】
図３は、本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。このジッタ測定方法では、図２に示したように、光ビームの走査線の両端部付近に、光センサである検出器Ａ，Ｂを設けておき、レーザダイオードＬＤからの光ビームを、周期的に往復回動するマイクロミラー（ガルバノミラー）１０に反射させて走査する。
【００３６】
その際、検出器Ａ，Ｂは、例えば、最初の走査線では、検出信号ＳＡ１，ＳＢ１をそれぞれ出力し、光ビームが走査の開始点に復帰する際に、更に検出信号ＳＢ２，ＳＡ２をそれぞれ出力する。以下、走査する都度、検出信号ＳＡ３，ＳＢ３，ＳＡ５，ＳＢ５‥‥が出力されるが、その都度、走査の開始点へ復帰する際に、検出信号ＳＡ４，ＳＢ４‥‥が出力される。
検出器Ａ，Ｂの各検出信号ＳＡ，ＳＢは、上述したように、それぞれ図４（ａ）（ｂ）に示すように出力される。
【００３７】
図５は、波形処理回路１（図１，２）の構成例を示すブロック図である。この波形処理回路１は、検出器Ａの検出信号ＳＡが、Ｄ（delay）型フリップフロップＤＦＦ２のセット端子ＳＥＴ、及びＤ型フリップフロップＤＦＦ１のクロック端子ＣＫに与えられ、また、ＯＲゲート５の一方の入力端子に与えられる。ＯＲゲート５の他方の入力端子には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ１Ｑが与えられ、ＯＲゲート５の出力信号ＯＡは、ジッタ測定器２（図１，２）に与えられる。
【００３８】
検出器Ｂの検出信号ＳＢが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のクロック端子ＣＫ、及びＤ型フリップフロップＤＦＦ１のセット端子ＳＥＴに与えられ、また、インバータ３を通じてＮＡＮＤゲート４の一方の入力端子に与えられる。ＮＡＮＤゲート４の他方の入力端子には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２Ｑが与えられ、ＮＡＮＤゲート４の出力信号ＯＢは、ジッタ測定器２（図１，２）に与えられる。
【００３９】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２は、入力信号のＬレベルからＨレベルへの立上りにより作動する。また、反転出力端子バーＱ及びデータ端子Ｄが接続されており、クロック端子ＣＫへの入力信号が立上る都度、出力端子Ｑからの出力信号が反転するＴ（toggling）型フリップフロップとして作動する。
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各リセット端子ＲＥＳには、測定の開始時に、ＬレベルからＨレベルへ立上るクリア信号ＣＬＲが与えられる。
【００４０】
以下に、このような構成の波形処理回路１の動作を、それを示す図６のタイミングチャートを参照しながら説明する。尚、ここでは、回路の都合上、検出信号ＳＡ，ＳＢを反転させている。
測定開始時には、クリア信号ＣＬＲが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各リセット端子ＲＥＳに与えられ（ｃ）、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ１Ｑ，ＦＦ２Ｑは、Ｌレベルにリセットされる（ｄ）（ｅ）。
【００４１】
最初の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ１が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルであるので（ｄ）、検出信号ＳＡ１がＯＲゲート５から信号ＯＡとして出力され（ｆ）、検出信号ＳＡ１の立上りにより、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の各出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ１Ｑ，ＦＦ２ＱがＨレベルになる（ｄ）（ｅ）。
最初の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ１が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので（ｅ）、検出信号ＳＢ１がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｇ）。また、検出信号ＳＢ１の立上りにより、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００４２】
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ２が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので（ｅ）、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｇ）。また、検出信号ＳＢ２の立上りにより（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる（ｅ）。
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ２が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルであるので（ｄ）、ＯＲゲート５から出力信号ＯＡとしては出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ２の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルになる（ｄ）。
【００４３】
２回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ３が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルであるので（ｄ）、検出信号ＳＡ３がＯＲゲート５から出力信号ＯＡとして出力され（ｆ）、検出信号ＳＡ３の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルになる（ｄ）。
２回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ３が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので（ｅ）、検出信号ＳＢ３がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｇ）。また、検出信号ＳＢ３の立上りにより、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００４４】
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ４が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので（ｅ）、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｇ）。また、検出信号ＳＢ２の立上りにより（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる（ｅ）。
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ４が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルであるので（ｄ）、ＯＲゲート５から出力信号ＯＡとしては出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ４の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルになる（ｄ）。
【００４５】
３回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ５が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ１ＱがＬレベルであるので（ｄ）、検出信号ＳＡ５がＯＲゲート５から出力信号ＯＡとして出力され（ｆ）、検出信号ＳＡ５の立上りにより、出力信号ＦＦ１ＱがＨレベルになる（ｄ）。
３回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ５が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので（ｅ）、検出信号ＳＢ５がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｇ）。また、検出信号ＳＢ３の立上りにより、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる（ｅ）。以下、同様に、１走査毎に検出器Ａ，Ｂからの最初の各検出信号が抽出され、出力信号ＯＡ，ＯＢ（ｆ）（ｇ）として、ジッタ測定器２（図１，２）に与えられて行く。
【００４６】
ジッタ測定器２は、与えられた出力信号ＯＡ，ＯＢ（ｆ）（ｇ）の立下りエッジ間の時間を、走査時間ｔ１，ｔ２，ｔ３‥‥として算出して行き、算出した走査時間のムラ（ジッタ）を算出して行き記録する。走査時間のムラが所定値を超えた場合は、図示しない表示装置に、走査時間のムラが大きいことを表示する為の信号を出力する。
尚、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２には、動作に伴う内部ジッタが発生するが、上述したように、出力信号ＯＡ，ＯＢの立下りエッジ（ｆ）（ｇ）には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ１，ＤＦＦ２の内部ジッタは含まれないので、この波形処理回路１を通しても、ジッタの劣化は生じない。
【００４７】
また、ガルバノミラー本来の往復回動での、走査光（平行レーザ光）の走査光学系の往復のジッタ測定も必要であるが、従来のジッタ測定装置では、図７に示すような検出信号からは、直接測定することは出来ない。
往復のジッタを測定するには、図８に示すように、「検出信号ＳＢ２と検出信号ＳＡ２」、「検出信号ＳＢ４と検出信号ＳＡ４」のように入れ替えることにより、従来のポリゴンミラーのジッタ測定装置で、往復のジッタ測定が可能になる。図１のように、検出器Ａ，Ｂと従来のポリゴンミラーのジッタ測定器との間に、波形処理回路を介在させることにより、既存測定器を利用して、ガルバノスキャナのジッタ測定装置を構成することが可能となる。
【００４８】
（実施の形態２）
図９は、本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態２の波形処理回路の構成例を示すブロック図である。この波形処理回路１ａは、検出器Ａの検出信号ＳＡが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のセット端子ＳＥＴ、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３のクロック端子ＣＫ、及びアナログスイッチ７の端子Ｘ２、Ｙ１に与えられる。
【００４９】
検出器Ｂの検出信号ＳＢが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のクロック端子ＣＫ、及びアナログスイッチ７の端子Ｘ１、Ｙ２に与えられ、また、インバータ３を通じてＮＡＮＤゲート４の一方の入力端子に与えられる。ＮＡＮＤゲート４の他方の入力端子には、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２Ｑが与えられ、ＮＡＮＤゲート４の出力信号ＯＢは、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４のクロック端子ＣＫに与えられる。
【００５０】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２，ＤＦＦ３，ＤＦＦ４は、入力信号のＬレベルからＨレベルへの立上りにより作動する。また、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２は、反転出力端子バーＱ及びデータ端子Ｄが接続されており、クロック端子ＣＫへの入力信号が立上る都度、出力端子Ｑからの出力信号が反転するＴ型フリップフロップとして作動する。
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のリセット端子ＲＥＳには、測定の開始時に、ＬレベルからＨレベルへ立上るクリア信号ＣＬＲが与えられる。
【００５１】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４のセット端子ＳＥＴ、データ端子Ｄ、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３のセット端子ＳＥＴ、リセット端子ＲＥＳには、電源電圧ＶＣＣ（Ｈレベル）が与えられている。Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４の反転出力端子バーＱ及びＤ型フリップフロップＤＦＦ３のデータ端子Ｄが接続され、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３の反転出力端子バーＱの出力信号ＦＦ３Ｑは、微分器６に与えられている。微分器６の出力は、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４のリセット端子ＲＥＳに与えられている。
【００５２】
Ｄ型フリップフロップＤＦＦ４の出力端子Ｑの出力信号ＦＦ４Ｑは、アナログスイッチ７の制御端子ＳＥＬに与えられる。アナログスイッチ７は、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのとき、端子Ｘ１を、出力信号ＺＢを出力する端子Ｚ１に接続し、Ｈレベルのとき、端子Ｙ１を端子Ｚ１に接続する。また、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのとき、端子Ｘ２を、出力信号ＺＡを出力する端子Ｚ２に接続し、Ｈレベルのとき、端子Ｙ２を端子Ｚ２に接続するが、ここでは、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのときの接続のみが有効となるように設定しておく。
本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態２のその他の構成は、上述した実施の形態１の構成（図１，２，３）と同様であるので、図１，２において、ジッタ測定器２ａ及び波形処理回路１ａを図示して、説明を省略する。
【００５３】
以下に、このような構成の波形処理回路１ａの動作を、それを示す図１０のタイミングチャートを参照しながら説明する。尚、ここでは、回路の都合上、検出信号ＳＡ，ＳＢを反転させている。
測定開始時には、クリア信号ＣＬＲが、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２のリセット端子ＲＥＳに与えられ、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２Ｑは、Ｌレベルにリセットされる。Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３，ＤＦＦ４の各出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ３Ｑ，ＦＦ４Ｑは、各入力端子ＳＥＴ，Ｄ，ＣＫ，ＲＥＳの各入力レベルにより、Ｌレベルである。
【００５４】
最初の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ１が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ２を端子Ｚ２に接続しており、検出信号ＳＡ１が信号ＺＡとして出力される（ｆ）。また、検出信号ＳＡ１の立上りにより、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ３の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ３ＱがＨレベルになり（ｃ）、Ｄ型フリップフロップＤＦＦ２の出力端子Ｑからの出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる。
【００５５】
最初の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ１が与えられると（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので、検出信号ＳＢ１がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ１を端子Ｚ１に接続しており、検出信号ＳＢ１が信号ＺＢとして出力され（ｇ）、出力信号ＯＢの立上りにより、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルになる（ｅ）。
【００５６】
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ２が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＢ２は信号ＺＢとして出力されない（ｇ）。
尚、図１０のタイミングチャート（ｆ）（ｇ）において、矢印が付加された信号ＳＢ２，ＳＡ２，ＳＢ４，ＳＡ４は、仮想信号であり後述する。
【００５７】
最初の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ２が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＡ２は信号ＺＡとして出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ２の立上りにより、反転出力信号ＦＦ３ＱがＬレベルになり（ｃ）、微分器６の微分信号により、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００５８】
２回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ３が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ２を端子Ｚ２に接続しており、検出信号ＳＡ３が信号ＺＡとして出力される（ｆ）。また、検出信号ＳＡ３の立上りにより、出力信号ＦＦ３ＱがＨレベルになり（ｃ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる。
【００５９】
２回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ３が与えられると（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので、検出信号ＳＢ３がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ１を端子Ｚ１に接続しており、検出信号ＳＢ３が信号ＺＢとして出力され（ｇ），出力信号ＯＢの立上りにより、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルになり（ｅ）、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる。
【００６０】
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ｂから検出信号ＳＢ４が与えられると（ｂ）、このときは、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルであるので、ＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとしては出力されない（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＢ４は信号ＺＢとして出力されない（ｇ）。
【００６１】
２回目の走査が終わり、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する際に、検出器Ａから検出信号ＳＡ４が与えられると（ａ）、このときは、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７からは、検出信号ＳＡ４は信号ＺＡとして出力されない（ｆ）。また、検出信号ＳＡ４の立上りにより、反転出力信号ＦＦ３ＱがＬレベルになり（ｃ）、微分器６の微分信号により、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルになる（ｅ）。
【００６２】
３回目の走査で、検出器Ａから検出信号ＳＡ５が与えられると（ａ）、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ２を端子Ｚ２に接続しており、検出信号ＳＡ５が信号ＺＡとして出力される（ｆ）。また、検出信号ＳＡ５の立上りにより、出力信号ＦＦ３ＱがＨレベルになり（ｃ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルになる。
【００６３】
３回目の走査が終わり、検出器Ｂから検出信号ＳＢ５が与えられると（ｂ）、出力信号ＦＦ２ＱがＨレベルであるので、検出信号ＳＢ５がＮＡＮＤゲート４から出力信号ＯＢとして出力される（ｄ）。また、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルであるので（ｅ）、アナログスイッチ７は、端子Ｘ１を端子Ｚ１に接続しており、検出信号ＳＢ５が信号ＺＢとして出力され（ｇ），出力信号ＯＢの立上りにより、出力信号ＦＦ４ＱがＨレベルになり（ｅ）、出力信号ＦＦ２ＱがＬレベルになる。以下、同様に、検出器Ａ，Ｂからの各検出信号が、出力信号ＦＦ４ＱがＬレベルのときに、信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）として抽出され、１走査毎に検出器Ａ，Ｂからの最初の各検出信号が、信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）として、ジッタ測定器２ａ（図１，２）に与えられて行く。
【００６４】
ジッタ測定器２ａは、与えられた出力信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）の立下りエッジ間の時間を、走査時間ｔ１，ｔ２，ｔ３‥‥として算出して行き、算出した走査時間のムラ（ジッタ）を算出して行き記録する。走査時間のムラが所定値を超えた場合は、図示しない表示装置に、走査時間のムラが大きいことを表示する為の信号を出力する。
【００６５】
尚、本実施の形態２では、アナログスイッチ７は、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｌレベルのときの接続のみが有効となるように設定してあるが、逆に、制御端子ＳＥＬの入力信号が、Ｈレベルのときの接続のみが有効となるように設定しておくことも出来る。この場合、図１０のタイミングチャート（ｆ）（ｇ）において、矢印が付加された信号ＳＢ２，ＳＡ２，ＳＢ４，ＳＡ４のみが、信号ＺＡ，ＺＢとして、ジッタ測定器２ａ（図１，２）に与えられて行く。
【００６６】
ジッタ測定器２ａは、与えられた出力信号ＺＡ，ＺＢ（ｆ）（ｇ）の立下りエッジ間の時間を、平行レーザ光が走査の開始点へ復帰する時間ｔ１″，ｔ２″‥‥として算出して行き、算出した時間のムラ（ジッタ）を算出することが出来る。
尚、アナログスイッチ７は、入力信号をそのまま切り替えることが出来、アナログスイッチ７内でジッタ量の劣化は発生しない。
【００６７】
（実施の形態３）
図１１は、本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態３の構成を示すブロック図である。このジッタ測定装置は、検出器Ｃの検出信号が波形処理回路１ｂに与えられる。波形処理回路１ｂは、検出器Ｃの検出信号列から不要な検出信号を除去し、除去した後の検出信号列をジッタ測定器２ｂに与える。ジッタ測定器２ｂは、与えられた検出信号列から、各走査毎の経過時間を算出し、これらに基づき、走査時間のムラを測定（算出）する。
このジッタ測定装置の走査光学系の構成例は、図２に示す走査光学系において、検出器Ｂを除去し、検出器Ａを検出器Ｃに、波形処理回路１を波形処理回路１ｂに、ジッタ測定器２をジッタ測定器２ｂにそれぞれ置き換えたものである。
【００６８】
図１２は、本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。このジッタ測定方法では、平行レーザ光の走査線の１端部付近に、光センサである検出器Ｃを設けておき、レーザダイオードＬＤからの平行レーザ光を、周期的に往復回動するマイクロミラー（ガルバノミラー）１０に反射させて走査する。
【００６９】
その際、検出器Ｃは、例えば、平行レーザ光が走査の開始点に向かう際に、検出信号ＳＣ１を出力する。次に、最初の走査の際に、検出信号ＳＣ２を出力し、平行レーザ光が走査の開始点に復帰する際に、更に、検出信号ＳＣ３を出力する。以下、走査する都度、検出信号ＳＣ４，ＳＣ６‥‥が出力されるが、その都度、走査の開始点へ復帰する際に、検出信号ＳＣ５，ＳＣ７‥‥が出力される。
検出器Ｃの検出信号ＳＣは、上述したように、図１４（ａ）に示すように出力される。
【００７０】
図１３は、波形処理回路１ｂ（図１１）の構成例を示すブロック図である。この波形処理回路１ｂは、検出器Ｃの検出信号ＳＣが、ＡＮＤゲート８の一方の入力端子、及びＡＮＤゲート１１の一方の入力端子に与えられる。ＡＮＤゲート８の出力端子は、タイマ９の制御端子に与えられ、タイマ９の出力端子Ｑは、ＡＮＤゲート１１の他方の入力端子に接続され、タイマ９の反転出力端子バーＱは、ＡＮＤゲート８の他方の入力端子に接続されている。ＡＮＤゲート１１の出力端子は、波形処理回路１ｂの出力信号ＯＣを出力する。
タイマ９は、制御信号の立下りで計時を開始し、所定時間を計時している期間は、出力端子ＱからＨレベル信号を出力する。タイマ９が計時する所定時間は、平行レーザ光が、走査区間を外れてから、折り返して再度、走査区間に入る迄の所要時間より長く、また、平行レーザ光の走査周期の１／２より短く設定する。
【００７１】
以下に、このような構成の波形処理回路１ｂの動作を、それを示す図１４のタイミングチャートを参照しながら説明する。
平行レーザ光が走査を開始する際に、走査の開始点に向かい、検出器Ｃから検出信号ＳＣ１が与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート８がＨレベル信号を出力し、その立下り（検出信号ＳＣ１の立下り）で、タイマ９が、所定時間の計時を開始すると共に、出力端子ＱからＨレベルの信号を出力し（ｂ）、反転出力端子バーＱからＬレベルの信号を出力する（ｃ）。
【００７２】
次いで、最初の走査の際に、検出器Ｃから検出信号ＳＣ２を与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート１１から、検出信号ＳＣ２が信号ＯＣとして出力される。
タイマ９は、所定時間の計時が終了すると、出力端子Ｑからの信号をＬレベルにし（ｂ）、反転出力端子バーＱからの信号をＨレベルにする（ｃ）。
【００７３】
平行レーザ光が、最初の走査を終了して、走査の開始点に復帰し、検出器Ｃから検出信号ＳＣ３が与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート８がＨレベル信号を出力し、その立下り（検出信号ＳＣ３の立下り）で、タイマ９が、所定時間の計時を開始すると共に、出力端子ＱからＨレベルの信号を出力し（ｂ）、反転出力端子バーＱからＬレベルの信号を出力する（ｃ）。
次いで、２回目の走査の際に、検出器Ｃから検出信号ＳＣ４を与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート１１から、検出信号ＳＣ４が信号ＯＣとして出力される。
タイマ９は、所定時間の計時が終了すると、出力端子Ｑからの信号をＬレベルにし（ｂ）、反転出力端子バーＱからの信号をＨレベルにする（ｃ）。
【００７４】
平行レーザ光が、２回目の走査を終了して、走査の開始点に復帰し、検出器Ｃから検出信号ＳＣ５が与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート８がＨレベル信号を出力し、その立下り（検出信号ＳＣ５の立下り）で、タイマ９が、所定時間の計時を開始すると共に、出力端子ＱからＨレベルの信号を出力し（ｂ）、反転出力端子バーＱからＬレベルの信号を出力する（ｃ）。
【００７５】
次いで、３回目の走査の際に、検出器Ｃから検出信号ＳＣ６を与えられると（ａ）、ＡＮＤゲート１１から、検出信号ＳＣ６が信号ＯＣとして出力される。
タイマ９は、所定時間の計時が終了すると、出力端子Ｑからの信号をＬレベルにし（ｂ）、反転出力端子バーＱからの信号をＨレベルにする（ｃ）。以下、同様に、１走査毎に検出器Ｃからの最初の検出信号が抽出され、出力信号ＯＣ（ｄ）として、ジッタ測定器２ｂ（図１１）に与えられて行く。
【００７６】
ジッタ測定器２ｂは、与えられた出力信号ＯＣ間の時間を算出して行き、算出した時間のムラを、走査時間のムラ（ジッタ）として算出して行き記録する。走査時間のムラが所定値を超えた場合は、図示しない表示装置に、走査時間のムラが大きいことを表示する為の信号を出力する。
尚、上述した実施の形態１〜３では、画像形成装置に備えられたジッタ測定装置として記述してあるが、独立したジッタ測定装置である場合も、同様の構成及び動作である。
【００７７】
（実施の形態４）
図１５は、本発明に係る画像形成装置の実施の形態４であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。このレーザプリンタは、マイクロミラー１０の光入射側には、レーザ光を出射するレーザダイオードＬＤ、及びレーザダイオードＬＤからのレーザ光を平行光に変換するコリメータレンズ２２が配設されている。マイクロミラー１０の光反射側には、感光体２３に結像する為のｆ−θレンズ２４及びシリンドリカルミラー２５が配設されている。
コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、マイクロミラー１０に照射され、マイクロミラー１０が周期的に往復回動することにより、平行レーザ光がプリント幅に走査される。
【００７８】
ミラー駆動部３０は、マイクロミラー１０の固有周波数の交流電圧をマイクロミラー１０に与えて共振状態で往復回動させる。
パーソナルコンピュータ等の外部機器からの画像データは、一旦、メモリ３１に記憶された後、平行レーザ光の走査タイミングに合わせて、変調部３２に与えられ、変調部３２は、与えられた画像データにより、レーザダイオードＬＤが出射するレーザ光を変調する。
シリンドリカルミラー２５の受光面上の、走査線の両端部付近に当たる位置には、検出器Ａ，Ｂが設けられており、それぞれ波形処理回路１に接続されている。波形処理回路１の出力信号は変調部３２に与えられる。波形処理回路１の構成例は、実施の形態１で説明した波形処理回路１の構成（図５）と同様であるので、説明を省略する。
【００７９】
このような構成のレーザプリンタでは、ミラー駆動部３０が、マイクロミラー１０を共振状態で往復回動させる。レーザダイオードＬＤが出射し、コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、往復回動するマイクロミラー１０により反射され、ｆ−θレンズ２４を透過し、シリンドリカルミラー２５により方向変換されて、感光体２３の表面を走査する。
【００８０】
この際、検出器Ａ，Ｂは、平行レーザ光を検出し、その検出信号ＳＡ，ＳＢを波形処理回路１に与える。波形処理回路１は、与えられた検出信号ＳＡ，ＳＢに基づき、走査の開始及び終了を示す出力信号ＯＡ及びＯＢを変調部３２に与える。尚、波形処理回路１の詳細な動作は、実施の形態１で説明した波形処理回路１の動作（図６）と同様であるので、説明を省略する。
【００８１】
変調部３２は、与えられた出力信号ＯＡ及びＯＢに基づき、１走査毎に、感光体２３の表面に静電潜像を書込むタイミングを求め、求めたタイミング（開始及び終了）により、レーザ光をメモリ３１からの画像データに応じて変調する。
感光体２３の表面に形成された静電潜像は、図示しない現像部、転写部及び定着部等で、トナーにより現像され、現像された画像は用紙に転写された後、定着（加熱）処理されて、印刷が終了する。
【００８２】
（実施の形態５）
本発明に係る画像形成装置の実施の形態５であるレーザプリンタの走査光学系の構成は、上述した実施の形態４であるレーザプリンタの走査光学系の構成と略同様である。但し、波形処理回路１が波形処理回路１ａに置き換えられた構成であり、波形処理回路１ａの構成例は、実施の形態２で説明した波形処理回路１ａの構成（図９）と同様であるので、説明を省略する。
【００８３】
このような構成のレーザプリンタでは、波形処理回路１ａが、与えられた検出信号ＳＡ，ＳＢに基づき、走査の開始及び終了を示す出力信号ＯＡ及びＯＢを変調部３２に与える動作の他は、上述した実施の形態４のレーザプリンタの動作と同様であるので、説明を省略する。また、波形処理回路１ａの詳細な動作は、実施の形態２で説明した波形処理回路１ａの動作（図１０）と同様であるので、説明を省略する。
【００８４】
（実施の形態６）
図１６は、本発明に係る画像形成装置の実施の形態６であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。このレーザプリンタは、シリンドリカルミラー２５の受光面上の、走査線の始端部付近に当たる位置に、検出器Ｃが設けられており、波形処理回路１ｂに接続されている。尚、走査線の終端部付近に当たる位置には、検出器は設けられていない。
波形処理回路１ｂの出力信号は変調部３２に与えられる。その他の構成は、上述した実施の形態４であるレーザプリンタの走査光学系の構成と同様であるので、説明を省略する。また、波形処理回路１ｂの構成例は、実施の形態３で説明した波形処理回路１ｂの構成（図１３）と同様であるので、説明を省略する。
【００８５】
このような構成のレーザプリンタでは、ミラー駆動部３０が、マイクロミラー１０を共振状態で往復回動させる。レーザダイオードＬＤが出射し、コリメータレンズ２２により変換された平行レーザ光は、往復回動するマイクロミラー１０により反射され、ｆ−θレンズ２４を透過し、シリンドリカルミラー２５により方向変換されて、感光体２３の表面を走査する。
【００８６】
この際、検出器Ｃは、平行レーザ光を検出し、その検出信号ＳＣを波形処理回路１ｂに与える。波形処理回路１ｂは、与えられた検出信号ＳＣに基づき、走査の開始を示す出力信号ＯＣを変調部３２に与える。尚、波形処理回路１ｂの詳細な動作は、実施の形態３で説明した波形処理回路１ｂの動作（図１４）と同様であるので、説明を省略する。
【００８７】
変調部３２は、与えられた出力信号ＯＣに基づき、１走査毎に、感光体２３の表面に静電潜像を書込む開始タイミングを求め、求めた開始タイミングにより、レーザ光をメモリ３１からの画像データに応じて変調する。
感光体２３の表面に形成された静電潜像は、図示しない現像部、転写部及び定着部等で、トナーにより現像され、現像された画像は用紙に転写された後、定着（加熱）処理されて、印刷が終了する。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るジッタ測定装置の走査光学系の構成例を模式的に示す説明図である。
【図３】本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。
【図４】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【図５】波形処理回路の構成例を示すブロック図である。
【図６】波形処理回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図７】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【図８】波形処理回路の動作を説明する為の説明図である。
【図９】波形処理回路の構成例を示すブロック図である。
【図１０】波形処理回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図１１】本発明に係るジッタ測定方法及びジッタ測定装置の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図１２】本発明に係るジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。
【図１３】波形処理回路の構成例を示すブロック図である。
【図１４】波形処理回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図１５】本発明に係る画像形成装置の実施の形態であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。
【図１６】本発明に係る画像形成装置の実施の形態であるレーザプリンタの走査光学系の構成を模式的に示す説明図である。
【図１７】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【図１８】波形処理回路の動作を説明する為の説明図である。
【図１９】従来のジッタ測定方法を実施する際の構成例を、模式的に示す説明図である。
【図２０】検出器の各検出信号を示す波形図である。
【符号の説明】
【００８９】
１，１ａ，１ｂ 波形処理回路
２，２ａ，２ｂ ジッタ測定器
３ インバータ
４ ＮＡＮＤゲート
５ ＯＲゲート
６ 微分器
７ アナログスイッチ
８，１１ ＡＮＤゲート
９ タイマ
１０ マイクロミラー（ガルバノミラー）
２２ コリメータレンズ
２３ 感光体
２４ ｆ−θレンズ
２５ シリンドリカルミラー
３０ ミラー駆動部
Ａ，Ｂ，Ｃ 検出器
ＤＦＦ１〜ＤＦＦ４ Ｄ型フリップフロップ
ＬＤ レーザダイオード
、
【特許請求の範囲】
【請求項１】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記２つの検出器の最初の各検出信号を抽出し、抽出した各検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項２】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、抽出した前記２つの検出器の検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項３】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、前記終端部付近の検出器の検出信号により反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、該検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により出力信号が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とし、有効とした一方の検出信号から他方の検出信号迄を、１走査の所要時間として演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項４】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の１端部付近に、該光ビームを受光検出する検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出し、抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算し、演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項５】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項６】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項７】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段と、該手段が有効とした２つの検出信号間の時間を、１走査の所要時間として演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項８】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査線の１端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから、前記検出器の最初の検出信号を抽出する手段と、該手段が抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項９】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の各検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１０】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１１】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段とを備え、該手段が有効とした２つの検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１２】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査線の始端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する手段とを備え、該手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記２つの検出器の最初の各検出信号を抽出し、抽出した各検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項２】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、抽出した前記２つの検出器の検出信号から、１走査の所要時間を演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項３】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に、該光ビームを受光検出する２つの検出器を設けておき、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持し、前記終端部付近の検出器の検出信号により反転保持した出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出し、該検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により出力信号が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とし、有効とした一方の検出信号から他方の検出信号迄を、１走査の所要時間として演算し、演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項４】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定方法であって、
前記光ビームの走査域の１端部付近に、該光ビームを受光検出する検出器を設けておき、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出し、抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算し、演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定することを特徴とするジッタ測定方法。
【請求項５】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項６】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段と、該２つの抽出手段が抽出した検出信号から１走査の所要時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項７】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段と、該手段が有効とした２つの検出信号間の時間を、１走査の所要時間として演算する手段とを備え、該手段が演算した所要時間に基づき、走査毎の所要時間のムラを測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項８】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを被走査面で走査するガルバノスキャナのジッタ測定装置であって、
前記光ビームの走査線の１端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから、前記検出器の最初の検出信号を抽出する手段と、該手段が抽出した前後２つの検出信号間の時間を演算する手段とを備え、該手段が演算した時間のムラを、走査毎の所要時間のムラとして測定するように構成してあることを特徴とするジッタ測定装置。
【請求項９】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動する都度、前記検出器の最初の各検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１０】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査域の両端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、該反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する２つの抽出手段とを備え、該２つの抽出手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１１】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査域の始端部付近及び終端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する２つの検出器と、該検出器の検出信号が出力される都度、出力信号を反転保持する２つの反転保持手段と、前記終端部付近の検出器の検出信号による反転保持手段の出力信号及び前記検出信号に基づき、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の前記検出信号を抽出する手段と、該手段が検出信号を抽出した後、前記始端部付近の検出器の検出信号により反転保持手段が反転する迄の時間以外の時間、前記２つの検出器が出力した検出信号を有効とする手段とを備え、該手段が有効とした２つの検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【請求項１２】
反射ミラーを周期的に往復回動させることにより、光ビームを感光体表面で走査するガルバノスキャナを備えた画像形成装置において、
前記光ビームの走査線の始端部付近に設けられ、該光ビームを受光検出する検出器と、１走査の為に前記反射ミラーが始動してから最初の検出信号を抽出する手段とを備え、該手段が抽出した検出信号のタイミングに基づき、前記感光体表面に静電潜像を書込むように構成してあることを特徴とする画像形成装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図１３】
【図１４】
【図１５】
【図１６】
【図１７】
【図１８】
【図１９】
【図２０】
【公開番号】特開２００６−４７５９０（Ｐ２００６−４７５９０Ａ）
【公開日】平成１８年２月１６日（２００６．２．１６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００４−２２７２２８（Ｐ２００４−２２７２２８）
【出願日】平成１６年８月３日（２００４．８．３）
【出願人】（０００１８３３６９）住友精密工業株式会社 (336)
【出願人】（０００１０１１０１）アクト電子株式会社 (5)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成１８年２月１６日（２００６．２．１６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１６年８月３日（２００４．８．３）
【出願人】（０００１８３３６９）住友精密工業株式会社 (336)
【出願人】（０００１０１１０１）アクト電子株式会社 (5)
【Ｆターム（参考）】
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