校正関数取得システムおよびディスプレイ装置の試験システム
【課題】安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験可能にする。
【解決手段】試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置（１）の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上で実測した基準測定値（Ｒ）と校正対象測定値（Ｄ）とを比較して校正関数（Ｆ）を算出する。校正パターン表示用ディスプレイ装置（１）と同型の試験対象のディスプレイ装置を、校正関数（Ｆ）を取得したセンサ（４）により試験する。
【効果】試験対象のディスプレイ装置に適合し且つセンサ（４）ごとに適合した校正関数（Ｆ）を取得できるので、誤差の発生を抑制でき且つ安価なセンサを使用することが出来る。このため、量産されるディスプレイ装置の試験を効率よく行うことが出来る。
【解決手段】試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置（１）の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上で実測した基準測定値（Ｒ）と校正対象測定値（Ｄ）とを比較して校正関数（Ｆ）を算出する。校正パターン表示用ディスプレイ装置（１）と同型の試験対象のディスプレイ装置を、校正関数（Ｆ）を取得したセンサ（４）により試験する。
【効果】試験対象のディスプレイ装置に適合し且つセンサ（４）ごとに適合した校正関数（Ｆ）を取得できるので、誤差の発生を抑制でき且つ安価なセンサを使用することが出来る。このため、量産されるディスプレイ装置の試験を効率よく行うことが出来る。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、校正関数取得システムおよびディスプレイ装置の試験システムに関し、さらに詳しくは、安価なセンサを校正するための校正関数を取得しうる校正関数取得システムおよび安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験しうる試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスプレイ装置は、出荷時にセンサを用いて試験される（特許文献１参照）。
量産されるディスプレイ装置の試験を効率よく行うためには多数のセンサが必要になる。このため、安価なセンサを使えることが望ましい。
このような安価なセンサは、標準光源を用いて校正されている（特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００８−１５２１８８号公報
【特許文献２】特開平６−２８３２７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従来、安価なセンサは、標準光源を用いて校正されている。
しかし、ディスプレイ装置の発光特性は標準光源とは異なるため、標準光源を用いて校正された安価なセンサを用いてディスプレイ装置の試験を行うと誤差が発生する。
このため、安価なセンサを用いてディスプレイ装置の試験を行うことが出来ない問題点がある。
そこで、本発明の目的は、安価なセンサを校正するための校正関数を取得しうる校正関数取得システムおよび安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験しうる試験システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
第１の観点では、本発明は、試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置と、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正基準器と、前記校正パターン表示用ディスプレイに表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正対象センサと、校正装置とを具備し、前記校正装置は、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正基準器によりそれぞれ測定して得た基準測定値を記憶すると共に前記３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正対象センサによりそれぞれ測定して得た校正対象測定値を記憶し、前記記憶した校正対象測定値を前記記憶した基準測定値に変換するための校正関数を算出することを特徴とする校正関数取得システムを提供する。
【０００５】
上記構成において、校正基準器は、高性能の高価なセンサ、または、高性能の高価なセンサを用いて校正済みの安価なセンサ、または、高性能の高価なセンサを用いて校正済みの安価なセンサを用いて校正済みの安価なセンサのいずれかである。
また、校正対象センサは、輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定しうる安価なセンサである。
【０００６】
上記第１の観点による校正関数取得システムでは、試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上で実測した基準測定値と校正対象測定値とを比較して校正関数を算出するため、試験対象のディスプレイ装置に適合し且つ校正対象センサごとに適合した校正関数を取得することが出来る。
【０００７】
第２の観点では、本発明は、前記第１の観点による校正関数取得システムで校正関数を取得したときに用いた校正パターン表示用ディスプレイ装置と同型の試験対象ディスプレイ装置に試験パターンを表示させるための試験パターン表示指示手段と、前記試験パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定するためのセンサであって前記第１の観点による校正関数取得システムで校正関数を取得したセンサと、該センサの測定値を前記校正関数により変換する変換装置とを具備したことを特徴とするディスプレイ装置の試験システムを提供する。
上記第２の観点によるディスプレイ装置の試験システムでは、試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置を用いて校正したセンサにより試験するため、誤差の発生を抑制することが出来る。また、安価なセンサを使用することが出来る。このため、量産されるディスプレイ装置の試験を効率よく行うことが出来る。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の校正関数取得システムによれば、安価なセンサを校正するための校正関数を取得することが出来る。
本発明のディスプレイ装置の試験システムによれば、安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【００１０】
−実施例１−
図１は、実施例１に係る校正関数取得システム１００を示す説明図である。
この校正関数取得システム１００は、試験対象のディスプレイ装置（図２のＸ）と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置１と、校正パターン表示用ディスプレイ装置１に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正基準器２と、校正パターン表示用ディスプレイ１に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正対象センサ４と、校正装置３とを具備している。
【００１１】
まず、図１の（ａ）に示すように、校正装置３は、校正パターン表示用ディスプレイ装置１へ校正パターン表示指示Ｃを送り、校正パターン表示用ディスプレイ装置１の輝度の入力値範囲（例えば１〜２５６）内の３点以上の入力値（例えば１から１刻みに１０まで，１１から２刻みに２０まで，２１から２０刻みに２５６まで）を校正パターン表示用ディスプレイ装置１に入力し、その時の校正パターンの輝度を校正基準器２によりそれぞれ測定し、得られた基準測定値Ｒを記憶する。これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。
【００１２】
次に、図１の（ｂ）に示すように、校正装置３は、校正パターン表示用ディスプレイ装置１へ校正パターン表示指示Ｃを送り、校正パターン表示用ディスプレイ装置１の輝度の入力値範囲（例えば１〜２５６）内の３点以上の入力値（例えば１から１刻みに１０まで，１１から２刻みに２０まで，２１から２０刻みに２５６まで）を校正パターン表示用ディスプレイ装置１に入力し、その時の校正パターンの輝度を校正対象センサ４によりそれぞれ測定し、得られた校正対象測定値Ｄを記憶する。これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。
【００１３】
最後に、図１の（ｃ）に示すように、校正装置３は、記憶した輝度の校正対象測定値Ｄを輝度の基準測定値Ｒに変換するための校正関数Ｆを算出する。これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。なお、校正関数Ｆ＝ｋ（Ｄ）＝Ｒ／Ｄを想定している。
【００１４】
校正パターン表示用ディスプレイ装置１は、例えばカラー液晶表示パネルである。
校正基準器２は、例えばトプコン社の分光放射光度計「ＳＲ３」である。
校正対象センサ４は、例えばエックスライト社の輝度・色度センサ「クロマ５」である。
【００１５】
図２は、実施例１に係るディスプレイ装置の試験システム２００を示す説明図である。
この試験システム２００は、試験装置５と、校正関数取得システム１００で校正関数Ｆを取得したセンサ４とを具備している。
【００１６】
試験装置５は、試験対象ディスプレイ装置Ｘへ試験パターン表示指示Ｉを送り、試験対象ディスプレイ装置Ｘに試験パターンを表示させ、その時の試験パターンの輝度をセンサ４により測定し、得られた測定値ｄを校正関数Ｆにより校正値ｒに変換して出力する。
ｒ＝ｋ（ｄ）・ｄ
これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。
【００１７】
実施例１の校正関数取得システム１００によれば、安価なセンサ４を校正するための校正関数を取得することが出来る。また、ディスプレイ装置の試験システム２００によれば、安価なセンサ４を用いてディスプレイ装置Ｘを試験することが出来る。
【００１８】
−実施例２−
試験対象ディスプレイ装置Ｘが例えばモノクロ液晶表示パネルである場合は、輝度についてのみ校正を行えばよい。
【産業上の利用可能性】
【００１９】
本発明の校正関数取得システムおよびディスプレイ装置の試験システムは、量産されるディスプレイ装置の試験に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】実施例１に係る校正関数取得システムを示す説明図である。
【図２】実施例１に係るディスプレイ装置の試験システムを示す説明図である。
【符号の説明】
【００２１】
１ 校正パターン表示用ディスプレイ装置
２ 校正基準器
３ 校正装置
４ センサ（校正対象センサ，校正関数取得済センサ）
５ 試験装置
１００ 校正関数取得システム
２００ ディスプレイ装置の試験システム
【技術分野】
【０００１】
本発明は、校正関数取得システムおよびディスプレイ装置の試験システムに関し、さらに詳しくは、安価なセンサを校正するための校正関数を取得しうる校正関数取得システムおよび安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験しうる試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスプレイ装置は、出荷時にセンサを用いて試験される（特許文献１参照）。
量産されるディスプレイ装置の試験を効率よく行うためには多数のセンサが必要になる。このため、安価なセンサを使えることが望ましい。
このような安価なセンサは、標準光源を用いて校正されている（特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００８−１５２１８８号公報
【特許文献２】特開平６−２８３２７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従来、安価なセンサは、標準光源を用いて校正されている。
しかし、ディスプレイ装置の発光特性は標準光源とは異なるため、標準光源を用いて校正された安価なセンサを用いてディスプレイ装置の試験を行うと誤差が発生する。
このため、安価なセンサを用いてディスプレイ装置の試験を行うことが出来ない問題点がある。
そこで、本発明の目的は、安価なセンサを校正するための校正関数を取得しうる校正関数取得システムおよび安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験しうる試験システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
第１の観点では、本発明は、試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置と、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正基準器と、前記校正パターン表示用ディスプレイに表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正対象センサと、校正装置とを具備し、前記校正装置は、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正基準器によりそれぞれ測定して得た基準測定値を記憶すると共に前記３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正対象センサによりそれぞれ測定して得た校正対象測定値を記憶し、前記記憶した校正対象測定値を前記記憶した基準測定値に変換するための校正関数を算出することを特徴とする校正関数取得システムを提供する。
【０００５】
上記構成において、校正基準器は、高性能の高価なセンサ、または、高性能の高価なセンサを用いて校正済みの安価なセンサ、または、高性能の高価なセンサを用いて校正済みの安価なセンサを用いて校正済みの安価なセンサのいずれかである。
また、校正対象センサは、輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定しうる安価なセンサである。
【０００６】
上記第１の観点による校正関数取得システムでは、試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上で実測した基準測定値と校正対象測定値とを比較して校正関数を算出するため、試験対象のディスプレイ装置に適合し且つ校正対象センサごとに適合した校正関数を取得することが出来る。
【０００７】
第２の観点では、本発明は、前記第１の観点による校正関数取得システムで校正関数を取得したときに用いた校正パターン表示用ディスプレイ装置と同型の試験対象ディスプレイ装置に試験パターンを表示させるための試験パターン表示指示手段と、前記試験パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定するためのセンサであって前記第１の観点による校正関数取得システムで校正関数を取得したセンサと、該センサの測定値を前記校正関数により変換する変換装置とを具備したことを特徴とするディスプレイ装置の試験システムを提供する。
上記第２の観点によるディスプレイ装置の試験システムでは、試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置を用いて校正したセンサにより試験するため、誤差の発生を抑制することが出来る。また、安価なセンサを使用することが出来る。このため、量産されるディスプレイ装置の試験を効率よく行うことが出来る。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の校正関数取得システムによれば、安価なセンサを校正するための校正関数を取得することが出来る。
本発明のディスプレイ装置の試験システムによれば、安価なセンサを用いてディスプレイ装置を試験することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【００１０】
−実施例１−
図１は、実施例１に係る校正関数取得システム１００を示す説明図である。
この校正関数取得システム１００は、試験対象のディスプレイ装置（図２のＸ）と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置１と、校正パターン表示用ディスプレイ装置１に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正基準器２と、校正パターン表示用ディスプレイ１に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正対象センサ４と、校正装置３とを具備している。
【００１１】
まず、図１の（ａ）に示すように、校正装置３は、校正パターン表示用ディスプレイ装置１へ校正パターン表示指示Ｃを送り、校正パターン表示用ディスプレイ装置１の輝度の入力値範囲（例えば１〜２５６）内の３点以上の入力値（例えば１から１刻みに１０まで，１１から２刻みに２０まで，２１から２０刻みに２５６まで）を校正パターン表示用ディスプレイ装置１に入力し、その時の校正パターンの輝度を校正基準器２によりそれぞれ測定し、得られた基準測定値Ｒを記憶する。これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。
【００１２】
次に、図１の（ｂ）に示すように、校正装置３は、校正パターン表示用ディスプレイ装置１へ校正パターン表示指示Ｃを送り、校正パターン表示用ディスプレイ装置１の輝度の入力値範囲（例えば１〜２５６）内の３点以上の入力値（例えば１から１刻みに１０まで，１１から２刻みに２０まで，２１から２０刻みに２５６まで）を校正パターン表示用ディスプレイ装置１に入力し、その時の校正パターンの輝度を校正対象センサ４によりそれぞれ測定し、得られた校正対象測定値Ｄを記憶する。これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。
【００１３】
最後に、図１の（ｃ）に示すように、校正装置３は、記憶した輝度の校正対象測定値Ｄを輝度の基準測定値Ｒに変換するための校正関数Ｆを算出する。これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。なお、校正関数Ｆ＝ｋ（Ｄ）＝Ｒ／Ｄを想定している。
【００１４】
校正パターン表示用ディスプレイ装置１は、例えばカラー液晶表示パネルである。
校正基準器２は、例えばトプコン社の分光放射光度計「ＳＲ３」である。
校正対象センサ４は、例えばエックスライト社の輝度・色度センサ「クロマ５」である。
【００１５】
図２は、実施例１に係るディスプレイ装置の試験システム２００を示す説明図である。
この試験システム２００は、試験装置５と、校正関数取得システム１００で校正関数Ｆを取得したセンサ４とを具備している。
【００１６】
試験装置５は、試験対象ディスプレイ装置Ｘへ試験パターン表示指示Ｉを送り、試験対象ディスプレイ装置Ｘに試験パターンを表示させ、その時の試験パターンの輝度をセンサ４により測定し、得られた測定値ｄを校正関数Ｆにより校正値ｒに変換して出力する。
ｒ＝ｋ（ｄ）・ｄ
これを輝度について行った後、ｘ色度およびｙ色度についても行う。
【００１７】
実施例１の校正関数取得システム１００によれば、安価なセンサ４を校正するための校正関数を取得することが出来る。また、ディスプレイ装置の試験システム２００によれば、安価なセンサ４を用いてディスプレイ装置Ｘを試験することが出来る。
【００１８】
−実施例２−
試験対象ディスプレイ装置Ｘが例えばモノクロ液晶表示パネルである場合は、輝度についてのみ校正を行えばよい。
【産業上の利用可能性】
【００１９】
本発明の校正関数取得システムおよびディスプレイ装置の試験システムは、量産されるディスプレイ装置の試験に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】実施例１に係る校正関数取得システムを示す説明図である。
【図２】実施例１に係るディスプレイ装置の試験システムを示す説明図である。
【符号の説明】
【００２１】
１ 校正パターン表示用ディスプレイ装置
２ 校正基準器
３ 校正装置
４ センサ（校正対象センサ，校正関数取得済センサ）
５ 試験装置
１００ 校正関数取得システム
２００ ディスプレイ装置の試験システム
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置と、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正基準器と、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正対象センサと、校正装置とを具備し、前記校正装置は、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正基準器によりそれぞれ測定して得た基準測定値を記憶すると共に前記３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正対象センサによりそれぞれ測定して得た校正対象測定値を記憶し、前記記憶した校正対象測定値を前記記憶した基準測定値に変換するための校正関数を算出することを特徴とする校正関数取得システム。
【請求項２】
請求項１に記載の校正関数取得システムで校正関数を取得したときに用いた校正パターン表示用ディスプレイ装置と同型の試験対象ディスプレイ装置に試験パターンを表示させるための試験パターン表示指示手段と、前記試験パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定するためのセンサであって請求項１に記載の校正関数取得システムで校正関数を取得したセンサと、該センサの測定値を前記校正関数により変換する変換装置とを具備したことを特徴とするディスプレイ装置の試験システム。
【請求項１】
試験対象のディスプレイ装置と同型の校正パターン表示用ディスプレイ装置と、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正基準器と、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に表示した校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定する校正対象センサと、校正装置とを具備し、前記校正装置は、前記校正パターン表示用ディスプレイ装置の輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度の入力値範囲内の３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正基準器によりそれぞれ測定して得た基準測定値を記憶すると共に前記３点以上の入力値を前記校正パターン表示用ディスプレイ装置に入力しその時の前記校正パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を前記校正対象センサによりそれぞれ測定して得た校正対象測定値を記憶し、前記記憶した校正対象測定値を前記記憶した基準測定値に変換するための校正関数を算出することを特徴とする校正関数取得システム。
【請求項２】
請求項１に記載の校正関数取得システムで校正関数を取得したときに用いた校正パターン表示用ディスプレイ装置と同型の試験対象ディスプレイ装置に試験パターンを表示させるための試験パターン表示指示手段と、前記試験パターンの輝度，ｘ色度，ｙ色度のうちの少なくとも輝度を測定するためのセンサであって請求項１に記載の校正関数取得システムで校正関数を取得したセンサと、該センサの測定値を前記校正関数により変換する変換装置とを具備したことを特徴とするディスプレイ装置の試験システム。
【図１】
【図２】
【図２】
【公開番号】特開２０１０−１３９３５６（Ｐ２０１０−１３９３５６Ａ）
【公開日】平成２２年６月２４日（２０１０．６．２４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００８−３１５３９１（Ｐ２００８−３１５３９１）
【出願日】平成２０年１２月１１日（２００８．１２．１１）
【出願人】（０００００３４１４）東京特殊電線株式会社 (173)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年６月２４日（２０１０．６．２４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２０年１２月１１日（２００８．１２．１１）
【出願人】（０００００３４１４）東京特殊電線株式会社 (173)
【Ｆターム（参考）】
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