説明

大日本スクリーン製造株式会社により出願された特許

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【目的】 基板裏面にチャック跡を生じさせないものでありながら、塗布均一性を損なうことなく、基板の端面や裏面の清浄度を高くできるようにする。
【構成】 基板保持手段3にピン状支持部材11と規制部材12とを備え、ピン状支持部材11の上端を基板Wの裏面に点接触させて基板Wを支持するとともに、その支持状態の基板Wの外周端縁に規制部材12を点接触して基板Wの水平方向の位置を規制し、基板Wを鉛直方向の軸芯周りで回転可能に保持する。また、規制部材12の水平方向外側で基板の外周縁を全周にわたって覆うように環状部材13を設け、その環状部材13の上面を平坦に構成し、かつ、環状部材13と規制部材12との間に鉛直方向下方に向かうドレン流路14を備え、遠心力により生じる気流に抵抗を与えながら、基板Wから遠心力によって流されるドレンを排出できるように構成する。 (もっと読む)


【目的】 接着剤を使用することなく球体状スペーサ6が凹入部17から抜け出るのを防止すること、熱処理に際してパーティクルの発生を防止すること、球体状スペーサ6の着脱・交換が容易で、安価に実施できる熱処理装置を提供する。
【構成】 この熱処理装置は、プレート2と、プレート2上に所要の間隔を介して基板1を支持する球体状スペーサ6とを備える。プレート2の上面に球体状スペーサ6の直径より小さい深さを有するスペーサ収納用凹部17を設け、当該凹入部17の上面開口寸法Sは、球体状スペーサ6の直径より小さく形成する。球体状スペーサ6をスペーサ収納用凹部17に挿入し、スペーサの頂部を当該開口を通してプレートの上面から上方に突出させて基板1を支持することにより、プレート2と基板1との間に微小間隔dを形成する。 (もっと読む)


【目的】 比較的近い色相の2つの色のうちで、一方の色部分をマスク領域とし、他方の色部分をマスク領域から除外する。
【構成】 カラー画像内においてマスクの対象色と対象外色とを指定し、対象色を示す第1の色ベクトルと対象外色を示す第2の色ベクトルとを求める。さらに、第1と第2の色ベクトルとは独立な第3の色ベクトルを設定する。そして、カラー画像内の各画素の色を、第1ないし第3の色ベクトルの線形結合で表わしたときの、第1ないし第3の色ベクトルに対する第1ないし第3の係数をそれぞれ求める。この第1の係数のビットマップデータを2値化することによって、マスクを表わす2値マスクデータが得られる。 (もっと読む)


【目的】 回転体の回転周期や露光ヘッドの副走査方向への移動速度の変動に起因して発生する画像ムラの低減を図る。
【構成】 画像記録装置100は、螺旋状にマルチビームを走査する装置であって、これに所謂インターレース方式という走査方法を適用したものである。LEDホルダ30より出射したn本の光ビームLBは、ズームレンズ24によって、その結像の中心間ピッチが記録線密度の逆数の2倍となる様に、フィルム35上に結像される。LEDホルダ30は記録線密度に応じた傾斜角度だけ回動する。シリンダ36は主走査方向Yへ回転し、露光ヘッド20は副走査方向Xへ記録線密度に応じて定まる速度Vx で移動している。従って、あるブロックラインの走査によって露光された走査線間を、次のブロックラインの走査によって露光することとなり、この様な走査が繰返されることにより、すじ状の画像ムラが低減される。 (もっと読む)


【目的】 外来要因の影響を受けることなく簡素な構造で薬液を安定供給する。
【構成】 薬液混合装置は、基板処理装置の基板洗浄槽12に薬液と純水とを混合して供給する装置である。この装置は、純水供給管18と、薬液貯溜容器22A 〜22D と、薬液供給配管40と、耐食レギュレータ34が配置された窒素ガス配管39とを備えている。純水供給管18は、基板洗浄槽12に接続され、純水が通過する。薬液貯溜容器22A 〜22D は、薬液を貯溜する密閉式の容器である。薬液供給配管40の先端には、薬液貯溜容器22A 〜22D から純水供給管18へと薬液を導く薬液導入弁20A 〜20D が配置されている。窒素ガス配管39は、薬液貯溜容器22A 〜22D から薬液供給配管40へ薬液を圧送するため、薬液貯溜容器22A 〜22D 内を耐食レギュレータ34によって調整された圧力の窒素ガスで加圧する。 (もっと読む)


【目的】 プリアライメント動作を短時間で行なえ、しかもプリアライメント動作の際における基板表面へのスリ傷の発生を抑制する。
【構成】 露光装置100の基板供給部200は、X軸に沿って移動するX軸センタリングユニット230,254とY軸に沿って移動するY軸センタリングユニット260,280を有する。各センタリングユニットには、X軸ガイドピン212,Y軸ガイドピン220等が突出して設けられている。基板供給部200に基板Kが搬送されると、各軸のセンタリングユニットを中央に移動し、基板Kを基板供給部200の中央にプリアライメントする。2枚目以降の基板Kのプリアライメントに際しては、一旦各軸のセンタリングユニットをプリアライメント位置から僅かに後退させておき、この位置から各軸のセンタリングユニットを移動して2枚目以降の基板Kのプリアライメントを行なう。 (もっと読む)



【目的】 高温処理された基板を目標温度に高速で冷却するとともに、その冷却後における面内温度分布の均一性を向上する。
【構成】 基板Wを載置して冷却する冷却プレート6を設けた処理室5内の天井側に副冷却プレート18を設け、この副冷却プレート18により、冷却プレート6上に載置された基板Wの上方となる処理室5内の雰囲気温度を、冷却プレート6で基板Wを冷却しようとする目標温度に冷却する。 (もっと読む)


【目的】 基板の温度を接触式で測定しながら基板に対し熱処理を施す場合に、熱処理前に基板と測温体との接触状態の適否を自動的に検知できるようにし、生産性を損なうことなく、測温の信頼性を確保し不良な熱処理を未然に防止して歩留まりの低下を防ぐ。
【構成】 測温体12と基板との接触状態が適正であるときの特性値をキーボード14によって入力しメモリ装置16に記憶しておき、加熱状態の測温体に室温状態の被処理基板が接触したときの測温体の温度降下の状態を表わす数値を演算回路20により算出し、その数値と特性値とを比較回路22で比較し、その比較結果に基づいて判定回路24で接触状態の適否を判定し、接触状態が適正でないと判定されたときに異常信号を警報器28へ出力し、基板の熱処理を中止する。 (もっと読む)


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