説明

NEC化合物デバイス株式会社により出願された特許

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【課題】
歪特性の劣化を抑止できる利得可変増幅器を提供すること。
【解決手段】
本発明にかかる利得可変増幅器は、入力信号を可変の利得により増幅する増幅回路10と、利得制御信号に基づいて増幅回路10の利得を制御する利得制御回路30とを備える利得可変増幅器であって、増幅回路10は、入力信号を増幅するトランジスタQ1と、トランジスタQ1にカスコード接続されたトランジスタQ5と、利得制御回路30による利得制御に応じてトランジスタQ5を制御し、トランジスタQ5とトランジスタQ1との接続点の電位を変化させるバイアス回路12と、を有するものである。 (もっと読む)


【課題】
従来、送信電力増幅用パワーアンプのバイアス回路の制御電圧が上昇すると、パワーアンプの回路電流が増加するため、回路の発熱が大きくなり、パワーアンプが熱暴走する問題がある。
【解決手段】
本発明のバイアス回路は、制御電圧入力端子から電流制限抵抗を介して接地電位との間に接続される電圧安定部と、前記電流制限抵抗と電圧安定部の間のノードと抵抗を介しベースが接続されるバイアス供給用エミッタフォロワと、前記バイアス供給用エミッタフォロワのベースとエミッタの間に接続される前記電流制限部とを有している。これにより、バイアス回路の制御電圧が上昇した場合にバイアス電流を減少させる。よって、制御電圧の上昇による増幅用トランジスタの熱暴走を防ぐことができる。 (もっと読む)


【課題】 配線抵抗及び配線容量を低減するとともに、チップ面積を削減する。
【解決手段】 SOI基板30は、シリコン基板31の上にシリコン酸化膜32が形成され、このシリコン酸化膜32の上にN型シリコン層33が形成されて構成される。ドレイン領域35は、シリコン層33の表面からシリコン酸化膜32まで到達して形成される。ドレイン電極42は、SOI基板30の裏面に電気的接触して形成される。導電体プラグ41は、ドレイン領域35の表面からドレイン領域35およびシリコン酸化膜32を貫通してシリコン基板31中に延在して、ドレイン領域35およびシリコン基板31に電気的接触して形成される。 (もっと読む)


【課題】 トレードオフの関係にある出力の安定性確保と遅延時間短縮とを両立することのできる光電流・電圧変換回路を提供する。
【解決手段】 フォトダイオード3の一端を、出力電圧を帰還抵抗5を介して入力端に帰還させた増幅器4の入力端に逆バイアス接続し、フォトダイオード3の光電流出力を電圧変換する回路において、
増幅器4の出力に負荷としてのダイオード接続のNch型MOSトランジスタ8を接続し、ゲートがコンパレータ6の出力に接続されたスイッチとしてのNch型MOSトランジスタ9により、増幅器4の出力立下がり時にコンパレータ6の出力がLowからhighに反転直後、MOSトランジスタ8を付加することで、増幅器4の出力のアンダーシュートを抑制する。 (もっと読む)


【課題】 素子容量をほとんで増加させることなく、またドレイン・ソース間耐圧をほとんど低下させることなく、ESD耐量を向上させる。
【解決手段】 ゲート電極38のドレイン領域35側端とドレイン領域35との間のシリコン層33の表面に、ゲート電極38から離間し、かつ、ドレイン領域35から離間して、ドレイン・ソース間耐圧に影響しない程度にシリコン層33より高い不純物濃度の複数のN型不純物領域42が互いに離れて形成されている。 (もっと読む)


【課題】 高周波スイッチSWの前段に接続される素子の出力インピーダンスとの最適化を簡便に行え、高周波スイッチSWから発生する高調波を抑制できる高周波スイッチ回路を提供する。
【解決手段】 高周波スイッチSWの送信波入力側端子Pbは、直接第1端子P1に接続されると共に移相器PS2、PS3、PS4を介してそれぞれ第2端子P2、第3端子P3、第4端子P4に分岐され、
各端子P1〜P4での移相量が360度を等間隔に分割するように各移相器PS2〜PS4のインダクタンス及びキャパシタンスが好適に選定されている。
これにより高周波スイッチSWの送信波入力側に接続されるローパスフィルタLPF等のとの接続点の条件(インピーダンス)に良好な入力側端子を選択可能にしている。 (もっと読む)


【課題】 高速処理を妨げることなく増幅度を高く設定することが可能なアイソレータを提供する。
【解決手段】 アイソレータ1は、フォトダイオードPD1(第1のフォトダイオード)、増幅器10,20、およびキャリア排出回路30を備えている。フォトダイオードPD1は、図示しないLED(信号源)から入力された光信号を電気信号に変換し、その電気信号を増幅器10に出力する入力素子である。増幅器10は、2つのバイポーラトランジスタQ1,Q2を含んで構成され、フォトダイオードPD1から出力された電気信号を増幅する。増幅器20の構成も増幅器10と同様である。キャリア排出回路30は、増幅器10に含まれるバイポーラトランジスタQ1のベースと増幅器20に含まれるバイポーラトランジスタQ4のベースとに接続されており、フォトダイオードPD1のオン時にこれらのベースに蓄積されるキャリアを、フォトダイオードPD1のオフ時に排出する。 (もっと読む)


【課題】 光特性に優れた光半導体装置を提供する。
【解決手段】 光半導体装置100においては、光半導体素子112の周囲に形成された隙間114に封止樹脂115が埋め込まれることで、光半導体素子112の上面以外に電極パッド117を形成する領域を形成している。また、電極116は、たとえば、リング状など、内部に空隙部を有する形状を有している。したがって、光半導体素子112から発せられる光のうち、外部に出力される光の量が増大し、光半導体装置100の光出力効率が向上する。 (もっと読む)


【課題】
高域フィルタあるいは低域フィルタ通過後のインピーダンス不整合を軽減し、高域フィルタ−低域フィルタ間での挿入損失の差や移相誤差を抑える、挿入損失の少ない移相器を提供する。
【解決手段】
入出力側にそれぞれ設けられて連動して動作する単極双投スイッチ11a、11bで低域フィルタ13と高域フィルタ12とを切り換える。入力端子INと単極双投スイッチ11aとの間に設けられるインピーダンス調整回路10aは、入力端子INと単極双投スイッチ11aの単極側接続点との間に接続されるキャパシタC10と、入力端子INと接地間に接続されるインダクタL10とからなる。また、出力端子OUTと単極双投スイッチ11bとの間に設けられるインピーダンス調整回路10bは、出力端子OUTと単極双投スイッチ11bの単極側接続点との間に接続されるキャパシタC14と、出力端子OUTと接地間に接続されるインダクタL14とからなる。 (もっと読む)


【課題】
厚みの薄いモールド樹脂剥がれ等の欠陥を精度よく検出できる外観検査装置及びその検査方法を提供すること。
【解決手段】
本発明にかかる外観検査装置100は、検査対象物(ワーク)10中の擬似的な凹レンズの焦点付近にフォーカスを合わせて撮像を行って画像データを得るカメラ1Aと、カメラ1Aとワーク10を結ぶ光軸に沿って照明光を測定対象物に照射する同軸照明3と、カメラ1Aで得られた画像データから輝点を検出して欠陥の有無を判定する剥がれ検査部7とを有している。カメラ1Aは、同軸照明3が照射した光がワーク10に反射されて生じた拡散光を、ワーク10内の欠陥による擬似的な凹レンズを介した虚像として撮像する。 (もっと読む)


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