【課題】被締結物の取り外しを容易ならしめた取り外し可能型取り付け装置を提供する。
【解決手段】取り外し可能型取り付け装置は、ベースボードに固定的に設けられた固定部材であって、雌ネジの役割を有する挿入孔が形成された、第１固定部材と、前記第１固定部材の前記挿入孔に対する雄ネジの役割を有する貫通部材であって、当該貫通部材を締着方向に回転させることにより、一端側が前記第１固定部材の前記挿入孔に螺合し、他端側から被締結物の貫通孔が挿入されるとともに、一端側と他端側の間の中間部にフランジが形成された、貫通部材と、前記貫通部材の前記他端側に位置し、前記貫通部材の前記フランジと協働して、前記被締結物を挟持する、第２固定部材とを備えており、前記貫通部材を前記締着方向と反対の反締着方向に回転させることにより、前記フランジが、前記被締結物を前記第１固定部材から離れる方向に移動させる。 （もっと読む）

【課題】既存のバーンインボードとの互換性を維持した上で性能を向上する。
【解決手段】バーンインボードＢＩＢは、被試験デバイスが装着される複数のソケットＳＫＴを表面に有するバーンインボード本体部ＢＩＢＭと、バーンインボード本体部に設けられた挿入エッジＥＧと、を有する。バーンインボードは、挿入エッジを接続先ボードＥＸＢに設けられたエッジコネクタＥＣに挿入することにより、接続先ボードに電気的に接続される。バーンインボードは、挿入エッジがエッジコネクタに挿入された時に、接続先ボードに設けられバーンインボード本体部に電源を供給する電源供給コネクタＰＳＣに電気的に接続される電源受給コネクタＰＲＣを備える。電源受給コネクタは、バーンインボード本体部の裏面に設けられている。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で任意の被試験デバイスを試験対象から除外する。
【解決手段】複数の被試験デバイスが装着されたバーンインボードが挿入され、前記複数の被試験デバイスにバーンイン試験を行うバーンイン装置は、前記複数の被試験デバイスの中から機能試験が行われる被試験デバイスを選択するデバイスセレクト信号を、前記バーンインボードに出力するデバイスセレクト信号出力回路と、前記機能試験が行われる被試験デバイスに供給される試験パターンデータを、前記バーンインボードに出力する試験パターン出力回路と、を備えて構成されている。前記デバイスセレクト信号出力回路は、マスク設定データを格納しているマスク設定メモリを有し、前記マスク設定データで特定された被試験デバイスが、前記機能試験が行われる被試験デバイスとして選択されないように、前記デバイスセレクト信号をマスクする。 （もっと読む）

【課題】バーンイン試験に要する全体的な時間を短縮する。
【解決手段】バーンインボードＢＩＢ上に、プログラマブルロジック装置１５０を設け、バーンイン試験の際には、このプログラマブルロジック装置１５０に、テストパターン信号と論理値を供給する。テストパターン信号は、プログラマブルロジック装置１５０から、さらに複数の被試験デバイスＤＵＴに供給され、被試験デバイスＤＵＴからの出力信号は、プログラマブルロジック装置１５０で論理値と比較され、その比較結果は、試験結果として、プログラマブルロジック装置１５０に格納される。このため、テスト制御装置１００から、高い周波数でテストパターン信号を供給することができ、また、テスト制御装置１００が被試験デバイスＤＵＴからの出力信号を直接読み込む必要が無くなる。 （もっと読む）

【課題】バーンイン試験に要する全体的な時間を短縮する。
【解決手段】バーンインボードは、コンフィギュレーションデータに基づいて回路構成を変更することができる複数のプログラマブルロジック装置１５０と、複数のプログラマブルロジック装置１５０のいずれか１つに接続され被試験デバイスＤＵＴが装着される複数のソケットＳＫとを備える。複数のプログラマブルロジック装置１５０の夫々は、少なくともバーンイン試験に先だち供給されるコンフィギュレーションデータに基づいてバーンイン試験の際にソケットＳＫに装着された被試験デバイスＤＵＴに供給するテストパターンを生成する回路３１０と、バーンイン試験の際にソケットに装着された被試験デバイスＤＵＴからの出力信号をプログラマブルロジック装置１５０に接続されている複数の被試験デバイスＤＵＴから並列に読み込んで論理値と比較し、結果を試験結果として格納するメモリとを備える。 （もっと読む）

【課題】試験結果情報の中から、ユーザーが必要としている特定の情報だけを抽出して、試験結果情報管理装置に出力することにより、試験結果情報の出力時間の短縮を図る。
【解決手段】複数の被試験デバイスに対してバーンイン試験を行うバーンイン装置は、前記バーンイン試験を行い、このバーンイン試験に対する前記被試験デバイスの試験結果に関する情報である試験結果情報が格納される試験結果格納部と、前記試験結果格納部に格納されている前記試験結果情報から、特定の情報を抽出し、この抽出した情報だけを、試験結果情報管理装置に送信する、情報抽出送信部と、を備えて構成されている。 （もっと読む）

【課題】メモリーに対するアクセス効率の向上を図ったテスト信号生成装置を提供する。
【解決手段】ホストコントローラ２００は、第１メモリー２３０に対する第１リード要求と、第２メモリー２４０に対する第２リード要求と、リフレッシュ要求とを発行し、リクエストメモリー２１０に格納すると共に、第１メモリー２３０、第２メモリー２４０から読み出されたデータに基づいてテスト信号を生成する。メモリーコントローラー２２０は、第１メモリー２３０、第２メモリー２４０の状態と、リクエストメモリー２１０に格納されている情報に基づき、第１メモリー２３０、第２メモリー２４０からのデータの読み出しの制御と、それぞれのリフレッシュ動作の制御を行う。 （もっと読む）

【課題】個々の温度制御ブロックに冷媒の流量を制御する機構を設けずとも被試験デバイスを所望の温度に制御可能にする。
【解決手段】バーンイン装置は、複数の被試験デバイスの温度制御を行うための複数の温度制御ブロックであって、それぞれが個別の被試験デバイスと接触して被試験デバイスの温度制御を行う複数の温度制御ブロックと、冷媒の温度が冷媒設定温度となるように制御しながら複数の温度制御ブロックのそれぞれに冷媒を供給する冷却装置と、複数の温度制御ブロックのそれぞれに設けられたヒータと、被試験デバイスが目標温度となるようにヒータの出力を個別に制御するヒータ制御ユニットと、ヒータの出力であるヒータ出力値のうち最も低いヒータ出力値が第１閾値以下である場合に冷媒設定温度を下げ、ヒータ出力値のうち最も低いヒータ出力値が第２閾値以上である場合に冷媒設定温度を上げる冷却装置制御部とを備えて構成されている。 （もっと読む）

【課題】エッジコネクタのコンタクトピンの数とバーンインボードの挿入エッジの電極パッドの数の増大を図る。
【解決手段】挿入エッジＥＧを有するバーンインボードは、挿入エッジＥＧをエッジコネクタＥＣに挿入した場合に挿入エッジ幅方向に並んで配置されエッジコネクタＥＣに設けられた複数の第１コンタクトピンＣＮＰＮ（１）の第１コンタクト部２０２と夫々が接触する複数の第１挿入電極パッドＩＮＰＤ（１）と、同様にエッジコネクタＥＣに設けられた複数の第２コンタクトピンＣＮＰＮ（２）の第２コンタクト部２５２と夫々が接触する複数の第２挿入電極パッドＩＮＰＤ（２）とを備え、挿入エッジＥＧをエッジコネクタＥＣに挿入する方向を挿入方向とした場合に、第１挿入電極パッドＩＮＰＤ（１）は挿入エッジＥＧにおける挿入方向前側に配置されており、第２挿入電極パッドＩＮＰＤ（２）は挿入エッジＥＧにおける挿入方向後側に配置されている。 （もっと読む）

【課題】ソケットの不良情報をより的確に監視して、バーンインボードの修理や洗浄を行う時期を、より効率的に管理する。
【解決手段】バーンインシステムは、各バーンインボードの各ソケット毎に、そのソケットに挿入された被試験デバイスがバーンイン試験の際にパスしたかそれともフェイルしたかを、テスト結果として取得する、テスト結果取得手段と、各バーンインボードの各ソケット毎に、所定回数分のテスト結果を履歴情報として保持する、履歴情報保持手段と、前記履歴情報保持手段で保持されているテスト結果の履歴情報において、フェイルした回数が第１閾値以上になったソケットについて、バーンイン試験の際に被試験デバイスを挿入しないことを示すマスクを設定する、第１マスク設定手段と、を備えて構成されている。 （もっと読む）