【課題】簡便で且つ簡素に形成された基準基板を利用することによって行う基板検査治具の位置合わせ方法の提供。
【解決手段】検査対象となる基板の一方面に設定される複数の検査点と夫々導通接触する複数の第一接触部を有する第一基板検査用治具と、該基板の他方面に設定される複数の検査点と夫々導通接触する複数の第二接触部を有する第二基板検査用治具を備える基板検査装置において、第一接続手段５の第一接続部５１と基準基板ＳＷの一方の面に設定された第二基準部ＳＷ２に当接させた後、第二接続手段７の第二接続部７１が基準基板ＳＷの他方の面に設定された第一基準部ＳＷ１と当接するように位置合わせを行う。第二基準部ＳＷ２は、第二配線部ＳＷ５、孔部ＳＷ３と第一配線部ＳＷ４を介して第一基準部ＳＷ１と電気的に接続されているので、電源手段からの電気信号を判定手段が検出することで位置合わせを行うことができる。 （もっと読む）

【課題】インピーダンス素子の両側に２つのコンデンサがデルタ型又はπ型に接続されてなり、基板に内蔵されるコンデンサ回路内の各コンデンサの容量を、コンデンサを回路に接続したままの状態で、簡易な装置構成により、正確かつ容易に測定できるコンデンサ容量測定方法を提供する。
【解決手段】第１の測定段階では、両コンデンサＣ１，Ｃ２を並列接続したときの両コンデンサＣ１，Ｃ２の合成容量を測定する。第２の測定段階では、両コンデンサＣ１，Ｃ２の容量比を測定する。算出段階では、第１の測定段階で測定された合成容量と、第２の測定段階で測定された容量比とに基づいて、両コンデンサＣ１，Ｃ２の容量をそれぞれ算出する。 （もっと読む）

【課題】検査対象の被検査基板の構成の変更に伴う基板検査治具の構成の変更の負担を軽減できる基板検査治具及びその関連技術を提供する。
【解決手段】この基板検査治具２は、治具本体６、電極ユニット７及び検査ヘッド８を備える。電極ユニット７は、略マトリクス状に配設された複数の電極ヘッド部を有し、治具本体６に交換可能に取り付けられる。検査ヘッド８は、複数のプローブと、プローブ保持部材とを有し、その各プローブの後端部が電極ユニット７のいずれかの電極ヘッド部と電気的に接触するように、電極ユニット７又は治具本体６に交換可能に取り付けられる。電極ユニット７の電極ヘッド部は、プローブの配置形態の異なる複数種類の検査ヘッド８に対応可能なように、検査ヘッド８のプローブの配設ピッチよりも小さな配設ピッチで略マトリクス状に配設されている。 （もっと読む）

【課題】１台の検査装置によってさまざまな検査要求に対応可能な基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板検査装置の検査本体部は、被検査基板を搬入側から搬出側まで搬送する搬送区域と、被検査基板に所定の検査を行うための検査治具を配置した検査区域とを備え、さらに、搬送区域に配置されていて、被検査基板を搬入側から搬出側まで搬送する第１の搬送装置と、第１の搬送装置の搬送方向と直交する方向に被検査基板を搬送するように配置された第２の搬送装置であって、第１の搬送装置の所定の位置と検査区域内の検査治具を配置した位置との間で被検査基板を搬送するための第２の搬送装置とを備え、第２の搬送装置が被検査基板を保持する把持装置を備える。 （もっと読む）

【課題】各配線パターンに対する電位差の付与及び付与解除の際の配線パターンに接触される接触ピン等の静電容量を考慮して、複数の配線パターンに対する電気特性検査の順番を決定することができ、しかも検査結果の信頼性を低下させることなく、検査速度の向上が図れる基板検査装置を提供する。
【解決手段】この基板検査装置１では、複数の電気特性検査のうちの付与電位差値が所定の基準レベル未満である電気特性検査では、複数の配線パターンのうちの、配線パターンに接触されている接触ピンの数が多いものから順に注目配線パターンに設定され、複数の電気特性検査のうちの付与電位差値が所定の基準レベル以上である電気特性検査では、複数の配線パターンのうちの、配線パターンに接触されている接触ピンの数が少ないものから順に注目配線パターンに設定される。 （もっと読む）

【課題】微細かつ確実に対象点上の酸化膜等の除去が可能な接続端子を提供する。
【解決手段】対象点間を接続する接続治具に用いられる接続端子である。小径の導電部とそれを囲むように配置された大径の導電性の円筒形状部とを備え、大径の導電性の円筒形状部の筒壁面に長軸方向に収縮するばね部が形成され、小径の導電部の先端部が、大径の導電性の円筒形状部の先端部から突出し、小径の導電部の一部が、大径の導電性の円筒形状部のばね部が形成されていない部分の先端部に近い位置に電気的に接続されて接合されており、小径の導電部の先端部が対象点から押圧されて後退するのに伴いばね部が収縮しながら旋回して小径の導電部の先端部を対象点上で旋回させる。 （もっと読む）

【課題】デルタ回路を構成する第１ないし第３のインピーダンス要素のうちの第１のインピーダンス要素のインピーダンス測定において、第２のインピーダンス要素と第３のインピーダンス要素の間に流れる電流をゼロに抑え、第１のインピーダンス要素のインピーダンスを正確に測定できるインピーダンス測定装置を提供する。
【解決手段】このインピーダンス測定装置では、第２の導電路Ｌ２と電気接続された出力端子及び反転入力端子と、所定の基準電位（例えば、グランド電位）に電気接続された非反転入力端子とを有するオペアンプ３４が備えられる。そして、第１のインピーダンス要素Ｚ１と第２のインピーダンス要素Ｚ２の間の第１の導電路Ｌ１の電位、及び第２のインピーダンス要素Ｚ２と第３のインピーダンス要素Ｚ３の間の第２の導電路Ｌ２の電位を基準電位に誘導しつつ、第１のインピーダンス要素Ｚ１のインピーダンスが測定される。 （もっと読む）

【課題】円筒形状部が抵抗溶接による固定の前後においてほぼ円形形状を維持している接続端子を提供する。
【解決手段】対象点間を接続する接続治具に用いられる接続端子は、小径の導電部とそれを囲むように配置された大径の円筒形状部とを備え、小径の導電部の先端部が、大径の円筒形状部の先端部から突出し、小径の導電部の一部が、大径の円筒形状部の一部に接合されており、小径の導電部に接合された大径の円筒形状部の部分を少なくとも含む円筒形状部の軸線の周りの帯状部分の一部に切欠き部が形成されている。 （もっと読む）

【課題】理想的な高耐圧、低オン抵抗且つ低オフ容量の半導体リレーを提供する。
【解決手段】入力素子に発光ダイオード１１を備えるとともに出力素子に二つのトランジスタ１２，１３を備える半導体リレー１０であって、前記二つのトランジスタが、相違する耐電圧及び／又は相違する電気容量を有する。また、一方の前記トランジスタ１２が、他方の前記トランジスタ１３より、高耐電圧及び／高電気容量である。 （もっと読む）

【課題】配線パターンの抵抗値のバラツキ等を適切に評価することができ、配線パターンの導通検査の適切な判定基準値を決定することができる基板検査装置等を提供する。
【解決手段】この基板検査装置１は、複数の配線パターンがそれぞれ形成された複数の単位基板が連なってなるシート基板に対し、シート基板内の単位基板の配線パターンの導通性に関する評価を行う。抵抗測定部１７は、第１及び第２検査治具１３，１４を介して配線パターン上に設定された２つの測定位置間の抵抗値を測定する。制御部１１の測定抵抗値評価部１１３は、評価単位シート基板を評価単位として設定された各配線パターンの基準抵抗値を基準として、抵抗測定部１７によって測定された評価単位シート基板内の各単位基板の各配線パターンの測定抵抗値のずれ度合いを算出する。 （もっと読む）