【課題】顕微鏡照明系およびその方法を提供する。
【解決手段】第１の共焦点および第２の非共焦点顕微鏡照明モード間を切り替える顕微鏡照明系であって、第１の顕微鏡照明モードは、照明光源装置１０と、光学軸９に垂直な平面において照明ビーム１６を偏向させるための走査ミラー装置２と、顕微鏡対物レンズ７の後焦点面６に走査ミラー装置２を結像するための、かつ照明ビーム１６を拡張するための走査アイピース３および下流の走査チューブレンズ５であって、顕微鏡対物レンズ７が、検査対象の試料８上に照明ビームを集束する走査アイピース３および下流の走査チューブレンズ５と、を含む顕微鏡照明ユニット１００を有する。特に位置決め顕微鏡法用に第２の顕微鏡照明モードを提供するため、顕微鏡照明ユニット１００は、照明ビームが顕微鏡対物レンズ７の後焦点面６に集束されるような方法で、照明ビーム１６の経路に挿入できる集束レンズ４を有する。 （もっと読む）

【課題】試料における点状対象の三次元位置決め用の顕微鏡装置および方法を提供する。
【解決手段】試料112における点状対象114を検出光学系108で結像し、画像空間に配置された少なくとも１つの検出ユニット146,148の、光束の入射方向に垂直に配置された検出面150,152で受ける。それぞれの検出面150,152上で感知されたそれぞれの光点を評価することによって、関連点状対象114の横方向Ｘ−Ｙ位置、および鮮鋭面に垂直に位置する光学軸Ｏの方向における、鮮鋭面に対する関連点状対象114の軸方向Ｚ位置を確認する評価ユニット154と、を含む。検出ユニット146,148によって検出できる異なる波長領域用のそれぞれ１つのＺ位置補正値が、その波長領域における検出光学系108の縦の色収差を示すものであり、評価ユニット154は、関連Ｚ位置補正値を用いて、点状対象114のそれぞれの波長領域でのＺ位置を補正する。 （もっと読む）

【課題】試料における励起状態の寿命を測定するための方法を提供する。
【解決手段】本発明は、試料における励起状態の寿命、特に蛍光寿命を測定するための方法、およびかかる方法を実行するための装置に関する。最初に、励起パルスが生成され、試料領域が、励起パルスで照明される。次に、励起パルスのパワー・時間プロファイルを表す第１のデジタルデータシーケンスが生成され、第１のスイッチング瞬間が、第１のデジタルデータシーケンスから決定される。さらに、試料領域から発する検出光が、検出器によって検出され、検出光のパワー・時間プロファイルを表す第２のデジタルデータシーケンスが生成され、第２のスイッチング瞬間が、第２のデジタルデータシーケンスから決定される。最後に、第１および第２のスイッチング瞬間の間の時間差が計算される。 （もっと読む）

【課題】ＲＥＳＯＬＦＴ顕微鏡法における照明および検出用の方法および装置を提供する。
【解決手段】励起光およびスイッチング光用のパルス光源または連続光源を用いるＲＥＳＯＬＦＴ顕微鏡法における照明および検出用の方法は、励起光（４）が、パルスで照射されることと、励起光（４）のパルスが、１５０ピコ秒より長く、好ましくは数百ピコ秒に至り、および数ナノ秒にさえ至ることと、を特徴とする。対応する装置は、本発明による方法を用いる。 （もっと読む）

【課題】試料を照明する方法及びシステムの提供
【解決手段】ＳＰＩＭ顕微鏡法で試料を照明するシステムであって、光線を生成する光源と、光線から光ストリップを形成し、特に、少なくとも１つの方向からの照明平面において試料を実質的に平面照明する手段と、試料から発せられた検出光を検出器に直接又は間接的に送るよう設計され意図された光学系を有する少なくとも１つの対物レンズであって、対物レンズ光学系は光ストリップと相互作用する、少なくとも１つの対物レンズと、を含むとともに、対物レンズ光学系の下流に配置されて、試料を照明するために、光ストリップが、偏向後、対物レンズの光軸に対してゼロ度以外の角度、特に直角に伝播し、且つ／又は対物レンズの光軸に平行しない平面に配置されるように、光ストリップを偏向する光リダイレクト装置をさらに含む、システム。ＳＰＩＭ顕微鏡法で試料を照明する方法にも関する。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡撮像光線路の球面収差を識別し補正する方法及び装置を提供する。
【解決手段】対物レンズ（１０）と、撮像光線路に配置された試料（９）を担持又は覆うカバースリップ（２）と、を備える顕微鏡（１）による試料（９）の顕微鏡撮像の状況で、顕微鏡撮像光線路（７）の球面誤差を識別する方法であって、測定ビーム（１３０）は、対物レンズ（１０）を通って試料（９）上に、偏心して対物レンズ（１０）の光軸（８）外に案内され、試料（９）とカバースリップの界面（１１６）で反射された測定ビーム（１３２）は、対物レンズ（１０）を通して検出器（１２８）に案内され、検出器（１２８）は、反射測定ビーム（１３２）の強度プロファイルを取得し、球面誤差の存在は、前記強度プロファイルから定性的及び／又は定量的に特定される。 （もっと読む）

【課題】顕微鏡内の照明光と検出光を分配させるための装置およびその方法を提供する。
【解決手段】装置は、照明光１４を試料１８へと案内し、試料１８からの検出光２０を少なくとも１つの検出器へと案内する光分配光学系１２を有する。光分配光学系１２は、第１の光路内に配置され、試料１８へと向けられた照明光１４を第１の偏光状態に変換する偏光ユニット２８、３０、３２と、第１の偏光状態に変換された照明光１４を試料１８へと案内し、試料１８からの検出光の、第１の偏光状態を示す第１の部分２０ａを第１の光路へと戻すように案内する一方で、検出光の、第１の偏光状態とは異なる第２の偏光状態を有する第２の部分２０ｂを第２の光路へと案内するような偏光依存性を有するビームスプリッタ３４と、検出光の第１の部分２０ａと第２の部分２０ｂを相互に合成して、これらを検出器へと案内するビームコンバイナ３８と、を包含する。 （もっと読む）

【課題】点状対象物の３次元位置決め用の顕微鏡装置と顕微鏡法を提供する。
【解決手段】顕微鏡装置には、点状対象物を、焦点配光４０、４０’の形態で２つの別個の画像空間に結像する２つの結像光学系２６、２６’と、且つそれぞれの画像空間で配置された検出面２７、２７’の検出点にて、分析可能な光点を捕捉する２つの検出ユニット２８、２８’と、２つの検出面２７、２７’の検出点を相互にペアで対応させ、且つ２つの光点を分析することによって点状対象物の横方向ｘ−ｙ位置および軸方向ｚ位置を確認する評価ユニットと、が含まれる。２つの結像光学系には、それぞれの検出ユニットの検出面に垂直な検出軸に対して、それぞれの焦点配光を斜めに向ける光学手段が含まれる。２つの焦点配光の傾斜が相互に反対であることにより、点状対象物のｚ位置の変化に応じて２つの光点が、反対方向にシフトする。 （もっと読む）

【課題】検出装置を提供する。
【解決手段】本発明は、光を受け取り、電気信号を発生するように具現化され、筐体を有し、この筐体内に配置された検出器と、筐体内に配置された冷却要素を有する検出装置に関する。本発明によれば、冷却要素が検出器を筐体に関して電気的に絶縁するか、または冷却要素が検出器を筐体に関して電気的に絶縁する絶縁体の少なくとも一部であるようになされている。 （もっと読む）