説明

アングルトライ株式会社により出願された特許

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【課題】多成分物質の評価の精度及び効率を向上させることを可能とする。
【解決手段】対象FP作成工程173と、対象FPピーク帰属工程149と、対象FPピ
ーク特徴量作成工程151と、対象FPタイプ2作成工程153と、対象FP領域分割特
徴量作成工程155と、対象FP特徴量統合工程157と、評価工程171とを備え、対
象FPピーク特徴量及び対象FP領域分割特徴量を統合して対象FP統合特徴量を作成し
、対象FP統合特徴量とこの対象FP統合特徴量に対応し評価基準となる多成分物質の複
数の基準FPに基づく基準FP統合特徴量とを比較評価することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】画像データを基に求められたスペクトルデータを利用し、検査対象品のスペクトルの波形形状と良品のスペクトルの波形形状との相違の度合いが表現できるように定義した数値指標を用いて検査対象品の外観の良否判定を行うこと。
【解決手段】検査対象品及び良品を撮影した画像のそれぞれについて各画素位置に対する輝度分布を画像内の行又は列毎にスペクトル化し、前記検査対象品のスペクトルの波形形状と良品のスペクトルの波形形状との相違の度合いが表現できるように定義した数値指標を用いて良否判定を行う。このスペクトル化は、前記画像内の行又は列方向に一又は複数の位置ずつ移動しながら輝度分布をスペクトル化していき、複数の行又は列方向のスペクトル、もしくは、これらの複数の行又は列方向のスペクトルを連結した1つのスペクトルとすることができる。 (もっと読む)


【課題】 特徴量の数を大きくすることなく、隣接する標本線の間に存在する波形パターンの特徴の抽出等を行うことができる特徴抽出方法を提供することである。
【解決手段】 選択した波形パターンデータについて、1本又は複数本の標本線を設定する第1ステップと、標本線上における変化量、存在量、存在量の最小値、存在量の最大値、波形パターンの開始点、波形パターンの終了点のうち一部又は全部を抽出する第2ステップと、標本線の各々を上方向及び/又は下方向にそれぞれ所定量移動させ、移動させた標本線上における変化量、存在量、存在量の最小値、存在量の最大値、波形パターンの開始点、又は波形パターンの終了点のうち一部又は全部を抽出する第3ステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 スペクトル波形パターンのピーク位置を検出する方法又は領域を分割する方法およびプログラムを提供することである。
【解決手段】 1本の水平線で構成される水準線(12)をスペクトル波形パターン(10)の最高ピークP1の上方の位置Huから予め定めた下限位置Hbまで下降させるステップと、水準線がスペクトル波形パターンの新たなピークと交差すると、当該ピークが隣接するピークと独立したものであるか否か判定し、独立したピークであると判定された場合には当該ピークの横軸方向位置を記録するステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 スペクトル波形パターンを横軸方向に自動的に分割する領域分割方法を提供することである。
【解決手段】 横軸方向に一定間隔でサンプリングされ、横軸の各座標位置における縦軸方向の高さ情報を有するスペクトル波形パターンデータについて、予め設定した移動平均値パラメータに基づき移動平均値を計算するステップと、スペクトル波形パターンデータと移動平均値との差分値又は差分値の絶対値を計算するステップと、差分値又は差分値の絶対値が、設定した閾値よりも大きな範囲を、ピーク存在範囲と定めるステップと、ピーク存在範囲の各々について代表位置を規定するステップと、代表位置の各々の中間に領域の境界位置を定めるステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】 スペクトル波形のピーク位置が非線形な変動や誤差を有する場合であっても、これを適正に補正するピーク位置補正方法を提供することである。
【解決手段】 スペクトル波形パターンを含む単一領域において基準ピーク位置を設定し、或いは、スペクトル波形パターンを横軸方向において分割して得られる複数の各領域において基準ピーク位置を設定するステップと、単一領域又は複数の各領域において補正の対象となる補正対象ピークを特定するステップと、単一領域又は複数の各領域において補正対象ピークを基準ピーク位置に移動するステップと、単一領域又は複数の各領域において、補正対象ピークの両側に位置するスペクトル波形パターンを、移動の量に応じて、横軸方向にほぼ比例的に伸縮させるステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。 (もっと読む)


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