【課題】被測定ＡＣ信号の損失と反射を低減する。
【解決手段】ＤＣ−ＡＣプローブ・カード２０は、プローブ・ニードル２６及び３１を有し、これらは、ＤＵＴに接触する末端を夫々有する。接続経路２４及び３０は、試験計装２２及び２８をプローブ・ニードル２６及び３１に接続するよう使用できる。接続経路２４及び３０の夫々は、夫々の対応する試験計装２２及び２８と、プローブ・ニードル２６及び３１の間に、ＡＣ測定に適した所望特性インピーダンスと、ＤＣ測定に適したガードされた経路の両方を提供する。 （もっと読む）

【課題】低周波数における容量性の高インピーダンスを効果的に測定する。
【解決手段】ＳＭＵ１２から、１ｋＨｚ未満のゼロでない周波数の交流成分を含む電圧信号Ｖ₁をＤＵＴ３０に供給する。供給した電圧信号Ｖ₁は、バッファ増幅器２０を介して制御及び測定部２２で測定する。一方、ＤＵＴ３０を流れる電流信号は、バッファ増幅器２４を介して制御及び測定部２２で測定する。制御及び測定部２２は、電圧信号及び電流信号の測定値を同期させてデジタル化し、デジタル化した電圧信号及び電流信号からインピーダンスを計算する。 （もっと読む）

【課題】
オートレンジ変更回路の異なる電流レンジを付与するインピーダンス素子のフィードバックの切り替え時に出力ノードで電圧グリッチが生ずることがないこと。
【解決手段】
所望のレンジを有する測定器用レンジ変更回路１は、次第に値が変化する複数のインピーダンス４、６の群を含んでいる。増幅器１２は、インピーダンス群のうち少なくとも１つのインピーダンス４又は６に電圧を供給する。電圧検知兼制限スイッチ３２は、この増幅器１２のフィードバック経路に設けられている。この電圧検知兼制限スイッチ３２は、このスイッチによって検知された検知電圧に応答して前記少なくとも１つのインピーダンスに供給される電圧を制限する。所望のレンジの電圧は、前記スイッチの動作に基づいて、前記インピーダンス群のうち他の異なる１つのインピーダンス６又は４の両端に現れる。 （もっと読む）

【課題】非常に反応的な負荷のインピーダンスを有効に測定すること。
【解決手段】ＤＵＴ５０のインピーダンスを測定する測定器は、電圧か電流のいずれかの第１の供給源１２と電圧か電流かのいずれかの第２の供給源２０を含み、第１の供給源１２は、ＤＵＴ５０と第１のフィードバック関係にして接続することができ、第２の供給源２０は、ＤＵＴ５０と第１の供給源１２との両方とフィードバック関係にして接続することができ、第１と第２の供給源１２、２０は、ＤＵＴ５０の電流に応答する電流源及びＤＵＴ５０の電圧に応答する電圧源としてそれぞれ動作するか、ＤＵＴ５０の電圧に応答する電圧源及びＤＵＴ５０の電流に応答する電流源としてそれぞれ動作し、第２のフィードバック関係は、第１のフィードバック関係より狭い帯域幅を有し、ＤＵＴ５０の電圧及び電流がＤＵＴ５０の測定されたインピーダンスを確立する。 （もっと読む）

【課題】 スイッチ・マトリックスのスタブ効果の低減で切替信号の周波数を制限されない。
【解決手段】Ｎ、Ｍが２を越える整数のＭ信号出力に、Ｎ信号入力を選択的に接続するスイッチ・マトリックス２０は、各Ｍ信号出力部Ｏ_１-Ｏ_９のまわりに配置のＮ入力スイッチクラスターを備えてＮ入力スイッチの少なくともＭ個のクラスターを形成し、各入力スイッチは、スイッチ入力部、出力部を有し、スイッチ出力部は、信号出力部に接続され、クラスターとその入力スイッチは、入力スイッチ接続点を形成するよう隣接クラスターの隣接スイッチ入力部が接続されるように配置され、また信号入力毎にステアリングスイッチを備え、このステアリングスイッチは、信号入力部を入力スイッチ接続点に選択的に接続し、ステアリングスイッチと入力スイッチとの組み合わせは、所望の信号入力部を所望の信号出力部に接続する。 （もっと読む）

【課題】
電荷トラッピング効果を避けるのに充分に短くすることができるように、各ＤＵＴ（被測定物）接続毎にパルス機器を有しなければならないことを回避すること。
【解決手段】
多数の直流機器１２と１つのパルス機器１４とを使用して、多数のＤＵＴ２０を試験するが、多数の直流機器１２でこれらのＤＵＴ２０に直流信号を同時に印加し、次いでパルス機器１４でＤＵＴ２０を順次パルス測定する。 （もっと読む）

【課題】複数のＤＵＴを同時並行試験可能な試験機器ネットワークを提供する。
【解決手段】コンピュータ・コードの実行に適した複数のスクリプト・プロセッサと実行されたコンピュータ・コードに応じたスクリプト・プロセッサによって制御されＤＵＴを試験する複数の測定リソースとを含み、これらは、２つグループの一方のグループに割り当てられ、１つのスクリプト・プロセッサだけが主スクリプト・プロセッサで、他のスクリプト・プロセッサは、従スクリプト・プロセッサであり、主スクリプト・プロセッサのみが他グループのスクリプト・プロセッサ上のコード実行開始を行い、従スクリプト・プロセッサは、そのグループの測定リソースの動作開始だけができ、主スクリプト・プロセッサは、実行中の特定のグループ中のスクリプト・プロセッサ上のコンピュータ・コードの実行開始も、その測定リソースの動作開始もしない。 （もっと読む）

【課題】ＤＵＴ上のＩＶ測定とＣＶ測定との間の切り替えに際して、ケーブルを接続変えしたりＤＵＴ又はその付近にスイッチング回路類を設けたりする問題を回避しつつ、ＤＵＴの電気的パラメーターを測定することができるようにする。
【解決手段】少なくとも３つの端子を有するＤＵＴ１１０の第１の端子Ｇに第１の交流電圧を印加し、第２及び第３の端子を仮想の第２の交流電圧にそれぞれ別々に駆動し、各仮想電圧は、それぞれの電流を必要とし、第１の交流電圧と仮想の第２の交流電圧にある第２、第３の端子とに基づいてＤＵＴ１１０の電気的パラメーターを測定する。 （もっと読む）

【課題】
第１及び第２のＤＵＴの間でクロストークを示すのに充分接近している第１及び第２のＤＵＴの電気測定を劣化させることなく行う。
【解決手段】
第１の信号を第１のＤＵＴに印加する工程と、第２の信号を第２のＤＵＴに印加する工程であって、第１の信号及び第２の信号は同時に生じ、互いに直交する工程と、第１のＤＵＴ応答を測定する工程と、第２のＤＵＴ応答を測定する工程とを含む。第１のＤＵＴ応答及び第２のＤＵＴ応答は、それぞれ第２の信号及び第１の信号から独立していることを示す。 （もっと読む）

【課題】
パルスＩ−Ｖ測定系統から望ましくないエラーを取り除く方法を提供すること。
【解決手段】
パルスＩ−Ｖ測定系統１０用の試験導体の抵抗及びセンス／負荷抵抗と関係するエラーは、ＤＣ機器とパルス機器との測定の組み合わせを用いて、開回路とスルー回路との測定とを行うことによって決定される。 （もっと読む）