【課題】プロトタイプの試験を行うための方法及びシステムを提供することである。
【解決手段】この方法は、第１のインタフェース・コンポーネントにおいて、ユーザ設計の少なくとも一部及び関連付けられた検証モジュールを表す構成画像に関連付けられた構成パラメータと、ランタイム制御情報とを受信することを含む。この方法は、さらに、第１のインタフェース・コンポーネントを使用して、構成画像をデバイスへ送信することを含む。第２のインタフェース・コンポーネントは、第１のインタフェース・コンポーネントから受信された構成画像及びランタイム制御情報のうち少なくとも１つに基づいて、タイミング及び制御情報を検証モジュールへ送信するように構成され得る。第２のインタフェース・コンポーネントからタイミング及び制御情報を受信することに応答して、検証モジュールは、デバイスを制御し、且つ/又は、ユーザ設計の少なくとも一部のデバイス状態を監視する。 （もっと読む）

【課題】既存の単一のレベルのスパイン配線技法は通常、一度に単一のネットの配線を実行する。その結果として、集積回路の配線は部分最適となることが多い。従来の配線解決策に比して、総配線長、伝搬遅延、スキュー時間などの１または複数の因子が改善されている、改良されたスパイン配線技法を提供する。
【解決手段】マルチレベルのスパイン配線は、１セットのピンを含むネットの仕様の受信に応じて、ネットを配線するための第１の配線が作成され、ネットを含むピンのセットは、コスト関数に少なくとも部分的に基づいて１または複数のグループに分割され、第１の配線に接続する第２の配線が、ネットの各グループに対して作成され、そのグループの第２の配線に各ピンを接続する第３の配線が、ネットの各グループの各ピンに対して作成される。 （もっと読む）