アドバンテスト (シンガポール) プライベート リミテッドにより出願された特許

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【課題】
【解決手段】本発明の実施形態は、被試験デバイスを試験する装置(10)と方法に関する。該装置は、共通のデバイス出力線(5)と、DUT(DUT1、DUT2、DUT3、…、DUTN)に刺激(ST)を提供するよう構成したドライバ手段(2)であって、DUT毎に異なる時間(T1、T2、T3、…、TN)に刺激を到達させることによって、DUTにおいて刺激時間のずれ(ΔST1、ΔST2、ΔST2、…、ΔSTN−1)を生じさせるよう構成した、ドライバ手段(2)と、共通のデバイス出力線(5)に電気的に連結したレシーバ手段(8)と、共通のデバイス出力線(5)に電気的に連結して、共通のデバイス出力線(5)を介してレシーバ手段(8)へと複数のDUTのDUT端子を電気的に連結させる、複数のDUT接続点(C1、C2、C3、…、CN)と、を含み、DUT接続点(C1、C2、C3、…、CN)からレシーバ手段(8)へと伝搬するDUT出力信号(OS1、OS2、OS3、…、OSN)に対する出力信号伝搬遅延を、刺激時間のずれ(ΔST1、ΔST2、ΔST3、…、ΔSTN−1)に適合させることにより、複数のDUTの試験が同一の刺激応答遅延を有する場合には、レシーバ手段(8)においてDUT出力信号(OS1、OS2、OS3、…、OSN)の同期重畳信号(SPN−1)が生成される。 (もっと読む)


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