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Fターム[2F061QQ00]の内容

機械的手段による測長計器 (2,489) | マイクロメータ (146)

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Fターム[2F061QQ00]に分類される特許

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【課題】複数のワークを測定する場合の測定時間を短縮することができる電子マイクロメータを提供する。
【解決手段】電子マイクロメータ装置600が、寸法測定対象であるワーク100とワーク200の寸法に応じた信号を出力する各検出器と、前記寸法に応じた信号を各検出器から取得し、検出器信号として出力する検出器処理部604と、ワーク100とワーク200から選択したワーク100を測定し、ワーク100が測定されていない期間に、ワーク200を測定し、前記検出器信号に基づいて、ワーク100とワーク200の寸法を算出する制御部603と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、高品質で安価な電気マイクロメータ用検出器を提供することにある。
【解決手段】コイル34a(34b)が磁性体フタ30a(30b)に対し所定の軸方向位置及びその直交方向位置に配置されるように、該磁性体フタ30a(30b)に対するコイル34a(34b)の軸方向位置及びその直交方向位置が位置決め固定されたコイル部分組立品14a(14b)を含み、2つの前記コイル部分組立品14a,14bが磁性体ケース12内に該磁性体ケース中心位置Pを中心にして対称に配置されるように、該各コイル部分組立品14a,14bのそれぞれの磁性体フタ30a,30bに対する磁性体ケース12の軸方向位置及びその直交方向位置が位置決め固定されていることを特徴とする電気マイクロメータ用検出器10。 (もっと読む)


【課題】プリセット処理における測定基準値の誤差の発生を効率的に排除できる測定器を提供する。
【解決手段】操作部からの指令に応じて検出手段に変位量を検出させ、検出された変位量を測定基準値Xとして記憶部に記憶させるプリセット処理と、現在の変位量と記憶部に記憶された測定基準値Xとの差を基に測定値を算出する測定値算出処理と、を実行する測定器であって、プリセット処理は、所定時間Tおきに検出手段により検出された変位量の変動量が許容範囲内である状態が一定時間継続した場合に可動部材が固定部材に対し静止していると判定する判定処理を有し、判定処理において、可動部材が固定部材に対し静止していると判定された場合に、変位量を測定基準値Xとして記憶部に記憶させることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】作業者の作業効率を向上できるマイクロメータおよびマイクロメータ用指掛部材を提供すること。
【解決手段】U字形状の本体フレーム1と、この一端部に設けられるアンビル2と、本体フレーム1の他端側にアンビル2に対して進退可能かつ軸方向へ移動可能に支持されるスピンドル3とを備え、本体フレーム1の片側面よりスピンドル3の移動量を読み取り可能なマイクロメータであって、スピンドル3の突出端より反アンビル側で、スピンドル3の移動量を読み取り可能な面とは反対の面に指掛部51が設けられているマイクロメータ。 (もっと読む)


【課題】 スピンドルを簡便に交換できる測定器を提供する。
【解決手段】回転によって軸方向進退自在に設けられたスピンドル300と、スピンドル300の回転に応じてスピンドル300の異なる回転角に対して異なる値の位相信号を発信する位相信号発信手段400とを備える。スピンドル300は軸方向に沿って設けられた係合溝320を有する。位相信号発信手段は、スピンドル300と一体的に回転するロータと、ロータに対向した状態で設けられロータの回転角に応じた位相信号を発信するステータと、ロータブッシュ423に設けられ係合溝320に係合する係合ピン421と、係合ピン421をロータに対して抜け止めする係合ピン支持手段450と、を備える。板バネ441に係合ピン421が掛止されることにより、係合ピン支持手段450が構成される。 (もっと読む)


雌ねじ211を有する筒21と、雌ねじ211に螺合する送りねじ31を有し軸中心の回転にて軸方向進退可能に設けられたスピンドル3とを備え、スピンドル3の回転量に基づくスピンドル3の軸方向変位量から被測定物の寸法等を測定する測定器において、送りねじ31のピッチPは外径Rと谷径rとの差の2倍以上であり、かつ、外径Rと谷径rとの差は外径Rの5分の1以下である。大ピッチの送りねじ31によってスピンドル3を高速に移動させることができ、測定器の操作性が向上される。
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【課題】 外部電磁場の影響を受けることなく正確な変位検出を行うことのできる変位検出器を提供すること。
【解決手段】 2枚の平行板ばね221、222を有するエデンばね22と、一端がエデンばね22に取り付けられ他端に先端球232を有する測定子23と、エデンばね22の撓みを光学的に検出する変位検出光学系24とが設けられる。エデンばね22には、反射ミラー226が設けられる。被測定面Wに接触された先端球232が上下方向に変位されると、エデンばね22が撓められ、反射ミラー226の向きが変化され、変位検出光学系24によって検出される反射光も変化される。この反射光の変化から、先端球232の変位が検出される。変位検出は、エデンばね22の撓みという力学的現象と、反射ミラー226による光の反射という光学的現象とに基づいて行われるため、外部電磁場の影響を受けない。 (もっと読む)


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