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Fターム[2F064DD00]の内容

光学的手段による測長計器 (11,246) | 誤差対策;較正 (386)

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干渉計からの測定信号の条件付けを含む方法。条件付けは、1つまたは複数の条件パラメータ、すなわち、条件下測定信号に対する複数の値の測定、前記条件パラメータを示す1つまたは複数の値の供給、前記条件パラメータを示す1つまたは複数の測定値に基づいて、前記条件下測定信号の各測定値のところの調整値の決定、前記調整値による前記測定信号の測定値の調整を特徴とする。
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