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Fターム[2F064LL03]の内容

光学的手段による測長計器 (11,246) | ホログラフィー技術 (33) | 実時間方式 (2)

Fターム[2F064LL03]に分類される特許

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【課題】物体が拡散媒質内に配置されているときに物体の位置および/または形状を遠隔測定する比較的簡単なセンサを提供する。
【解決手段】センサと物体との間の距離に対して短いコヒーレンス長を有する光源110と、送られたビームを入射ビーム126と基準ビーム123とに分割するビームスプリッタ112と、基準ビーム123と、入射ビーム126により照射された物体120から反射されたビーム127との干渉受光時にホログラムを生成し、基準ビーム123の作用による異方性回折によりクリスタルガラスから送り返される回折ビーム124でホログラムを再生する光屈折クリスタルガラス114と、回折ビーム124の受光時に情報を生成する検出装置116とを含み、それによって、検出装置116は、クリスタルガラスから回折ビーム124だけを受け取る。 (もっと読む)


【課題】位相シフトデジタルホログラフィを用いた変位計測において、3次元変位計測を一挙に且つ短時間で行う手法を提供する。また、変位計測手法によって得られた変位分布からひずみ分布を算出する手法も提供する。
【解決手段】a) 計測物体に3つの異なる方向から同一波長の物体光を照射し、b) 物体光と同一波長を有する3つの参照光と計測物体からの反射光との干渉像を、各参照光の位相を互いに異なる速度で物体光に対して変化させつつ複数枚、2次元撮像素子で撮影し、c) フーリエ変換を用いて位相変化速度の異なる干渉成分を抽出することにより3つの物体光による干渉像を分離し、d) 各干渉像より、各物体光の照射方向に応じた方向の計測物体の変位分布を計測することにより計測物体の3次元変位を計測する。 (もっと読む)


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