Fターム[2G001]の内容
放射線を利用した材料分析 (46,695)
Fターム[2G001]の下位に属するFターム
試料入射粒子(源)、刺激(意図外、直接分析外を含む) (4,826)
利用、言及された生起現象、分折手法 (5,017)
試料出射粒子(意図外、直接分析外を含む) (4,357)
検出器関連言及 (3,003)
分光;弁別(E、λ、e/m、粒子) (939)
信号処理とその周辺手段(測定出力提供とその精度向上関連) (1,977)
測定内容、条件、動作等関連変数、量ψ (4,673)
表示、記録、像化、観察、報知等 (3,732)
制御、動作、調整、安定化、監視、切換、設定等 (3,483)
分析の目的、用途、応用、志向 (3,508)
対象試料言及(物品レベル) (2,775)
試料形状言及 (1,526)
検出、定量、着目物質とその構成元素、関連特定状態等 (1,550)
測定前後の試料の動き (2,337)
試料保持、収容手段、状態等 (844)
試料作成、調製、試料及び他部分に対する処理、措置等 (954)
機能要素、部品素子、技術手段要素等、雑特記事項その他 (1,194)
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