【課題】半導体素子の測定において、半導体素子の搬送に伴う影響を減らして、正確な測定を行う方法の提供。
【解決手段】半導体測定支援システムは、測定位置に配置された半導体素子１１の測定を行う測定手段１２と、測定手段１２による測定の前後に半導体素子の搬送を行う搬送手段１３と、半導体素子１１が測定位置に配置されるように搬送手段１３を制御するセンサ１４と、搬送手段１３により半導体素子１１が測定位置に配置された場合に、センサ１４による搬送手段１３の制御を停止させ、測定手段１２により当該半導体素子１１の測定が終了した場合に、センサ１４による搬送手段１３の制御を再開させ、搬送手段１３により当該半導体素子１１を測定位置から搬出させる搬送制御手段１５と、を備える。 （もっと読む）

電子部品を分析するために、この部品を集束させたレーザビームにさらす。部品の感度帯域の位置および深さに関係するレーザマッピングによって提供される情報を、予測コード内の入力パラメータとして使用して、自然の放射環境内の電離粒子に対するマッピングされた部品の感度を定量化する。予測コードを使用して、電子部品内の誤動作の発生を決定する。放射環境に関連するリスクの決定には、２つの態様が要求される。一方は確率論的であり、粒子／物質の相互作用を考慮し、他方は電気的であり、電子部品内の電荷収集を考慮する。

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【課題】 操作部材が下降するときに、導通用接触部が電気部品を押圧しながら引っ掻く虞がない電気部品用ソケットを提供する。
【解決手段】 ＣＣＤ１の端子１ｐと接触するコンタクトピン３０が設けられたソケット本体１１と、ソケット本体１１に上下動自在に設けられた操作部材１２と、操作部材１２と一体に上下動可能に設けられ、ＣＣＤ１が収容される収容部材１３とを備えた電気部品用ソケット１０であって、操作部材１２が下降すると、収容部材１３に収容されたＣＣＤ１が下降することにより、ＣＣＤ１が導通用接触部３０ｇから離間した後に、押圧部１２ｎが被押圧部３０ｅを押圧して揺動直線部３０ｄがＣＣＤ１から退避することにより、導通用接触部３０ｇがＣＣＤ１から離間する電気部品用ソケット１０を構成した。 （もっと読む）

【課題】露光期間中に設定すべき基板電圧の最適値を短時間にかつ容易に検出すること。
【解決手段】基板電圧（クリップ電圧Ｖｃ）を初期値に設定し、各フォトダイオードの蓄積電荷量が飽和信号電荷量に達するのに十分な輝度の光を照射した状態で固体撮像素子を駆動して撮像動作を行わせる。固体撮像素子から出力される画像データを複数のエリアＡ１〜Ａｍに分割し、各エリアＡｎ（ｎ＝１〜ｍ）について画素信号の平均値ＡＶｎを算出する。平均値ＡＶｎの最小値Ｖｍｉｎを求め、この最小値Ｖｍｉｎが所定の規格範囲内（Ｌｍｉｎ〜Ｌｍａｘ）に入るように基板電圧を変化させて、基板電圧の最適値を求める。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の実装後に生じる半導体素子の特性劣化の原因を解析可能な半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】基板１と、基板１上に搭載され、Ｘ線照射量に基づく特性変化量が予め定義された複数の半導体素子２０１ａ，２０１ｂを含む半導体チップ２と、基板１上に半導体チップ２と共に搭載され、半導体チップ２のＸ線照射量を測定する照射量測定装置３と、半導体チップ２を封止する封止樹脂４とを備える。 （もっと読む）

【課題】密閉空間内の制御された雰囲気下でデバイス特性を安定且つ再現性良く検査する。
【解決手段】密閉空間内の制御された雰囲気下に配置された半導体装置の複数の電極パッドに複数の接続端子をそれぞれ同時に接触させ、密閉空間外と接続され且つ密閉空間内に配置された複数の信号配線及び複数の接続端子を介して複数の電極パッドに対して電気信号の授受を行うことで半導体装置を検査する。ここで、複数の接続端子のうち複数の信号配線がそれぞれ接続される複数の接続端子を密閉空間内において順次切り替えることにより、半導体装置の複数の電極パッドのうち電気信号の授受が行われる複数の電極パッドを順次切り替えて、半導体装置を検査する。 （もっと読む）

【課題】 デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。
【解決手順】 試験項目の不良率と試験時間から試験項目毎の個別指標を求め、指定された相関関係にある試験項目をグループ化し、グループ内の試験項目の個別指標からグループに対するグループ指標を求め、グループのグループ指標とグループ化されなかった試験項目の個別指標とを基に、グループと単独の試験項目とを混在して試験順序を決定するよう構成する。 （もっと読む）

【課題】 ＩＤＤＱ測定値の変動傾向による異常電流検出精度の低下を改善可能な検査方法および検査装置を提供する。
【解決手段】 検査パターンを順次切り替えながら静止電源電流測定を繰返し実施して、検査パターンの各々に対応した静止電源電流測定データの系列を得る過程と、静止電源電流測定データの系列を、測定順に、検査パターンの全数より少ない数の静止電源電流測定データからなる部分系列に分割する過程と、部分系列ごとに、静止電源電流測定データを使用して良否判定指標を算出し、良否判定規格値と比較することにより検査対象の半導体集積回路の良否判定を行う過程とを含む。 （もっと読む）