【課題】被テスト回路の可変電圧と入力電圧のレベルを可変して、テスト時の誤動作をなくして電流を測定し、故障を検出する。
【解決手段】被テスト回路の電源供給端子に時間経過とともに変化する可変電圧を供給する電源回路と、電源回路の出力端子に一方の端子が接続され、他方の端子が被テスト回路の電源供給端子に接続され、電源回路から供給される可変電圧に対応して被テスト回路に流れる電流を計測する電流計と、被テスト回路の入力端子に上記電源回路から出力される可変電圧より低くかつ時間経過とともに変化する電圧を供給する入力信号供給部と、被テスト回路に流れる電流を電流計で検出し、検出した電流に基いてこの被テスト回路の故障を検出する制御部とを有する。 （もっと読む）

【課題】 本発明の目的は、有機薄膜の垂直方向と水平方向の２つの方向のキャリヤ移動度が測定可能な半導体膜異方性測定装置を提供することにある。
【解決手段】 測定対象物に設けられた電極に接触可能なプローブを有する測定対象物設置手段１２と、測定対象物に光を照射する光照射手段１４と、プローブを介して電極に電圧を印加する電圧印加手段１６と、測定対象物を流れる電流信号を検出する信号検出手段１８と、検出信号を処理するための信号処理手段２０と、を備え、測定対象物設置手段１２は独立して位置決め可能な３本のプローブを含み、電圧印加手段１６は各プローブへ印加する電圧の種類を変更可能に構成され、ＴＯＦ法測定モードと、ＦＥＴ法測定モードとの２種類の測定モードでの測定が可能であることを特徴とする半導体膜異方性測定装置１０。 （もっと読む）

【課題】静電気放電耐性特性の測定、及び静電気破壊試験において、静電気放電保護回路に対し、多種類の導通状態を実現することができるようにＴＬＰ電圧の設定方法を改善する。
【解決手段】パルス波高を調整自在とする矩形はパルス発生回路１から発生したパルスを波形成形回路によって、所望のＴＬＰ電圧の波形を作成したうえで、静電気放電保護回路２に対し、同軸ケーブル４を介して、印加を行うことにより、ピーク値を選択自在とすると共に、電圧上昇率を選択することを可能にしている。 （もっと読む）

【課題】 外来ノイズの影響を軽減し、測定精度を向上することができるデバイス特性の測定方法を提供する。
【解決手段】 同一測定条件によるｎ回すべての測定データを一度に積分するのではなく、ｍ回に分けて、ある程度短い時間の積分を繰り返し行い、その結果について統計処理を行い、積分データの平均および標準偏差σを算出し、所定以上のばらつきがある場合には、外来ノイズが侵入したものと判断し、平均より大きく離れているデータを削除し、削除した分の不足データは追加測定を行うことで補う。 （もっと読む）