トランスデューサ（１１５，１２５，２１５，２１７）からの実際に測定された信号と、位置、負荷又は別の既知の又は測定可能なパラメータに基づく関数（１３０，２３０，２３２）により生成された補足の又はシミュレートされた信号とを組み合わせることにより発生された仮想の信号を用いて、試験の下での試験体（１２０，２２０）のシミュレーション及び耐久試験の能力を拡張するためのシステム（１００，２００）及び方法である。従って、この仮想の信号は、当該システムをこの新しく計算された又は組み合わされた信号に適合させるよう制御ループの中に挿入され得る。
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