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Fターム[2G086CC03]の内容

Fターム[2G086CC03]に分類される特許

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【課題】 光ファイバ側面から信号光を効率よく入射させる光ファイバカプリング技術を提供する。
【解決手段】 本発明に係る光入射装置9は、所定の曲率半径で曲げられた通信用光ファイバ4Aに入射用光ファイバ14から所定の角度で第一の光ファイバ4Aの側面上の所定の位置に向けて信号光を出射し、入射用光ファイバ14から出射した信号光が通信用光ファイバ4Aのコア21と結合する箇所で入射用光ファイバ14から出射した信号光のビーム径拡大を抑制するために光硬化性樹脂13を用いて光導波路を自己形成する機構を備える。これによって、通信用光線ファイバ4Aの側面からその光ファイバ4Aのコア21に、信号光を効率よく入射させることができる。 (もっと読む)


【課題】損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。
【解決手段】
表示手段の表示分解能に応じた表示データを作成する表示データ作成手段とを備えた光パルス試験器において、表示データ作成手段で作成した表示データに基づいて仮の損失分布変極点を検出し、仮の損失分布変極点近傍の測定データに基づいて真の損失分布変極点を特定するとともに真の損失分布変極点を含むイベントを解析する解析手段を備えた。 (もっと読む)


【課題】本発明は、複数の異なる波長の光を弁別して光強度測定を行うことや、複数の通信光の波長でOTDR測定を行うことが可能で、かつ、光源としても使用可能な1台の光測定装置の提供を目的とする。
【解決手段】第1の接続部1と、第1のレーザモジュール5と、第1の受光器7と、光強度測定部21と、OTDR測定部22とを備えた光測定装置において、複数の通信波長測定光とを選択的に発生する第2のレーザモジュール6と、通信光と測定専用光の戻り光とを分離する第1の光フィルタ11と、複数の通信光を分離する第2の光フィルタ12と、分離された通信光の1つを受光第2の受光器8と、分離された他の通信光を受光する第3の受光器9と、第1の光カプラ14と、第2の接続部2と、第2の光カプラ15と、第3の光カプラ16とを備え、光強度測定部は更に、第2の受光器又は第3の受光器で受光した光の光強度を測定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】長距離線路の光ファイバに対しても適用可能な、光ファイバの診断方法を提供する。
【解決手段】OTDRを用いて、波長1.24μmの第1の光、波長1.31μmの第2の光、及び、波長1.59μmの第3の光を、光ファイバにそれぞれ入射し、及び、光ファイバでの第1〜第3の光の反射光の光強度をそれぞれ検出する。次に、第1〜3の光のそれぞれの伝送損失を求める。次に、第2の光の伝送損失に対する第1の光の伝送損失の比が、予め定められた第1の閾値以上であるか否かを判定する。次に、第2の光の伝送損失に対する第3の光の伝送損失の比が、予め定められた第2の閾値以上であるか否かを判定する。次に、第1の光の伝送損失が第3の光の伝送損失以上であるか否かを判定する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、光スプリッタ下部の光ファイバを切断する際にOTDR波形のフレネル反射の位置に光ファイバ番号を明記し、その波形を基準波形として背景に残しながら、接続工事時に基準波形と比較することにより番号などの間違いなく工事を正確に実施することを目的とする。
【解決手段】本発明のPON接続工事方法は、PONにおいてセンタ側から加入者側に向けてパルス光を出力したときの後方散乱光の波形(以降、基準波形と称する。)を取得する基準波形取得手順と、いずれかの加入者側の光ファイバを切断し、基準波形のピークと切断された加入者側の光ファイバの識別番号とを対応させて記録する記録手順と、切断した加入者側の光ファイバを新たな光スプリッタと接続し、接続後の後方散乱光の波形(以降、測定波形と称する。)を取得し、測定波形と共に記録手順で記録した基準波形及び識別番号を表示する。 (もっと読む)


【課題】大きな損失の後のデッドゾーンを短くすることを目的とする。
【解決手段】本願発明の光パルス試験装置は、パルス光を発生する光源としてのLD13と、パルス光の後方散乱光を受光するAPD14と、APD14の受光信号を増幅する増幅器15と、増幅器15の増幅した信号強度を蓄積して後方散乱光の時間波形を生成する加算部17と、APD14に任意のバイアス電圧を印加するAPDバイアス回路21と、任意の時間帯に、APD14へのバイアス電圧をAPDバイアス回路21に低下させるか又はAPD14へのバイアス電圧の印加をAPDバイアス回路21に停止させるマスク位置設定部20と、を備える。 (もっと読む)


【課題】光パルス試験器において、支障移転工事における工事前後の測定作業の利便性を高める。
【解決手段】被測定光ファイバに光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、操作受付部と、表示部と、操作受付部を介して第1測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、測定終了後に第1測定データとして記録し、操作受付部を介して第2測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、表示部に、記録した第1測定データおよび測定中の第2測定データを表示させる測定制御部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


【課題】多心光ファイバケーブルにおける試験対象の心線の指定を容易に行なうことができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】多心光ファイバの被測定心線に光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、多心光ファイバの心線の識別子を一覧表示する表示部と、多心光ファイバの構造型に関する指定を受け付け、受け付けた構造型に対応した心線の配色情報の設定を受け付け、受け付けた配色情報に基づいて、一覧表示に色を付して表示部に表示させるユーザインタフェース部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


【課題】光パルス試験器において、スプリッタ下部の支障移転工事における工事前後の測定作業の利便性を高める。
【解決手段】被測定光ファイバに光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、操作受付部と、表示部と、操作受付部を介して第1測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、測定終了後に第1測定データとして記録し、操作受付部を介して第2測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、表示部に、記録した第1測定データおよび測定中の第2測定データを表示させるとともに、第1測定データと第2測定データとの差分波形を表示させる測定制御部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


【課題】本発明は、波長フィルタを用いずに各波長の後方散乱光を分離し、複数波長の光パルス試験を同時に行うことにより測定時間を短縮することを可能とし、工事の効率化を図ることを可能にすることを目的とする。
【解決手段】本発明に係る多波長同時測定OTDRは、互いに異なる2以上のランダム符号を発生させるランダム符号発生器11と、波長の異なる複数の光源13_1〜13_Nと、複数の光源からの試験光を合波する合波器21と、合波光を被測定光ファイバ93に出力し、被測定光ファイバ93からの後方散乱光が入力される光カプラ14と、後方散乱光を受光する受光器16と、直流成分をカットする直流カット回路17と、交流成分をデジタル信号に変換するAD変換回路19と、デジタル信号と各ランダム符号との相関演算を行う相関器20と、を備える。 (もっと読む)


【課題】ファイバの故障診断の測定を長距離且つ高分解能に対応して行うことを目的とする。
【解決手段】本発明のファイバ測定装置1は、ファイバ2に出力したレーザ光の戻り光を検出するフォトディテクタ6と、フォトディテクタ6が検出した戻り光の信号のうちレーザ光の周波数成分を抽出する帯域制限回路12と、帯域制限回路12により帯域制限がされた信号の波形を微分して、微分した信号を微分する前の信号に加算する第1微分回路31および加算回路32を有する波形等化回路15と、を備えている。これにより、長距離且つ高分解能にファイバの故障診断の測定を行うことができるようになる。且つ、アナログ回路で構成しているため、単純な回路構成および簡単な処理でリアルタイムに故障診断の測定を行うことができるようになる。 (もっと読む)


【課題】 PON通信システムの分岐線路に不具合が発生した場合、その心線と故障位置を所内から特定する。
【解決手段】 所外伝送装置8Nの各々から送出されるバースト信号光17を光カプラ4と測定器選択装置10を介してリンク検出装置13で受信し、当該信号光のMACアドレスを検出することで所外伝送装置8Nがリンク状態にあるか否かを判断し、複数の所外伝送装置8Nが個別に所有するMACアドレスと分岐線路7Nの物理的な心線番号との接続関係を対応付け、分岐線路7Nの故障発生時にOTDR波形を測定し、当該波形と分岐線路7Nを新設した際にデータベース化された正常なOTDR波形との差分波形を導出し、MACアドレスと分岐線路7Nとの接続関係により分岐線路7Nの故障心線番号を推定し、かつ、OTDR差分波形から分岐線路7Nの故障位置を特定する。 (もっと読む)


【課題】製造コストおよび維持管理コストの低い光線路試験システムを実現する。
【解決手段】光線路試験システム1は、光線路群に直接的又は間接的に接続されるn個の光線路側ポート、及び、該n個の光線路側ポートの何れかに接続可能な試験器側ポートを有するm台の子ファイバセレクタと(1≦i≦m,m及びnは任意の自然数)、光線路群に接続されるn個の光線路側ポート(nは任意の自然数)、上記m台の子ファイバセレクタの各々が有する試験器側ポートに接続されるm個の光線路側ポート、及び、これらn+m個の光線路側ポートの何れかに接続可能な単一の試験器側ポートを有する1台の親ファイバセレクタと、上記親ファイバセレクタの単一の試験器側ポートに接続された光線路試験装置を備えている。 (もっと読む)


【課題】 光信号を入出力するために側方から突き当てる光プローブの最適な設置位置を調整する。
【解決手段】 試験部7からの出射光を光プローブ部4の先端から出射し、光プローブ部4の先端からの出射光を第1の光ファイバF1の曲げ部に入射し、第1の光ファイバF1の曲げ部から入射された光が第1の光ファイバF1中で生じる反射光を第1の光ファイバF1の曲げ部から漏洩する光を光プローブ部4で受光し、光プローブ部4で受光した漏洩光を試験部7にて反射率波形分布データのピーク値を取得し、ピーク値が最大となる位置へ制御部8が可動部3を制御する。 (もっと読む)


【課題】高光出力かつ高感度を有するとともに小型化可能な双方向光モジュールを提供する。
【解決手段】本発明の双方向光モジュールは、異なる波長の光を発する複数の発光素子と、光を受光する受光素子と、光ファイバがそれぞれ接続される第1のポートおよび第2のポートと、第1のポートおよび第2のポートに入射する光の波長範囲を規定する波長フィルタと、入射された光を複数の光に分岐するビームスプリッタであって、複数の発光素子のうち少なくともいずれか1つから出射され当該ビームスプリッタに入射された光を分岐して、第1のポートまたは第2のポートのうち少なくともいずれか一方へ入射させるとともに、当該ビームスプリッタに入射された、第1のポートおよび第2のポートに接続された各光ファイバからの戻り光を分岐して、受光素子に入射させるビームスプリッタと、を、複数の発光素子から出射された光が光ファイバに結合する間の空間光内に備える。 (もっと読む)


【課題】光ファイバの融着や接合の確認にあたり、作業者がOTDRの測定監視に関わる時間を短縮軽減できる光パルス試験装置を実現すること。
【解決手段】光ファイバの一端に接続されてパルス光を入射し、前記光ファイバの他端から反射される前記パルス光を時間領域で測定し、前記反射されたパルス光の測定結果を縦軸を光パワーとし横軸を距離とする表示画面に測定波形として表示するように構成された光パルス試験装置において、前記表示画面の所望の距離位置に、チェックポイント用カーソルを設定するチェックポイント用カーソル設定部と、前記測定波形の端部位置と前記チェックポイント用カーソルの設定位置を比較し、前記測定波形の端部が前記チェックポイント用カーソルの設定位置を越えたことを検出すると検出信号を出力する位置比較部と、この検出信号に基づき、その旨を外部に出力する検出情報出力部、を設けたことを特徴とするもの。 (もっと読む)


【課題】 光ファイバの心線の断心箇所を確実にかつ迅速に特定する。
【解決手段】 光通信装置2aにおいて、制御回路7aは、光受信アラーム回路9aから、アラーム信号が供給されると、切換回路8aにレーザダイオード12aを、信号処理部16aに切り換えて接続させるためのトリガー信号を供給するとともに、信号処理部16aにOTDRとして起動させるための制御信号を供給する。信号処理部16aは、レーザダイオード12aを駆動してパルス光を出射させて、受光部18aを介して後方散乱光を受光し、OTDR波形を得て、断心位置(Ka)を特定して、断心位置情報を監視システムへ送る。 (もっと読む)


【課題】 一様な光出力レベルの高速光パルス列を生成し得るレーザダイオード駆動回路、並びに、レーザダイオードの温度依存性による光出力レベルのバラツキを抑制して高精度測定を可能とした光時間領域反射測定器を提供する。
【解決手段】 レーザダイオード18の駆動電流をオンオフ制御するスイッチング素子(FET17)と、増幅器12で増幅されたパルス信号を積分してスイッチング素子の制御電極(FET17のゲート電極)に供給する積分回路10と、を備え、レーザダイオード18の温度依存性による光出力レベルの低下分を積分回路10の積分動作によって相殺する。 (もっと読む)


【課題】基準ファイバならびに測定対象である光ファイバが無くともAPDの増倍率の補正が容易に出来る光パルス試験器およびその調整方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光パルスではなくタイミング制御不要な連続光を試験対象の光ファイバを接続するための外部接続部に向けて射出し、当該連続光の後方散乱光よりレベル大きい反射光をアバランシェフォトダイオード(APD)で受光し、APDの増倍率を決定するAPDバイアス電圧を変化させ、APDの増倍率とAPDバイアス電圧の組み合わせを複数検出することによってAPDの増倍率の補正を行う。 (もっと読む)


【課題】試験項目を減らすことなく簡易な構成の光線路試験装置を実現する。
【解決手段】光線路試験装置10は、共通ポート110cが光線路群から選択された対象光線路に接続されるWDMカプラ110と、WDMカプラ110の第1の分岐ポート110aに接続された光パルス試験器120であって、上記対象光線路に入力するパルス光を生成すると共に、上記対象光線路から取り出した上記パルス光の後方散乱光の波形を検出する光パルス試験器120と、WDMカプラ110の第2の分岐ポート110bに接続された光パワー測定器130であって、上記対象光線路から取り出した信号光のパワーを測定するための光パワー測定器130と、を備えている。 (もっと読む)


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