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Fターム[5F061GA00]の内容

Fターム[5F061GA00]の下位に属するFターム

Fターム[5F061GA00]に分類される特許

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【課題】セラミック基板又はメタル基板を含む封止済基板をレーザによって切断する場合に、ドロスの発生及びセラミック基板の割れやチッピング(欠け)の発生を抑制する。
【解決手段】回路基板2に設けられた複数の領域7に各々装着されたチップ3を樹脂封止することによって封止済基板1を形成し、複数の領域7の境界線6に沿って封止済基板1を切断することによって複数の電子部品を製造する際に使用される切断方法であって、テーブル9に封止済基板1を固定する工程と、照射ヘッドから封止済基板1に向かって第1及び第2のレーザ光12、18を照射する工程と、照射ヘッドと封止済基板1とを相対的に移動させる工程とを備える。照射する工程では、第1のレーザ光12を照射することにより境界線6においてミシン目状の穴17を形成した後に、境界線6に向かって第2のレーザ光18を照射することにより封止済基板1を切断する。 (もっと読む)


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