説明

国際特許分類[H01L27/06]の内容

国際特許分類[H01L27/06]の下位に属する分類

構成部品が共通の活性領域をもつもの

国際特許分類[H01L27/06]に分類される特許

1 - 10 / 2,326



Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 285


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 285


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 285


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 285

【課題】ダイオードの逆回復特性を改善する技術を提供すること。
【解決手段】モノリシック集積回路100は、半導体層6と絶縁分離部4とダイオード16を備えている。絶縁分離部4は、平面視したときに、半導体層6の一部である島領域8を周囲から絶縁している。ダイオード16は、島領域8に形成されている。ダイオード16は、第1導電型の中央領域14と第2導電型の環状領域10を有している。中央領域14と環状領域10は、半導体層6の表層に形成されている。平面視したときに、環状領域10は、中央領域14の周囲を一巡している。島領域8には、半導体層6を貫通する貫通部18が形成されている。貫通部18は、中央領域14に囲まれている。モノリシック集積回路100では、絶縁分離部4を画定するトレンチと貫通部18を画定するトレンチが、同一の製造工程で作製される。 (もっと読む)


【課題】フォトダイオードに蓄積された電荷をより正確に読み出す。
【解決手段】固体撮像装置は、半導体基板11と、半導体基板11内に設けられ、第1導電型の半導体層を有するフォトダイオード16と、フォトダイオード16上に設けられ、上部又は全体が第2導電型の半導体層からなるシールド層27と、半導体基板11に設けられ、フォトダイオード16に蓄積された電荷を浮遊拡散層に転送する転送トランジスタ20とを含む。シールド層27の上面は、半導体基板11の上面より高い。 (もっと読む)


【課題】能動素子または受動素子が一つの半導体基板に複数個形成されてなる半導体装置およびその製造方法であって、両面電極素子についても絶縁分離と集積化が可能であり、安価に製造することのできる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板20が、当該半導体基板20を貫通する絶縁分離トレンチTに取り囲まれて、複数のフィールド領域F1〜F8に分割されてなり、複数個の能動素子31〜33,41〜43または受動素子51,52が、それぞれ異なるフィールド領域F1〜F8に分散して配置されてなり、二個以上の素子が、当該素子に通電するための一組の電極dr1,dr2が半導体基板20の両側の表面S1,S2に分散して配置されてなる、両面電極素子41〜43,51,52である半導体装置100とする。 (もっと読む)


【課題】低電流領域でのオン電圧を低減することができる、SiC−IGBTを備える半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】エミッタ電極26と、エミッタ電極26に接続されたエミッタ領域41と、エミッタ領域41に対してSiC半導体層23の裏面25側にエミッタ領域41に接して形成されたチャネル領域39と、チャネル領域39に対してSiC半導体層23の裏面25側にチャネル領域39に接して形成されたSiCベース層33と、SiCベース層33に対してSiC半導体層23の裏面25側にSiCベース層33に接して形成されたコレクタ領域37と、コレクタ領域37に接続されたコレクタ電極27とを含む、SiC−IGBT9に対してMOSFET11を並列に接続する。 (もっと読む)


【課題】狭い範囲の電圧変化に対して容量が線形的に、大きく変化する特性を実現する。
【解決手段】InPの半導体基板21上にエピタキシャル結晶成長させた層に対するエッチング処理により形成されるバラクタダイオード50において、半導体基板21上にエピタキシャル結晶成長させた層には、p型不純物を高濃度にドープさせバンドギャップエネルギーが半導体基板21よりも小さい材料からなるp領域50dと、p領域50dの半導体基板21寄りの面に接し、不純物をドープさせない材料または不純物を低濃度にドープさせた材料からなるI領域50cと、I領域50cの半導体基板21寄りの面に接し、n型不純物を中濃度以上にドープさせバンドギャップエネルギーが半導体基板21よりも大きい材料からなり、I領域50cから半導体基板21側に向かう程不純物濃度が低下する濃度減少部(54〜57)を有するn領域50bが含まれている。 (もっと読む)


【課題】作製工程が簡略化され、容量素子の面積が縮小化された昇圧回路を有する半導体
装置を提供することを課題とする。
【解決手段】直列に接続され、第1の入力端子部から出力端子部へ整流作用を示す複数の
整流素子と、第2の入力端子部に接続され、互いに反転する信号が入力される第1の配線
及び第2の配線と、それぞれ第1の電極、絶縁膜及び第2の電極を有し、昇圧された電位
を保持する複数の容量素子とから構成される昇圧回路を有し、複数の容量素子は、第1の
電極及び第2の電極が導電膜で設けられた容量素子と、少なくとも第2の電極が半導体膜
で設けられた容量素子とを有し、複数の容量素子において少なくとも1段目の容量素子を
第1の電極及び第2の電極が導電膜で設けられた容量素子とする。 (もっと読む)


1 - 10 / 2,326