漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュール
【課題】漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールを提供する。
【解決手段】接合点（１）で、コア部を一部ずらせて２本の光ファイバ（１１，１２）を接合し、その接合点（１）からの漏れ光を光センサ（６）で測定する。
【効果】２本の光ファイバ（１１，１２）を接合するときのコア部のずらせ方を小さくすれば漏れ光量を少なくでき、大きくすれば漏れ光量を多くできる。光ファイバ（１１，１２）の端面を凸球面形状に研磨する工程は必要ない。
【解決手段】接合点（１）で、コア部を一部ずらせて２本の光ファイバ（１１，１２）を接合し、その接合点（１）からの漏れ光を光センサ（６）で測定する。
【効果】２本の光ファイバ（１１，１２）を接合するときのコア部のずらせ方を小さくすれば漏れ光量を少なくでき、大きくすれば漏れ光量を多くできる。光ファイバ（１１，１２）の端面を凸球面形状に研磨する工程は必要ない。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールに関し、さらに詳しくは、漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、２本の光ファイバの端面を接合し、その接合点からの漏れ光を測定する光信号授受装置が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
他方、２本の光ファイバの凸球面形状の端面を突き合わせて、その突合せ点からの漏れ光を測定する光モニタ方法が知られている（例えば、特許文献２参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１０−２２４３０４号公報
【特許文献２】特開２００６−２５８５５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来の光信号授受装置では、接合する２本の光ファイバの特性により漏れ光量が決まってしまい、調整できない問題点があった。
他方、上記従来の光モニタ方法では、２本の光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程が必要になる問題点がある。
そこで、本発明の目的は、漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
第１の観点では、本発明は、コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合し、その接合点からの漏れ光を測定することを特徴とする漏れ光測定方法を提供する。
上記第１の観点による漏れ光測定方法では、２本の光ファイバを接合するときのコア部のずらせ方を変えることにより漏れ光量の調節が可能になる。すなわち、小さくずらせて接合すれば漏れ光量を少なくでき、大きくずらせて接合すれば漏れ光量を多くできる。また、光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程も必要としない。
【０００６】
第２の観点では、本発明は、コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合した接合光ファイバと、前記接合光ファイバの接合点を含む領域を収容すると共に前記接合点からの漏れ光を開口から導出する光ファイバ収容溝を有するホルダとを具備したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第２の観点による漏れ光測定用モジュールでは、２本の光ファイバを接合するときのコア部のずらせ方を変えることにより漏れ光量の調節が可能になる。すなわち、小さくずらせて接合すれば漏れ光量を少なくでき、大きくずらせて接合すれば漏れ光量を多くできる。また、光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程も必要としない。さらに、ホルダにより外力から光ファイバを保護することが出来る。また、ホルダを位置基準とすることにより、光センサを位置決めしやすくなる。
【０００７】
第３の観点では、本発明は、前記第２の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記光ファイバ収容溝の表面色が白色であることを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第３の観点による漏れ光測定用モジュールでは、光ファイバからの漏れ光が光ファイバ収容溝の表面で反射しやすくなり、光センサでの受光量を増やすことが出来る。
【０００８】
第４の観点では、本発明は、前記第２または第３の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記ホルダが、１０×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックまたは−１０×１０-6以上−５×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックであり、接合点を含む接合点の近傍部分を挟む両側部分では光ファイバが皮膜を有し、前記皮膜の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝にシリコンゴムで固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第４の観点による漏れ光測定用モジュールでは、接合点を挟む少なくとも２カ所で光ファイバをホルダに固定するので、光ファイバを安定に保持できる。そして、ホルダに低膨張またはマイナス膨張のセラミックを用いると共に弾性のある光ファイバの皮膜を弾性のあるシリコンゴムで固定するから、光ファイバの膨張量とホルダの膨張量の差が光ファイバにストレスを与えることを抑制できる。
【０００９】
第５の観点では、本発明は、前記第２から第４のいずれかの観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分では光ファイバのクラッド部が露出し、前記露出したクラッド部の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝に５０×１０-6以下の膨張係数を持つ接着剤で固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第５の観点による漏れ光測定用モジュールでは、接合点を含む接合点の近傍部分の少なくとも接合点を挟む２カ所をホルダに固定するので、接合点近傍部分を安定に保持できる。そして、低膨張の接着剤で固定するから、光ファイバの膨張量と接着剤の膨張量の差が光ファイバにストレスを与えることを抑制できる。
【００１０】
第６の観点では、本発明は、前記第５の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記接着剤が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第６の観点による漏れ光測定用モジュールでは、クラッド部の屈折率よりも接着剤の屈折率の方が大きいから、漏れ光がクラッド部から接着剤へと出易くなり、接着剤の付近で漏れ光を測定可能になる。
【００１１】
第７の観点では、本発明は、前記第２から第６のいずれかの観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分を収容する光ファイバ収容溝に、１０×１０-6以下の膨張係数を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂を充填したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第７の観点による漏れ光測定用モジュールでは、光ファイバ収容溝に１０×１０-6以下の膨張係数を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂を充填したので、光ファイバの膨張量とシリコーン樹脂の膨張量の差が光ファイバにストレスを与えることを抑制した上で、光ファイバとホルダの温度差を小さく出来る。光ファイバとホルダの温度差が小さければ、温度差が大きい場合よりも、レーザ発光強度制御が容易になる。
【００１２】
第８の観点では、本発明は、前記第７の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記シリコーン樹脂が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第８の観点による漏れ光測定用モジュールでは、クラッド部の屈折率よりもシリコーン樹脂の屈折率の方が大きいから、漏れ光がクラッド部からシリコーン樹脂へと出易くなり、漏れ光を測定し易くなる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールによれば、漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施例１に係る漏れ光測定用モジュールを示す正面図である。
【図２】実施例１に係る漏れ光測定用モジュールを示す左側面図である。
【図３】実施例１に係る漏れ光測定用モジュールの接合点を示す断面図である。
【図４】実施例２に係る漏れ光測定装置を示す断面図である。
【図５】図４のＡ−Ａ’断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【実施例】
【００１６】
−実施例１−
図１は、実施例１に係る漏れ光測定用モジュール１００を示す正面図である。図２は、同左側面図である。
【００１７】
この漏れ光測定用モジュール１００は、コア部１１ｃ，１２ｃを一部ずらせて２本の光ファイバ１１，１２を接合した接合光ファイバ１０と、接合光ファイバ１０の接合点１を含む領域２，３１，３２を収容すると共に接合点１からの漏れ光を開口から導出する光ファイバ収容溝４を有するホルダ５とを具備してなる。
【００１８】
接合点１の近傍部分２を挟む両側部分３１，３２では、光ファイバ１１，１２が皮膜１１ｅ，１２ｅを残している。そして、皮膜１１ｅ，１２ｅは、シリコンゴム４１，４２で、接合点１を挟む２カ所で光ファイバ収容溝４に固定されている。
【００１９】
また、接合点１の近傍部分２では、光ファイバ１１，１２のクラッド部１１ｄ，１２ｄが露出している。そして、露出したクラッド部１１ｄ，１２ｄの少なくとも接合点１を挟む２カ所は、５０×１０-6以下の膨張係数を持つと共にｎ＝１．５以上の屈折率を持つＵＶ硬化型接着剤５１，５２で、光ファイバ収容溝４に固定されている。
【００２０】
接合点１の近傍部分２を収容する光ファイバ収容溝４には、１０×１０-6以下の膨張係数を持つと共にｎ＝１．５以上の屈折率を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂３が充填されている。
【００２１】
ホルダ５は、１０×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックまたは−１０×１０-6以上−５×１０-6以下の膨張係数を持つセラミック製であり、白色である。
【００２２】
図３は、接合光ファイバ１０の接合点１を示す要部断面図である。
光ファイバ１１のコア部１１ｃと光ファイバ１１のコア部１２ｃとが、一部をずらせて、接合されている。
【００２３】
実施例１の漏れ光測定用モジュール１００によれば次の効果が得られる。
（１）２本の光ファイバ１１，１２を接合するときのコア部１１ｃ，１２ｃのずらせ方を小さくすれば漏れ光量を少なくでき、大きくすれば漏れ光量を多くできる。
（２）ホルダ５により外力から接合光ファイバ１０を保護することが出来る。また、ホルダ５を位置基準とすることにより、光センサを位置決めしやすくなる。
（３）接合光ファイバ１０からの漏れ光が光ファイバ収容溝４の色色の表面で反射しやすくなり、光センサでの受光量を増やすことが出来る。
（４）ホルダ５として低膨張またはマイナス膨張のセラミックを用いると共に弾性のある皮膜１１ｅ，１２ｅを弾性のあるシリコンゴム４１，４２で固定するから、安定に接合光ファイバ１０を保持できると共に、接合光ファイバ１０の膨張量とホルダ５の膨張量の差が接合光ファイバ１０にストレスを与えることを抑制できる。
【００２４】
（５）露出したクラッド部１１ｄ，１２ｄの２カ所を低膨張のＵＶ硬化型接着剤５１，５２で固定するから、安定に接合光ファイバ１０を保持できると共に、接合光ファイバ１０の膨張量とＵＶ硬化型接着剤５１，５２の膨張量の差が接合光ファイバ１０にストレスを与えることを抑制できる。また、クラッド部１１ｄ，１２ｄよりもＵＶ硬化型接着剤５１，５２の屈折率が大きいから、漏れ光がクラッド部１１ｄ，１２ｄからＵＶ硬化型接着剤５１，５２へと出易くなり、ＵＶ硬化型接着剤５１，５２の付近で漏れ光を測定可能になる。
なお、接合光ファイバ１０を数十グラムで引っ張った状態でＵＶ硬化型接着剤５１，５２を硬化させると、接合点１の近傍部分２の弛みがなくなり、漏れ光の安定性を向上することが出来る。
【００２５】
（６）接合点１の近傍部分２を収容する光ファイバ収容溝４に低膨張かつ柔軟性があり更に屈折率が大きいシリコーン樹脂３を充填したから、安定に接合点１の近傍部分２を保持できる。また、接合光ファイバ１０の膨張量とシリコーン樹脂３の膨張量の差が接合光ファイバ１０にストレスを与えることを抑制できる。また、接合光ファイバ１０とホルダ５の温度差を小さく出来るので、温度差が大きい場合よりも、レーザ発光強度制御が容易になる。さらに、漏れ光がクラッド部１１ｄ，１２ｄからシリコーン樹脂３へと出易くなり、シリコーン樹脂３を介して漏れ光を測定可能になる。
【００２６】
−実施例２−
図４は、実施例２に係る漏れ光測定装置２００を示す断面図である。図５は、図４のＡ−Ａ’断面図である。
【００２７】
この漏れ光測定装置２００は、実施例１の漏れ光測定用モジュール１００と、ホルダ５の光ファイバ収容溝４が在る面に装着されるベース７と、ベース７に埋設された光センサ６とを具備してなる。
【００２８】
光ファイバ１１側から光ファイバ１２側へ青色レーザ光Ｌを通すと、接合点１から漏れ光が生じ、接続点１より光ファイバ１２側へ数ｍｍの付近でシリコーン樹脂３が光る。また、ＵＶ硬化型接着剤５２も光る。それを光センサ６で検出し、青色レーザ光Ｌの発光強度を制御する。
【００２９】
実施例２の漏れ光測定装置２００によれば、適正な漏れ光量に基づいてフィードバック制御できるため、信頼性を向上できる。また、接合光ファイバ１０とホルダ５の温度差を小さく出来るので、制御が容易になる。
【産業上の利用可能性】
【００３０】
本発明の漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールは、レーザ光源の制御に利用することが出来る。
【符号の説明】
【００３１】
１ 接合点
２ 接合点の近傍部分
３ シリコーン樹脂
４ 光ファイバ収容溝
５ ホルダ
１０ 接合光ファイバ
１１，１２ 光ファイバ
１１ｃ，１２ｃ コア部
１１ｄ，１２ｄ クラッド部
１１ｅ，１２ｅ 皮膜
３１，３２ 接合点の近傍部分を挟む両側部分
４１，４２ シリコンゴム
５１，５２ ＵＶ硬化型接着剤
１００ 漏れ光測定用モジュール
２００ 漏れ光測定装置
【技術分野】
【０００１】
本発明は、漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールに関し、さらに詳しくは、漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、２本の光ファイバの端面を接合し、その接合点からの漏れ光を測定する光信号授受装置が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
他方、２本の光ファイバの凸球面形状の端面を突き合わせて、その突合せ点からの漏れ光を測定する光モニタ方法が知られている（例えば、特許文献２参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１０−２２４３０４号公報
【特許文献２】特開２００６−２５８５５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来の光信号授受装置では、接合する２本の光ファイバの特性により漏れ光量が決まってしまい、調整できない問題点があった。
他方、上記従来の光モニタ方法では、２本の光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程が必要になる問題点がある。
そこで、本発明の目的は、漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
第１の観点では、本発明は、コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合し、その接合点からの漏れ光を測定することを特徴とする漏れ光測定方法を提供する。
上記第１の観点による漏れ光測定方法では、２本の光ファイバを接合するときのコア部のずらせ方を変えることにより漏れ光量の調節が可能になる。すなわち、小さくずらせて接合すれば漏れ光量を少なくでき、大きくずらせて接合すれば漏れ光量を多くできる。また、光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程も必要としない。
【０００６】
第２の観点では、本発明は、コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合した接合光ファイバと、前記接合光ファイバの接合点を含む領域を収容すると共に前記接合点からの漏れ光を開口から導出する光ファイバ収容溝を有するホルダとを具備したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第２の観点による漏れ光測定用モジュールでは、２本の光ファイバを接合するときのコア部のずらせ方を変えることにより漏れ光量の調節が可能になる。すなわち、小さくずらせて接合すれば漏れ光量を少なくでき、大きくずらせて接合すれば漏れ光量を多くできる。また、光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程も必要としない。さらに、ホルダにより外力から光ファイバを保護することが出来る。また、ホルダを位置基準とすることにより、光センサを位置決めしやすくなる。
【０００７】
第３の観点では、本発明は、前記第２の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記光ファイバ収容溝の表面色が白色であることを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第３の観点による漏れ光測定用モジュールでは、光ファイバからの漏れ光が光ファイバ収容溝の表面で反射しやすくなり、光センサでの受光量を増やすことが出来る。
【０００８】
第４の観点では、本発明は、前記第２または第３の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記ホルダが、１０×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックまたは−１０×１０-6以上−５×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックであり、接合点を含む接合点の近傍部分を挟む両側部分では光ファイバが皮膜を有し、前記皮膜の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝にシリコンゴムで固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第４の観点による漏れ光測定用モジュールでは、接合点を挟む少なくとも２カ所で光ファイバをホルダに固定するので、光ファイバを安定に保持できる。そして、ホルダに低膨張またはマイナス膨張のセラミックを用いると共に弾性のある光ファイバの皮膜を弾性のあるシリコンゴムで固定するから、光ファイバの膨張量とホルダの膨張量の差が光ファイバにストレスを与えることを抑制できる。
【０００９】
第５の観点では、本発明は、前記第２から第４のいずれかの観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分では光ファイバのクラッド部が露出し、前記露出したクラッド部の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝に５０×１０-6以下の膨張係数を持つ接着剤で固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第５の観点による漏れ光測定用モジュールでは、接合点を含む接合点の近傍部分の少なくとも接合点を挟む２カ所をホルダに固定するので、接合点近傍部分を安定に保持できる。そして、低膨張の接着剤で固定するから、光ファイバの膨張量と接着剤の膨張量の差が光ファイバにストレスを与えることを抑制できる。
【００１０】
第６の観点では、本発明は、前記第５の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記接着剤が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第６の観点による漏れ光測定用モジュールでは、クラッド部の屈折率よりも接着剤の屈折率の方が大きいから、漏れ光がクラッド部から接着剤へと出易くなり、接着剤の付近で漏れ光を測定可能になる。
【００１１】
第７の観点では、本発明は、前記第２から第６のいずれかの観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分を収容する光ファイバ収容溝に、１０×１０-6以下の膨張係数を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂を充填したことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第７の観点による漏れ光測定用モジュールでは、光ファイバ収容溝に１０×１０-6以下の膨張係数を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂を充填したので、光ファイバの膨張量とシリコーン樹脂の膨張量の差が光ファイバにストレスを与えることを抑制した上で、光ファイバとホルダの温度差を小さく出来る。光ファイバとホルダの温度差が小さければ、温度差が大きい場合よりも、レーザ発光強度制御が容易になる。
【００１２】
第８の観点では、本発明は、前記第７の観点による漏れ光測定用モジュールにおいて、前記シリコーン樹脂が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュールを提供する。
上記第８の観点による漏れ光測定用モジュールでは、クラッド部の屈折率よりもシリコーン樹脂の屈折率の方が大きいから、漏れ光がクラッド部からシリコーン樹脂へと出易くなり、漏れ光を測定し易くなる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールによれば、漏れ光量の調節が可能であり且つ光ファイバの端面を凸球面形状に研磨する工程を必要としない。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施例１に係る漏れ光測定用モジュールを示す正面図である。
【図２】実施例１に係る漏れ光測定用モジュールを示す左側面図である。
【図３】実施例１に係る漏れ光測定用モジュールの接合点を示す断面図である。
【図４】実施例２に係る漏れ光測定装置を示す断面図である。
【図５】図４のＡ−Ａ’断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【実施例】
【００１６】
−実施例１−
図１は、実施例１に係る漏れ光測定用モジュール１００を示す正面図である。図２は、同左側面図である。
【００１７】
この漏れ光測定用モジュール１００は、コア部１１ｃ，１２ｃを一部ずらせて２本の光ファイバ１１，１２を接合した接合光ファイバ１０と、接合光ファイバ１０の接合点１を含む領域２，３１，３２を収容すると共に接合点１からの漏れ光を開口から導出する光ファイバ収容溝４を有するホルダ５とを具備してなる。
【００１８】
接合点１の近傍部分２を挟む両側部分３１，３２では、光ファイバ１１，１２が皮膜１１ｅ，１２ｅを残している。そして、皮膜１１ｅ，１２ｅは、シリコンゴム４１，４２で、接合点１を挟む２カ所で光ファイバ収容溝４に固定されている。
【００１９】
また、接合点１の近傍部分２では、光ファイバ１１，１２のクラッド部１１ｄ，１２ｄが露出している。そして、露出したクラッド部１１ｄ，１２ｄの少なくとも接合点１を挟む２カ所は、５０×１０-6以下の膨張係数を持つと共にｎ＝１．５以上の屈折率を持つＵＶ硬化型接着剤５１，５２で、光ファイバ収容溝４に固定されている。
【００２０】
接合点１の近傍部分２を収容する光ファイバ収容溝４には、１０×１０-6以下の膨張係数を持つと共にｎ＝１．５以上の屈折率を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂３が充填されている。
【００２１】
ホルダ５は、１０×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックまたは−１０×１０-6以上−５×１０-6以下の膨張係数を持つセラミック製であり、白色である。
【００２２】
図３は、接合光ファイバ１０の接合点１を示す要部断面図である。
光ファイバ１１のコア部１１ｃと光ファイバ１１のコア部１２ｃとが、一部をずらせて、接合されている。
【００２３】
実施例１の漏れ光測定用モジュール１００によれば次の効果が得られる。
（１）２本の光ファイバ１１，１２を接合するときのコア部１１ｃ，１２ｃのずらせ方を小さくすれば漏れ光量を少なくでき、大きくすれば漏れ光量を多くできる。
（２）ホルダ５により外力から接合光ファイバ１０を保護することが出来る。また、ホルダ５を位置基準とすることにより、光センサを位置決めしやすくなる。
（３）接合光ファイバ１０からの漏れ光が光ファイバ収容溝４の色色の表面で反射しやすくなり、光センサでの受光量を増やすことが出来る。
（４）ホルダ５として低膨張またはマイナス膨張のセラミックを用いると共に弾性のある皮膜１１ｅ，１２ｅを弾性のあるシリコンゴム４１，４２で固定するから、安定に接合光ファイバ１０を保持できると共に、接合光ファイバ１０の膨張量とホルダ５の膨張量の差が接合光ファイバ１０にストレスを与えることを抑制できる。
【００２４】
（５）露出したクラッド部１１ｄ，１２ｄの２カ所を低膨張のＵＶ硬化型接着剤５１，５２で固定するから、安定に接合光ファイバ１０を保持できると共に、接合光ファイバ１０の膨張量とＵＶ硬化型接着剤５１，５２の膨張量の差が接合光ファイバ１０にストレスを与えることを抑制できる。また、クラッド部１１ｄ，１２ｄよりもＵＶ硬化型接着剤５１，５２の屈折率が大きいから、漏れ光がクラッド部１１ｄ，１２ｄからＵＶ硬化型接着剤５１，５２へと出易くなり、ＵＶ硬化型接着剤５１，５２の付近で漏れ光を測定可能になる。
なお、接合光ファイバ１０を数十グラムで引っ張った状態でＵＶ硬化型接着剤５１，５２を硬化させると、接合点１の近傍部分２の弛みがなくなり、漏れ光の安定性を向上することが出来る。
【００２５】
（６）接合点１の近傍部分２を収容する光ファイバ収容溝４に低膨張かつ柔軟性があり更に屈折率が大きいシリコーン樹脂３を充填したから、安定に接合点１の近傍部分２を保持できる。また、接合光ファイバ１０の膨張量とシリコーン樹脂３の膨張量の差が接合光ファイバ１０にストレスを与えることを抑制できる。また、接合光ファイバ１０とホルダ５の温度差を小さく出来るので、温度差が大きい場合よりも、レーザ発光強度制御が容易になる。さらに、漏れ光がクラッド部１１ｄ，１２ｄからシリコーン樹脂３へと出易くなり、シリコーン樹脂３を介して漏れ光を測定可能になる。
【００２６】
−実施例２−
図４は、実施例２に係る漏れ光測定装置２００を示す断面図である。図５は、図４のＡ−Ａ’断面図である。
【００２７】
この漏れ光測定装置２００は、実施例１の漏れ光測定用モジュール１００と、ホルダ５の光ファイバ収容溝４が在る面に装着されるベース７と、ベース７に埋設された光センサ６とを具備してなる。
【００２８】
光ファイバ１１側から光ファイバ１２側へ青色レーザ光Ｌを通すと、接合点１から漏れ光が生じ、接続点１より光ファイバ１２側へ数ｍｍの付近でシリコーン樹脂３が光る。また、ＵＶ硬化型接着剤５２も光る。それを光センサ６で検出し、青色レーザ光Ｌの発光強度を制御する。
【００２９】
実施例２の漏れ光測定装置２００によれば、適正な漏れ光量に基づいてフィードバック制御できるため、信頼性を向上できる。また、接合光ファイバ１０とホルダ５の温度差を小さく出来るので、制御が容易になる。
【産業上の利用可能性】
【００３０】
本発明の漏れ光測定方法および漏れ光測定用モジュールは、レーザ光源の制御に利用することが出来る。
【符号の説明】
【００３１】
１ 接合点
２ 接合点の近傍部分
３ シリコーン樹脂
４ 光ファイバ収容溝
５ ホルダ
１０ 接合光ファイバ
１１，１２ 光ファイバ
１１ｃ，１２ｃ コア部
１１ｄ，１２ｄ クラッド部
１１ｅ，１２ｅ 皮膜
３１，３２ 接合点の近傍部分を挟む両側部分
４１，４２ シリコンゴム
５１，５２ ＵＶ硬化型接着剤
１００ 漏れ光測定用モジュール
２００ 漏れ光測定装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合し、その接合点からの漏れ光を測定することを特徴とする漏れ光測定方法。
【請求項２】
コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合した接合光ファイバと、前記接合光ファイバの接合点を含む領域を収容すると共に前記接合点からの漏れ光を開口から導出する光ファイバ収容溝を有するホルダとを具備したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項３】
請求項２に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記光ファイバ収容溝の表面色が白色であることを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記ホルダが、１０×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックまたは−１０×１０-6以上−５×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックであり、接合点を含む接合点の近傍部分を挟む両側部分では光ファイバが皮膜を有し、前記皮膜の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝にシリコンゴムで固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項５】
請求項２から請求項４のいずれかに記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分では光ファイバのクラッド部が露出し、前記露出したクラッド部の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝に５０×１０-6以下の膨張係数を持つ接着剤で固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項６】
請求項５に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記接着剤が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項７】
請求項２から請求項６のいずれかに記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分を収容する光ファイバ収容溝に、１０×１０-6以下の膨張係数を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂を充填したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項８】
請求項７に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記シリコーン樹脂が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項１】
コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合し、その接合点からの漏れ光を測定することを特徴とする漏れ光測定方法。
【請求項２】
コア部を一部ずらせて２本の光ファイバを接合した接合光ファイバと、前記接合光ファイバの接合点を含む領域を収容すると共に前記接合点からの漏れ光を開口から導出する光ファイバ収容溝を有するホルダとを具備したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項３】
請求項２に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記光ファイバ収容溝の表面色が白色であることを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記ホルダが、１０×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックまたは−１０×１０-6以上−５×１０-6以下の膨張係数を持つセラミックであり、接合点を含む接合点の近傍部分を挟む両側部分では光ファイバが皮膜を有し、前記皮膜の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝にシリコンゴムで固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項５】
請求項２から請求項４のいずれかに記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分では光ファイバのクラッド部が露出し、前記露出したクラッド部の少なくとも接合点を挟む２カ所を前記光ファイバ収容溝に５０×１０-6以下の膨張係数を持つ接着剤で固定したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項６】
請求項５に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記接着剤が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項７】
請求項２から請求項６のいずれかに記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、接合点を含む接合点の近傍部分を収容する光ファイバ収容溝に、１０×１０-6以下の膨張係数を持ち且つヤング率０．０４ＧＰａ以下のシリコーン樹脂を充填したことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【請求項８】
請求項７に記載の漏れ光測定用モジュールにおいて、前記シリコーン樹脂が、ｎ＝１．５以上の屈折率を持つことを特徴とする漏れ光測定用モジュール。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２０１０−１５９９７１（Ｐ２０１０−１５９９７１Ａ）
【公開日】平成２２年７月２２日（２０１０．７．２２）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００９−４９３（Ｐ２００９−４９３）
【出願日】平成２１年１月６日（２００９．１．６）
【出願人】（０００００３４１４）東京特殊電線株式会社 (173)
【出願人】（０００００５２９０）古河電気工業株式会社 (4,457)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２２年７月２２日（２０１０．７．２２）
【国際特許分類】
【出願日】平成２１年１月６日（２００９．１．６）
【出願人】（０００００３４１４）東京特殊電線株式会社 (173)
【出願人】（０００００５２９０）古河電気工業株式会社 (4,457)
【Ｆターム（参考）】
[ Back to top ]