電子機器用試験箱
【課題】ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供する。
【解決手段】電子機器Ｐが内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体１０と、当該試験箱本体１０の一部を構成する扉１２に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板２１が設けられた窓２０と、を備える電子機器用試験箱１であって、試験箱本体１０は、その内周面に取り付けられた電波吸収体３０と、当該電波吸収体３０の表面に固定された明色の絶縁層（樹脂膜４０）と、試験箱本体１０の内部に設けられたＬＥＤ照明と、をさらに備え、ガラス板２１は板ガラス２１１の両面に透明酸化物半導体の薄膜が形成されてなることを特徴とする。
【解決手段】電子機器Ｐが内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体１０と、当該試験箱本体１０の一部を構成する扉１２に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板２１が設けられた窓２０と、を備える電子機器用試験箱１であって、試験箱本体１０は、その内周面に取り付けられた電波吸収体３０と、当該電波吸収体３０の表面に固定された明色の絶縁層（樹脂膜４０）と、試験箱本体１０の内部に設けられたＬＥＤ照明と、をさらに備え、ガラス板２１は板ガラス２１１の両面に透明酸化物半導体の薄膜が形成されてなることを特徴とする。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話等の電子機器に対する試験を行う電子機器用試験箱に係り、さらに詳細には、電波の遮蔽性を維持しつつ、内部の視認性を高めた電子機器用試験箱に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、携帯電話等の電子機器は、製造後や修理後に正常に動作・機能するか否かについて、無線電波による無線接続試験（以下、試験という）を行う場合がある。従来、このような試験は、正確な受信能力の試験を行うために、外来電波が遮断された電波無響室（電波暗室）と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と称される箱の内部で行われていた。
【０００３】
例えば、特許文献１には、金属製の筺体の内側に電波吸収構造が設けられた試験箱本体と、試験箱本体の正面側に固定された２本の手挿入用導波管と、片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムスズ）膜を形成したガラス板が設けられた窓とを主に備えた電子機器用試験箱が開示されている。このような電子機器用試験箱は、試験員が試験箱本体の内部の電子機器を視認しながら、手で直接操作して試験を行うことができるという利点を有している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１５３８４１号公報（段落００４４〜００５２、図１、図３）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、近年の電子機器の高性能化により、外来電波を確実に遮蔽することができる電波の遮蔽性に優れた電子機器用試験箱の必要性が高まっている。そして、電子機器用試験箱（試験箱本体）の電波の遮蔽性を高めるため、窓に設けられたガラス板に電波の遮蔽性（反射性）を有するＩＴＯ膜を膜厚に形成する必要性や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成する必要性が生じている。
【０００６】
ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したり、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることで、ガラス板の電波の遮蔽性（反射性）が高まるので、試験箱本体の電波の遮蔽性を高めることが可能となる。しかしながら、このようなガラス板は、可視光に対する透過性が低下するので、試験箱本体の内部が暗くなり、窓本来の役割である視認性が低下して、試験箱本体の内部の電子機器が視認しにくくなるという問題があった。
【０００７】
そこで、本発明は、このような問題を解決すべく、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験箱は、電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体と、当該試験箱本体に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板が設けられた窓と、を備える電子機器用試験箱であって、前記試験箱本体は、その内周面に取り付けられた電波吸収体と、当該電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層と、前記試験箱本体の内部に設けられたＬＥＤ照明と、をさらに備え、前記ガラス板は、板ガラスの両面に透明酸化物半導体の薄膜が形成されてなることを特徴とする。
【０００９】
このような電子機器用試験箱によれば、電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層により試験箱本体の内部が明るくなるので、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したり、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。
なお、本発明において、明色とは、マンセル表色系（Munsell color system、ＪＩＳ Ｚ８７２１）に規定されている明度が８．０〜１０．０の範囲にある色をいう。
また、本発明において、絶縁層とは、体積抵抗値が１０６Ωｃｍ以上の材質からなる層をいう。絶縁層はその厚さによって、絶縁板または絶縁膜と呼ばれるが、絶縁板または絶縁膜の厚さの境界（閾値）は明確ではない。したがって、本願発明において、絶縁層は、絶縁板および絶縁膜の両方を含むものとする。絶縁板の具体例として、例えば、樹脂板、セラミックス板、硝子板、厚紙等が挙げられる。絶縁膜の具体例として、例えば、樹脂膜、紙等が挙げられる。
【００１０】
また、このような電子機器用試験箱によれば、試験箱本体の内周面に電波吸収体を備えるので、試験中に、例えば、電子機器のアンテナや測定用アンテナ等から放射される電波を効果的に吸収することができる。これにより、電波の共振現象を防止して、電子機器の試験を精密に行うことができる。
なお、電波の共振現象とは、電波の遮蔽性を有する試験箱本体の内部で電波が放射されたとき、試験箱本体の内部の壁面で電波が反射を繰り返して干渉を起こす現象をいう。
さらに、このような電子機器用試験箱によれば、試験箱本体の内部を照らすことで、試験箱本体の内部をさらに明るくすることができるので、試験箱本体の内部の電子機器をより良好に視認することができ、照明をＬＥＤランプとすることで、点滅時にノイズがほとんど発生しないので、電子機器の試験を精密に行うことができる。
【００１１】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、絶縁層が明色の顔料を含む樹脂からなることを特徴とする。
【００１２】
このような電子機器用試験箱によれば、絶縁層を明色の顔料を含む樹脂製とすることで、明色を呈する樹脂だけではなく、例えば、透明樹脂等であっても、明色の顔料を含ませることで使用することが可能となり、絶縁層の原料となる樹脂を幅広く選択することができる。さらに、耐久性、堅牢性に優れているため、ねじ孔等を穿設することが可能となり、試験箱内部に設置されたコネクタ（接栓）や治具等を係止するための基板として使用することができる。
【００１３】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、前記絶縁層が発泡樹脂からなることを特徴とする。
【００１４】
このような電子機器用試験箱によれば、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したりガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、電波吸収体の表面に固定された発泡樹脂により試験箱本体の内部が明るくなるので、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。すなわち、発泡樹脂は、内部に気泡を含むため、外部からの可視光が乱反射され、無色透明樹脂を基材とする場合、一般的に白色となる。よって、視認性に有効である。また、発泡スチロール等の樹脂板であれば、加工および取扱いが容易であるといった作用効果を得られる。さらに、絶縁層として発泡樹脂を使用することにより、原料コストの低減を図ることが可能となる。さらに、発泡樹脂は、軽量で且つ切断が容易であり、加工および取扱いを容易に行うことができるとともに、施工性も優れているため試験箱の製造コストも低くすることが可能となる。
【００１５】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、前記絶縁層が明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙からなることを特徴とする。
【００１６】
このような電子機器用試験箱によれば、請求項１と同様の作用効果の他に、軽量かつ切断が容易な紙を用いたことで、加工および取扱いが容易であるといった作用効果を得られる。また、絶縁層として紙を使用することにより、原料コストの低減を図ることが可能となり、さらに、軽量で且つ切断が容易であり、加工および取扱いを容易に行うことができるとともに、施工性も優れているため試験箱の製造コストも低くすることが可能となる。
【００１７】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、顔料が白色顔料あるいは蛍光顔料であることを特徴とする。
【００１８】
このような電子機器用試験箱によれば、顔料を、白色顔料あるいは蛍光顔料とすることで、試験箱本体の内部を好適に明るくすることができるので、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。
なお、本発明において、蛍光顔料とは、紫外線を照射することにより電子が励起され、この電子が基底状態に戻る際に特定波長の可視光を発する顔料である。
【００１９】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、前記絶縁層が明色のセラミックスもしくは硝子からなることを特徴とする。
【００２０】
ここで、セラミックスは、石英や酸化アルミニウム、炭化珪素など前記の範囲内にある明度のものを使用することが可能である。硝子については、その表面が光を拡散させるスリガラスのような性質を持つものは、特に視認性という点において利点を備える。このような電子機器用試験箱によれば、セラミックスまたは硝子を使用することで、強度・耐久性・耐候性に優れ、製造段階において、明度を上げるための染料を使用しない絶縁層を提供することが可能である。
【００２１】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、電波吸収体がλ／４型電波吸収体であることを特徴とする。
【００２２】
このような電子機器用試験箱によれば、電波吸収体を、構造が簡単で、設計が容易なλ／４型電波吸収体とすることで、試験箱本体の内部で放射される電波の波長λに応じて、最適な電波吸収能を持つ電波吸収体を設計することができるので、試験箱本体の内部で放射される電波をより効果的に吸収することができる。これにより、電波の共振現象を効果的に防止して、電子機器の試験を精密に行うことができる。
【００２３】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、絶縁層がλ／４型電波吸収体の保護膜を兼ねることを特徴とする。
【００２４】
このような電子機器用試験箱によれば、絶縁層がλ／４型電波吸収体の保護膜を兼ねるので、λ／４型電波吸収体の保護膜の表面に、さらに明色の絶縁層を固定する必要がなくなり、試験箱本体の構造を簡略化することができると共に、材料コストや製造コストを抑えることができる。
【００２５】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、透明酸化物半導体の薄膜がＩＴＯ膜であり、板ガラスの両面に抵抗値が２Ω／□以下となるＩＴＯ膜が形成されたことを特徴とする。
【００２６】
このような電子機器用試験箱によれば、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。
【００２７】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、板ガラスの両面に、さらに透明樹脂の保護膜が形成されたことを特徴とする。
【００２８】
このような電子機器用試験箱によれば、薄膜を剥落や削剥等から保護することができるので、薄膜が剥落した部分からの電波の侵入を防止することができる。
【００２９】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、絶縁層が電波吸収体の表面にピンまたはネジで固定されることを特徴とする。
【００３０】
このような電子機器用試験箱によれば、絶縁層を電波吸収体の表面にピンまたはネジで固定するので、電波吸収体の表面抵抗値を変化させることがないため、電波吸収体の性能を十分に発揮させることができる。
なお、絶縁層を電波吸収体の表面に接着剤で固定すると、電波吸収体の表面抵抗値が変化してしまい、本来電波を透過させるはずの電波吸収体の表面において電波の反射が起こり、吸収することができなくなるので好ましくない。しかしながら、例えば熱可塑性接着剤、熱硬化性接着剤や光硬化性接着剤などの絶縁性に優れた接着剤を使用すれば、電波反射を抑えることが可能である。また、接着方法についても、例えばスポットで絶縁膜を接着するなどの工夫を施して、接着面積を最小限に抑えれば、電波吸収体の電波吸収特性を殆んど損なうことなく絶縁膜を電波吸収体の表面に固定することが可能である。
【発明の効果】
【００３１】
本発明によれば、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明に係る電子機器用試験箱の一実施形態を示す一部断面部分を含む正面図である。
【図２】図１に示す電子機器用試験箱のII−II断面図である。
【図３】本発明に係る電子機器用試験箱の一実施形態を示す縦断面図である。
【図４】図１に示す電子機器用試験箱のIV−IV断面図である。
【図５】（ａ）乃至（ｃ）はガラス板の構造例を示す断面図である。
【図６】（ａ）はλ／４型電波吸収体の構造を示す断面図であり、（ｂ）は樹脂膜が保護膜を兼ねるλ／４型電波吸収体の構造を示す断面図である。
【図７】（ａ）はハニカムフィルタを示す斜視図であり、（ｂ）はメッシュフィルタを示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。図１は電子機器用試験箱を示す一部断面部分を含む正面図である。
図１に示すように、電子機器用試験箱１は、電子機器Ｐが内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体１０と、当該試験箱本体１０の一部を構成する扉１２に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板２１が設けられた窓２０とを主に備え、試験箱本体１０の内部に電波吸収体３０と、当該電波吸収体３０の表面に固定された明色の絶縁層を構成する樹脂層（樹脂膜４０または樹脂板）とをさらに備えている。ここで、絶縁層とは、体積抵抗値が１０６Ωｃｍ以上の材質からなる樹脂膜４０または樹脂板をいう。
【００３４】
図２は図１のII−II断面図であり、図３は電子機器用試験箱の縦断面図であり、図４は図１のIV−IV断面図である。
図２乃至４に示すように、試験箱本体１０は、金属製の筐体１１と、筐体１１の正面側にヒンジＨを介して取り付けられた開閉自在の扉１２とから主に構成され、扉１２の正面視右側（図１参照）には、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板２１が設けられた窓２０が形成されている。
【００３５】
さらに、試験箱本体１０は、その内周面に取り付けられた電波吸収体３０と、電波吸収体３０の表面に固定された樹脂膜４０と、上壁に設けられたＬＥＤランプ５０と、側壁に設けられたアンテナ６０と、背面に設けられたＥＭＩダクト７０と、金属製のハニカムフィルタ８０と、電子機器Ｐが固定される取付ユニット９０とを備えている。
【００３６】
筐体１１は、図２乃至４に示すように、複数の金属製のパネル１１ａを骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して、正面側が開口した略直方体の箱状に形成されている。筐体１１は、金属性のパネル１１ａおよびフレーム（図示せず）から形成されているので、所定の剛性を有し、その耐久性が高められていると共に、外部からの電波の遮蔽性を有している。また、複数のパネル１１ａとフレーム（図示せず）とが、溶接によって接合されているので、筐体１１の密閉性、すなわち、電波の遮蔽性が高められている。
【００３７】
パネル１１ａおよびフレーム（図示せず）を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。なお、パネル１１ａやフレーム（図示せず）を、特にアルミニウムまたはアルミニウム合金で形成した場合、所望の剛性を維持しつつ、筐体１１の軽量化を図ることができる。また、アルミニウムやアルミニウム合金は独特の光沢を有するので、筐体１１は美観に優れたものとなる。
【００３８】
扉１２は、図２に示すように、金属製のパネル１２ａから形成され、このパネル１２ａの正面視右側（図１参照）には窓２０が設けられている。パネル１２ａは、筐体１１の側面にヒンジＨを介して回動自在に取り付けられており、扉１２が適宜開閉可能な構成となっている。なお、パネル１２ａを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。
【００３９】
扉１２を閉じた際の筐体１１（パネル１１ａ）と扉１２（パネル１２ａ）との当接部分には、電波の遮蔽性を有する枠状のパッキンＳ（例えば、導電性ゴムパッキン等）が設けられている。これにより、扉１２を閉じた際の試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００４０】
図２，４に示すように、窓２０は、可視光に対する透過性を有する矩形状のガラス板２１を備えている。これにより、電子機器Ｐの試験を行いながら、窓２０（ガラス板２１）を介して、外部から試験箱本体１０の内部を視認することができるので、例えば、電波を受信したことによる電子機器Ｐの着信ランプの点灯の有無等を確認することができる。
【００４１】
また、ガラス板２１は、窓２０（ガラス板２１）を介しての電波の往来を防止するため、電波の反射性（遮断性）を有している。これにより、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００４２】
このようなガラス板２１は、少なくとも片面に透明酸化物半導体の薄膜を形成することで実現することができる。透明酸化物半導体は、透明性と導電性の両方を兼ね備えた半導体材料であり、具体例として、酸化インジウムスズ（Indium Tin Oxide：ＩＴＯ）、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化スズ等が挙げられる。なお、透明酸化物半導体の薄膜の形成は、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の公知の方法によって行うことができる。
【００４３】
このような透明酸化物半導体のうち、酸化インジウムスズ（以下、ＩＴＯという）や酸化亜鉛を使用することが望ましい。特にＩＴＯは、低抵抗であると共に、可視光透過性および耐久性が高く、成膜およびパターニングが容易なので好適に使用することができる。
以下に、板ガラスの表面にＩＴＯ膜を形成したガラス板２１の構造の具体例について簡単に説明する。
【００４４】
図５（ａ）乃至（ｃ）はガラス板の構造例を示す断面図である。
図５（ａ）に示すガラス板２１Ａは、板ガラス２１１の片面にＩＴＯ膜２１２を形成したものである。なお、ＩＴＯ膜２１２の抵抗値は、２Ω／□以下、例えば、１〜２Ω／□であることが望ましい（後記するガラス板２１Ｂおよび２１Ｃについても同様とする）。
【００４５】
図５（ｂ）に示すガラス板２１Ｂは、板ガラス２１１の両面にＩＴＯ膜２１２，２１２を形成したものである。板ガラス２１１の両面にＩＴＯ膜２１２，２１２を形成すると、ガラス板２１Ｂの抵抗値は、抵抗を並列接続した場合と同じ値となる。すなわち、板ガラス２１１の両面に１Ω／□のＩＴＯ膜２１２，２１２を形成した場合、ガラス板２１Ｂの抵抗値は０．５Ω／□となる。なお、板ガラス２１１の両面に抵抗値が２Ω／□以下となるＩＴＯ膜２１２，２１２を形成することにより、周波数１．２〜２．４ＧＨｚの電波の遮蔽性能を６０ｄＢ以上とすることができる。
【００４６】
前記したガラス板２１Ａ，２１Ｂによれば、高い電波の遮蔽性能を実現することができる。ところで、板ガラス２１１の表面にＩＴＯ膜を厚く形成して、その抵抗値を小さくするには一定の限界が存在する。そこで、さらに高い電波の遮蔽性能が要求される場合には、図５（ｃ）に示すガラス板２１Ｃを使用することが望ましい。ガラス板２１Ｃは、ガラス板２１Ａ（ガラス板２１ＡのＩＴＯ膜２１２が形成されていない面）とガラス板２１Ｂとを張り合わせたものである。
【００４７】
以上のようなガラス板２１は、波長４００〜７００ｎｍの可視光の透過率が５０％以上であることが望ましい。これによれば、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを好適に視認することが可能となる。
また、ガラス板２１は、周波数１．２〜２．４ＧＨｚの電波の遮蔽性能が５０ｄＢ以上であることが望ましい。ここで、周波数１．２〜２．４ＧＨｚの帯域は、電子機器用試験箱１の試験対象である電子機器Ｐとして最も使用頻度の高い携帯電話（第２世代および第３世代）の周波数帯と略等しい。したがって、これによれば、電子機器Ｐ（特に携帯電話）の周波数帯の電波を好適に遮蔽することが可能となる。
【００４８】
ガラス板２１の表面（両面）のうち、少なくとも透明酸化物半導体の薄膜が形成された面には、さらに透明樹脂の保護膜（図示せず）を形成することが望ましい。これによれば、透明酸化物半導体の薄膜を剥落や削剥等から保護することができるので、例えば、透明酸化物半導体の薄膜が剥落した部分からの電波の侵入を防止することができ、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。このような透明樹脂としては、例えば、シリコーン樹脂、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリエチレン（ＰＥ）等が挙げられる。
【００４９】
ガラス板２１は、図２，４に示すように、フレーム１２ｂによって固定されている。フレーム１２ｂは、金属製の枠部材であり、ガラス板２１の周縁部を覆うように、パネル１２ａに溶接等によって固定されている。なお、フレーム１２ｂを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。
【００５０】
ガラス板２１とフレーム１２ｂとの当接部分には、電波の遮蔽性を有する枠状のパッキン（図示せず）（例えば、導電性ゴムパッキン等）が設けられている。これにより、窓２０（ガラス板２１）の周縁部分における電波の遮蔽性を確保することができるので、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００５１】
なお、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射される電波が窓２０（ガラス板２１）に直接照射されると、電波が窓２０（ガラス板２１）の表面で反射して電波の共振現象が発生するので、窓２０は、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射される電波ができるだけ照射しない位置に設けることが望ましい。
【００５２】
電波吸収体３０は、電波を吸収する公知の一方式（λ／４型）に基づく構造で、図２乃至４に示すように、試験箱本体１０（筐体１１および扉１２）の内面を覆うように形成されており、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波を試験箱本体１０の内面で反射させずに擬似的に吸収するものである。すなわち、電波吸収体３０は、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波が、試験箱本体１０の内面で反射した電波と共振することを防止するものである。
【００５３】
図６はλ／４型電波吸収体の構造を示す断面図である。
電波吸収体３０は、図６（ａ）に示すように、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の表面（内周面）に配置されるスペーサ３１と、さらにその表面に配置され、電波の一部を透過させる機能を有する抵抗膜シート３２と、さらにその表面に配置され抵抗膜シート３２を保護する保護膜３３とを備えて構成されている。
【００５４】
スペーサ３１は、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート３２とパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間隔をλ／４に設定するためものであり、λ／４の厚みＤを有している。スペーサ３１は、電波の透過性を有していればどのような材料から形成してもよく、例えば、発泡スチロール等から形成することができる。なお、スペーサ３１を発泡スチロールから形成した場合、その厚みＤを容易に調整することができる。
【００５５】
抵抗膜シート３２は、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート３２としては、例えば、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ＩＴＯ膜の抵抗値を調整して成膜したもの等を使用することができる。
【００５６】
保護膜３３は、抵抗膜シート３２の表面に積層されており、抵抗膜シート３２の表面を保護している。このような保護膜３３は、例えば、ＰＥＴ、ＰＣ、ポリアセタール（ＰＯＭ）、ＰＶＣ、ＰＥ等から形成することができる。
【００５７】
ここで、図６（ａ）を参照して、電波吸収体３０による電波吸収のメカニズムについて説明する。なお、ここでは、説明を簡単にするため、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波Ｗ１が、保護膜３３の垂直方向から入射した場合について説明する。
【００５８】
保護膜３３を通過した電波Ｗ１（波長λ）のうち、抵抗膜シート３２を透過するものを電波Ｗ２とし、抵抗膜シート３２で反射するものを電波Ｗ３とする。抵抗膜シート３２を透過した電波Ｗ２は、スペーサ３１の内部を進んだ後、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）で反射して電波Ｗ４となる。電波Ｗ３、Ｗ４の位相は、抵抗膜シート３２、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）での反射の際にそれぞれ反転する。
【００５９】
パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）で反射し、抵抗膜シート３２に到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート３２で反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ３１の厚みＤの２倍、すなわち、「λ／４×２＝λ／２」進んでいるので、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相とが反転することになる。これにより、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート３２に入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。
【００６０】
なお、このような電波吸収体３０において、抵抗膜シート３２とパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間隔をλ／４に設定することができるのであれば、λ／４の厚みＤを有するスペーサ３１は備えなくてもよい。ただし、抵抗膜シート３２とパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間は電波が透過可能である必要がある。
【００６１】
このような電波吸収体３０を備えることで、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）やアンテナ６０等から放射される電波を効果的に吸収することができるので、電波の共振現象を防止して、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
【００６２】
また、電波吸収体３０を、構造が簡単で、設計が容易なλ／４型電波吸収体とすることで、試験箱本体１０の内部で放射される電波の波長λに応じて、最適な電波吸収能を持つ電波吸収体３０を設計することができるので、試験箱本体１０の内部で放射される電波をより効果的に吸収することができる。
【００６３】
図２乃至４に示すように、樹脂膜４０は、電波吸収体３０の表面（保護膜３３の表面。図６（ａ）参照）を覆うように形成されている。樹脂膜４０を形成する樹脂は、明色を呈すると共に、電波を透過させる樹脂であれば特に限定されるものではない。このような樹脂膜４０を備えることで、試験箱本体１０の内部が明るくなるので、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを良好に視認することができる。
【００６４】
ここで、明色とは、マンセル表色系（ＪＩＳ Ｚ８７２１）に規定されている明度が８．０〜１０．０の範囲にある色をいう。具体的には、例えば、白色、黄色、薄黄色、水色、薄緑色、黄緑色、橙色、薄橙色等を挙げることができる。特に、マンセル表色系に規定されている明度に関しては、８．５〜１０．０の範囲にある色が望ましく、９．０〜１０．０の範囲にある色がより望ましい。
【００６５】
なお、電波吸収体３０の表面に明色の塗料を単純に塗布することは好ましくない。すなわち、電波吸収体３０の表面に塗料を塗ると、塗料に含まれる成分や水分等によって、電波吸収体３０の表面抵抗値が変化してしまい、自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）と一致しなくなる。これにより、本来電波を透過させるはずの電波吸収体３０の表面において電波の反射が起こり、試験箱本体１０の内部で電波の共振現象が発生するので好ましくない。
しかしながら、ポリウレタン系の樹脂系塗料、ポリエステル系の樹脂系塗料やワニス系塗料などの絶縁性に優れた塗料を用いれば、電波の反射を抑えることが可能である。
【００６６】
樹脂膜４０を形成する樹脂としては、明色を呈する樹脂として、例えば、テフロン（登録商標）、ＰＶＣ、ＰＥ、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリスチレン（ＰＳ）、ＰＥＴ、ＰＯＭ、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリアミド（ＰＡ）、ポリフェニレンエーテル（ＰＰＥ）、ポリイミド（ＰＩ）等を使用することができる。
【００６７】
また、それ自体は明色を呈しない樹脂であっても、明色の顔料を含むことで明色を呈するようになる樹脂であれば使用することができる。明色の顔料としては、例えば、二酸化チタン（白色）、硫酸バリウム（白色）、酸化鉄（黄色）、黄鉛（黄色）、群青（青色）、紺青（青色）等を挙げることができ、これらを二つ以上混合して使用してもよい。このような顔料を含むことで使用することができる樹脂としては、例えば、ＰＶＣ、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳ、ＰＥＴ、ＰＯＭ、ＰＣ、ＰＡ、ＰＰＥ、ＰＩ等を挙げることができる。
【００６８】
これによれば、明色を呈する樹脂だけではなく、例えば、透明樹脂等であっても、明色の顔料を含ませることで使用することが可能となるので、樹脂膜４０の原料となる樹脂を幅広く選択することができる。
【００６９】
なお、前記した明色を呈する樹脂や明色の顔料を含む樹脂のうち、白色（例えば、マンセル表色系に規定されている明度が９．５であるもの）を呈する樹脂または白色顔料を含む樹脂を使用することが望ましい。これによれば、試験箱本体１０の内部を好適に明るくすることができるので、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを良好に視認することができる。さらに、顔料は白色顔料以外に蛍光顔料であってもよい。蛍光顔料は、紫外線を照射することにより電子が励起され、この電子が基底状態に戻る際に特定波長の可視光を発する顔料である。蛍光顔料のうち無機蛍光顔料として、例えば、硫化亜鉛、珪酸亜鉛、硫化カルシウム、硫化ストロンチウム、タングステン酸カルシウム、燐酸カルシウム等が挙げられる。このように蛍光顔料を用いることによって、明度が増して、試験箱本体１０の内部の視認性を高めることができる。
【００７０】
このような樹脂膜４０は、電波吸収体３０の表面にピンやネジ等で固定されている（図示せず）。ここで、樹脂膜４０を電波吸収体３０の表面に接着剤で固定すると、接着剤に含まれる成分や水分等によって、電波吸収体３０の表面に塗料を塗布した場合と同様に、電波吸収体３０の表面抵抗値が変化してしまい、本来電波を透過させるはずの電波吸収体３０の表面において電波の反射が起こり、試験箱本体１０の内部で電波の共振現象が発生するので好ましくない。
しかしながら、この電波の共振現象は、例えば熱可塑性接着剤、熱硬化性接着剤や光硬化性接着剤などの絶縁性に優れた接着剤を使用したり、また接着方法について、例えばスポットで絶縁膜を接着するなどの工夫を施して接着面積を最小限に抑えたりするようにすれば、電波反射を抑えることができ、電波吸収体の電波吸収特性を殆んど損なうことなく絶縁膜を電波吸収体の表面に固定することが可能である。
【００７１】
本実施形態では、樹脂膜４０は、電波吸収体３０の表面にピンやネジ等で固定される。これによれば、電波吸収体３０の表面抵抗値を変化させることがないため、電波吸収体３０の性能を十分に発揮させることができる。なお、ピンやネジ等を金属製とした場合、その頭部で電波が反射する場合があるので、ピンやネジ等の頭部に電波吸収性を有する電波吸収シートを取り付けたり、ピンやネジを絶縁性の材料（例えば、樹脂等）で形成したりすることが望ましい。
【００７２】
樹脂膜４０は、前記した電波吸収体３０の保護膜３３（図６（ａ）参照）を兼ねてもよい。すなわち、電波吸収体３０は、図６（ｂ）に示すように、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の表面（内周面）に配置されるスペーサ３１と、さらにその表面に配置される抵抗膜シート３２と、さらにその表面に配置され抵抗膜シート３２を保護すると共に、明色を呈する樹脂膜４０とを備える構成であってもよい。これによれば、電波吸収体３０の保護膜３３の表面に、さらに樹脂膜４０を固定する必要がなくなり、試験箱本体１０の構造を簡略化することができると共に、材料コストや製造コストを抑えることができる。
【００７３】
ＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプ５０は、試験箱本体１０の内部を照らすための照明であり、図３，４に示すように、筐体１１の上壁に設けられている。これによれば、例えば、電子機器Ｐを試験する間、試験箱本体１０の内部を照らすことで、さらに明るくすることができるので、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐをより良好に視認することができる。
【００７４】
ＬＥＤランプ５０は、蛍光灯と異なり、点滅時におけるノイズがほとんど発生しないため、電子機器Ｐの試験を精密に行うことが可能となるので、試験箱本体１０の内部を照らす照明として好適に用いることができる。
【００７５】
なお、ＬＥＤランプ５０の設置位置や個数、配置等は適宜設定することができ、本実施形態の構成に限定されるものではない。また、試験箱本体１０の内部を照らす照明は、ＬＥＤランプに限定されず、例えば、ハロゲンランプや白熱灯等であってもよい。
【００７６】
アンテナ６０は、電子機器Ｐとの間で電波を授受するためのアンテナであり、図２乃至４に示すように、筐体１１の側壁に固定されたコネクタ６１に、アンテナ用導波管６２を介して設けられている。アンテナ６０には、ケーブル（図示せず）の一端が接続されており、このケーブル（図示せず）は、アンテナ用導波管６２を介して試験箱本体１０の外部に引き出され、その他端が電波送受信ユニット（図示せず）に接続されている。
【００７７】
電波送受信ユニット（図示せず）は、アンテナ６０に電波を放射させたり、その電波の周波数帯域や出力等を制御したり、アンテナ６０が受信した電子機器Ｐからの電波を測定したりする機能を有する。
【００７８】
コネクタ６１は、アンテナ用導波管６２を固定するためのものであり、筐体１１の側壁に固定した状態で設けられている。このようなコネクタ６１を緩めてアンテナ用導波管６２を回動させ、アンテナ６０の向きを変えた後、コネクタ６１を締めてアンテナ用導波管６２を再び固定することで、アンテナ６０の向きを変えることができるようになっている。
【００７９】
これにより、アンテナ６０から放射される電波の偏波面と、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）から放射される電波の偏波面とが、平行または垂直となるようにアンテナ６０の軸を回転調整することができる。
なお、偏波面とは、電磁波において電界の波の振動する面をいい、これが一定の平面状にある電磁波を直線偏波という。通常のアンテナから放射される電波は直線偏波である。
【００８０】
コネクタ６１は、図２，４に示すように、その左右（水平方向）に別（予備）のコネクタ６１’を設けてもよい。これにより、所望の位置にアンテナ用導波管６２を付け替えることができるので、所望の位置にアンテナ６０を配置することができる。なお、このようなコネクタ６１’は、コネクタ６１の上下（垂直方向）に設けてもよいし、コネクタ６１の左右上下に二つ以上設けてもよい。
【００８１】
アンテナ用導波管６２は、円筒状かつＬ字状に屈曲した、例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金等から形成された金属製の導波管であり、電波の遮蔽性を有している。このアンテナ用導波管６２は、試験箱本体１０の外部と内部とを連通しており、その中空部（内部）には、アンテナ６０に接続されたケーブル（図示せず）が配線されている。また、アンテナ用導波管６２の先端部には、矩形状のグランドプレート６３が固定されている。なお、アンテナ用導波管６２の断面は、円形に限定されず、例えば、多角形であってもよい。
【００８２】
アンテナ用導波管６２の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管６２の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬しないように設定されている。これにより、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００８３】
なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法（長さ）が同一であれば、導波管が長くなるほど、電波の遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなるほど、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数（所定の周波数）が高くなる。
【００８４】
また、一般にアンテナを金属物体に近接して設置すると金属物体に渦電流が流れて電波の再放射等が起こり、供試体に対して適切に放射された電波に干渉して影響を与えることがある。そこで、図４に示すように、アンテナ６０の近傍の筐体１１の側壁に磁性体シート６４を設けることが望ましい（アンテナ６０は、磁性体シート６４と電子機器Ｐとの間に位置することになる）。これにより、前記したような渦電流による電波の再放射等の影響を低減することができる。
【００８５】
ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference：電磁妨害または電磁干渉）ダクト７０は、電磁妨害を防止すると共に、電子機器Ｐ等に接続されるケーブル１０１（図２参照）を筐体１１の外部から内部に挿通するダクトであり、図４に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット７１を介して、筐体１１の背面に固定されている。
【００８６】
これにより、ＥＭＩダクト７０を介して、試験箱本体１０の外部から内部にケーブル１０１を配線することができると共に、ダクトの導波管としての作用（所定波長より長い波長の電波を伝搬させない）によってケーブル１０１の挿通部分から侵入しようとする電波を遮蔽することができるので、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００８７】
また、図２に示すように、ケーブル１０１の所定長さ（例えば、１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト７０の内部を通るように、ケーブル１０１を配線することによって、電磁妨害を好適に防止することができる。
【００８８】
なお、ケーブル１０１には、図２に示すように、ＥＭＩダクト７０の内部を通る部分および所定の前後部分の外周面にケーブル１０１の内部を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体１０２が被覆されている。具体的には、例えば、ルミディオン（登録商標）（東洋サービス株式会社）等のＥＭＩテープが、ケーブル１０１に所定の長さ（例えば、３００ｍｍ以上）で巻回されている。これにより、ケーブル１０１からのノイズの輻射と伝搬を抑制することができるので、電子機器Ｐで授受される電波を試験ユニット１００で高精度に制御・測定することができる。
【００８９】
このようなＥＭＩダクト７０は、ダイカスト製であり、図４に示すように、ケーブル１０１が通る側（筐体１１の側）に複数の凹溝７２が形成されている。この凹溝７２にケーブル１０１を通すことによって、ＥＭＩダクト７０の内部でケーブル１０１が上下方向に移動することを防止すると共に、ケーブル１０１を整列させることができる。また、ＥＭＩダクト７０に複数のケーブル１０１を通した場合、各ケーブル間の空間が凹溝７２の側壁部（金属）によって埋められるので、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。さらに、各ケーブルを平行に配線することができるので、例えば、各ケーブルに一様に接触するアース等を取付ける場合には、その取付けが容易となる。
【００９０】
ハニカムフィルタ８０は、試験箱本体１０の外部と内部とを連通すると共に、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、図４に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット８１を介して、筐体１１の背面に固定されている。図７（ａ）はハニカムフィルタを示す斜視図である。
【００９１】
さらに説明すると、ハニカムフィルタ８０は、図７（ａ）に示すように、正面視正六角形状の複数の細孔８２を有する金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）のハニカム体として形成され、この複数の細孔８２を介して、試験箱本体１０の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器Ｐ等から放射される熱を排気することができるようになっている。なお、細孔８２の形状は、正六角形に限定されず、例えば、円形や四角形等であってもよい。
【００９２】
また、細孔８２は、導波管としての機能を備える周壁８３に取り囲まれているので、所定波長より長い波長の電波を伝搬させないため、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。なお、筐体１１（試験箱本体１０）の背面に形成される貫通孔１１ｂ（図４参照）の開口径、ハニカムフィルタ８０の長さ（周壁８３からなる導波管の長さ）、および、細孔８２の開口径（正六角形の対向する二辺間の距離）は、ハニカムフィルタ８０の内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される。
【００９３】
なお、前記したハニカムフィルタ８０の代わりに、図７（ｂ）に示すようなメッシュフィルタ８５を備える構成としてもよい。図７（ｂ）はメッシュフィルタを示す斜視図である。
【００９４】
メッシュフィルタ８５は、試験箱本体１０の外部と内部とを連通すると共に、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、ハニカムフィルタと同様に、絶縁抵抗性を有するガスケットを介して、筐体１１の背面に固定される（図４参照）。
【００９５】
メッシュフィルタ８５は、金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）のメッシュが複数重ねられたメッシュ積層体であり、このメッシュを介して、試験箱本体１０の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器Ｐ等から放射される熱を排気することができるようになっている。また、金属製のメッシュ積層体の内部では、電波の回折損失が起こるので、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００９６】
取付ユニット９０は、電子機器Ｐを筐体１１の内部に固定するためのユニットであり、図２，３に示すように、筐体１１の底面全面を覆うように設けられた固定板９１と、この固定板９１の上に着脱自在に固定されて電子機器Ｐを保持・固定する保持固定治具９２とから構成されている。
【００９７】
固定板９１は、図２に示すように、平面視矩形状の板材であり、保持固定治具９２を固定するための複数のボルト孔９１ａが形成されている。ボルト孔９１ａは、保持固定治具９２の固定位置を所望の位置に変えられるように、筐体１１の正面視左右方向に並列して複数設けられている。なお、固定板９１の上には電波吸収性を有する電波吸収シートを設けてもよいし、固定板９１を電波吸収性を有する部材で形成してもよい。
【００９８】
保持固定治具９２は、図３に示すように、側面視Ｌ字状の部材であり、底部にボルトＢを螺入するためのボルト孔９２ａが形成されている。このボルト孔９２ａを介して、固定板９１のボルト孔９１ａにボルトＢが螺入されることで、保持固定治具９２が固定板９１に固定される。保持固定治具９２には、取付板９３と固定具９４が取り付けられている。
【００９９】
取付板９３は、長尺状の板材（図２参照）で、保持固定治具９２に固定されている。また、固定具９４は、電子機器Ｐを保持する部材で、電子機器Ｐを挿通して保持する挿通部９４ａが形成されている。この固定具９４は、取付板９３に着脱自在に取り付けられており、所望に応じて、電子機器Ｐの取付方向や取付位置を変えることができるようになっている。
【０１００】
試験ユニット１００（図２参照）は、電子機器Ｐで授受される電波を制御・測定するユニット、すなわち、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定すると共に、電子機器Ｐに各種の指示を送信して動作をさせることができるユニットである。
【０１０１】
このような試験ユニット１００は、ケーブル１０１を介して試験対象である電子機器Ｐに接続可能となっている。具体的には、ケーブル１０１の一端が試験ユニット１００に接続され、他端が、ＥＭＩダクト７０を介して、試験箱本体１０の内部に引き出され、電子機器Ｐに接続されている。なお、ケーブル１０１の他端には、電子機器Ｐに着脱自在に接続するためのコネクタ（図示せず）が設けられている。
【０１０２】
次に、以上のように構成される電子機器用試験箱１の動作を説明しつつ、本発明の一実施形態に係る電子機器試験方法について、適宜図面を参照しながら説明する。
【０１０３】
まず、図２に示すように、扉１２を開き、電子機器Ｐを筐体１１（試験箱本体１０）の内部に入れ、取付ユニット９０の固定具９４に形成された挿通部９４ａ（図３参照）に挿通して、筐体１１（試験箱本体１０）の内部に固定する。次に、ケーブル１０１のコネクタ（図示せず）を電子機器Ｐに接続した後、扉１２を閉める。
【０１０４】
そして、例えば、試験開始スイッチ（図示せず）等をＯＮにすることで、電波送受信ユニット（図示せず）からアンテナ６０に電気信号が送信され、アンテナ６０から電波が放射される。電子機器Ｐの動作の試験は、アンテナ６０から電波を放射しながら、電子機器Ｐの電波の受信状態を試験ユニット１００（図２参照）で検出することで行われる。試験ユニット１００では、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定する。
【０１０５】
この時、前記した電波送受信ユニット（図示せず）を操作することによって、アンテナ６０から放射される電波の強度や周波数帯域等を変化させて試験を行うことができる。
【０１０６】
正常状態であると判定されたら、扉１２を開いてアンテナ６０の向きを変えた後に、扉１２を閉めて異なる偏波面（水平波および垂直波）について試験を行うこともできる。
また、正常状態であると判定されたら、扉１２を開いて保持固定治具９２の位置を変えて固定板９１に固定し、アンテナ６０との距離を変えて、電子機器Ｐが電波を正常に受信できるか否かの試験を行うこともできる。
【０１０７】
以上のような電子機器Ｐの試験の様子は、窓２０（ガラス板２１）を介して、外部から試験箱本体１０の内部を視認することができるので、例えば、電波を受信したことによる電子機器Ｐの着信ランプの点灯の有無等を確認することができる。ここで、本発明に係る電子機器用試験箱１は、電波吸収体３０の表面に固定された明色の樹脂膜４０により試験箱本体１０の内部が明るくなるので、ガラス板２１の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを良好に視認することができる。さらに、電子機器用試験箱１は、ＬＥＤランプ５０により試験箱本体１０の内部を照らすことができるので、前記した樹脂膜４０の効果と併せて試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐをより良好に視認することができる。
【０１０８】
なお、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）とアンテナ６０との距離は、電子機器Ｐやアンテナ６０から放射される電波の波長λ以上となるように設定することが望ましく、２λ以上となるように設定するとさらに望ましい。これにより、遠方電磁界の領域に電子機器ＰのアンテナＰａを配置することが可能となり、電界強度が安定する位置で電子機器Ｐの試験を行うことができるので、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
ここで、遠方電磁界の領域とは、波動インピーダンスが空間の波動インピーダンスＺ０に等しくなる領域のことを意味する。アンテナ６０から放射される電波はこの領域において平面波に近い伝搬をする。
以上が、電子機器用試験箱１の一連の動作および電子機器試験方法である。
【０１０９】
以上のような電子機器用試験箱１によれば、試験箱本体１０の内部の電波吸収体３０の表面に樹脂膜４０を備えるので、例えば、ガラス板２１にＩＴＯ膜を膜厚に形成したり、ガラス板２１の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板２１の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体１０の内部が明るくなるので、試験箱本体１０の内部の電子機器を良好に視認することができる。
【０１１０】
また、電子機器用試験箱１によれば、試験箱本体１０の内部に電波吸収体３０を備えるので、試験中に、例えば、電子機器ＰのアンテナＰａやアンテナ６０等から放射される電波を効果的に吸収することができるため、試験箱本体１０の内部における電波の共振現象を防止して、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
【０１１１】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であり、例えば、以下のような変更が可能である。
【０１１２】
樹脂膜４０を、発泡樹脂にて構成してもよい。このようにすれば、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したりガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、電波吸収体の表面に固定された発泡樹脂により試験箱本体の内部が明るくなるので、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。すなわち、発泡樹脂は、内部に気泡を含むため、外部からの可視光が乱反射され、無色透明樹脂を基材とする場合、一般的に白色となる。よって、視認性に有効である。また、発泡スチロール等の樹脂板であれば、加工および取扱いが容易であるといった作用効果を得られる。さらに、絶縁層として発泡樹脂を使用することにより、原料コストの低減を図ることが可能となる。さらに、発泡樹脂は、軽量で且つ切断が容易であり、加工および取扱いを容易に行うことができるとともに、施工性も優れているため試験箱の製造コストも低くすることが可能となる。
【０１１３】
また、前記した実施形態では、絶縁層を樹脂膜４０にて構成しているが、これに限定されるものではない。絶縁層は、明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙にて構成してもよい。紙は、和紙や洋紙などが用いられる。紙の主成分は、セルロースなどの植物性繊維から構成されている。染料や顔料は、前記した実施形態と同様に、マンセル表色系（ＪＩＳ Ｚ８７２１）に規定されている明度が８．０〜１０．０の範囲にある色のものを用いる。具体的には、例えば、白色、黄色、薄黄色、水色、薄緑色、黄緑色、橙色、薄橙色等を挙げることができる。特に、マンセル表色系に規定されている明度に関しては、８．５〜１０．０の範囲にある色が望ましく、９．０〜１０．０の範囲にある色がより望ましい。明色の染料は、植物性染料が用いられ、紙に染み込ませることで着色されている。なお、染料には、アントラキノン（Anthraquinon）系の合成染料を使用してもよい。明色の顔料は、紙の表面に印刷されて、明色の紙が形成される。蛍光顔料のうち無機蛍光顔料として、例えば、硫化亜鉛、珪酸亜鉛、硫化カルシウム、硫化ストロンチウム、タングステン酸カルシウム、燐酸カルシウム等が使用可能である。
【０１１４】
絶縁層は、電波吸収体の表面との間に隙間のないように設けるのが好ましい。したがって、紙は、所定の厚さを有する厚紙にて構成するのがよい。また、紙は、電波吸収体の表面にピンやネジ等で固定される。なお、熱可塑性接着剤、熱硬化性接着剤や光硬化性接着剤などの絶縁性に優れた接着剤を使用したり、スポットで絶縁膜を接着するなどの工夫を施して接着面積を最小限に抑えたりするようにすれば、紙を電波吸収体の表面に接着剤で固定してもよい。このようにすれば、電波反射を抑えることができ、電波吸収体の電波吸収特性を殆んど損なうことなく絶縁層を電波吸収体の表面に固定することが可能である。なお、紙からなる絶縁膜も、樹脂膜４０と同様に、保護膜３３の表面に設けてもよいし、保護膜３３を兼ねてもよい。
【０１１５】
このように、絶縁層を、明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙にて構成した場合にも、前記した実施形態と同様の作用効果を得られる。また、軽量かつ切断が容易な紙を用いたことによって、加工および取扱いを容易に行うことができる。
【０１１６】
また、絶縁層は、樹脂膜や紙以外にも、所定の絶縁効果を備えていれば、石膏ボード、タイル等のセラミックスあるいは硝子にて構成してもよい。セラミックス原料の具体例として、例えば、酸化アルミニウム（サファイア）、石英（水晶）、酸化珪素（シリコンカーバイト）、炭酸カルシウム等が挙げられる。これらの原料と助剤、添加剤を所定の配合率で配合して混合した後に、水を加えてバインダーとともに混練し、成形機にて成型して乾燥後、高温で焼結してセラミックス板を製造する。硝子板は、珪砂、ソーダ灰、石灰石、硼砂、水酸化アルミニウム等の粉体混合物をガス炉に挿入して１５５０℃で溶解し、この液体状の硝子をフロートバスという長細い通路で溶けた錫の上に流して冷却することで製造される。これに特定の遷移金属元素を添加して、特定の波長の光だけを吸収させる色硝子や、表面粗度を高くして、硝子表面において太陽光を散乱させる、いわゆるスリガラスとしたものも、絶縁層となる絶縁板に含むものとする。
【０１１７】
前記した実施形態では、電子機器Ｐとして携帯電話を図示して説明したが、本発明の試験対象となる電子機器Ｐは、携帯電話に限定されるものではない。例えば、携帯電話と同様に電波の授受を行うＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や無線ＬＡＮ（Local Area Network）機能を備えるノート型のパーソナルコンピュータ等であってもよい。また、外部電波の影響を受けることが好ましくない精密測定機器や医療機器等であってもよい。さらに、外部に所定値以上の電波を放射することが好ましくない家電機器や医療機器等であってもよい。なお、この場合、取付ユニット９０の形状やサイズ等、または、取付ユニット９０を備えるか否かについては、試験対象である電子機器に応じて適宜設定されることはいうまでもない。
【０１１８】
前記した実施形態では、複数の金属製のパネル１１ａを、骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して筐体１１を形成しているが、これに限定されず、例えば、複数の金属製のパネルをボルト等によって組み付けて形成する組立・分解可能な構成としてもよい。なお、このような構成の場合、複数の金属製のパネルの隙間に電波の遮蔽性を有する充填材を介在させることが望ましい。これにより、筐体（試験箱本体）の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。電波の遮蔽性を有する充填材としては、例えば、上下面の少なくとも一方が絶縁層（例えば、紙、接着層を兼ねる粘着テープ等）で絶縁された抵抗損失体（例えば、カーボン抵抗シート、金属薄膜抵抗シート、熱線遮断フィルム等）を有する電磁遮蔽接合用シート体を使用することができる。具体的には、例えば、ルミディオン（登録商標）ＩＲ（東洋サービス株式会社）等を使用することができる。
【０１１９】
前記した実施形態では、筐体１１を金属製とすることで、電波の遮蔽性や剛性等を高める構成としたが、これに限定されず、例えば、電波の遮蔽性を有する板材で筐体を形成してもよい。
【０１２０】
前記した実施形態では、図１，２，４に示すように、扉１２に窓２０が設けられている構成としたが、これに限定されず、試験箱本体１０に窓２０を設ける構成としてもよい。また、扉や窓はそれぞれ複数設けてもよい。さらに、試験箱本体に扉を設けずに、窓を適宜開閉可能な構成として電子機器等の出し入れを行ってもよい。
【０１２１】
前記した実施形態では、電波吸収体３０を、λ／４型電波吸収体としたが、これに限定されず、内部で放射される電波の特性に応じて、公知の電波吸収体を広く使用することができる。例えば、抵抗性電波吸収体、誘電性電波吸収体、磁性電波吸収体、そしてこれらを組み合せた電波吸収体等のいずれであっても使用することができ、さらに、単層型、多層型のいずれであってもよい。
【０１２２】
具体的には、例えば、（１）パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の側から順に、抵抗膜シート（インピーダンス１０８８Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、抵抗膜シート（インピーダンス２８０Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、保護膜（アルミニウム板（箔））を備える二種の電波（８８０ＭＨｚ周辺および２０５０ＭＨｚ周辺）を吸収可能な電波吸収体、（２）カーボン粉末や酸化チタン等の化合物から形成される誘電性電波吸収シート、（３）フェライトやカルボニル鉄等の化合物から形成される磁性電波吸収シート、（４）ポリウレタン等の樹脂と磁性体との複合体から形成される電波吸収シート、（５）磁性体と抵抗体とを貼り合わせた電波吸収体（例えば、ルミディオン（登録商標）（東洋サービス株式会社））等のいずれであっても使用することができる。
【０１２３】
なお、電波吸収体３０の表面は平坦であること（平板型）が望ましい。これによれば、例えば、波型や山型、四角錐型等の電波吸収体を備える場合と比較して、樹脂膜４０を容易に形成することができる。また、試験箱本体１０の内部（容積）を大きくしたり、試験箱本体１０のサイズを小さくしたりすることができる。
【０１２４】
前記した実施形態では、アンテナ６０の回転調整は、コネクタ６１を緩めてアンテナ用導波管６２を回動させ、アンテナ６０の向きを変えた後、コネクタ６１を締めてアンテナ用導波管６２（アンテナ６０）を再び固定するという手動で行う構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、公知の動力機構や制御機構等を組み合せて、機械的に行う構成としてもよい。
【０１２５】
前記した実施形態では、試験箱本体１０（筐体１１）の背面に給排気用のハニカムフィルタ８０（またはメッシュフィルタ８５）を備える構成としたが、給排気用のフィルタは、これらに限定されるものではない。例えば、試験箱本体（筐体）の背面に、所定波長よりも長い電波を伝搬させない導波管として機能するように内径および長さ（パネル厚）を設定（設計）した複数の微細な貫通孔を形成した構成としてもよい。また、このような複数の微細な貫通孔を備えるプレートを、試験箱（筐体）の背面に形成される貫通孔（図４参照）に取付枠および絶縁抵抗性を有するガスケットを介して試験箱本体１０の内側から固定する構成としてもよい。
【０１２６】
前記した実施形態では、試験箱本体１０（筐体１１）の背面に一つの給排気用のフィルタ（ハニカムフィルタ８０またはメッシュフィルタ８５）を備える構成としたが、これに限定されず、例えば、吸気用と排気用の少なくとも二つのフィルタを備える構成としてもよい。この場合、全て同種のフィルタを使用してもよいし、異種のフィルタを組み合せて使用してもよい。また、排気用のフィルタまたは試験箱（筐体）の背面に形成される排気用の貫通孔に、排気ファン（図示せず）を取り付けてもよい。
【０１２７】
前記した実施形態では、固定具９４が取付板９３に着脱自在に取り付けられる構成としたが、これに限定されず、固定具が取付板に回動自在に取り付けられる構成としてもよい。この場合、固定具の回転調整は機械的に行う構成としてもよい。
【０１２８】
前記した実施形態では、保持固定治具９２が固定板９１に形成された複数のボルト孔９１ａとボルトＢとによって段階的に移動可能な構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、保持固定治具が固定板に設けたレールに沿って無段階で移動可能な構成としてもよい。これによれば、アンテナと保持固定治具（電子機器）との距離を簡単に調整することができる。
【０１２９】
前記した実施形態では、アンテナ６０から電子機器Ｐに電波を放射して、電子機器Ｐが正常に電波を受信できるか否かを試験ユニット１００で判定する電子機器試験方法について説明したが、電子機器試験方法はこれに限定されるものではない。例えば、試験ユニット１００から電子機器Ｐに各種の指示を送信して電子機器Ｐ（アンテナＰａ。図３参照）からアンテナ６０に電波を送信させ、アンテナ６０が受信した電波を電波送受信ユニット（図示せず）で測定して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定してもよい。
【符号の説明】
【０１３０】
１ 電子機器用試験箱
１０ 試験箱本体
２０ 窓
２１ ガラス板
３０ 電波吸収体（λ／４型電波吸収体）
３３ 保護膜
４０ 樹脂膜（絶縁層）
５０ ＬＥＤランプ（照明）
Ｐ 電子機器
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話等の電子機器に対する試験を行う電子機器用試験箱に係り、さらに詳細には、電波の遮蔽性を維持しつつ、内部の視認性を高めた電子機器用試験箱に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、携帯電話等の電子機器は、製造後や修理後に正常に動作・機能するか否かについて、無線電波による無線接続試験（以下、試験という）を行う場合がある。従来、このような試験は、正確な受信能力の試験を行うために、外来電波が遮断された電波無響室（電波暗室）と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と称される箱の内部で行われていた。
【０００３】
例えば、特許文献１には、金属製の筺体の内側に電波吸収構造が設けられた試験箱本体と、試験箱本体の正面側に固定された２本の手挿入用導波管と、片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムスズ）膜を形成したガラス板が設けられた窓とを主に備えた電子機器用試験箱が開示されている。このような電子機器用試験箱は、試験員が試験箱本体の内部の電子機器を視認しながら、手で直接操作して試験を行うことができるという利点を有している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１５３８４１号公報（段落００４４〜００５２、図１、図３）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、近年の電子機器の高性能化により、外来電波を確実に遮蔽することができる電波の遮蔽性に優れた電子機器用試験箱の必要性が高まっている。そして、電子機器用試験箱（試験箱本体）の電波の遮蔽性を高めるため、窓に設けられたガラス板に電波の遮蔽性（反射性）を有するＩＴＯ膜を膜厚に形成する必要性や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成する必要性が生じている。
【０００６】
ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したり、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることで、ガラス板の電波の遮蔽性（反射性）が高まるので、試験箱本体の電波の遮蔽性を高めることが可能となる。しかしながら、このようなガラス板は、可視光に対する透過性が低下するので、試験箱本体の内部が暗くなり、窓本来の役割である視認性が低下して、試験箱本体の内部の電子機器が視認しにくくなるという問題があった。
【０００７】
そこで、本発明は、このような問題を解決すべく、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記課題を解決するため、本発明に係る電子機器用試験箱は、電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体と、当該試験箱本体に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板が設けられた窓と、を備える電子機器用試験箱であって、前記試験箱本体は、その内周面に取り付けられた電波吸収体と、当該電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層と、前記試験箱本体の内部に設けられたＬＥＤ照明と、をさらに備え、前記ガラス板は、板ガラスの両面に透明酸化物半導体の薄膜が形成されてなることを特徴とする。
【０００９】
このような電子機器用試験箱によれば、電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層により試験箱本体の内部が明るくなるので、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したり、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。
なお、本発明において、明色とは、マンセル表色系（Munsell color system、ＪＩＳ Ｚ８７２１）に規定されている明度が８．０〜１０．０の範囲にある色をいう。
また、本発明において、絶縁層とは、体積抵抗値が１０６Ωｃｍ以上の材質からなる層をいう。絶縁層はその厚さによって、絶縁板または絶縁膜と呼ばれるが、絶縁板または絶縁膜の厚さの境界（閾値）は明確ではない。したがって、本願発明において、絶縁層は、絶縁板および絶縁膜の両方を含むものとする。絶縁板の具体例として、例えば、樹脂板、セラミックス板、硝子板、厚紙等が挙げられる。絶縁膜の具体例として、例えば、樹脂膜、紙等が挙げられる。
【００１０】
また、このような電子機器用試験箱によれば、試験箱本体の内周面に電波吸収体を備えるので、試験中に、例えば、電子機器のアンテナや測定用アンテナ等から放射される電波を効果的に吸収することができる。これにより、電波の共振現象を防止して、電子機器の試験を精密に行うことができる。
なお、電波の共振現象とは、電波の遮蔽性を有する試験箱本体の内部で電波が放射されたとき、試験箱本体の内部の壁面で電波が反射を繰り返して干渉を起こす現象をいう。
さらに、このような電子機器用試験箱によれば、試験箱本体の内部を照らすことで、試験箱本体の内部をさらに明るくすることができるので、試験箱本体の内部の電子機器をより良好に視認することができ、照明をＬＥＤランプとすることで、点滅時にノイズがほとんど発生しないので、電子機器の試験を精密に行うことができる。
【００１１】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、絶縁層が明色の顔料を含む樹脂からなることを特徴とする。
【００１２】
このような電子機器用試験箱によれば、絶縁層を明色の顔料を含む樹脂製とすることで、明色を呈する樹脂だけではなく、例えば、透明樹脂等であっても、明色の顔料を含ませることで使用することが可能となり、絶縁層の原料となる樹脂を幅広く選択することができる。さらに、耐久性、堅牢性に優れているため、ねじ孔等を穿設することが可能となり、試験箱内部に設置されたコネクタ（接栓）や治具等を係止するための基板として使用することができる。
【００１３】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、前記絶縁層が発泡樹脂からなることを特徴とする。
【００１４】
このような電子機器用試験箱によれば、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したりガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、電波吸収体の表面に固定された発泡樹脂により試験箱本体の内部が明るくなるので、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。すなわち、発泡樹脂は、内部に気泡を含むため、外部からの可視光が乱反射され、無色透明樹脂を基材とする場合、一般的に白色となる。よって、視認性に有効である。また、発泡スチロール等の樹脂板であれば、加工および取扱いが容易であるといった作用効果を得られる。さらに、絶縁層として発泡樹脂を使用することにより、原料コストの低減を図ることが可能となる。さらに、発泡樹脂は、軽量で且つ切断が容易であり、加工および取扱いを容易に行うことができるとともに、施工性も優れているため試験箱の製造コストも低くすることが可能となる。
【００１５】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、前記絶縁層が明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙からなることを特徴とする。
【００１６】
このような電子機器用試験箱によれば、請求項１と同様の作用効果の他に、軽量かつ切断が容易な紙を用いたことで、加工および取扱いが容易であるといった作用効果を得られる。また、絶縁層として紙を使用することにより、原料コストの低減を図ることが可能となり、さらに、軽量で且つ切断が容易であり、加工および取扱いを容易に行うことができるとともに、施工性も優れているため試験箱の製造コストも低くすることが可能となる。
【００１７】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、顔料が白色顔料あるいは蛍光顔料であることを特徴とする。
【００１８】
このような電子機器用試験箱によれば、顔料を、白色顔料あるいは蛍光顔料とすることで、試験箱本体の内部を好適に明るくすることができるので、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。
なお、本発明において、蛍光顔料とは、紫外線を照射することにより電子が励起され、この電子が基底状態に戻る際に特定波長の可視光を発する顔料である。
【００１９】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、前記絶縁層が明色のセラミックスもしくは硝子からなることを特徴とする。
【００２０】
ここで、セラミックスは、石英や酸化アルミニウム、炭化珪素など前記の範囲内にある明度のものを使用することが可能である。硝子については、その表面が光を拡散させるスリガラスのような性質を持つものは、特に視認性という点において利点を備える。このような電子機器用試験箱によれば、セラミックスまたは硝子を使用することで、強度・耐久性・耐候性に優れ、製造段階において、明度を上げるための染料を使用しない絶縁層を提供することが可能である。
【００２１】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、電波吸収体がλ／４型電波吸収体であることを特徴とする。
【００２２】
このような電子機器用試験箱によれば、電波吸収体を、構造が簡単で、設計が容易なλ／４型電波吸収体とすることで、試験箱本体の内部で放射される電波の波長λに応じて、最適な電波吸収能を持つ電波吸収体を設計することができるので、試験箱本体の内部で放射される電波をより効果的に吸収することができる。これにより、電波の共振現象を効果的に防止して、電子機器の試験を精密に行うことができる。
【００２３】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、絶縁層がλ／４型電波吸収体の保護膜を兼ねることを特徴とする。
【００２４】
このような電子機器用試験箱によれば、絶縁層がλ／４型電波吸収体の保護膜を兼ねるので、λ／４型電波吸収体の保護膜の表面に、さらに明色の絶縁層を固定する必要がなくなり、試験箱本体の構造を簡略化することができると共に、材料コストや製造コストを抑えることができる。
【００２５】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、透明酸化物半導体の薄膜がＩＴＯ膜であり、板ガラスの両面に抵抗値が２Ω／□以下となるＩＴＯ膜が形成されたことを特徴とする。
【００２６】
このような電子機器用試験箱によれば、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。
【００２７】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、板ガラスの両面に、さらに透明樹脂の保護膜が形成されたことを特徴とする。
【００２８】
このような電子機器用試験箱によれば、薄膜を剥落や削剥等から保護することができるので、薄膜が剥落した部分からの電波の侵入を防止することができる。
【００２９】
また、本発明に係る電子機器用試験箱は、絶縁層が電波吸収体の表面にピンまたはネジで固定されることを特徴とする。
【００３０】
このような電子機器用試験箱によれば、絶縁層を電波吸収体の表面にピンまたはネジで固定するので、電波吸収体の表面抵抗値を変化させることがないため、電波吸収体の性能を十分に発揮させることができる。
なお、絶縁層を電波吸収体の表面に接着剤で固定すると、電波吸収体の表面抵抗値が変化してしまい、本来電波を透過させるはずの電波吸収体の表面において電波の反射が起こり、吸収することができなくなるので好ましくない。しかしながら、例えば熱可塑性接着剤、熱硬化性接着剤や光硬化性接着剤などの絶縁性に優れた接着剤を使用すれば、電波反射を抑えることが可能である。また、接着方法についても、例えばスポットで絶縁膜を接着するなどの工夫を施して、接着面積を最小限に抑えれば、電波吸収体の電波吸収特性を殆んど損なうことなく絶縁膜を電波吸収体の表面に固定することが可能である。
【発明の効果】
【００３１】
本発明によれば、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成した場合や、ガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成した場合であっても、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる視認性の高い電子機器用試験箱を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明に係る電子機器用試験箱の一実施形態を示す一部断面部分を含む正面図である。
【図２】図１に示す電子機器用試験箱のII−II断面図である。
【図３】本発明に係る電子機器用試験箱の一実施形態を示す縦断面図である。
【図４】図１に示す電子機器用試験箱のIV−IV断面図である。
【図５】（ａ）乃至（ｃ）はガラス板の構造例を示す断面図である。
【図６】（ａ）はλ／４型電波吸収体の構造を示す断面図であり、（ｂ）は樹脂膜が保護膜を兼ねるλ／４型電波吸収体の構造を示す断面図である。
【図７】（ａ）はハニカムフィルタを示す斜視図であり、（ｂ）はメッシュフィルタを示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。図１は電子機器用試験箱を示す一部断面部分を含む正面図である。
図１に示すように、電子機器用試験箱１は、電子機器Ｐが内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体１０と、当該試験箱本体１０の一部を構成する扉１２に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板２１が設けられた窓２０とを主に備え、試験箱本体１０の内部に電波吸収体３０と、当該電波吸収体３０の表面に固定された明色の絶縁層を構成する樹脂層（樹脂膜４０または樹脂板）とをさらに備えている。ここで、絶縁層とは、体積抵抗値が１０６Ωｃｍ以上の材質からなる樹脂膜４０または樹脂板をいう。
【００３４】
図２は図１のII−II断面図であり、図３は電子機器用試験箱の縦断面図であり、図４は図１のIV−IV断面図である。
図２乃至４に示すように、試験箱本体１０は、金属製の筐体１１と、筐体１１の正面側にヒンジＨを介して取り付けられた開閉自在の扉１２とから主に構成され、扉１２の正面視右側（図１参照）には、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板２１が設けられた窓２０が形成されている。
【００３５】
さらに、試験箱本体１０は、その内周面に取り付けられた電波吸収体３０と、電波吸収体３０の表面に固定された樹脂膜４０と、上壁に設けられたＬＥＤランプ５０と、側壁に設けられたアンテナ６０と、背面に設けられたＥＭＩダクト７０と、金属製のハニカムフィルタ８０と、電子機器Ｐが固定される取付ユニット９０とを備えている。
【００３６】
筐体１１は、図２乃至４に示すように、複数の金属製のパネル１１ａを骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して、正面側が開口した略直方体の箱状に形成されている。筐体１１は、金属性のパネル１１ａおよびフレーム（図示せず）から形成されているので、所定の剛性を有し、その耐久性が高められていると共に、外部からの電波の遮蔽性を有している。また、複数のパネル１１ａとフレーム（図示せず）とが、溶接によって接合されているので、筐体１１の密閉性、すなわち、電波の遮蔽性が高められている。
【００３７】
パネル１１ａおよびフレーム（図示せず）を形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。なお、パネル１１ａやフレーム（図示せず）を、特にアルミニウムまたはアルミニウム合金で形成した場合、所望の剛性を維持しつつ、筐体１１の軽量化を図ることができる。また、アルミニウムやアルミニウム合金は独特の光沢を有するので、筐体１１は美観に優れたものとなる。
【００３８】
扉１２は、図２に示すように、金属製のパネル１２ａから形成され、このパネル１２ａの正面視右側（図１参照）には窓２０が設けられている。パネル１２ａは、筐体１１の側面にヒンジＨを介して回動自在に取り付けられており、扉１２が適宜開閉可能な構成となっている。なお、パネル１２ａを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。
【００３９】
扉１２を閉じた際の筐体１１（パネル１１ａ）と扉１２（パネル１２ａ）との当接部分には、電波の遮蔽性を有する枠状のパッキンＳ（例えば、導電性ゴムパッキン等）が設けられている。これにより、扉１２を閉じた際の試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００４０】
図２，４に示すように、窓２０は、可視光に対する透過性を有する矩形状のガラス板２１を備えている。これにより、電子機器Ｐの試験を行いながら、窓２０（ガラス板２１）を介して、外部から試験箱本体１０の内部を視認することができるので、例えば、電波を受信したことによる電子機器Ｐの着信ランプの点灯の有無等を確認することができる。
【００４１】
また、ガラス板２１は、窓２０（ガラス板２１）を介しての電波の往来を防止するため、電波の反射性（遮断性）を有している。これにより、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００４２】
このようなガラス板２１は、少なくとも片面に透明酸化物半導体の薄膜を形成することで実現することができる。透明酸化物半導体は、透明性と導電性の両方を兼ね備えた半導体材料であり、具体例として、酸化インジウムスズ（Indium Tin Oxide：ＩＴＯ）、酸化亜鉛、酸化チタン、酸化スズ等が挙げられる。なお、透明酸化物半導体の薄膜の形成は、例えば、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング法等の公知の方法によって行うことができる。
【００４３】
このような透明酸化物半導体のうち、酸化インジウムスズ（以下、ＩＴＯという）や酸化亜鉛を使用することが望ましい。特にＩＴＯは、低抵抗であると共に、可視光透過性および耐久性が高く、成膜およびパターニングが容易なので好適に使用することができる。
以下に、板ガラスの表面にＩＴＯ膜を形成したガラス板２１の構造の具体例について簡単に説明する。
【００４４】
図５（ａ）乃至（ｃ）はガラス板の構造例を示す断面図である。
図５（ａ）に示すガラス板２１Ａは、板ガラス２１１の片面にＩＴＯ膜２１２を形成したものである。なお、ＩＴＯ膜２１２の抵抗値は、２Ω／□以下、例えば、１〜２Ω／□であることが望ましい（後記するガラス板２１Ｂおよび２１Ｃについても同様とする）。
【００４５】
図５（ｂ）に示すガラス板２１Ｂは、板ガラス２１１の両面にＩＴＯ膜２１２，２１２を形成したものである。板ガラス２１１の両面にＩＴＯ膜２１２，２１２を形成すると、ガラス板２１Ｂの抵抗値は、抵抗を並列接続した場合と同じ値となる。すなわち、板ガラス２１１の両面に１Ω／□のＩＴＯ膜２１２，２１２を形成した場合、ガラス板２１Ｂの抵抗値は０．５Ω／□となる。なお、板ガラス２１１の両面に抵抗値が２Ω／□以下となるＩＴＯ膜２１２，２１２を形成することにより、周波数１．２〜２．４ＧＨｚの電波の遮蔽性能を６０ｄＢ以上とすることができる。
【００４６】
前記したガラス板２１Ａ，２１Ｂによれば、高い電波の遮蔽性能を実現することができる。ところで、板ガラス２１１の表面にＩＴＯ膜を厚く形成して、その抵抗値を小さくするには一定の限界が存在する。そこで、さらに高い電波の遮蔽性能が要求される場合には、図５（ｃ）に示すガラス板２１Ｃを使用することが望ましい。ガラス板２１Ｃは、ガラス板２１Ａ（ガラス板２１ＡのＩＴＯ膜２１２が形成されていない面）とガラス板２１Ｂとを張り合わせたものである。
【００４７】
以上のようなガラス板２１は、波長４００〜７００ｎｍの可視光の透過率が５０％以上であることが望ましい。これによれば、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを好適に視認することが可能となる。
また、ガラス板２１は、周波数１．２〜２．４ＧＨｚの電波の遮蔽性能が５０ｄＢ以上であることが望ましい。ここで、周波数１．２〜２．４ＧＨｚの帯域は、電子機器用試験箱１の試験対象である電子機器Ｐとして最も使用頻度の高い携帯電話（第２世代および第３世代）の周波数帯と略等しい。したがって、これによれば、電子機器Ｐ（特に携帯電話）の周波数帯の電波を好適に遮蔽することが可能となる。
【００４８】
ガラス板２１の表面（両面）のうち、少なくとも透明酸化物半導体の薄膜が形成された面には、さらに透明樹脂の保護膜（図示せず）を形成することが望ましい。これによれば、透明酸化物半導体の薄膜を剥落や削剥等から保護することができるので、例えば、透明酸化物半導体の薄膜が剥落した部分からの電波の侵入を防止することができ、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。このような透明樹脂としては、例えば、シリコーン樹脂、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリエチレン（ＰＥ）等が挙げられる。
【００４９】
ガラス板２１は、図２，４に示すように、フレーム１２ｂによって固定されている。フレーム１２ｂは、金属製の枠部材であり、ガラス板２１の周縁部を覆うように、パネル１２ａに溶接等によって固定されている。なお、フレーム１２ｂを形成する金属は、本発明では特に限定されず、純金属（例えば、アルミニウム、スチール、銅等）だけでなく合金（例えば、アルミニウム合金、ステンレス等）であってもよい。
【００５０】
ガラス板２１とフレーム１２ｂとの当接部分には、電波の遮蔽性を有する枠状のパッキン（図示せず）（例えば、導電性ゴムパッキン等）が設けられている。これにより、窓２０（ガラス板２１）の周縁部分における電波の遮蔽性を確保することができるので、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００５１】
なお、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射される電波が窓２０（ガラス板２１）に直接照射されると、電波が窓２０（ガラス板２１）の表面で反射して電波の共振現象が発生するので、窓２０は、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射される電波ができるだけ照射しない位置に設けることが望ましい。
【００５２】
電波吸収体３０は、電波を吸収する公知の一方式（λ／４型）に基づく構造で、図２乃至４に示すように、試験箱本体１０（筐体１１および扉１２）の内面を覆うように形成されており、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波を試験箱本体１０の内面で反射させずに擬似的に吸収するものである。すなわち、電波吸収体３０は、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波が、試験箱本体１０の内面で反射した電波と共振することを防止するものである。
【００５３】
図６はλ／４型電波吸収体の構造を示す断面図である。
電波吸収体３０は、図６（ａ）に示すように、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の表面（内周面）に配置されるスペーサ３１と、さらにその表面に配置され、電波の一部を透過させる機能を有する抵抗膜シート３２と、さらにその表面に配置され抵抗膜シート３２を保護する保護膜３３とを備えて構成されている。
【００５４】
スペーサ３１は、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート３２とパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間隔をλ／４に設定するためものであり、λ／４の厚みＤを有している。スペーサ３１は、電波の透過性を有していればどのような材料から形成してもよく、例えば、発泡スチロール等から形成することができる。なお、スペーサ３１を発泡スチロールから形成した場合、その厚みＤを容易に調整することができる。
【００５５】
抵抗膜シート３２は、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート３２としては、例えば、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ＩＴＯ膜の抵抗値を調整して成膜したもの等を使用することができる。
【００５６】
保護膜３３は、抵抗膜シート３２の表面に積層されており、抵抗膜シート３２の表面を保護している。このような保護膜３３は、例えば、ＰＥＴ、ＰＣ、ポリアセタール（ＰＯＭ）、ＰＶＣ、ＰＥ等から形成することができる。
【００５７】
ここで、図６（ａ）を参照して、電波吸収体３０による電波吸収のメカニズムについて説明する。なお、ここでは、説明を簡単にするため、電子機器Ｐやアンテナ６０等から放射された電波Ｗ１が、保護膜３３の垂直方向から入射した場合について説明する。
【００５８】
保護膜３３を通過した電波Ｗ１（波長λ）のうち、抵抗膜シート３２を透過するものを電波Ｗ２とし、抵抗膜シート３２で反射するものを電波Ｗ３とする。抵抗膜シート３２を透過した電波Ｗ２は、スペーサ３１の内部を進んだ後、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）で反射して電波Ｗ４となる。電波Ｗ３、Ｗ４の位相は、抵抗膜シート３２、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）での反射の際にそれぞれ反転する。
【００５９】
パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）で反射し、抵抗膜シート３２に到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート３２で反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ３１の厚みＤの２倍、すなわち、「λ／４×２＝λ／２」進んでいるので、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相とが反転することになる。これにより、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート３２に入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。
【００６０】
なお、このような電波吸収体３０において、抵抗膜シート３２とパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間隔をλ／４に設定することができるのであれば、λ／４の厚みＤを有するスペーサ３１は備えなくてもよい。ただし、抵抗膜シート３２とパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間は電波が透過可能である必要がある。
【００６１】
このような電波吸収体３０を備えることで、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）やアンテナ６０等から放射される電波を効果的に吸収することができるので、電波の共振現象を防止して、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
【００６２】
また、電波吸収体３０を、構造が簡単で、設計が容易なλ／４型電波吸収体とすることで、試験箱本体１０の内部で放射される電波の波長λに応じて、最適な電波吸収能を持つ電波吸収体３０を設計することができるので、試験箱本体１０の内部で放射される電波をより効果的に吸収することができる。
【００６３】
図２乃至４に示すように、樹脂膜４０は、電波吸収体３０の表面（保護膜３３の表面。図６（ａ）参照）を覆うように形成されている。樹脂膜４０を形成する樹脂は、明色を呈すると共に、電波を透過させる樹脂であれば特に限定されるものではない。このような樹脂膜４０を備えることで、試験箱本体１０の内部が明るくなるので、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを良好に視認することができる。
【００６４】
ここで、明色とは、マンセル表色系（ＪＩＳ Ｚ８７２１）に規定されている明度が８．０〜１０．０の範囲にある色をいう。具体的には、例えば、白色、黄色、薄黄色、水色、薄緑色、黄緑色、橙色、薄橙色等を挙げることができる。特に、マンセル表色系に規定されている明度に関しては、８．５〜１０．０の範囲にある色が望ましく、９．０〜１０．０の範囲にある色がより望ましい。
【００６５】
なお、電波吸収体３０の表面に明色の塗料を単純に塗布することは好ましくない。すなわち、電波吸収体３０の表面に塗料を塗ると、塗料に含まれる成分や水分等によって、電波吸収体３０の表面抵抗値が変化してしまい、自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）と一致しなくなる。これにより、本来電波を透過させるはずの電波吸収体３０の表面において電波の反射が起こり、試験箱本体１０の内部で電波の共振現象が発生するので好ましくない。
しかしながら、ポリウレタン系の樹脂系塗料、ポリエステル系の樹脂系塗料やワニス系塗料などの絶縁性に優れた塗料を用いれば、電波の反射を抑えることが可能である。
【００６６】
樹脂膜４０を形成する樹脂としては、明色を呈する樹脂として、例えば、テフロン（登録商標）、ＰＶＣ、ＰＥ、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリスチレン（ＰＳ）、ＰＥＴ、ＰＯＭ、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリアミド（ＰＡ）、ポリフェニレンエーテル（ＰＰＥ）、ポリイミド（ＰＩ）等を使用することができる。
【００６７】
また、それ自体は明色を呈しない樹脂であっても、明色の顔料を含むことで明色を呈するようになる樹脂であれば使用することができる。明色の顔料としては、例えば、二酸化チタン（白色）、硫酸バリウム（白色）、酸化鉄（黄色）、黄鉛（黄色）、群青（青色）、紺青（青色）等を挙げることができ、これらを二つ以上混合して使用してもよい。このような顔料を含むことで使用することができる樹脂としては、例えば、ＰＶＣ、ＰＥ、ＰＰ、ＰＳ、ＰＥＴ、ＰＯＭ、ＰＣ、ＰＡ、ＰＰＥ、ＰＩ等を挙げることができる。
【００６８】
これによれば、明色を呈する樹脂だけではなく、例えば、透明樹脂等であっても、明色の顔料を含ませることで使用することが可能となるので、樹脂膜４０の原料となる樹脂を幅広く選択することができる。
【００６９】
なお、前記した明色を呈する樹脂や明色の顔料を含む樹脂のうち、白色（例えば、マンセル表色系に規定されている明度が９．５であるもの）を呈する樹脂または白色顔料を含む樹脂を使用することが望ましい。これによれば、試験箱本体１０の内部を好適に明るくすることができるので、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを良好に視認することができる。さらに、顔料は白色顔料以外に蛍光顔料であってもよい。蛍光顔料は、紫外線を照射することにより電子が励起され、この電子が基底状態に戻る際に特定波長の可視光を発する顔料である。蛍光顔料のうち無機蛍光顔料として、例えば、硫化亜鉛、珪酸亜鉛、硫化カルシウム、硫化ストロンチウム、タングステン酸カルシウム、燐酸カルシウム等が挙げられる。このように蛍光顔料を用いることによって、明度が増して、試験箱本体１０の内部の視認性を高めることができる。
【００７０】
このような樹脂膜４０は、電波吸収体３０の表面にピンやネジ等で固定されている（図示せず）。ここで、樹脂膜４０を電波吸収体３０の表面に接着剤で固定すると、接着剤に含まれる成分や水分等によって、電波吸収体３０の表面に塗料を塗布した場合と同様に、電波吸収体３０の表面抵抗値が変化してしまい、本来電波を透過させるはずの電波吸収体３０の表面において電波の反射が起こり、試験箱本体１０の内部で電波の共振現象が発生するので好ましくない。
しかしながら、この電波の共振現象は、例えば熱可塑性接着剤、熱硬化性接着剤や光硬化性接着剤などの絶縁性に優れた接着剤を使用したり、また接着方法について、例えばスポットで絶縁膜を接着するなどの工夫を施して接着面積を最小限に抑えたりするようにすれば、電波反射を抑えることができ、電波吸収体の電波吸収特性を殆んど損なうことなく絶縁膜を電波吸収体の表面に固定することが可能である。
【００７１】
本実施形態では、樹脂膜４０は、電波吸収体３０の表面にピンやネジ等で固定される。これによれば、電波吸収体３０の表面抵抗値を変化させることがないため、電波吸収体３０の性能を十分に発揮させることができる。なお、ピンやネジ等を金属製とした場合、その頭部で電波が反射する場合があるので、ピンやネジ等の頭部に電波吸収性を有する電波吸収シートを取り付けたり、ピンやネジを絶縁性の材料（例えば、樹脂等）で形成したりすることが望ましい。
【００７２】
樹脂膜４０は、前記した電波吸収体３０の保護膜３３（図６（ａ）参照）を兼ねてもよい。すなわち、電波吸収体３０は、図６（ｂ）に示すように、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の表面（内周面）に配置されるスペーサ３１と、さらにその表面に配置される抵抗膜シート３２と、さらにその表面に配置され抵抗膜シート３２を保護すると共に、明色を呈する樹脂膜４０とを備える構成であってもよい。これによれば、電波吸収体３０の保護膜３３の表面に、さらに樹脂膜４０を固定する必要がなくなり、試験箱本体１０の構造を簡略化することができると共に、材料コストや製造コストを抑えることができる。
【００７３】
ＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプ５０は、試験箱本体１０の内部を照らすための照明であり、図３，４に示すように、筐体１１の上壁に設けられている。これによれば、例えば、電子機器Ｐを試験する間、試験箱本体１０の内部を照らすことで、さらに明るくすることができるので、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐをより良好に視認することができる。
【００７４】
ＬＥＤランプ５０は、蛍光灯と異なり、点滅時におけるノイズがほとんど発生しないため、電子機器Ｐの試験を精密に行うことが可能となるので、試験箱本体１０の内部を照らす照明として好適に用いることができる。
【００７５】
なお、ＬＥＤランプ５０の設置位置や個数、配置等は適宜設定することができ、本実施形態の構成に限定されるものではない。また、試験箱本体１０の内部を照らす照明は、ＬＥＤランプに限定されず、例えば、ハロゲンランプや白熱灯等であってもよい。
【００７６】
アンテナ６０は、電子機器Ｐとの間で電波を授受するためのアンテナであり、図２乃至４に示すように、筐体１１の側壁に固定されたコネクタ６１に、アンテナ用導波管６２を介して設けられている。アンテナ６０には、ケーブル（図示せず）の一端が接続されており、このケーブル（図示せず）は、アンテナ用導波管６２を介して試験箱本体１０の外部に引き出され、その他端が電波送受信ユニット（図示せず）に接続されている。
【００７７】
電波送受信ユニット（図示せず）は、アンテナ６０に電波を放射させたり、その電波の周波数帯域や出力等を制御したり、アンテナ６０が受信した電子機器Ｐからの電波を測定したりする機能を有する。
【００７８】
コネクタ６１は、アンテナ用導波管６２を固定するためのものであり、筐体１１の側壁に固定した状態で設けられている。このようなコネクタ６１を緩めてアンテナ用導波管６２を回動させ、アンテナ６０の向きを変えた後、コネクタ６１を締めてアンテナ用導波管６２を再び固定することで、アンテナ６０の向きを変えることができるようになっている。
【００７９】
これにより、アンテナ６０から放射される電波の偏波面と、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）から放射される電波の偏波面とが、平行または垂直となるようにアンテナ６０の軸を回転調整することができる。
なお、偏波面とは、電磁波において電界の波の振動する面をいい、これが一定の平面状にある電磁波を直線偏波という。通常のアンテナから放射される電波は直線偏波である。
【００８０】
コネクタ６１は、図２，４に示すように、その左右（水平方向）に別（予備）のコネクタ６１’を設けてもよい。これにより、所望の位置にアンテナ用導波管６２を付け替えることができるので、所望の位置にアンテナ６０を配置することができる。なお、このようなコネクタ６１’は、コネクタ６１の上下（垂直方向）に設けてもよいし、コネクタ６１の左右上下に二つ以上設けてもよい。
【００８１】
アンテナ用導波管６２は、円筒状かつＬ字状に屈曲した、例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金等から形成された金属製の導波管であり、電波の遮蔽性を有している。このアンテナ用導波管６２は、試験箱本体１０の外部と内部とを連通しており、その中空部（内部）には、アンテナ６０に接続されたケーブル（図示せず）が配線されている。また、アンテナ用導波管６２の先端部には、矩形状のグランドプレート６３が固定されている。なお、アンテナ用導波管６２の断面は、円形に限定されず、例えば、多角形であってもよい。
【００８２】
アンテナ用導波管６２の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管６２の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬しないように設定されている。これにより、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００８３】
なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法（長さ）が同一であれば、導波管が長くなるほど、電波の遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなるほど、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数（所定の周波数）が高くなる。
【００８４】
また、一般にアンテナを金属物体に近接して設置すると金属物体に渦電流が流れて電波の再放射等が起こり、供試体に対して適切に放射された電波に干渉して影響を与えることがある。そこで、図４に示すように、アンテナ６０の近傍の筐体１１の側壁に磁性体シート６４を設けることが望ましい（アンテナ６０は、磁性体シート６４と電子機器Ｐとの間に位置することになる）。これにより、前記したような渦電流による電波の再放射等の影響を低減することができる。
【００８５】
ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference：電磁妨害または電磁干渉）ダクト７０は、電磁妨害を防止すると共に、電子機器Ｐ等に接続されるケーブル１０１（図２参照）を筐体１１の外部から内部に挿通するダクトであり、図４に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット７１を介して、筐体１１の背面に固定されている。
【００８６】
これにより、ＥＭＩダクト７０を介して、試験箱本体１０の外部から内部にケーブル１０１を配線することができると共に、ダクトの導波管としての作用（所定波長より長い波長の電波を伝搬させない）によってケーブル１０１の挿通部分から侵入しようとする電波を遮蔽することができるので、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
【００８７】
また、図２に示すように、ケーブル１０１の所定長さ（例えば、１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト７０の内部を通るように、ケーブル１０１を配線することによって、電磁妨害を好適に防止することができる。
【００８８】
なお、ケーブル１０１には、図２に示すように、ＥＭＩダクト７０の内部を通る部分および所定の前後部分の外周面にケーブル１０１の内部を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体１０２が被覆されている。具体的には、例えば、ルミディオン（登録商標）（東洋サービス株式会社）等のＥＭＩテープが、ケーブル１０１に所定の長さ（例えば、３００ｍｍ以上）で巻回されている。これにより、ケーブル１０１からのノイズの輻射と伝搬を抑制することができるので、電子機器Ｐで授受される電波を試験ユニット１００で高精度に制御・測定することができる。
【００８９】
このようなＥＭＩダクト７０は、ダイカスト製であり、図４に示すように、ケーブル１０１が通る側（筐体１１の側）に複数の凹溝７２が形成されている。この凹溝７２にケーブル１０１を通すことによって、ＥＭＩダクト７０の内部でケーブル１０１が上下方向に移動することを防止すると共に、ケーブル１０１を整列させることができる。また、ＥＭＩダクト７０に複数のケーブル１０１を通した場合、各ケーブル間の空間が凹溝７２の側壁部（金属）によって埋められるので、試験箱本体１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。さらに、各ケーブルを平行に配線することができるので、例えば、各ケーブルに一様に接触するアース等を取付ける場合には、その取付けが容易となる。
【００９０】
ハニカムフィルタ８０は、試験箱本体１０の外部と内部とを連通すると共に、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、図４に示すように、絶縁抵抗性を有するガスケット８１を介して、筐体１１の背面に固定されている。図７（ａ）はハニカムフィルタを示す斜視図である。
【００９１】
さらに説明すると、ハニカムフィルタ８０は、図７（ａ）に示すように、正面視正六角形状の複数の細孔８２を有する金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）のハニカム体として形成され、この複数の細孔８２を介して、試験箱本体１０の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器Ｐ等から放射される熱を排気することができるようになっている。なお、細孔８２の形状は、正六角形に限定されず、例えば、円形や四角形等であってもよい。
【００９２】
また、細孔８２は、導波管としての機能を備える周壁８３に取り囲まれているので、所定波長より長い波長の電波を伝搬させないため、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。なお、筐体１１（試験箱本体１０）の背面に形成される貫通孔１１ｂ（図４参照）の開口径、ハニカムフィルタ８０の長さ（周壁８３からなる導波管の長さ）、および、細孔８２の開口径（正六角形の対向する二辺間の距離）は、ハニカムフィルタ８０の内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定される。
【００９３】
なお、前記したハニカムフィルタ８０の代わりに、図７（ｂ）に示すようなメッシュフィルタ８５を備える構成としてもよい。図７（ｂ）はメッシュフィルタを示す斜視図である。
【００９４】
メッシュフィルタ８５は、試験箱本体１０の外部と内部とを連通すると共に、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を遮蔽する給排気用のフィルタであり、ハニカムフィルタと同様に、絶縁抵抗性を有するガスケットを介して、筐体１１の背面に固定される（図４参照）。
【００９５】
メッシュフィルタ８５は、金属製（例えば、アルミニウム製、アルミニウム合金製等）のメッシュが複数重ねられたメッシュ積層体であり、このメッシュを介して、試験箱本体１０の外部と内部との空気の流通を確保し、例えば、電子機器Ｐ等から放射される熱を排気することができるようになっている。また、金属製のメッシュ積層体の内部では、電波の回折損失が起こるので、試験箱本体１０の外部から侵入しようとする電波を効果的に遮蔽することができる。
【００９６】
取付ユニット９０は、電子機器Ｐを筐体１１の内部に固定するためのユニットであり、図２，３に示すように、筐体１１の底面全面を覆うように設けられた固定板９１と、この固定板９１の上に着脱自在に固定されて電子機器Ｐを保持・固定する保持固定治具９２とから構成されている。
【００９７】
固定板９１は、図２に示すように、平面視矩形状の板材であり、保持固定治具９２を固定するための複数のボルト孔９１ａが形成されている。ボルト孔９１ａは、保持固定治具９２の固定位置を所望の位置に変えられるように、筐体１１の正面視左右方向に並列して複数設けられている。なお、固定板９１の上には電波吸収性を有する電波吸収シートを設けてもよいし、固定板９１を電波吸収性を有する部材で形成してもよい。
【００９８】
保持固定治具９２は、図３に示すように、側面視Ｌ字状の部材であり、底部にボルトＢを螺入するためのボルト孔９２ａが形成されている。このボルト孔９２ａを介して、固定板９１のボルト孔９１ａにボルトＢが螺入されることで、保持固定治具９２が固定板９１に固定される。保持固定治具９２には、取付板９３と固定具９４が取り付けられている。
【００９９】
取付板９３は、長尺状の板材（図２参照）で、保持固定治具９２に固定されている。また、固定具９４は、電子機器Ｐを保持する部材で、電子機器Ｐを挿通して保持する挿通部９４ａが形成されている。この固定具９４は、取付板９３に着脱自在に取り付けられており、所望に応じて、電子機器Ｐの取付方向や取付位置を変えることができるようになっている。
【０１００】
試験ユニット１００（図２参照）は、電子機器Ｐで授受される電波を制御・測定するユニット、すなわち、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定すると共に、電子機器Ｐに各種の指示を送信して動作をさせることができるユニットである。
【０１０１】
このような試験ユニット１００は、ケーブル１０１を介して試験対象である電子機器Ｐに接続可能となっている。具体的には、ケーブル１０１の一端が試験ユニット１００に接続され、他端が、ＥＭＩダクト７０を介して、試験箱本体１０の内部に引き出され、電子機器Ｐに接続されている。なお、ケーブル１０１の他端には、電子機器Ｐに着脱自在に接続するためのコネクタ（図示せず）が設けられている。
【０１０２】
次に、以上のように構成される電子機器用試験箱１の動作を説明しつつ、本発明の一実施形態に係る電子機器試験方法について、適宜図面を参照しながら説明する。
【０１０３】
まず、図２に示すように、扉１２を開き、電子機器Ｐを筐体１１（試験箱本体１０）の内部に入れ、取付ユニット９０の固定具９４に形成された挿通部９４ａ（図３参照）に挿通して、筐体１１（試験箱本体１０）の内部に固定する。次に、ケーブル１０１のコネクタ（図示せず）を電子機器Ｐに接続した後、扉１２を閉める。
【０１０４】
そして、例えば、試験開始スイッチ（図示せず）等をＯＮにすることで、電波送受信ユニット（図示せず）からアンテナ６０に電気信号が送信され、アンテナ６０から電波が放射される。電子機器Ｐの動作の試験は、アンテナ６０から電波を放射しながら、電子機器Ｐの電波の受信状態を試験ユニット１００（図２参照）で検出することで行われる。試験ユニット１００では、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定する。
【０１０５】
この時、前記した電波送受信ユニット（図示せず）を操作することによって、アンテナ６０から放射される電波の強度や周波数帯域等を変化させて試験を行うことができる。
【０１０６】
正常状態であると判定されたら、扉１２を開いてアンテナ６０の向きを変えた後に、扉１２を閉めて異なる偏波面（水平波および垂直波）について試験を行うこともできる。
また、正常状態であると判定されたら、扉１２を開いて保持固定治具９２の位置を変えて固定板９１に固定し、アンテナ６０との距離を変えて、電子機器Ｐが電波を正常に受信できるか否かの試験を行うこともできる。
【０１０７】
以上のような電子機器Ｐの試験の様子は、窓２０（ガラス板２１）を介して、外部から試験箱本体１０の内部を視認することができるので、例えば、電波を受信したことによる電子機器Ｐの着信ランプの点灯の有無等を確認することができる。ここで、本発明に係る電子機器用試験箱１は、電波吸収体３０の表面に固定された明色の樹脂膜４０により試験箱本体１０の内部が明るくなるので、ガラス板２１の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐを良好に視認することができる。さらに、電子機器用試験箱１は、ＬＥＤランプ５０により試験箱本体１０の内部を照らすことができるので、前記した樹脂膜４０の効果と併せて試験箱本体１０の内部の電子機器Ｐをより良好に視認することができる。
【０１０８】
なお、電子機器ＰのアンテナＰａ（図３参照）とアンテナ６０との距離は、電子機器Ｐやアンテナ６０から放射される電波の波長λ以上となるように設定することが望ましく、２λ以上となるように設定するとさらに望ましい。これにより、遠方電磁界の領域に電子機器ＰのアンテナＰａを配置することが可能となり、電界強度が安定する位置で電子機器Ｐの試験を行うことができるので、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
ここで、遠方電磁界の領域とは、波動インピーダンスが空間の波動インピーダンスＺ０に等しくなる領域のことを意味する。アンテナ６０から放射される電波はこの領域において平面波に近い伝搬をする。
以上が、電子機器用試験箱１の一連の動作および電子機器試験方法である。
【０１０９】
以上のような電子機器用試験箱１によれば、試験箱本体１０の内部の電波吸収体３０の表面に樹脂膜４０を備えるので、例えば、ガラス板２１にＩＴＯ膜を膜厚に形成したり、ガラス板２１の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板２１の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、試験箱本体１０の内部が明るくなるので、試験箱本体１０の内部の電子機器を良好に視認することができる。
【０１１０】
また、電子機器用試験箱１によれば、試験箱本体１０の内部に電波吸収体３０を備えるので、試験中に、例えば、電子機器ＰのアンテナＰａやアンテナ６０等から放射される電波を効果的に吸収することができるため、試験箱本体１０の内部における電波の共振現象を防止して、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。
【０１１１】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であり、例えば、以下のような変更が可能である。
【０１１２】
樹脂膜４０を、発泡樹脂にて構成してもよい。このようにすれば、ガラス板にＩＴＯ膜を膜厚に形成したりガラス板の両面にＩＴＯ膜を形成したりすることによって、ガラス板の可視光に対する透過性が低下した場合であっても、電波吸収体の表面に固定された発泡樹脂により試験箱本体の内部が明るくなるので、試験箱本体の内部の電子機器を良好に視認することができる。すなわち、発泡樹脂は、内部に気泡を含むため、外部からの可視光が乱反射され、無色透明樹脂を基材とする場合、一般的に白色となる。よって、視認性に有効である。また、発泡スチロール等の樹脂板であれば、加工および取扱いが容易であるといった作用効果を得られる。さらに、絶縁層として発泡樹脂を使用することにより、原料コストの低減を図ることが可能となる。さらに、発泡樹脂は、軽量で且つ切断が容易であり、加工および取扱いを容易に行うことができるとともに、施工性も優れているため試験箱の製造コストも低くすることが可能となる。
【０１１３】
また、前記した実施形態では、絶縁層を樹脂膜４０にて構成しているが、これに限定されるものではない。絶縁層は、明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙にて構成してもよい。紙は、和紙や洋紙などが用いられる。紙の主成分は、セルロースなどの植物性繊維から構成されている。染料や顔料は、前記した実施形態と同様に、マンセル表色系（ＪＩＳ Ｚ８７２１）に規定されている明度が８．０〜１０．０の範囲にある色のものを用いる。具体的には、例えば、白色、黄色、薄黄色、水色、薄緑色、黄緑色、橙色、薄橙色等を挙げることができる。特に、マンセル表色系に規定されている明度に関しては、８．５〜１０．０の範囲にある色が望ましく、９．０〜１０．０の範囲にある色がより望ましい。明色の染料は、植物性染料が用いられ、紙に染み込ませることで着色されている。なお、染料には、アントラキノン（Anthraquinon）系の合成染料を使用してもよい。明色の顔料は、紙の表面に印刷されて、明色の紙が形成される。蛍光顔料のうち無機蛍光顔料として、例えば、硫化亜鉛、珪酸亜鉛、硫化カルシウム、硫化ストロンチウム、タングステン酸カルシウム、燐酸カルシウム等が使用可能である。
【０１１４】
絶縁層は、電波吸収体の表面との間に隙間のないように設けるのが好ましい。したがって、紙は、所定の厚さを有する厚紙にて構成するのがよい。また、紙は、電波吸収体の表面にピンやネジ等で固定される。なお、熱可塑性接着剤、熱硬化性接着剤や光硬化性接着剤などの絶縁性に優れた接着剤を使用したり、スポットで絶縁膜を接着するなどの工夫を施して接着面積を最小限に抑えたりするようにすれば、紙を電波吸収体の表面に接着剤で固定してもよい。このようにすれば、電波反射を抑えることができ、電波吸収体の電波吸収特性を殆んど損なうことなく絶縁層を電波吸収体の表面に固定することが可能である。なお、紙からなる絶縁膜も、樹脂膜４０と同様に、保護膜３３の表面に設けてもよいし、保護膜３３を兼ねてもよい。
【０１１５】
このように、絶縁層を、明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙にて構成した場合にも、前記した実施形態と同様の作用効果を得られる。また、軽量かつ切断が容易な紙を用いたことによって、加工および取扱いを容易に行うことができる。
【０１１６】
また、絶縁層は、樹脂膜や紙以外にも、所定の絶縁効果を備えていれば、石膏ボード、タイル等のセラミックスあるいは硝子にて構成してもよい。セラミックス原料の具体例として、例えば、酸化アルミニウム（サファイア）、石英（水晶）、酸化珪素（シリコンカーバイト）、炭酸カルシウム等が挙げられる。これらの原料と助剤、添加剤を所定の配合率で配合して混合した後に、水を加えてバインダーとともに混練し、成形機にて成型して乾燥後、高温で焼結してセラミックス板を製造する。硝子板は、珪砂、ソーダ灰、石灰石、硼砂、水酸化アルミニウム等の粉体混合物をガス炉に挿入して１５５０℃で溶解し、この液体状の硝子をフロートバスという長細い通路で溶けた錫の上に流して冷却することで製造される。これに特定の遷移金属元素を添加して、特定の波長の光だけを吸収させる色硝子や、表面粗度を高くして、硝子表面において太陽光を散乱させる、いわゆるスリガラスとしたものも、絶縁層となる絶縁板に含むものとする。
【０１１７】
前記した実施形態では、電子機器Ｐとして携帯電話を図示して説明したが、本発明の試験対象となる電子機器Ｐは、携帯電話に限定されるものではない。例えば、携帯電話と同様に電波の授受を行うＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や無線ＬＡＮ（Local Area Network）機能を備えるノート型のパーソナルコンピュータ等であってもよい。また、外部電波の影響を受けることが好ましくない精密測定機器や医療機器等であってもよい。さらに、外部に所定値以上の電波を放射することが好ましくない家電機器や医療機器等であってもよい。なお、この場合、取付ユニット９０の形状やサイズ等、または、取付ユニット９０を備えるか否かについては、試験対象である電子機器に応じて適宜設定されることはいうまでもない。
【０１１８】
前記した実施形態では、複数の金属製のパネル１１ａを、骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して筐体１１を形成しているが、これに限定されず、例えば、複数の金属製のパネルをボルト等によって組み付けて形成する組立・分解可能な構成としてもよい。なお、このような構成の場合、複数の金属製のパネルの隙間に電波の遮蔽性を有する充填材を介在させることが望ましい。これにより、筐体（試験箱本体）の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。電波の遮蔽性を有する充填材としては、例えば、上下面の少なくとも一方が絶縁層（例えば、紙、接着層を兼ねる粘着テープ等）で絶縁された抵抗損失体（例えば、カーボン抵抗シート、金属薄膜抵抗シート、熱線遮断フィルム等）を有する電磁遮蔽接合用シート体を使用することができる。具体的には、例えば、ルミディオン（登録商標）ＩＲ（東洋サービス株式会社）等を使用することができる。
【０１１９】
前記した実施形態では、筐体１１を金属製とすることで、電波の遮蔽性や剛性等を高める構成としたが、これに限定されず、例えば、電波の遮蔽性を有する板材で筐体を形成してもよい。
【０１２０】
前記した実施形態では、図１，２，４に示すように、扉１２に窓２０が設けられている構成としたが、これに限定されず、試験箱本体１０に窓２０を設ける構成としてもよい。また、扉や窓はそれぞれ複数設けてもよい。さらに、試験箱本体に扉を設けずに、窓を適宜開閉可能な構成として電子機器等の出し入れを行ってもよい。
【０１２１】
前記した実施形態では、電波吸収体３０を、λ／４型電波吸収体としたが、これに限定されず、内部で放射される電波の特性に応じて、公知の電波吸収体を広く使用することができる。例えば、抵抗性電波吸収体、誘電性電波吸収体、磁性電波吸収体、そしてこれらを組み合せた電波吸収体等のいずれであっても使用することができ、さらに、単層型、多層型のいずれであってもよい。
【０１２２】
具体的には、例えば、（１）パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の側から順に、抵抗膜シート（インピーダンス１０８８Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、抵抗膜シート（インピーダンス２８０Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、保護膜（アルミニウム板（箔））を備える二種の電波（８８０ＭＨｚ周辺および２０５０ＭＨｚ周辺）を吸収可能な電波吸収体、（２）カーボン粉末や酸化チタン等の化合物から形成される誘電性電波吸収シート、（３）フェライトやカルボニル鉄等の化合物から形成される磁性電波吸収シート、（４）ポリウレタン等の樹脂と磁性体との複合体から形成される電波吸収シート、（５）磁性体と抵抗体とを貼り合わせた電波吸収体（例えば、ルミディオン（登録商標）（東洋サービス株式会社））等のいずれであっても使用することができる。
【０１２３】
なお、電波吸収体３０の表面は平坦であること（平板型）が望ましい。これによれば、例えば、波型や山型、四角錐型等の電波吸収体を備える場合と比較して、樹脂膜４０を容易に形成することができる。また、試験箱本体１０の内部（容積）を大きくしたり、試験箱本体１０のサイズを小さくしたりすることができる。
【０１２４】
前記した実施形態では、アンテナ６０の回転調整は、コネクタ６１を緩めてアンテナ用導波管６２を回動させ、アンテナ６０の向きを変えた後、コネクタ６１を締めてアンテナ用導波管６２（アンテナ６０）を再び固定するという手動で行う構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、公知の動力機構や制御機構等を組み合せて、機械的に行う構成としてもよい。
【０１２５】
前記した実施形態では、試験箱本体１０（筐体１１）の背面に給排気用のハニカムフィルタ８０（またはメッシュフィルタ８５）を備える構成としたが、給排気用のフィルタは、これらに限定されるものではない。例えば、試験箱本体（筐体）の背面に、所定波長よりも長い電波を伝搬させない導波管として機能するように内径および長さ（パネル厚）を設定（設計）した複数の微細な貫通孔を形成した構成としてもよい。また、このような複数の微細な貫通孔を備えるプレートを、試験箱（筐体）の背面に形成される貫通孔（図４参照）に取付枠および絶縁抵抗性を有するガスケットを介して試験箱本体１０の内側から固定する構成としてもよい。
【０１２６】
前記した実施形態では、試験箱本体１０（筐体１１）の背面に一つの給排気用のフィルタ（ハニカムフィルタ８０またはメッシュフィルタ８５）を備える構成としたが、これに限定されず、例えば、吸気用と排気用の少なくとも二つのフィルタを備える構成としてもよい。この場合、全て同種のフィルタを使用してもよいし、異種のフィルタを組み合せて使用してもよい。また、排気用のフィルタまたは試験箱（筐体）の背面に形成される排気用の貫通孔に、排気ファン（図示せず）を取り付けてもよい。
【０１２７】
前記した実施形態では、固定具９４が取付板９３に着脱自在に取り付けられる構成としたが、これに限定されず、固定具が取付板に回動自在に取り付けられる構成としてもよい。この場合、固定具の回転調整は機械的に行う構成としてもよい。
【０１２８】
前記した実施形態では、保持固定治具９２が固定板９１に形成された複数のボルト孔９１ａとボルトＢとによって段階的に移動可能な構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、保持固定治具が固定板に設けたレールに沿って無段階で移動可能な構成としてもよい。これによれば、アンテナと保持固定治具（電子機器）との距離を簡単に調整することができる。
【０１２９】
前記した実施形態では、アンテナ６０から電子機器Ｐに電波を放射して、電子機器Ｐが正常に電波を受信できるか否かを試験ユニット１００で判定する電子機器試験方法について説明したが、電子機器試験方法はこれに限定されるものではない。例えば、試験ユニット１００から電子機器Ｐに各種の指示を送信して電子機器Ｐ（アンテナＰａ。図３参照）からアンテナ６０に電波を送信させ、アンテナ６０が受信した電波を電波送受信ユニット（図示せず）で測定して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定してもよい。
【符号の説明】
【０１３０】
１ 電子機器用試験箱
１０ 試験箱本体
２０ 窓
２１ ガラス板
３０ 電波吸収体（λ／４型電波吸収体）
３３ 保護膜
４０ 樹脂膜（絶縁層）
５０ ＬＥＤランプ（照明）
Ｐ 電子機器
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体と、
当該試験箱本体に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板が設けられた窓と、を備える電子機器用試験箱であって、
前記試験箱本体は、その内周面に取り付けられた電波吸収体と、当該電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層と、前記試験箱本体の内部に設けられたＬＥＤ照明と、をさらに備え、
前記ガラス板は、板ガラスの両面に透明酸化物半導体の薄膜が形成されてなる
ことを特徴とする電子機器用試験箱。
【請求項２】
前記絶縁層は、明色の顔料を含む樹脂からなることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項３】
前記絶縁層は、発泡樹脂からなることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子機器用試験箱。
【請求項４】
前記絶縁層は、明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙からなることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項５】
前記絶縁層は、明色のセラミックスもしくは硝子からなることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項６】
前記顔料は、白色顔料あるいは蛍光顔料であることを特徴とする請求項２または請求項４に記載の電子機器用試験箱。
【請求項７】
前記電波吸収体は、λ／４型電波吸収体であることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項８】
前記絶縁層は、前記λ／４型電波吸収体の保護膜を兼ねることを特徴とする請求項７に記載の電子機器用試験箱。
【請求項９】
前記透明酸化物半導体の薄膜がＩＴＯ膜であり、前記板ガラスの両面に抵抗値が２Ω／□以下となるＩＴＯ膜が形成されたことを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１０】
前記板ガラスの両面に、さらに透明樹脂の保護膜が形成されたことを特徴とする請求項請求項９に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１１】
前記絶縁層は、前記電波吸収体の表面にピンまたはネジで固定されることを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１】
電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性を有する試験箱本体と、
当該試験箱本体に形成され、電波の遮蔽性および可視光に対する透過性を有するガラス板が設けられた窓と、を備える電子機器用試験箱であって、
前記試験箱本体は、その内周面に取り付けられた電波吸収体と、当該電波吸収体の表面に固定された明色の絶縁層と、前記試験箱本体の内部に設けられたＬＥＤ照明と、をさらに備え、
前記ガラス板は、板ガラスの両面に透明酸化物半導体の薄膜が形成されてなる
ことを特徴とする電子機器用試験箱。
【請求項２】
前記絶縁層は、明色の顔料を含む樹脂からなることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項３】
前記絶縁層は、発泡樹脂からなることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子機器用試験箱。
【請求項４】
前記絶縁層は、明色の染料を含む紙または明色の顔料が印刷された紙からなることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項５】
前記絶縁層は、明色のセラミックスもしくは硝子からなることを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験箱。
【請求項６】
前記顔料は、白色顔料あるいは蛍光顔料であることを特徴とする請求項２または請求項４に記載の電子機器用試験箱。
【請求項７】
前記電波吸収体は、λ／４型電波吸収体であることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項８】
前記絶縁層は、前記λ／４型電波吸収体の保護膜を兼ねることを特徴とする請求項７に記載の電子機器用試験箱。
【請求項９】
前記透明酸化物半導体の薄膜がＩＴＯ膜であり、前記板ガラスの両面に抵抗値が２Ω／□以下となるＩＴＯ膜が形成されたことを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１０】
前記板ガラスの両面に、さらに透明樹脂の保護膜が形成されたことを特徴とする請求項請求項９に記載の電子機器用試験箱。
【請求項１１】
前記絶縁層は、前記電波吸収体の表面にピンまたはネジで固定されることを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器用試験箱。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１２−１９４１９５（Ｐ２０１２−１９４１９５Ａ）
【公開日】平成２４年１０月１１日（２０１２．１０．１１）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１２−１５６２８６（Ｐ２０１２−１５６２８６）
【出願日】平成２４年７月１２日（２０１２．７．１２）
【分割の表示】特願２００７−２６６５４７（Ｐ２００７−２６６５４７）の分割
【原出願日】平成１９年１０月１２日（２００７．１０．１２）
【出願人】（０００００４７４３）日本軽金属株式会社 (627)
【公開日】平成２４年１０月１１日（２０１２．１０．１１）
【国際特許分類】
【出願日】平成２４年７月１２日（２０１２．７．１２）
【分割の表示】特願２００７−２６６５４７（Ｐ２００７−２６６５４７）の分割
【原出願日】平成１９年１０月１２日（２００７．１０．１２）
【出願人】（０００００４７４３）日本軽金属株式会社 (627)
[ Back to top ]