説明

株式会社オプトランにより出願された特許

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【課題】光学膜の成膜に好適なスパッタ成膜装置およびスパッタ成膜方法を提供する。
【解決手段】デュアルマグネトロンターゲットを構成する一対のターゲット11a、11bを備え、スパッタリングにより前記ターゲット材を基板15上に堆積させるスパッタ成膜装置において、一対のターゲット11a、11bの両側に、ターゲット11a、11bと基板15との間に位置するようにシールド13a、13bを配設するとともに、一対のターゲット11a、11bの中間に、ターゲット11a、11bと前記基板15との間に位置するように中間シールド14を配設し、シールド13a、13b、中間シールド14により、スパッタ粒子の基板15への最大入射角度を所望の角度に設定する。 (もっと読む)


【課題】光学膜の成膜に好適なスパッタ成膜装置およびスパッタ成膜方法を提供する。
【解決手段】基板搬送装置2を真空槽3内に備え、基板搬送装置2の外側の真空槽3との間の空間に、バルク材料からなる回転円筒型マグネトロンスパッタリングにより超薄膜を基板1上に形成するスパッタ領域4、5、6と、反応性ガスにより前記超薄膜を所望の化合物超薄膜に変換する反応領域7と、アシスト領域8を設け、前記反応領域7は、該領域内の反応ガスを誘導結合によりプラズマ化するプラズマ発生手段を備え、前記プラズマ発生手段は、真空槽3の外側に設けられた高周波電源11、コイル電極12と、前記真空槽3の壁体に設けられた、基板搬送装置2の回転の周方向に所望の長さを有する誘導電磁界導入窓13とを有し、基板1を前記スパッタ領域4、5、6からアシスト領域8および反応領域7に搬送して、この工程を繰り返して所望の化合物薄膜を基板1上に形成する。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、Ag層の密着性を高めることができ、またAl層とTiO層間の白濁も防止でき、耐環境特性に優れた銀ミラーを提供することにある。
【解決手段】 本発明の銀ミラーは、基板1と、この基板1上に設けられた下部バッファ層2と、この下部バッファ層2上に設けられたNi−Cr合金層からなる金属層3と、この金属層3上に設けられたAg層4と、このAg層4上に形成されたAl層5aとSiO層5bとからなる上部バッファ層5と、この上部バッファ層5のSiO層5b上に設けられたTiO層からなる増反射層6と、を有することを特徴とする。
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【課題】 本発明の目的は、簡単な回転で、被成膜体保持部材に装着した被成膜体を回転させることができるため、より多くの被成膜体を装着できて生産性の向上が図れ、成膜装置の大型化も防止できる成膜装置及び被成膜体表面への薄膜形成方法を提供することにある。
【解決手段】 本発明の成膜装置は、垂直方向に対して所定角度傾いた状態で回転し、かつその表面部に基端部6aが円形の被成膜体6または被成膜体ホルダー33が装着される円盤状の被成膜体保持部材5を有していて、被成膜体保持部材5は、被成膜体6または被成膜体ホルダー33の基端部6aを保持し、かつ基端部6aの外径より大きい内径を有する円形の基端保持部30を有していて、被成膜体6または被成膜体ホルダー33が、自重と前記被成膜体保持部材5の回転とにより基端保持部30の円形内面に自身の円形の基端部6aを内接させながら自転するようになっていることを特徴とする。
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【課題】 本発明の目的は、膜厚測定装置の光照射光学系や受光光学系を構成する各光ファイバ装置において、サイズの大きな反射ミラー式照射、受光光学系も必要とせず、従来よりも広い波長帯域で高精度で膜厚の測定が可能な膜厚測定装置及び薄膜形成装置を提供することにある。
【解決手段】 本発明の膜厚測定装置は、薄膜に光を照射する光照射光学系6と、光照射光学系6を介して照射された光が薄膜を透過して生じた信号光を受光する受光光学系4と、受光光学系4を介して導かれた信号光を処理して薄膜の膜厚を算出する信号処理装置3とを有する膜厚測定装置において、光照射光学系6及び受光光学系4は各々中空光ファイバ41bを有し、光照射光学系6の中空光ファイバ41bを介して薄膜に光を照射し、かつこの光が薄膜を透過して生じた信号光を受光光学系4の中空光ファイバ41bを介して信号処理装置3に導くことを特徴とする。
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