本発明は光源、光学素子およびセンサを含む測定システムを較正する方法に関する。光源は光平面を生成するようにされ、光学素子は光平面とセンサとの間に位置する。本方法は、センサ上の少なくとも１つの点から光平面内の少なくとも１つの点への写像を得るために実行される。本方法は、光平面が生成されるように光源をオンにする工程と、光平面内の第１の写像位置に写像較正プロファイルを導入する工程と、を含み、写像較正プロファイルは直線を形成する少なくとも３つの点を含む。本発明はまた、このような較正方法に使用可能な較正物体に関する。
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本発明は測定画像の時空間体積内における軌跡の延長部分を決定する方法に関連している。測定画像の時空間体積は、第１光源とセンサを備える測定システムを使用する測定手法を用いることによって生じる。当該測定手法は、測定システムの予め決められた作動条件において測定対象物を測定システムに対し第１移動方向に沿って動かし、一方で第１光源が測定対象物を照らし、それによってセンサが少なくとも二つの連続する時刻の組の各時刻での測定対象物の測定画像を生じる工程を備えており、それによって測定対象物の特徴点が時空間体積内に軌跡を写像するところの測定画像の時空間体積を生じる。
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本発明は、少なくとも一つの方向に制限された伸びを有する入射光によって対象物を照射する光源と、対象物から発散された光を検出する画像センサとを備えて構成され、発散された光は、対象物の表面上で反射された光（R）且つ対象物内で散乱された光（Ｓ）であり、検出された光は、画像センサ上で上記反射光（R）が検出されるところのピークを有する、画像センサ上の少なくとも一つの強度分布曲線に結果として成る、ビジョンシステム装置内において、対象物内で散乱された光の量を測定するための方法と装置に関連している。上記ピーク周辺における少なくとも一つの強度分布曲線の幅（ｗ）が測定され、それによって測定された幅（ｗ）は、対象物内で散乱された光（Ｓ）の量を表している。
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本発明は、レンジデータの取得および解析を用いて物体（１）の３次元の特性を測定するための画像化装置および方法に関する。画像化装置は、測定開始前に、レンジデータの取得および解析を構成するための手段と、画素を含む少なくとも１つのセンサ（５）を用いて上記の物体（１）の画像からの反射光を検出することによって、上記の物体（１）の画像を作成するための手段と、センサの画素単位で測定された作成画像から上記の物体（１）のレンジデータを取得するための手段と、取得したレンジデータをセンサの画素値から世界座標に較正するための手段と、レンジデータを一様に離隔されたグリッドに再サンプリングすることによって、較正されたレンジデータを矯正するための手段と、較正および矯正の施されたレンジデータを解析して、上記の物体（１）の３次元の特性を得るための手段と、を備える。
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本発明は、担体に置かれた対象物の存在、位置および／または形状の測定を可能にする測定装置システムならびにかかる測定のため方法の分野に関する。測定装置には、入射光で前記対象物および前記担体を照射するように配置された少なくとも１つの光源と、前記少なくとも１つの光源から所定の距離に置かれた少なくとも１つのセンサであって、前記担体が前記移動方向に移動されるときに前記対象物および前記担体からの反射光を検出することによって、前記対象物および前記担体を繰り返し測定するように、かつ検出光を電気信号に変換するように構成された少なくとも１つのセンサと、電気信号を用いて、前記対象物および前記担体の測定のそれぞれの三次元サブ画像を得るように、かつ１つまたは複数の前記取得サブ画像から、前記対象物および前記担体の三次元画像を得るように構成された画像処理ユニットと、前記三次元画像から、前記担体における前記対象物の存在、位置および／または形状を決定するように構成された計算ユニットと、が含まれる。
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対象物（２）の特徴を映す測定システム（１）が少なくとも第１層（２ａ）及び第２層（２ｂ）を有する。対象物（２）は入射光（４）で照射され、対象物（２）からの反射光（５ｂ）が検出光を電荷に変換する画像センサー（６）で検出され、それにより対象物（２）の映像が作られる。対象物（２）の第１層（２ａ）及び第２層（２ｂ）で散乱した光（５ａ）に関する情報が映像から得られ、情報は対象物（２）上の欠陥を検出するために記憶された情報と比較される。
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