より高い周波数で被試験デバイス（「ＤＵＴ」）を分析する。位相シフターは、ＤＵＴに連結される伝送線上の定在波の位相を変化させる。定在波の大きさが、位相シフトのそれぞれにおいてサンプリングされ、ＤＵＴの１つ以上の特性が、サンプリングした大きさおよび位相シフトの関数として決定される。さらなる態様は、導波路の中に形成される複数の副共振スロットを有し、かつ信号に適用される位相シフトを制御するようにスロットを装荷するための能動素子を有する、導波路を備える、関連位相シフターを含む。
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【課題】検査プローブをより確実に回路基板の被測定パターンに接触させて正確に検査することができる検査プローブ接触検知機構および回路基板検査装置の提供。
【解決手段】回路基板装置４１には、検査プローブ１２の被測定パターン５３への接触を電気的に検知する検査プローブ接触検知機構１１のほか、全体を統括制御する中央処理手段４２と、検査プローブ接触検知機構１１が検出した電気的信号に基づいてプロービング動作を制御するプロービング制御手段４３とを少なくとも具備させた。 （もっと読む）

【課題】測定時間の短縮および装置コストの低減を実現する。
【解決手段】演算制御部９は、測定対象体１１のインピーダンスＺｍの算出に先立ち、処理系回路６に電圧信号Ｓ４を入力してデータＤ１への変換処理を実行させ、処理系回路７に電圧信号Ｓ４，Ｓ６を入力してデータＤ３，Ｄ２への変換処理を実行させ、処理系回路６から出力されるデータＤ１と処理系回路７から出力されるデータＤ２とに基づいて第１のインピーダンスを算出し、処理系回路７から出力されるデータＤ３，Ｄ２に基づいて第２のインピーダンスを算出し、処理系回路６，７から出力されるデータＤ１，Ｄ２に基づいて測定対象体１１のインピーダンスＺｍを算出した際に処理系回路６，７間の利得差および位相差に起因してインピーダンスＺｍに発生する誤差の補正用の絶対値用補正値Ｚｅおよび位相角用補正値θｅを第１および第２のインピーダンスに基づいて算出する。 （もっと読む）

【課題】被測定物として電灯線を測定する場面にも適用できる小型のプロービング用アダプタであって、且つ、過大電圧等による測定器へのダメージを効率的に防止するよう構成したプロービング用アダプタ、および、それを用いたプローブ装置を提供する。
【解決手段】電灯線１から測定すべき信号を取り出すプローブ３と、測定器２に接続するプロービング用アダプタ４とからプローブ装置を構成する。プロービング用アダプタ４は電源周波数帯以下の周波数を阻止し、それより高周波帯の信号を通過させる信号抽出回路１０と、所望の周波数帯域のみを通過させるフィルタ回路２０と、前記フィルタ回路の出力を平衡入力とする平衡／不平衡変換回路３０とを有して構成されるが、このアダプタ４内の適所に第１の保護素子７と、第２の保護素子８と、第３の保護素子９とを備えて構成する。 （もっと読む）

【課題】テストプラグの導通試験乃至絶縁試験を容易に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。
【解決手段】テストプラグを挿入する挿入口Ａと、挿入口Ａに挿入されたテストプラグの各活線側導体に接触する活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮと、挿入口Ａに挿入されたテストプラグの各非活線側導体に接触する非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮと、前記活線側接点ＢＢ，ＢＷ，ＢＲ，ＢＮ乃至非活線側接点ＣＢ，ＣＷ，ＣＲ，ＣＮを任意に選択するスイッチ手段Ｄと、スイッチ手段Ｄを介し所定の電流を供給して導通を検出する導通検出手段Ｅと、スイッチ手段Ａを介し所定の高電圧を印加して絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定手段Ｆとを有する。 （もっと読む）

【課題】回路網６０の入力ノードにおける直流電流をゼロにすると共に、差動増幅回路８８のダイナミック・レンジを最適化する。
【解決手段】差動終端及び減衰器回路網６０は、内部終端電圧発生回路６１を有し、第１及び第２終端抵抗器６８及び７０が対応する抵抗性減衰器回路８４及び８６と並列接続される。モニタ回路６６は、回路網６０の入力ノードに接続され、入力ノードにおける直流コモン・モード電圧Ｖ_CMと内部終端電圧Ｖ_TERMの組み合わせを表す出力電圧を生成する。制御回路８０が、内部終端電圧Ｖ_TERMとモニタ回路の出力信号Ｖ_Iを用いてスケール調整終端電圧Ｖ_T及び補償電圧Ｖ_A並びに対応するドライブ電流を生成し、これらが差動増幅回路８８のダイナミック・レンジを最適化する。内部終端電圧発生回路６１は、測定装置から終端電圧パラメータを受けて内部終端電圧を生成する。 （もっと読む）

【課題】回路網の入力ノードにおける直流電流をゼロにすると共に、差動測定増幅回路のダイナミック・レンジを最適化する。
【解決手段】差動終端及び減衰回路網６０は、直流コモン・モード電圧Ｖ_CMを有する差動入力信号ＩＮ＋及びＩＮ−を受け、第１及び第２入力終端抵抗器６８及び７０があり、抵抗性減衰回路７６及び７８と並列に接続される。回路網６０の入力ノード７５に接続されたモニタ回路６６は、入力ノード７５における直流コモン・モード電圧Ｖ_CMと印加される終端電圧Ｖ_TERMの組み合わせを表す出力信号Ｖ_Iを生成する。制御回路７４は、モニタ回路６６からの出力信号Ｖ_Iと印加終端電圧Ｖ_TERMとを受けて、スケール調整終端電圧Ｖ_T及びスケール調整補償電圧Ｖ_Aと、ドライブ電流Ｉ_T及びＩ_Aを生成する。これらは、入力終端抵抗６８及び７０と減衰器７６及び７８を通して直流電流を供給することで、課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】高速で、かつ、高精度に人体の接触非接触を検出する。
【解決手段】 スイッチＳＷ１がＯＮにされて、電源ＶｃｃよりコンデンサＣａが充電すされる。スイッチＳＷ１がＯＦＦにされることにより、コンデンサＣａに充電された電荷が、コンデンサＣｓ，Ｃｘに移動する。所定の短時間だけスイッチＳＷ２，ＳＷ３をＯＮＯＦＦを繰り返すことによりコンデンサＣａの充電電荷が抵抗Ｒを介してゆっくり放電されていく。未知のコンデンサＣｘの充電電圧Ｖｘが比較器Ｃｏｍｐにより参照電圧Ｖｒｅｆと比較され、参照電圧Ｖｒｅｆより小さくなるまでのＯＮＯＦＦの回数に基づいて、未知のコンデンサＣｘの静電容量が計算される。計算された未知のコンデンサＣｘの静電容量が人体の静電容量の近傍の値であるとき、人体が接触していると判定される。本発明は、タッチセンサに適用することができる。 （もっと読む）

【課題】 プリント配線板の電気検査において、パターンランドに傷を付けずにプローブピンとパターンランドの接触抵抗の影響を受けることなく高精度で測定することを目的とする。
【解決手段】 抵抗測定装置は、測定用センサ電極３，４を被測定基板１１のパターンランド７，９に近接させて計測器によりインピーダンスと位相測定を測定する構成にしたものである。これにより、インピーダンスと位相測定を測定し、インピーダンスと位相測定結果から計算により被測定基板１１のパターンランド７，９間の抵抗値を測定する事が出来る。 （もっと読む）