画像形成装置
【課題】適正な頻度でメモリの診断を行う。
【解決手段】ＣＰＵ２１は、機能的に、電源投入時に電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める経過時間算出部２１２と、前記経過時間に基づいて、メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方を設定する領域設定部２１３と、領域設定部２１３によって診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断を、ＣＰＵ１１の診断実行部１１１に実行させると共に、領域設定部２１３によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけメモリの診断を、ＣＰＵ１１の診断実行部１１１に実行させる診断制御部２１４と、を備えている。
【解決手段】ＣＰＵ２１は、機能的に、電源投入時に電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める経過時間算出部２１２と、前記経過時間に基づいて、メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方を設定する領域設定部２１３と、領域設定部２１３によって診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断を、ＣＰＵ１１の診断実行部１１１に実行させると共に、領域設定部２１３によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけメモリの診断を、ＣＰＵ１１の診断実行部１１１に実行させる診断制御部２１４と、を備えている。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着する画像形成装置に関するものである。特に、複写機、ファクシミリ、インターネットファクシミリ、ネットワークプリンタ、及び、これらの機能の内の少なくとも１以上の機能を有する複合機に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着するプリンタ等の画像形成装置においては、メモリが正常であるか否かを診断するメモリテストを、電源を投入する度に行っていた。
【０００３】
しかしながら、近年のプリンタ等の画像形成装置の高機能化に伴い、ＣＰＵは大きなワークエリア（＝大きな容量のメモリ）を必要とするため、メモリテストに長時間を要するものとなっている。一方、近年の半導体技術等の高度化に伴い、メモリの信頼性が高くなっており、メモリに故障が発生する可能性は低くなっている。
【０００４】
そこで、例えば、ユーザからの操作に基づいて、メモリテストモードの設定を行い、メモリの診断を省略するモードに設定された場合には、メモリの診断を行わないプリンタが開示されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平８−１５３０４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記プリンタによれば、電源を投入する度にメモリの診断を行うことに伴う待ち時間を解消することが可能となる。しかしながら、ユーザからの操作に基づいて、メモリの診断を行うか否かが設定されるため、適正な頻度でメモリの診断を行うことは困難である。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、適正な頻度でメモリの診断を行うことが可能な画像形成装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために請求項１に記載の画像形成装置は、メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着する画像形成装置であって、電源投入時に、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める経過時間算出手段と、前記経過時間に基づいて、前記メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方を設定する領域設定手段と、前記領域設定手段によって診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断を実行すると共に、前記領域設定手段によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけ前記メモリの診断を実行する診断実行手段と、を備えることを特徴としている。
【０００８】
請求項２に記載の画像形成装置は、請求項１に記載の画像形成装置であって、前記定着ユニットの定着温度を検出する定着温度検出手段を備え、前記経過時間算出手段が、電源投入時に前記定着温度検出手段によって検出された定着温度である初期定着温度に基づいて前記経過時間を求めることを特徴としている。
【０００９】
請求項３に記載の画像形成装置は、請求項２に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの全領域に設定し、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの一部領域に設定することを特徴としている。
【００１０】
請求項４に記載の画像形成装置は、請求項３に記載の画像形成装置であって、前記診断実行手段によって診断が行われた前記メモリの後端側のアドレスである後端アドレスを格納するアドレス記憶手段を備え、前記診断実行手段が、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの一部領域に設定された場合に、前記アドレス記憶手段に格納された前記後端アドレスの次のアドレスから診断を開始すると共に、診断終了時に、前記アドレス記憶部に格納された前記後端アドレスを更新することを特徴としている。
【００１１】
請求項５に記載の画像形成装置は、請求項４に記載の画像形成装置であって、電源投入時点から前記定着ユニットの定着温度が予め設定された基準温度に到達するまでに要する時間である加熱時間を、前記初期定着温度と対応付けて格納する加熱時間記憶手段を備え、前記領域設定手段が、前記経過時間が予め設定された所定の閾値未満である場合には、前記初期定着温度に対応する加熱時間を前記加熱時間記憶手段から読み出して、前記メモリの診断領域を、読み出された加熱時間に基づいて設定することを特徴としている。
【００１２】
請求項６に記載の画像形成装置は、請求項５に記載の画像形成装置であって、前記メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間を格納する診断時間記憶手段を備え、前記領域設定手段が、前記全領域診断時間に基づいて、前記メモリの診断領域を設定することを特徴としている。
【００１３】
請求項７に記載の画像形成装置は、請求項６に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記加熱時間が前記全領域診断時間以上である場合に、前記メモリの診断領域を全領域に設定することを特徴としている。
【００１４】
請求項８に記載の画像形成装置は、請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記加熱時間が前記全領域診断時間未満である場合に、前記診断時間を前記加熱時間に設定することを特徴としている。
【００１５】
請求項９に記載の画像形成装置は、請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記加熱時間の前記全領域診断時間に対する比率に対応して前記メモリの診断領域を設定することを特徴としている。
【００１６】
請求項１０に記載の画像形成装置は、請求項６〜請求項９のいずれかに記載の画像形成装置であって、前記診断実行手段が、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの全領域に設定された場合に、前記メモリの診断領域を診断するために要した時間を測定し、前記診断時間記憶手段に格納された前記全領域診断時間を更新することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１に記載の画像形成装置によれば、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間に基づいて、メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方が設定され、診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断が実行されると共に、診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけメモリの診断が実行されるため、適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００１８】
すなわち、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が長い程、前回メモリの診断が実施された時点からの経過時間も長くなり、メモリに故障が発生する可能性が高くなるため、前記経過時間が長い程、メモリの診断領域を広くする（または、メモリの診断時間を長くする）ことによって、適正な頻度でメモリの診断を行うことができるのである。
【００１９】
請求項２に記載の画像形成装置によれば、電源投入時に検出された定着温度である初期定着温度に基づいて、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が求められるため、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を、簡素な構成で求めることができる。
【００２０】
すなわち、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を、例えば時計機能を利用して求める場合には、時計機能を有する手段を配設する必要があるが、定着温度に基づいて求める場合には、新たな手段を配設する必要がないため、簡素な構成で経過時間を求めることができるのである。
【００２１】
請求項３に記載の画像形成装置によれば、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合に、メモリの診断領域が、メモリの一部領域に設定されるため、簡素な構成で且つ適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００２２】
請求項４に記載の画像形成装置によれば、メモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合に、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスの次のアドレスから診断が開始されると共に、診断終了時に後端アドレスが更新されるため、メモリの全範囲を略均等な頻度で診断を行うことができるので、効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００２３】
請求項５に記載の画像形成装置によれば、電源投入時に検出された定着温度に対応する加熱時間が読み出されて、メモリの診断領域が、読み出された加熱時間に基づいて設定するため、更に効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００２４】
すなわち、電源投入時点から定着ユニットの定着温度が予め設定された基準温度に到達するまでに要する時間である加熱時間内は、メモリの診断を行うか否かにかかわらず画像を記録紙に形成する処理を行うことができないため、この加熱時間内に、メモリの診断を行うことによって、更に効率的にメモリの診断を行うことができるのである。
【００２５】
請求項６に記載の画像形成装置によれば、メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間に基づいて、メモリの診断領域が設定されるため、適正な診断領域を設定することができる。
【００２６】
請求項７に記載の画像形成装置によれば、加熱時間が全領域診断時間以上である場合に、メモリの診断領域が全領域に設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００２７】
請求項８に記載の画像形成装置によれば、加熱時間が全領域診断時間未満である場合に、診断時間が加熱時間に設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００２８】
請求項９に記載の画像形成装置によれば、加熱時間の全領域診断時間に対する比率に対応してメモリの診断領域が設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００２９】
請求項１０に記載の画像形成装置によれば、メモリの診断領域がメモリの全領域に設定された場合に、メモリの診断領域を診断するために要した時間が測定され、全領域診断時間が更新されるため、全領域診断時間を正確に設定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明に係る画像形成装置の一例について図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る画像形成装置の概略構成の一例を示すブロック図である。なお、ここでは、画像形成装置が、プリンタである場合について説明するが、記録紙上に画像を形成する他の画像形成装置（例えば、ファクシミリ、インターネットファクシミリ、複写機、複合機等）である形態でもよい。図１に示すように、プリンタ１００は、第１制御ユニット１、第２制御ユニット２、操作部３、表示部４、及び、印刷処理部５を備えている。なお、プリンタ１００は、図略のパーソナルコンピュータ（ＰＣ）等と通信可能に接続され、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）等から画像情報を受け付け、受け付けた画像情報に対応する画像を記録紙上に形成するものである。
【００３１】
第１制御ユニット１（制御ユニットに相当する）は、主に、画像処理、ユーザーインターフェース、モード設定、アプリケーションの制御、及び、第２制御ユニット２の動作の指示等を行い、プリンタ１００全体の動作を制御するものであって、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１１、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１２、及び、図略のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）を備えている。
【００３２】
第２制御ユニット２は、主に、記録紙の搬送制御、センサの検知等を行うものであって、ＣＰＵ２１、ＲＡＭ２２、及び、図略のＲＯＭを備えている。ここでは、便宜上、第２制御ユニット２は、電源投入時点で（＝電源投入直後に）立ち上げが完了するものとする。更に、第２制御ユニット２は、通常は、第１制御ユニット１からの指示に従って動作するものであるが、電源投入から第１制御ユニット１が立ち上がるまで（ここでは、メモリ診断が完了するまで）の期間は、第１制御ユニット１からの指示なしに動作可能に構成されている。また、ここでは、第２制御ユニット２のＲＡＭ２２は、第１制御ユニット１のＲＡＭ１２と比較して、充分に小さい容量を有する（例えば、ＲＡＭ１２の容量は１２８Ｍバイト、ＲＡＭ２２の容量は３ｋバイトである）ものであるため、便宜上、ＲＡＭ２２のメモリ診断についてはその説明を省略する。
【００３３】
操作部３は、ユーザからの操作入力を受け付けて、受け付けられた操作入力に対応する操作入力情報を生成し、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）に出力するものである。操作部３は、例えば、テンキー、スタートボタン等の各種ボタン、及び、表示部４に配設されたＬＣＤと一体に形成されたタッチパネル等を備えている。
【００３４】
表示部４は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）等を備え、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）からの指示に基づき、設定情報、ガイダンス情報、メッセージ情報等をユーザから視認可能に表示するものである。
【００３５】
印刷処理部５は、記録紙上に電子写真方式で画像（ここでは、原稿画像に対応する画像）を形成するものであって、現像ユニット５１、感光ユニット５２、及び、定着ユニット５３を備えている。感光ユニット５２は、感光ドラムを備え、まず、感光ドラムの表面が帯電ローラによって略均一に帯電され、次に、図略のレーザビーム走査ユニットによって、静電潜像が形成され、更に、現像ユニット５１によって、静電潜像にトナーが付着されてトナー像が形成され、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙に転写するものである。
【００３６】
定着ユニット５３は、感光ユニット５２で感光ドラムから記録紙に転写されたトナー像を、加熱ローラ対によって記録紙を挟持して搬送することにより、トナー像を溶融して固着させ、記録紙に定着するものであって、温度センサ５３１を備えている。温度センサ５３１（定着温度検出手段の一部に相当する）は、加熱ローラの表面温度を測定するものであって、サーミスタ等から構成されている。
【００３７】
図２は、プリンタ１００の主要部の機能構成の一例を示す機能構成図である。ＣＰＵ１１は、機能的に、診断実行部１１１を備え、ＣＰＵ２１は、機能的に、定着温度検出部２１１、経過時間算出部２１２、領域設定部２１３、及び、診断制御部２１４を備えている。また、ＲＡＭ２２は、機能的に、加熱時間記憶部２２１、診断時間記憶部２２２、及び、アドレス記憶部２２３を備えている。
【００３８】
ここでは、ＣＰＵ１１が、図略のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に予め格納されたプログラムを読み出して実行することにより、診断実行部１１等の機能部として機能するものである。また、ＣＰＵ２１が、図略のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に予め格納されたプログラムを読み出して実行することにより、定着温度検出部２１１、経過時間算出部２１２、領域設定部２１３、及び、診断制御部２１４等の機能部として機能すると共に、ＲＡＭ２２を、加熱時間記憶部２２１、診断時間記憶部２２２、及び、アドレス記憶部２２３等の機能部として機能させるものである。
【００３９】
また、ＲＡＭ１２、ＲＡＭ２２、ＲＯＭに格納された各種データのうち装着脱可能な記録媒体に格納され得るデータは、例えばハードディスクドライブ、光ディスクドライブ、フレキシブルディスクドライブ、シリコンディスクドライブ、カセット媒体読み取り機等のドライバで読み取り可能にしてもよく、この場合、記録媒体は、例えばハードディスク、光ディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ、ＤＶＤ、半導体メモリ等である。
【００４０】
定着温度検出部２１１（定着温度検出手段の一部に相当する）は、温度センサ５３１を介して定着ユニットの定着温度を検出するものである。
【００４１】
経過時間算出部２１２（経過時間算出手段に相当する）は、電源投入時に定着温度検出部２１１によって検出された定着温度である初期定着温度に基づいて、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求めるものである。例えば、経過時間算出部２１２は、予め初期定着温度と、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間とを対応付けて、ＲＡＭ２２等に格納しておき、定着温度検出部２１１によって検出された初期定着温度に対応する経過時間を読み出すことによって、経過時間を求めるものである。
【００４２】
ただし、ここでは、経過時間算出部２１２によって経過時間を求める処理は行わず、初期定着温度が所定の閾値（例えば、３０℃）以上か否かによって、領域設定部２１３が、メモリの診断領域を全領域にするか否かを設定する場合について説明する。
【００４３】
なお、経過時間算出部２１２が経過時間を求め、求められた経過時間に基づいて、領域設定部２１３がメモリの診断領域を設定する形態でもよい。例えば、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）以上である場合には、メモリの診断領域を全領域に設定し、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）未満であり、且つ、第２の閾値（１５分）以上である場合には、メモリの診断領域を半分の領域に設定し、経過時間が第２の閾値（１５分）未満である場合には、メモリの診断領域を１／４の領域に設定する形態でもよい。
【００４４】
領域設定部２１３（領域設定手段に相当する）は、経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、メモリの診断領域を、メモリの全領域に設定し、経過時間が所定の閾値未満である場合に、メモリの診断領域を、メモリの一部領域に設定するものである。ただし、ここでは、経過時間に換えて初期定着温度Ａを用いるものとし、領域設定部２１３が、初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）未満である場合に、メモリの診断領域を、メモリの全領域に設定し、初期定着温度Ａが所定の閾値（例えば、３０℃）以上である場合に、メモリの診断領域を、メモリの一部領域に設定するものである。
【００４５】
また、領域設定部２１３は、初期定着温度が所定の閾値（例えば、３０℃）以上である場合には、初期定着温度Ａに対応する加熱時間ＴＷを加熱時間記憶部２２１から読み出して、メモリの診断領域を、読み出された加熱時間ＴＷに基づいて設定するものである。
【００４６】
更に、領域設定部２１３は、加熱時間ＴＷがメモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間ＴＦ以上である場合に、メモリの診断領域を全領域に設定すると共に、加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ未満である場合に、診断時間を加熱時間ＴＷに設定するものである。
【００４７】
診断制御部２１４（診断実行手段の一部に相当する）は、領域設定部２１３によってメモリの診断領域が全領域に設定された場合に、診断実行部１１１に対してメモリ（ここでは、ＲＡＭ１２）の全領域の診断を実行させるものである。また、診断制御部２１４は、領域設定部２１３によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけ、診断実行部１１１に対してメモリの診断を実行させるものである。
【００４８】
更に、診断制御部２１４は、領域設定部２１３によってメモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合（＝領域設定部２１３によって診断時間が設定された場合）に、診断実行部１１１に対して、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡの次のアドレスから診断を開始させると共に、診断終了時に、診断実行部１１１から、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡ情報を取得し、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡを更新するものである。
【００４９】
また、診断制御部２１４は、領域設定部２１３によってメモリの診断領域がメモリの全領域に設定された場合に、診断実行部１１１に対して、メモリの診断領域を診断するために要した時間を測定させて、その時間情報を取得し、診断時間記憶部２２２に格納された全領域診断時間ＴＦを更新するものである。
【００５０】
診断実行部１１１（診断実行手段の一部に相当する）は、診断制御部２１４からの指示（診断時間又は診断領域）に従って、メモリ（ここでは、ＲＡＭ１２）の診断を実行するものである。
【００５１】
また、診断実行部１１１は、診断制御部２１４によってメモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合（＝診断制御部２１４によって診断時間が設定された場合）に、診断制御部２１４から送信された後端アドレスＬＡの次のアドレスから診断を開始すると共に、診断終了時に、診断制御部２１４に対して、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡ情報を送信するものである。
【００５２】
加熱時間記憶部２２１（加熱時間記憶手段に相当する）は、電源投入時点から定着ユニット５３の定着温度が予め設定された基準温度（例えば、１８０℃）に到達するまでに要する時間である加熱時間ＴＷを、初期定着温度Ａと対応付けて格納するものである。
【００５３】
図３は、加熱時間記憶部２２１に格納された加熱時間ＴＷ及び初期定着温度Ａの一例を示す図表である。初期定着温度Ａが低い程、加熱時間ＴＷが長くなるが、例えば、予め実験等により、初期定着温度Ａと加熱時間ＴＷとの関係を測定しておき、加熱時間記憶部２２１に格納するものである。ここでは、例えば、初期定着温度Ａが２５℃である場合には、加熱時間ＴＷが２０秒であり、また、例えば、初期定着温度Ａが３０℃である場合には、加熱時間ＴＷが１８秒である。初期定着温度Ａが１８０℃（＝基準定着温度）である場合には、加熱時間ＴＷは０秒である。
【００５４】
再び、図２に戻って、機能構成について説明する。診断時間記憶部２２２（診断時間記憶手段に相当する）は、メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間ＴＦを格納するものである。ここで、診断時間記憶部２２２に格納された全領域診断時間ＴＦは、診断制御部２１４によって更新されるものである。
【００５５】
アドレス記憶部２２３（アドレス記憶手段に相当する）は、診断実行部１１１によって診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡを格納するものである。また、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡは、診断制御部２１４によって更新されるものである。
【００５６】
図４は、第２制御ユニット２（ＣＰＵ２１）の動作の一例を示すフローチャートである。まず、定着温度検出部２１１によって、温度センサ５３１を介して、電源投入直後の定着ユニットの定着温度である初期定着温度Ａが検出される（Ｓ１０１）。そして、定着ユニットを加熱するヒータがＯＮされ（Ｓ１０３）、領域設定部２１３によって、初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）未満であるか否かの判定が行われる（Ｓ１０５）。
【００５７】
初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）未満であると判定された場合（Ｓ１０５でＹＥＳ）には、領域設定部２１３によって、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され（Ｓ１０７）、処理がステップＳ１１９に進められる。初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）以上であると判定された場合（Ｓ１０５でＮＯ）には、領域設定部２１３によって、初期定着温度Ａに対応する加熱時間ＴＷが加熱時間記憶部２２１から読み出すことにより求められる（Ｓ１０９）。
【００５８】
そして、領域設定部２１３によって、加熱時間ＴＷが、全領域診断時間ＴＦ以上であるか否かの判定が行われる（Ｓ１１１）。加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ以上であると判定された場合（Ｓ１１１でＹＥＳ）には、領域設定部２１３によって、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され、診断制御部２１４によって、メモリの全領域を診断する旨の指示情報が診断実行部１１１に対して送信されて（Ｓ１０７）、処理がステップＳ１１９に進められる。加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ未満であると判定された場合（Ｓ１１１でＮＯ）には、領域設定部２１３によって、診断時間が加熱時間ＴＷに設定され、診断制御部２１４によって、アドレス記憶部２２３に後端アドレスＬＡが格納されているか否かが判定される（Ｓ１１３）。
【００５９】
アドレス記憶部２２３に後端アドレスＬＡが格納されていないと判定された場合（Ｓ１１３でＮＯ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１に対してメモリの先頭アドレスから加熱時間ＴＷだけ診断を実行する旨の指示情報が診断実行部１１１に対して送信され（Ｓ１１５）、処理がステップＳ１１９に進められる。アドレス記憶部２２３に後端アドレスＬＡが格納されていると判定された場合（Ｓ１１３でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１に対して後端アドレスＬＡの次のアドレスから加熱時間ＴＷだけ診断を実行する旨の指示情報が診断実行部１１１に対して送信される（Ｓ１１７）。処理がステップＳ１１９に進められる。
【００６０】
ステップＳ１０７、ステップＳ１１５、又は、ステップ１１７の処理が終了した場合には、診断制御部２１４によって、領域設定部２１３によりメモリの診断領域が全領域に設定されたか否かの判定が行われる（Ｓ１１９）。メモリの診断領域が全領域に設定されていない（＝診断時間が加熱時間ＴＷに設定された）と判定された場合（Ｓ１１９でＮＯ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１からメモリの診断が終了した旨の情報が受信されたか否かの判定が行われる（Ｓ１２１）。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されていないと判定された場合（Ｓ１２１でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されたと判定された場合（Ｓ１２１でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１から後端アドレスＬＡ情報が取得されて、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡが更新され（Ｓ１２３）、処理が終了される。
【００６１】
メモリの診断領域が全領域に設定されたと判定された場合（Ｓ１１９でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１からメモリの診断が終了した旨の情報が受信されたか否かの判定が行われる（Ｓ１２５）。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されていないと判定された場合（Ｓ１２５でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されたと判定された場合（Ｓ１２５でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１から全領域診断時間ＴＦ情報が取得されて、診断時間記憶部２２２に格納された全領域診断時間ＴＦが更新される（Ｓ１２７）。そして、診断制御部２１４によって、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡがクリアされ（Ｓ１２９）、処理が終了される。
【００６２】
図５は、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）の動作の一例を示すフローチャートである。なお、以下の処理は全て診断実行部１１１によって実行されるものである。まず、診断制御部２１４から指示情報が取得される（Ｓ２０１）。そして、取得された指示情報に基づいて、メモリの診断領域が全領域か否かの判定が行われる（Ｓ２０３）。メモリの診断領域が全領域であると判定された場合（Ｓ２０３でＹＥＳ）には、メモリの先頭アドレスから診断が開始される（Ｓ２０５）。そして、メモリの全領域の診断が完了したか否かの判定が行われる（Ｓ２０７）。診断が完了していないと判定された場合（Ｓ２０７でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。診断が完了したと判定された場合（Ｓ２０７でＹＥＳ）には、メモリの全領域の診断が完了した旨の情報、及び、診断に要した時間である全領域診断時間ＴＦが診断制御部２１４に対して出力され（Ｓ２０９）、処理が終了される。
【００６３】
メモリの診断領域が全領域ではないと判定された場合（Ｓ２０３でＮＯ）には、ステップ２０１で取得された指示情報に後端アドレスＬＡ情報が含まれているか否かの判定が行われる（Ｓ２１１）。後端アドレスＬＡ情報が含まれていないと判定された場合（Ｓ２１１でＮＯ）には、先頭アドレスから加熱時間ＴＷだけメモリの診断が実行され（Ｓ２１３）、処理がステップＳ２１７に進められる。後端アドレスＬＡ情報が含まれていると判定された場合（Ｓ２１１でＹＥＳ）には、後端アドレスＬＡの次のアドレスから加熱時間ＴＷだけメモリの診断が実行され（Ｓ２１５）、処理がステップＳ２１７に進められる。
【００６４】
ステップ２１３又はステップＳ２１５の処理が終了した場合には、診断が終了したか否かの判定が行われる（Ｓ２１７）。診断が終了していないと判定された場合（Ｓ２１７でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。診断が終了したと判定された場合（Ｓ２１７でＹＥＳ）には、メモリの診断が完了した旨の情報が診断制御部２１４に対して出力される（Ｓ２１９）。そして、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡ情報が診断制御部２１４に対して出力されて（Ｓ２２１）、処理が終了される。
【００６５】
このようにして、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間（ここでは、この経過時間に換えて、初期定着温度Ａ）に基づいて、メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方が設定され、診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断が実行されると共に、診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけメモリの診断が実行されるため、適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００６６】
すなわち、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が長い程（ここでは、初期定着温度Ａが低い程）、前回メモリの診断が実施された時点からの経過時間も長くなり、メモリに故障が発生する可能性が高くなるため、前記経過時間が長い程（ここでは、初期定着温度Ａが低い程）、メモリの診断領域を広くする（または、メモリの診断時間を長くする）ことによって、適正な頻度でメモリの診断を行うことができるのである。
【００６７】
また、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合（ここでは、初期定着温度Ａが３０℃未満である場合）に、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合（ここでは、初期定着温度Ａが３０℃以上である場合）に、メモリの診断領域が、メモリの一部領域に設定されるため、簡素な構成で且つ適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００６８】
更に、メモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合に、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡの次のアドレスから診断が開始されると共に、診断終了時に後端アドレスＬＡが更新されるため、メモリの全範囲を略均等な頻度で診断を行うことができるので、効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００６９】
また、初期定着温度Ａに対応する加熱時間ＴＷが読み出されて、メモリの診断領域が、読み出された加熱時間ＴＷに基づいて設定するため、更に効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００７０】
すなわち、初期定着温度Ａが予め設定された基準温度（ここでは、１８０℃）に到達するまでに要する時間である加熱時間ＴＷ内は、メモリの診断を行うか否かにかかわらず画像を記録紙に形成する処理を行うことができないため、この加熱時間ＴＷ内に、メモリの診断を行うことによって、更に効率的にメモリの診断を行うことができるのである。
【００７１】
更に、メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間ＴＦに基づいて、メモリの診断領域が設定されるため、適正な診断領域を設定することができる。
【００７２】
加えて、加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ以上である場合に、メモリの診断領域が全領域に設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００７３】
また、メモリの診断領域がメモリの全領域に設定された場合に、メモリの診断領域を診断するために要した時間が測定され、全領域診断時間ＴＦが更新されるため、全領域診断時間ＴＦを正確に設定することができる。
【００７４】
なお、本発明は、以下の形態にも適用可能である。
（Ａ）本実施形態では、プリンタ１００が、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）と第２制御ユニット２（ＣＰＵ２１）とを備える場合について説明したが、プリンタ１００が、１の制御ユニット（１のＣＰＵ）を備える形態でもよい。この場合には、ＣＰＵ１１とＣＰＵ２１との通信が不要となるため、処理が簡略化される。
【００７５】
（Ｂ）本実施形態では、経過時間算出部２１２が、初期定着温度Ａに基づいて、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める場合について説明したが、その他の方法で電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める形態でもよい。例えば、計時機能を備え、計時機能により電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める形態でもよい。この場合には、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を更に正確に求めることができる。
【００７６】
（Ｃ）本実施形態では、領域設定部２１３が、初期定着温度が所定の閾値（例えば、３０℃）以上か否かによって、メモリの診断領域を全領域にするか否かを設定する場合について説明したが、経過時間算出部２１２が経過時間を求め、求められた経過時間に基づいて、領域設定部２１３がメモリの診断領域を設定する形態でもよい。例えば、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）以上である場合には、メモリの診断領域を全領域に設定し、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）未満であり、且つ、第２の閾値（１５分）以上である場合には、メモリの診断領域を半分の領域に設定し、経過時間が第２の閾値（１５分）未満である場合には、メモリの診断領域を１／４の領域に設定する形態でもよい。
【００７７】
（Ｄ）本実施形態では、加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ未満である場合に、領域設定部２１３が、診断時間を加熱時間ＴＷに設定する場合について説明したが、領域設定部２１３が、加熱時間ＴＷの全領域診断時間ＴＦに対する比率に対応してメモリの診断領域を設定する形態でもよい。例えば、（メモリの診断領域）＝（加熱時間ＴＷ）／（全領域診断時間ＴＦ）×１００％とする形態でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】は、本本発明に係るプリンタの概略構成の一例を示すブロック図である。
【図２】は、プリンタの主要部の機能構成の一例を示す機能構成図である。
【図３】は、加熱時間記憶部に格納された加熱時間ＴＷ及び初期定着温度Ａの一例を示す図表である。
【図４】は、第２制御ユニット（ＣＰＵ）の動作の一例を示すフローチャートである。
【図５】は、第１制御ユニット（ＣＰＵ）の動作の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７９】
１００ プリンタ
１ 第１制御ユニット（制御ユニットの一部）
１１ ＣＰＵ
１１１ 診断実行部（診断実行手段の一部）
２ 第２制御ユニット（制御ユニットの一部）
２１ ＣＰＵ
２１１ 定着温度検出部（定着温度検出手段の一部）
２１２ 経過時間算出部（経過時間算出手段）
２１３ 領域設定部（領域設定手段）
２１４ 診断制御部（診断実行手段の一部）
２２ ＲＡＭ
２２１ 加熱時間記憶部（加熱時間記憶手段）
２２２ 診断時間記憶部（診断時間記憶手段）
２２３ アドレス記憶部（アドレス記憶手段）
５３ 定着ユニット
５３１ 温度センサ（定着温度検出手段の一部）
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着する画像形成装置に関するものである。特に、複写機、ファクシミリ、インターネットファクシミリ、ネットワークプリンタ、及び、これらの機能の内の少なくとも１以上の機能を有する複合機に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着するプリンタ等の画像形成装置においては、メモリが正常であるか否かを診断するメモリテストを、電源を投入する度に行っていた。
【０００３】
しかしながら、近年のプリンタ等の画像形成装置の高機能化に伴い、ＣＰＵは大きなワークエリア（＝大きな容量のメモリ）を必要とするため、メモリテストに長時間を要するものとなっている。一方、近年の半導体技術等の高度化に伴い、メモリの信頼性が高くなっており、メモリに故障が発生する可能性は低くなっている。
【０００４】
そこで、例えば、ユーザからの操作に基づいて、メモリテストモードの設定を行い、メモリの診断を省略するモードに設定された場合には、メモリの診断を行わないプリンタが開示されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平８−１５３０４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記プリンタによれば、電源を投入する度にメモリの診断を行うことに伴う待ち時間を解消することが可能となる。しかしながら、ユーザからの操作に基づいて、メモリの診断を行うか否かが設定されるため、適正な頻度でメモリの診断を行うことは困難である。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、適正な頻度でメモリの診断を行うことが可能な画像形成装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために請求項１に記載の画像形成装置は、メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着する画像形成装置であって、電源投入時に、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める経過時間算出手段と、前記経過時間に基づいて、前記メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方を設定する領域設定手段と、前記領域設定手段によって診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断を実行すると共に、前記領域設定手段によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけ前記メモリの診断を実行する診断実行手段と、を備えることを特徴としている。
【０００８】
請求項２に記載の画像形成装置は、請求項１に記載の画像形成装置であって、前記定着ユニットの定着温度を検出する定着温度検出手段を備え、前記経過時間算出手段が、電源投入時に前記定着温度検出手段によって検出された定着温度である初期定着温度に基づいて前記経過時間を求めることを特徴としている。
【０００９】
請求項３に記載の画像形成装置は、請求項２に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの全領域に設定し、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの一部領域に設定することを特徴としている。
【００１０】
請求項４に記載の画像形成装置は、請求項３に記載の画像形成装置であって、前記診断実行手段によって診断が行われた前記メモリの後端側のアドレスである後端アドレスを格納するアドレス記憶手段を備え、前記診断実行手段が、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの一部領域に設定された場合に、前記アドレス記憶手段に格納された前記後端アドレスの次のアドレスから診断を開始すると共に、診断終了時に、前記アドレス記憶部に格納された前記後端アドレスを更新することを特徴としている。
【００１１】
請求項５に記載の画像形成装置は、請求項４に記載の画像形成装置であって、電源投入時点から前記定着ユニットの定着温度が予め設定された基準温度に到達するまでに要する時間である加熱時間を、前記初期定着温度と対応付けて格納する加熱時間記憶手段を備え、前記領域設定手段が、前記経過時間が予め設定された所定の閾値未満である場合には、前記初期定着温度に対応する加熱時間を前記加熱時間記憶手段から読み出して、前記メモリの診断領域を、読み出された加熱時間に基づいて設定することを特徴としている。
【００１２】
請求項６に記載の画像形成装置は、請求項５に記載の画像形成装置であって、前記メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間を格納する診断時間記憶手段を備え、前記領域設定手段が、前記全領域診断時間に基づいて、前記メモリの診断領域を設定することを特徴としている。
【００１３】
請求項７に記載の画像形成装置は、請求項６に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記加熱時間が前記全領域診断時間以上である場合に、前記メモリの診断領域を全領域に設定することを特徴としている。
【００１４】
請求項８に記載の画像形成装置は、請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記加熱時間が前記全領域診断時間未満である場合に、前記診断時間を前記加熱時間に設定することを特徴としている。
【００１５】
請求項９に記載の画像形成装置は、請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置であって、前記領域設定手段が、前記加熱時間の前記全領域診断時間に対する比率に対応して前記メモリの診断領域を設定することを特徴としている。
【００１６】
請求項１０に記載の画像形成装置は、請求項６〜請求項９のいずれかに記載の画像形成装置であって、前記診断実行手段が、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの全領域に設定された場合に、前記メモリの診断領域を診断するために要した時間を測定し、前記診断時間記憶手段に格納された前記全領域診断時間を更新することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１に記載の画像形成装置によれば、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間に基づいて、メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方が設定され、診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断が実行されると共に、診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけメモリの診断が実行されるため、適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００１８】
すなわち、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が長い程、前回メモリの診断が実施された時点からの経過時間も長くなり、メモリに故障が発生する可能性が高くなるため、前記経過時間が長い程、メモリの診断領域を広くする（または、メモリの診断時間を長くする）ことによって、適正な頻度でメモリの診断を行うことができるのである。
【００１９】
請求項２に記載の画像形成装置によれば、電源投入時に検出された定着温度である初期定着温度に基づいて、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が求められるため、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を、簡素な構成で求めることができる。
【００２０】
すなわち、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を、例えば時計機能を利用して求める場合には、時計機能を有する手段を配設する必要があるが、定着温度に基づいて求める場合には、新たな手段を配設する必要がないため、簡素な構成で経過時間を求めることができるのである。
【００２１】
請求項３に記載の画像形成装置によれば、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合に、メモリの診断領域が、メモリの一部領域に設定されるため、簡素な構成で且つ適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００２２】
請求項４に記載の画像形成装置によれば、メモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合に、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスの次のアドレスから診断が開始されると共に、診断終了時に後端アドレスが更新されるため、メモリの全範囲を略均等な頻度で診断を行うことができるので、効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００２３】
請求項５に記載の画像形成装置によれば、電源投入時に検出された定着温度に対応する加熱時間が読み出されて、メモリの診断領域が、読み出された加熱時間に基づいて設定するため、更に効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００２４】
すなわち、電源投入時点から定着ユニットの定着温度が予め設定された基準温度に到達するまでに要する時間である加熱時間内は、メモリの診断を行うか否かにかかわらず画像を記録紙に形成する処理を行うことができないため、この加熱時間内に、メモリの診断を行うことによって、更に効率的にメモリの診断を行うことができるのである。
【００２５】
請求項６に記載の画像形成装置によれば、メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間に基づいて、メモリの診断領域が設定されるため、適正な診断領域を設定することができる。
【００２６】
請求項７に記載の画像形成装置によれば、加熱時間が全領域診断時間以上である場合に、メモリの診断領域が全領域に設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００２７】
請求項８に記載の画像形成装置によれば、加熱時間が全領域診断時間未満である場合に、診断時間が加熱時間に設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００２８】
請求項９に記載の画像形成装置によれば、加熱時間の全領域診断時間に対する比率に対応してメモリの診断領域が設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００２９】
請求項１０に記載の画像形成装置によれば、メモリの診断領域がメモリの全領域に設定された場合に、メモリの診断領域を診断するために要した時間が測定され、全領域診断時間が更新されるため、全領域診断時間を正確に設定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明に係る画像形成装置の一例について図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る画像形成装置の概略構成の一例を示すブロック図である。なお、ここでは、画像形成装置が、プリンタである場合について説明するが、記録紙上に画像を形成する他の画像形成装置（例えば、ファクシミリ、インターネットファクシミリ、複写機、複合機等）である形態でもよい。図１に示すように、プリンタ１００は、第１制御ユニット１、第２制御ユニット２、操作部３、表示部４、及び、印刷処理部５を備えている。なお、プリンタ１００は、図略のパーソナルコンピュータ（ＰＣ）等と通信可能に接続され、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）等から画像情報を受け付け、受け付けた画像情報に対応する画像を記録紙上に形成するものである。
【００３１】
第１制御ユニット１（制御ユニットに相当する）は、主に、画像処理、ユーザーインターフェース、モード設定、アプリケーションの制御、及び、第２制御ユニット２の動作の指示等を行い、プリンタ１００全体の動作を制御するものであって、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）１１、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１２、及び、図略のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）を備えている。
【００３２】
第２制御ユニット２は、主に、記録紙の搬送制御、センサの検知等を行うものであって、ＣＰＵ２１、ＲＡＭ２２、及び、図略のＲＯＭを備えている。ここでは、便宜上、第２制御ユニット２は、電源投入時点で（＝電源投入直後に）立ち上げが完了するものとする。更に、第２制御ユニット２は、通常は、第１制御ユニット１からの指示に従って動作するものであるが、電源投入から第１制御ユニット１が立ち上がるまで（ここでは、メモリ診断が完了するまで）の期間は、第１制御ユニット１からの指示なしに動作可能に構成されている。また、ここでは、第２制御ユニット２のＲＡＭ２２は、第１制御ユニット１のＲＡＭ１２と比較して、充分に小さい容量を有する（例えば、ＲＡＭ１２の容量は１２８Ｍバイト、ＲＡＭ２２の容量は３ｋバイトである）ものであるため、便宜上、ＲＡＭ２２のメモリ診断についてはその説明を省略する。
【００３３】
操作部３は、ユーザからの操作入力を受け付けて、受け付けられた操作入力に対応する操作入力情報を生成し、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）に出力するものである。操作部３は、例えば、テンキー、スタートボタン等の各種ボタン、及び、表示部４に配設されたＬＣＤと一体に形成されたタッチパネル等を備えている。
【００３４】
表示部４は、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）等を備え、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）からの指示に基づき、設定情報、ガイダンス情報、メッセージ情報等をユーザから視認可能に表示するものである。
【００３５】
印刷処理部５は、記録紙上に電子写真方式で画像（ここでは、原稿画像に対応する画像）を形成するものであって、現像ユニット５１、感光ユニット５２、及び、定着ユニット５３を備えている。感光ユニット５２は、感光ドラムを備え、まず、感光ドラムの表面が帯電ローラによって略均一に帯電され、次に、図略のレーザビーム走査ユニットによって、静電潜像が形成され、更に、現像ユニット５１によって、静電潜像にトナーが付着されてトナー像が形成され、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙に転写するものである。
【００３６】
定着ユニット５３は、感光ユニット５２で感光ドラムから記録紙に転写されたトナー像を、加熱ローラ対によって記録紙を挟持して搬送することにより、トナー像を溶融して固着させ、記録紙に定着するものであって、温度センサ５３１を備えている。温度センサ５３１（定着温度検出手段の一部に相当する）は、加熱ローラの表面温度を測定するものであって、サーミスタ等から構成されている。
【００３７】
図２は、プリンタ１００の主要部の機能構成の一例を示す機能構成図である。ＣＰＵ１１は、機能的に、診断実行部１１１を備え、ＣＰＵ２１は、機能的に、定着温度検出部２１１、経過時間算出部２１２、領域設定部２１３、及び、診断制御部２１４を備えている。また、ＲＡＭ２２は、機能的に、加熱時間記憶部２２１、診断時間記憶部２２２、及び、アドレス記憶部２２３を備えている。
【００３８】
ここでは、ＣＰＵ１１が、図略のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に予め格納されたプログラムを読み出して実行することにより、診断実行部１１等の機能部として機能するものである。また、ＣＰＵ２１が、図略のＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）等に予め格納されたプログラムを読み出して実行することにより、定着温度検出部２１１、経過時間算出部２１２、領域設定部２１３、及び、診断制御部２１４等の機能部として機能すると共に、ＲＡＭ２２を、加熱時間記憶部２２１、診断時間記憶部２２２、及び、アドレス記憶部２２３等の機能部として機能させるものである。
【００３９】
また、ＲＡＭ１２、ＲＡＭ２２、ＲＯＭに格納された各種データのうち装着脱可能な記録媒体に格納され得るデータは、例えばハードディスクドライブ、光ディスクドライブ、フレキシブルディスクドライブ、シリコンディスクドライブ、カセット媒体読み取り機等のドライバで読み取り可能にしてもよく、この場合、記録媒体は、例えばハードディスク、光ディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ、ＤＶＤ、半導体メモリ等である。
【００４０】
定着温度検出部２１１（定着温度検出手段の一部に相当する）は、温度センサ５３１を介して定着ユニットの定着温度を検出するものである。
【００４１】
経過時間算出部２１２（経過時間算出手段に相当する）は、電源投入時に定着温度検出部２１１によって検出された定着温度である初期定着温度に基づいて、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求めるものである。例えば、経過時間算出部２１２は、予め初期定着温度と、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間とを対応付けて、ＲＡＭ２２等に格納しておき、定着温度検出部２１１によって検出された初期定着温度に対応する経過時間を読み出すことによって、経過時間を求めるものである。
【００４２】
ただし、ここでは、経過時間算出部２１２によって経過時間を求める処理は行わず、初期定着温度が所定の閾値（例えば、３０℃）以上か否かによって、領域設定部２１３が、メモリの診断領域を全領域にするか否かを設定する場合について説明する。
【００４３】
なお、経過時間算出部２１２が経過時間を求め、求められた経過時間に基づいて、領域設定部２１３がメモリの診断領域を設定する形態でもよい。例えば、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）以上である場合には、メモリの診断領域を全領域に設定し、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）未満であり、且つ、第２の閾値（１５分）以上である場合には、メモリの診断領域を半分の領域に設定し、経過時間が第２の閾値（１５分）未満である場合には、メモリの診断領域を１／４の領域に設定する形態でもよい。
【００４４】
領域設定部２１３（領域設定手段に相当する）は、経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、メモリの診断領域を、メモリの全領域に設定し、経過時間が所定の閾値未満である場合に、メモリの診断領域を、メモリの一部領域に設定するものである。ただし、ここでは、経過時間に換えて初期定着温度Ａを用いるものとし、領域設定部２１３が、初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）未満である場合に、メモリの診断領域を、メモリの全領域に設定し、初期定着温度Ａが所定の閾値（例えば、３０℃）以上である場合に、メモリの診断領域を、メモリの一部領域に設定するものである。
【００４５】
また、領域設定部２１３は、初期定着温度が所定の閾値（例えば、３０℃）以上である場合には、初期定着温度Ａに対応する加熱時間ＴＷを加熱時間記憶部２２１から読み出して、メモリの診断領域を、読み出された加熱時間ＴＷに基づいて設定するものである。
【００４６】
更に、領域設定部２１３は、加熱時間ＴＷがメモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間ＴＦ以上である場合に、メモリの診断領域を全領域に設定すると共に、加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ未満である場合に、診断時間を加熱時間ＴＷに設定するものである。
【００４７】
診断制御部２１４（診断実行手段の一部に相当する）は、領域設定部２１３によってメモリの診断領域が全領域に設定された場合に、診断実行部１１１に対してメモリ（ここでは、ＲＡＭ１２）の全領域の診断を実行させるものである。また、診断制御部２１４は、領域設定部２１３によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけ、診断実行部１１１に対してメモリの診断を実行させるものである。
【００４８】
更に、診断制御部２１４は、領域設定部２１３によってメモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合（＝領域設定部２１３によって診断時間が設定された場合）に、診断実行部１１１に対して、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡの次のアドレスから診断を開始させると共に、診断終了時に、診断実行部１１１から、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡ情報を取得し、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡを更新するものである。
【００４９】
また、診断制御部２１４は、領域設定部２１３によってメモリの診断領域がメモリの全領域に設定された場合に、診断実行部１１１に対して、メモリの診断領域を診断するために要した時間を測定させて、その時間情報を取得し、診断時間記憶部２２２に格納された全領域診断時間ＴＦを更新するものである。
【００５０】
診断実行部１１１（診断実行手段の一部に相当する）は、診断制御部２１４からの指示（診断時間又は診断領域）に従って、メモリ（ここでは、ＲＡＭ１２）の診断を実行するものである。
【００５１】
また、診断実行部１１１は、診断制御部２１４によってメモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合（＝診断制御部２１４によって診断時間が設定された場合）に、診断制御部２１４から送信された後端アドレスＬＡの次のアドレスから診断を開始すると共に、診断終了時に、診断制御部２１４に対して、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡ情報を送信するものである。
【００５２】
加熱時間記憶部２２１（加熱時間記憶手段に相当する）は、電源投入時点から定着ユニット５３の定着温度が予め設定された基準温度（例えば、１８０℃）に到達するまでに要する時間である加熱時間ＴＷを、初期定着温度Ａと対応付けて格納するものである。
【００５３】
図３は、加熱時間記憶部２２１に格納された加熱時間ＴＷ及び初期定着温度Ａの一例を示す図表である。初期定着温度Ａが低い程、加熱時間ＴＷが長くなるが、例えば、予め実験等により、初期定着温度Ａと加熱時間ＴＷとの関係を測定しておき、加熱時間記憶部２２１に格納するものである。ここでは、例えば、初期定着温度Ａが２５℃である場合には、加熱時間ＴＷが２０秒であり、また、例えば、初期定着温度Ａが３０℃である場合には、加熱時間ＴＷが１８秒である。初期定着温度Ａが１８０℃（＝基準定着温度）である場合には、加熱時間ＴＷは０秒である。
【００５４】
再び、図２に戻って、機能構成について説明する。診断時間記憶部２２２（診断時間記憶手段に相当する）は、メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間ＴＦを格納するものである。ここで、診断時間記憶部２２２に格納された全領域診断時間ＴＦは、診断制御部２１４によって更新されるものである。
【００５５】
アドレス記憶部２２３（アドレス記憶手段に相当する）は、診断実行部１１１によって診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡを格納するものである。また、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡは、診断制御部２１４によって更新されるものである。
【００５６】
図４は、第２制御ユニット２（ＣＰＵ２１）の動作の一例を示すフローチャートである。まず、定着温度検出部２１１によって、温度センサ５３１を介して、電源投入直後の定着ユニットの定着温度である初期定着温度Ａが検出される（Ｓ１０１）。そして、定着ユニットを加熱するヒータがＯＮされ（Ｓ１０３）、領域設定部２１３によって、初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）未満であるか否かの判定が行われる（Ｓ１０５）。
【００５７】
初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）未満であると判定された場合（Ｓ１０５でＹＥＳ）には、領域設定部２１３によって、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され（Ｓ１０７）、処理がステップＳ１１９に進められる。初期定着温度Ａが予め設定された所定の閾値（例えば、３０℃）以上であると判定された場合（Ｓ１０５でＮＯ）には、領域設定部２１３によって、初期定着温度Ａに対応する加熱時間ＴＷが加熱時間記憶部２２１から読み出すことにより求められる（Ｓ１０９）。
【００５８】
そして、領域設定部２１３によって、加熱時間ＴＷが、全領域診断時間ＴＦ以上であるか否かの判定が行われる（Ｓ１１１）。加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ以上であると判定された場合（Ｓ１１１でＹＥＳ）には、領域設定部２１３によって、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され、診断制御部２１４によって、メモリの全領域を診断する旨の指示情報が診断実行部１１１に対して送信されて（Ｓ１０７）、処理がステップＳ１１９に進められる。加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ未満であると判定された場合（Ｓ１１１でＮＯ）には、領域設定部２１３によって、診断時間が加熱時間ＴＷに設定され、診断制御部２１４によって、アドレス記憶部２２３に後端アドレスＬＡが格納されているか否かが判定される（Ｓ１１３）。
【００５９】
アドレス記憶部２２３に後端アドレスＬＡが格納されていないと判定された場合（Ｓ１１３でＮＯ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１に対してメモリの先頭アドレスから加熱時間ＴＷだけ診断を実行する旨の指示情報が診断実行部１１１に対して送信され（Ｓ１１５）、処理がステップＳ１１９に進められる。アドレス記憶部２２３に後端アドレスＬＡが格納されていると判定された場合（Ｓ１１３でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１に対して後端アドレスＬＡの次のアドレスから加熱時間ＴＷだけ診断を実行する旨の指示情報が診断実行部１１１に対して送信される（Ｓ１１７）。処理がステップＳ１１９に進められる。
【００６０】
ステップＳ１０７、ステップＳ１１５、又は、ステップ１１７の処理が終了した場合には、診断制御部２１４によって、領域設定部２１３によりメモリの診断領域が全領域に設定されたか否かの判定が行われる（Ｓ１１９）。メモリの診断領域が全領域に設定されていない（＝診断時間が加熱時間ＴＷに設定された）と判定された場合（Ｓ１１９でＮＯ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１からメモリの診断が終了した旨の情報が受信されたか否かの判定が行われる（Ｓ１２１）。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されていないと判定された場合（Ｓ１２１でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されたと判定された場合（Ｓ１２１でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１から後端アドレスＬＡ情報が取得されて、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡが更新され（Ｓ１２３）、処理が終了される。
【００６１】
メモリの診断領域が全領域に設定されたと判定された場合（Ｓ１１９でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１からメモリの診断が終了した旨の情報が受信されたか否かの判定が行われる（Ｓ１２５）。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されていないと判定された場合（Ｓ１２５でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。メモリの診断が終了した旨の情報が受信されたと判定された場合（Ｓ１２５でＹＥＳ）には、診断制御部２１４によって、診断実行部１１１から全領域診断時間ＴＦ情報が取得されて、診断時間記憶部２２２に格納された全領域診断時間ＴＦが更新される（Ｓ１２７）。そして、診断制御部２１４によって、アドレス記憶部２２３に格納された後端アドレスＬＡがクリアされ（Ｓ１２９）、処理が終了される。
【００６２】
図５は、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）の動作の一例を示すフローチャートである。なお、以下の処理は全て診断実行部１１１によって実行されるものである。まず、診断制御部２１４から指示情報が取得される（Ｓ２０１）。そして、取得された指示情報に基づいて、メモリの診断領域が全領域か否かの判定が行われる（Ｓ２０３）。メモリの診断領域が全領域であると判定された場合（Ｓ２０３でＹＥＳ）には、メモリの先頭アドレスから診断が開始される（Ｓ２０５）。そして、メモリの全領域の診断が完了したか否かの判定が行われる（Ｓ２０７）。診断が完了していないと判定された場合（Ｓ２０７でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。診断が完了したと判定された場合（Ｓ２０７でＹＥＳ）には、メモリの全領域の診断が完了した旨の情報、及び、診断に要した時間である全領域診断時間ＴＦが診断制御部２１４に対して出力され（Ｓ２０９）、処理が終了される。
【００６３】
メモリの診断領域が全領域ではないと判定された場合（Ｓ２０３でＮＯ）には、ステップ２０１で取得された指示情報に後端アドレスＬＡ情報が含まれているか否かの判定が行われる（Ｓ２１１）。後端アドレスＬＡ情報が含まれていないと判定された場合（Ｓ２１１でＮＯ）には、先頭アドレスから加熱時間ＴＷだけメモリの診断が実行され（Ｓ２１３）、処理がステップＳ２１７に進められる。後端アドレスＬＡ情報が含まれていると判定された場合（Ｓ２１１でＹＥＳ）には、後端アドレスＬＡの次のアドレスから加熱時間ＴＷだけメモリの診断が実行され（Ｓ２１５）、処理がステップＳ２１７に進められる。
【００６４】
ステップ２１３又はステップＳ２１５の処理が終了した場合には、診断が終了したか否かの判定が行われる（Ｓ２１７）。診断が終了していないと判定された場合（Ｓ２１７でＮＯ）には、処理が待機状態とされる。診断が終了したと判定された場合（Ｓ２１７でＹＥＳ）には、メモリの診断が完了した旨の情報が診断制御部２１４に対して出力される（Ｓ２１９）。そして、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡ情報が診断制御部２１４に対して出力されて（Ｓ２２１）、処理が終了される。
【００６５】
このようにして、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間（ここでは、この経過時間に換えて、初期定着温度Ａ）に基づいて、メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方が設定され、診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断が実行されると共に、診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけメモリの診断が実行されるため、適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００６６】
すなわち、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が長い程（ここでは、初期定着温度Ａが低い程）、前回メモリの診断が実施された時点からの経過時間も長くなり、メモリに故障が発生する可能性が高くなるため、前記経過時間が長い程（ここでは、初期定着温度Ａが低い程）、メモリの診断領域を広くする（または、メモリの診断時間を長くする）ことによって、適正な頻度でメモリの診断を行うことができるのである。
【００６７】
また、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合（ここでは、初期定着温度Ａが３０℃未満である場合）に、メモリの診断領域が、メモリの全領域に設定され、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合（ここでは、初期定着温度Ａが３０℃以上である場合）に、メモリの診断領域が、メモリの一部領域に設定されるため、簡素な構成で且つ適正な頻度でメモリの診断を行うことができる。
【００６８】
更に、メモリの診断領域がメモリの一部領域に設定された場合に、診断が行われたメモリの後端側のアドレスである後端アドレスＬＡの次のアドレスから診断が開始されると共に、診断終了時に後端アドレスＬＡが更新されるため、メモリの全範囲を略均等な頻度で診断を行うことができるので、効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００６９】
また、初期定着温度Ａに対応する加熱時間ＴＷが読み出されて、メモリの診断領域が、読み出された加熱時間ＴＷに基づいて設定するため、更に効率的にメモリの診断を行うことができる。
【００７０】
すなわち、初期定着温度Ａが予め設定された基準温度（ここでは、１８０℃）に到達するまでに要する時間である加熱時間ＴＷ内は、メモリの診断を行うか否かにかかわらず画像を記録紙に形成する処理を行うことができないため、この加熱時間ＴＷ内に、メモリの診断を行うことによって、更に効率的にメモリの診断を行うことができるのである。
【００７１】
更に、メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間ＴＦに基づいて、メモリの診断領域が設定されるため、適正な診断領域を設定することができる。
【００７２】
加えて、加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ以上である場合に、メモリの診断領域が全領域に設定されるため、更に適正な診断領域を設定することができる。
【００７３】
また、メモリの診断領域がメモリの全領域に設定された場合に、メモリの診断領域を診断するために要した時間が測定され、全領域診断時間ＴＦが更新されるため、全領域診断時間ＴＦを正確に設定することができる。
【００７４】
なお、本発明は、以下の形態にも適用可能である。
（Ａ）本実施形態では、プリンタ１００が、第１制御ユニット１（ＣＰＵ１１）と第２制御ユニット２（ＣＰＵ２１）とを備える場合について説明したが、プリンタ１００が、１の制御ユニット（１のＣＰＵ）を備える形態でもよい。この場合には、ＣＰＵ１１とＣＰＵ２１との通信が不要となるため、処理が簡略化される。
【００７５】
（Ｂ）本実施形態では、経過時間算出部２１２が、初期定着温度Ａに基づいて、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める場合について説明したが、その他の方法で電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める形態でもよい。例えば、計時機能を備え、計時機能により電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める形態でもよい。この場合には、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を更に正確に求めることができる。
【００７６】
（Ｃ）本実施形態では、領域設定部２１３が、初期定着温度が所定の閾値（例えば、３０℃）以上か否かによって、メモリの診断領域を全領域にするか否かを設定する場合について説明したが、経過時間算出部２１２が経過時間を求め、求められた経過時間に基づいて、領域設定部２１３がメモリの診断領域を設定する形態でもよい。例えば、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）以上である場合には、メモリの診断領域を全領域に設定し、経過時間が第１の閾値（例えば、１時間）未満であり、且つ、第２の閾値（１５分）以上である場合には、メモリの診断領域を半分の領域に設定し、経過時間が第２の閾値（１５分）未満である場合には、メモリの診断領域を１／４の領域に設定する形態でもよい。
【００７７】
（Ｄ）本実施形態では、加熱時間ＴＷが全領域診断時間ＴＦ未満である場合に、領域設定部２１３が、診断時間を加熱時間ＴＷに設定する場合について説明したが、領域設定部２１３が、加熱時間ＴＷの全領域診断時間ＴＦに対する比率に対応してメモリの診断領域を設定する形態でもよい。例えば、（メモリの診断領域）＝（加熱時間ＴＷ）／（全領域診断時間ＴＦ）×１００％とする形態でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】は、本本発明に係るプリンタの概略構成の一例を示すブロック図である。
【図２】は、プリンタの主要部の機能構成の一例を示す機能構成図である。
【図３】は、加熱時間記憶部に格納された加熱時間ＴＷ及び初期定着温度Ａの一例を示す図表である。
【図４】は、第２制御ユニット（ＣＰＵ）の動作の一例を示すフローチャートである。
【図５】は、第１制御ユニット（ＣＰＵ）の動作の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７９】
１００ プリンタ
１ 第１制御ユニット（制御ユニットの一部）
１１ ＣＰＵ
１１１ 診断実行部（診断実行手段の一部）
２ 第２制御ユニット（制御ユニットの一部）
２１ ＣＰＵ
２１１ 定着温度検出部（定着温度検出手段の一部）
２１２ 経過時間算出部（経過時間算出手段）
２１３ 領域設定部（領域設定手段）
２１４ 診断制御部（診断実行手段の一部）
２２ ＲＡＭ
２２１ 加熱時間記憶部（加熱時間記憶手段）
２２２ 診断時間記憶部（診断時間記憶手段）
２２３ アドレス記憶部（アドレス記憶手段）
５３ 定着ユニット
５３１ 温度センサ（定着温度検出手段の一部）
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着する画像形成装置であって、
電源投入時に、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める経過時間算出手段と、
前記経過時間に基づいて、前記メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方を設定する領域設定手段と、
前記領域設定手段によって診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断を実行すると共に、前記領域設定手段によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけ前記メモリの診断を実行する診断実行手段と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記定着ユニットの定着温度を検出する定着温度検出手段を備え、
前記経過時間算出手段は、電源投入時に前記定着温度検出手段によって検出された定着温度である初期定着温度に基づいて前記経過時間を求めることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記領域設定手段は、前記経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの全領域に設定し、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの一部領域に設定することを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記診断実行手段によって診断が行われた前記メモリの後端側のアドレスである後端アドレスを格納するアドレス記憶手段を備え、
前記診断実行手段は、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの一部領域に設定された場合に、前記アドレス記憶手段に格納された前記後端アドレスの次のアドレスから診断を開始すると共に、診断終了時に、前記アドレス記憶部に格納された前記後端アドレスを更新することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
電源投入時点から前記定着ユニットの定着温度が予め設定された基準温度に到達するまでに要する時間である加熱時間を、前記初期定着温度と対応付けて格納する加熱時間記憶手段を備え、
前記領域設定手段は、前記経過時間が予め設定された所定の閾値未満である場合には、前記初期定着温度に対応する加熱時間を前記加熱時間記憶手段から読み出して、前記メモリの診断領域を、読み出された加熱時間に基づいて設定することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間を格納する診断時間記憶手段を備え、
前記領域設定手段は、前記全領域診断時間に基づいて、前記メモリの診断領域を設定することを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記領域設定手段は、前記加熱時間が前記全領域診断時間以上である場合に、前記メモリの診断領域を全領域に設定することを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記領域設定手段は、前記加熱時間が前記全領域診断時間未満である場合に、前記診断時間を前記加熱時間に設定することを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記領域設定手段は、前記加熱時間の前記全領域診断時間に対する比率に対応して前記メモリの診断領域を設定することを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記診断実行手段は、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの全領域に設定された場合に、前記メモリの診断領域を診断するために要した時間を測定し、前記診断時間記憶手段に格納された前記全領域診断時間を更新することを特徴とする請求項６〜請求項９のいずれかに記載の画像形成装置。
【請求項１】
メモリを有する制御ユニットを備え、前記制御ユニットの指示に従って、感光ドラムに形成されたトナー像を記録紙上に転写し、定着ユニットを介して記録紙上にトナーを定着する画像形成装置であって、
電源投入時に、電源遮断時点から電源投入時点までの経過時間を求める経過時間算出手段と、
前記経過時間に基づいて、前記メモリの診断領域及び診断時間の少なくとも一方を設定する領域設定手段と、
前記領域設定手段によって診断領域が設定された場合に、設定された診断領域の診断を実行すると共に、前記領域設定手段によって診断時間が設定された場合に、設定された診断時間だけ前記メモリの診断を実行する診断実行手段と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記定着ユニットの定着温度を検出する定着温度検出手段を備え、
前記経過時間算出手段は、電源投入時に前記定着温度検出手段によって検出された定着温度である初期定着温度に基づいて前記経過時間を求めることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記領域設定手段は、前記経過時間が予め設定された所定の閾値以上である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの全領域に設定し、前記経過時間が前記所定の閾値未満である場合に、前記メモリの診断領域を、前記メモリの一部領域に設定することを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記診断実行手段によって診断が行われた前記メモリの後端側のアドレスである後端アドレスを格納するアドレス記憶手段を備え、
前記診断実行手段は、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの一部領域に設定された場合に、前記アドレス記憶手段に格納された前記後端アドレスの次のアドレスから診断を開始すると共に、診断終了時に、前記アドレス記憶部に格納された前記後端アドレスを更新することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
電源投入時点から前記定着ユニットの定着温度が予め設定された基準温度に到達するまでに要する時間である加熱時間を、前記初期定着温度と対応付けて格納する加熱時間記憶手段を備え、
前記領域設定手段は、前記経過時間が予め設定された所定の閾値未満である場合には、前記初期定着温度に対応する加熱時間を前記加熱時間記憶手段から読み出して、前記メモリの診断領域を、読み出された加熱時間に基づいて設定することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記メモリの全領域を診断するために要する時間である全領域診断時間を格納する診断時間記憶手段を備え、
前記領域設定手段は、前記全領域診断時間に基づいて、前記メモリの診断領域を設定することを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記領域設定手段は、前記加熱時間が前記全領域診断時間以上である場合に、前記メモリの診断領域を全領域に設定することを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記領域設定手段は、前記加熱時間が前記全領域診断時間未満である場合に、前記診断時間を前記加熱時間に設定することを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記領域設定手段は、前記加熱時間の前記全領域診断時間に対する比率に対応して前記メモリの診断領域を設定することを特徴とする請求項６又は請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記診断実行手段は、前記領域設定手段によって前記メモリの診断領域が前記メモリの全領域に設定された場合に、前記メモリの診断領域を診断するために要した時間を測定し、前記診断時間記憶手段に格納された前記全領域診断時間を更新することを特徴とする請求項６〜請求項９のいずれかに記載の画像形成装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【公開番号】特開２００８−５８３４０（Ｐ２００８−５８３４０Ａ）
【公開日】平成２０年３月１３日（２００８．３．１３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２３１４６４（Ｐ２００６−２３１４６４）
【出願日】平成１８年８月２９日（２００６．８．２９）
【出願人】（０００００６１５０）京セラミタ株式会社 (13,173)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年３月１３日（２００８．３．１３）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年８月２９日（２００６．８．２９）
【出願人】（０００００６１５０）京セラミタ株式会社 (13,173)
【Ｆターム（参考）】
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