説明

株式会社エスケーエレクトロニクスにより出願された特許

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【課題】熱変形を抑制できるマスク基板を提供する。
【解決手段】マスク基板は、マスクパターンが形成される石英ガラスを主成分とする。マスク基板は、20℃以上100℃以下における熱膨張係数をC、波長365nmの光に対する透過率をT、Al濃度が0.1〔wt・ppm〕以下、Cu濃度が0.05〔wt・ppm〕以下、Fe濃度が0.1〔wt・ppm〕以下、Na濃度が0.05〔wt・ppm〕以下、及びK濃度が0.05〔wt・ppm〕以下である石英ガラスの熱膨張係数をCとしたとき、C ≦ 0.6C、且つ、T ≧ 0.9、の条件を満足する。 (もっと読む)


【課題】半透光部における半透光膜の膜厚を一定にすると共に半透光膜と遮光膜との境界部における階調の変化を急峻にする。
【課題を解決するための手段】
本発明に係る多階調フォトマスクは、露光装置から露光光Iを照射することにより、レジスト膜を形成した露光対象基板30上にレジストパターンを形成するために用いられる。この多階調フォトマスク1は、透明基板10上に露光光Iを遮断する遮光部Aと露光光を透過する透光部Bと露光光の一部を透過する半透光部Bとを含み、半透光部Bの一部(特に、遮光部Aと半透光部Bとの境界部)に透明基板が露出した透過部20が設けられてなる。 (もっと読む)


【課題】パターンの縁部の描画精度が向上された描画方法および描画装置を提供する。
【解決手段】ストライプパターンL1のX方向の長さは、ストライプパターンL2のX方向の長さよりも大きい。この場合、レーザ光の照準位置PTが移動する領域(照準移動領域)RがストライプパターンL1,L2間にあるとき、および照準移動領域RがストライプパターンL1に重なるときには、レーザ光を出射するヘッド部の移動速度が相対的に低く設定される。照準移動領域RがストライプパターンL2に重なるときには、ヘッド部の移動速度が相対的に高く設定される。 (もっと読む)


【課題】多階調フォトマスクの修正工程において、修正半透光膜の形成時に生じ
うる透過率の異常部の発生を必要な範囲で防止する。
【課題を解決するための手段】
本発明に係る多階調フォトマスク10は、透明基板上に透光部と、遮光部と半透光
部とが設けられている。このうち、半透光部は半透光膜のパターン4aにより形成され
る。この半透光膜は、相対的にエネルギー密度の異なる少なくとも2以上の条件でレ
ーザーザッピングが行われており、低エネルギー照射部を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多階調フォトマスクの修正工程において、修正半透光膜の形成時に生じる膜厚の異常すなわち透過率の異常の発生を必要な範囲で防止し正常な転写が可能な多階調フォトマスクを作製する。
【解決手段】多階調フォトマスクは、透明基板上に透光部と、遮光部と半透光部とによって構成されるものであり、このうちパターンは、遮光部においては遮光膜パターン2aにより形成され、半透光部においては半透光膜パターン4aにより形成される。半透光膜パターン4aは、透光部との境界領域の少なくとも一部に、スリット部Sを有する。 (もっと読む)


【課題】多階調フォトマスクの修正工程において、修正半透光膜の形成時に生じる膜厚の異常、従って透過率の異常の発生を必要な範囲で防止し正常な転写が可能な多階調フォトマスクを作製する。
【解決手段】多階調フォトマスクは、透明基板上に透光部と、遮光部と半透光部とが設けられているものであり、このうち、パターンは遮光部においては遮光膜のパターン2aにより形成され、半透光部においては半透光膜のパターン4aにより形成されるものである。半透光膜のパターン4aは、透光部との境界領域の少なくとも一部において、透光部との境界に近くなるほど透過率が高くなるように構成されたグラデーション部Gを有するもので修正工程において異常を生じさせない。 (もっと読む)


【課題】塗布ムラを最小限に抑えながら塗布時間を短縮する塗布膜形成装置を提供する。
【課題を解決するための手段】基板Sを載置して回転する円盤状のステージ10の上部に塗布液を吐出するための供給ノズル12と、供給ノズルを移動させるためのアーム(第1のアーム13及び第2のアーム14)を有している。供給ノズル12は複数でかつ所定の間隔で一列に配置され、固定部材20に固定されているとともに、加圧気体の圧力によって塗布液を前記基板上に吐出する。第1及び第2のアーム13,14は、ステージ10上に直角をなすように配置されたレール状の摺動部材であり、1本の第2のアーム14が2本の第1のアーム13上を平行に摺動可能であるとともに、固定部材20が第2のアーム14上を摺動可能であるように構成されている。 (もっと読む)


【課題】トップハーフ型の多階調フォトマスクにおける遮光膜及び半透光膜の形状精度を高め、かつ膜構成を簡単にする。
【課題を解決するための手段】
本発明に係る多階調フォトマスク27は、透明基板21上に形成され、露光光の一部を透過させる半透光部A、露光光の全部を遮光する遮光部Bと、露光光の全部を透過させる透光部Cとを含んでいる。そして、遮光部Bは、少なくとも2層の遮光膜のパターン23a,24aが上下に積層された積層構造による遮光膜のパターンを有している。上層遮光膜のパターン24aの材質は、チタン又はチタンを含む金属で構成されると共に、下層遮光膜のパターン23aの材質は、鉄又は鉄を含む金属で構成され、透明基板21の一部及び上層遮光膜24のパターンの表面に半透光膜のパターン22aが設けられている。 (もっと読む)


【課題】ボトムハーフ型の多階調フォトマスクにおける遮光膜及び半透光膜の形状精度を高め、かつ膜構成を簡単にする。
【課題を解決するための手段】
本発明に係る多階調フォトマスクは、透明基板11上に形成され、露光光の全部を透過させる透光部Cと、露光光の全部を遮光する遮光部Bと、露光光の一部を透過させる半透光部Aとを含んでいる。そして、遮光部Bは、前記半透光膜の上層に設けられ、少なくとも2層の遮光膜が上下に積層された積層構造による遮光膜のパターン13a、14aを有している。上層遮光膜のパターン14aは、チタン又はチタンを含む金属で構成され、下層遮光膜のパターン13aは、鉄又は鉄を含む金属で構成される。また、透明基板11と下層遮光膜13aとの間には半透光膜のパターン12aが設けられ、半透光膜のパターン12aと下層遮光膜のパターン13aとは、他の層を介することなく接している部分を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】渦巻き状の軌跡を描いて塗布するスキャン塗布法を比較的大きな基板上に適用する場合に、塗布ムラを最小限に抑えながら塗布時間を短縮する。
【課題を解決するための手段】
ステージ10は基板Sを載置して水平回転し、アーム11はステージ上を弧を描きながら基板Sの周縁部からステージの回転中心Pに向かって移動する。アーム上には加圧気体の圧力によって塗布液を前記基板上に吐出する複数の供給ノズル12が設けられ、加圧気体の圧力を変化させる圧力可変手段を有している。更に、供給ノズルを固定するための固定部材20は回転機構21により水平回転することができる。供給ノズルは、所定の間隔ずつ離間して直線状に配置して固定部材に固定されていると共に、供給ノズルから基板上に吐出される塗布液の間隔が、制御手段22によってステージの回転中心Pに近づくにつれて狭くなるように固定部材の回転角度が制御される。 (もっと読む)


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