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Fターム[2F067HH16]の内容

波動性又は粒子性放射線を用いた測長装置 (9,092) | 対象物入射粒子、波動、線源、管 (911) | PC(種類、エネルギー、波長、線源数) (2)

Fターム[2F067HH16]に分類される特許

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【課題】構造物表面に存在する凹凸構造の影響を極力回避し、構造物に生じた劣化箇所をより高い精度で透視する。
【解決手段】ミリ波帯の電磁波イメージングシステムであって、構造物表面の画像を撮像する画像撮像装置と、撮像した画像から構造物表面の凹凸の程度を分析する分析装置と、分析装置が分析した凹凸の程度に応じてミリ波帯の電磁波の周波数を特定する制御手段と、 ミリ波帯の電磁波を構造物に照射する電磁波発生装置と、ミリ波帯の電磁波の反射波を検知する1次元検波器アレイと、移動距離を計測する距離センサと、前記1次元検波器アレイが検出した反射波の強度を数値化する計測装置2と、距離センサが計測した移動距離と、前記計測装置が数値化した反射波強度とを対応付けた、構造物の透視イメージを表示する表示装置3と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 高価な測定装置を使用することなく、連続X線発生源の軟線と硬線の割合を算出する方法及び装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 均一な物質に連続X線を照射して得られる透過厚と透過強度との関係を示す透過厚特性データを用いて、連続X線を単色X線の重ね合わせでモデル化して、軟線と硬線の割合を算出する。 (もっと読む)


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