【課題】プローブ装置−測定部間の高い絶縁性による安全性と、広い周波数帯域に渡って同相信号除去比を確保するための低い対接地容量を確保しつつ、連続動作時間の制約を受けない、または連続動作時間を延ばしたプローブ装置およびこれを用いた信号測定装置を実現する。
【解決手段】入力信号が変調された変調信号を光信号に変換して出力するプローブ装置において、外部から入射される入射光を変調信号に応じて光変調し出射光として出射する光変調部を備える。 （もっと読む）

【課題】プローブを簡単に測定対象（プリント基板のプリント配線など）にアクセスできるようにする。測定感度の向上。
【解決手段】第１金属部材１と第２金属部材２とを、その間のギャップが光ファイバのコア径以上となるように配置し、そのギャップ内に先端にEO素子４を有する光ファイバ３のコア部３ａを配置する。すなわち、EO素子４がギャップ内に位置するように光ファイバ３を配置する。これらを樹脂内に封入する。測定時には、プリント配線５ｃに第１金属部材を接触させる。すると、EO素子４が配置されたギャップ内電界の集中が現れる。 （もっと読む）

【課題】光学伝送手段を具備したプローブカード及びメモリテスタを提供する。
【解決手段】メモリに形成されたテスト端子と連結される複数のニードル、ニードルと連結された複数の第１端子、外部に連結され、第１端子と対応する複数の第２端子、第１端子及び第２端子を連結する光学伝送手段を具備するプローブカードである。 （もっと読む）