本発明は、テスト下のデバイス（４０）の非線形動作を決定する方法及び装置に関し、デバイス（４０）を、種々の終端状態下で関連のデバイス端子のテスト信号によって励振させ、基本周波数及び高調波周波数における放射信号を関連のデバイス端子で測定する。次に、既知のインピーダンス及び直線性の較正規格で取られる較正測定を行って、ケーブルの損失及び遅れ、及び測定系の非線形動作に対する測定を行うことで読み取った生データを補償するのに必要なパラメータを取り出す。最終的に、非線形の散乱パラメータ又はアドミタンスパラメータを、種々の励振及び終端状態で取られる誤差を補償した測定値から抽出する。これにより、非線形動作をより正確に特性化し、モデル化し、理解できるようにする。
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【課題】増幅器などの能動回路の内部インピーダンスを、より早く、正確に算出できる能動回路の内部インピーダンス測定方法を提供する。
【解決手段】信号発生器と、増幅して増幅出力とする被測定能動回路と、高周波信号の位相量を０から概πまでの任意の値を変化させて出力とする位相可変手段と、終端の電圧値または電力値を測定する測定手段と、を有する測定系において、高周波信号の位相量に対する電圧値または位相量に対する電力値を測定し、得られたデータから最小電圧値と最大電圧値とを選択し、または最小電力値と最大電力値とを選択する第１の段階と、第１の段階で得られた位相量、最小電圧値と最大電圧値または最小電力値と最大電力値を用いて計算処理することにより、被測定能動回路の出力回路の内部インピーダンスに相当する値が算出される第２の段階と、を手順とする。 （もっと読む）

本発明は、電力トランジスタの機能検査のための回路装置に関し、この回路装置は、絶縁されたゲートと、ドレインまたはコレクタとして構成されている第１の電力電極と、ソースまたはエミッタとして構成されている第２の電力電極とを備えた電力トランジスタを有し、第１の電力電極および第２の電力電極は第１の電力電極端子コンタクトおよび第２の電力電極端子コンタクトを介して、直流電圧源および電気的な直流電流負荷を備えた電力回路に接続されており、ゲート端子コンタクトを介してゲートと接続されている信号出力側を備えた制御装置を有し、ゲート端子コンタクトと第２の電力電極端子コンタクトとの間のゲート端子キャパシタンスを測定するためのキャパシタンス測定装置を有し、キャパシタンス測定装置によって測定されたゲート端子キャパシタンスをゲートキャパシタンスと比較し、比較に依存してエラー信号を出力する評価装置を有する。
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【課題】高周波入力信号に電子デバイスの挙動を分析するための改良された分析器と方法、および高周波デバイスを設計して製造する改良方法を提供する。
【解決手段】実負荷引き出し回路２０１は、ＤＵＴ２０６から出力信号を受け取って、そのとき、変更された信号をＤＵＴ２０６に提供して戻すＤＵＴ２０６に接続され、その信号は、入力信号ｘ，ｙを考慮すると信号処理回路２３７によって変更されて、フィードバック回路２３７で作用する振幅ゲインと位相変化を制御する。よってポジティブフィードバックループは避けられて分析の制御のためのより良い制御が可能になる。ネットワークアナライザまたは他の信号測定装置２４２がＤＵＴ２０６のポートで観測された波形（引き出されたｓ−パラメータから）を記録し、その結果、様々な負荷条件の下におけるＤＵＴ２０６の挙動が分析される。 （もっと読む）

【課題】ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）のパワー校正に必要なパワー計測数の低減
【解決手段】マルチポートＶＮＡの第１ポートと前記ＶＮＡの第２ポートとの間で２ポートＳパラメータ校正を実行し、前記ＶＮＡの前記第１ポートのみにおいてパワー校正を実行し、前記ＶＮＡの第１ポートと前記ＶＮＡの第２ポートとの間において実行された前記２ポートＳパラメータ校正、前記ＶＮＡの前記第１ポートのみにおいて実行された前記パワー校正、前記ＤＵＴの前記第１ポートの反射係数、及び前記ＶＮＡの前記第１ポートによって受信された信号の結合バージョンの検出に基づいて、前記ＶＮＡの前記第１ポートに接続された被測定物（ＤＵＴ）の第１ポートから供給されるパワーを判定することにより、ＶＮＡ）のパワー校正を実施する。 （もっと読む）

【課題】電子デバイスの非線形性によって出力信号に歪みが生じている場合であっても、出力信号の波形に依存せず精度よく電子デバイスにおける遅延量を算出することができる遅延量測定方法を提供する。
【解決手段】入力信号に応じて出力信号を出力する電子デバイスにおける遅延量を測定する遅延量測定方法であって、入力信号及び出力信号をデジタルデータに変換する変換段階と、入力信号又は出力信号のいずれかのデジタルデータを時間方向に順次シフトさせるシフト段階と、入力信号のデジタルデータと、出力信号のデジタルデータとの二乗誤差を、シフト段階におけるシフト量のそれぞれに対して算出する誤差算出段階と、二乗誤差が極小値となるシフト量を非線形最小二乗法によって算出し、算出したシフト量を電子デバイスにおける遅延量とする遅延量算出段階とを備える遅延量測定方法を提供する。 （もっと読む）