【課題】電子部品の搭載時間を短縮する。
【解決手段】供給される電子部品１０を受け取る受け取り部３ａ〜３ｅと、受け取り部３ａ〜３ｅで受け取った電子部品１０を保持して予め決められた搭載位置に移動させる移動機構４と、移動機構４を制御する制御部とを備えて、電子部品１０を基板１００に搭載可能に構成され、受け取り部３ａ〜３ｅは、供給された電子部品１０を支持する支持部と、支持部によって支持されている電子部品１０の電気的特性を測定する測定部とを備えて構成され、制御部は、測定部によって測定された電子部品１０の電気的特性が予め決められた条件を満たすときに移動機構４を制御して電子部品１０を搭載位置に移動させて基板１００に搭載させる。 （もっと読む）

【課題】工程の形態に合わせて柔軟に構成の変更が容易な電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステムを提供すること。
【解決手段】電子部品を検査する検査部４ａと、検査部４ａに供給する複数の電子部品を貯留する供給貯留部１２と、検査部４ａにて検査された後の複数の電子部品を貯留する排出貯留部２２と、排出貯留部２２に貯留された複数の電子部品を、次工程の別の下流側装置からの信号を受けて当該下流側装置に送り出すエジェクタ装置３０と、前工程の別の上流側装置に対して電子部品を送り出すように信号を送る制御装置６０と、を有する検査装置である。供給貯留部１２は、上流側装置から送り出される電子部品を受け取るための受取接続部４４を有し、排出貯留部２２は、下流側装置へ電子部品を送り出すための送出接続部３４を有する。 （もっと読む）

【課題】チップ型電子部品を搬送しながら電気的特性を測定するときに、プローブ押圧による外部電極の損傷が生じない装置と方法を提供する。
【解決手段】ワーク測定装置はテーブルベース１と、テーブルベース上に回転自在に設置され、テーブルベースと反対側の第１層２ａと、テーブルベース１側の第２層２ｂとを有する搬送テーブル２とを備えている。第１層を貫通してワークＷを収納する複数のワーク収納孔４が設けられ、第２層に各ワーク収納孔に対応して、第２層を貫通してスルーホール９が設けられている。ワーク収納孔に収納されたワークの一側電極Ｗａは、ワーク収納孔の第１層側から露出するとともに、他側電極Ｗｂは第２層のスルーホールに当接する。搬送テーブルの第１層側に、ワーク収納孔内のワークの一側外部電極に当接する第１のプローブ６０を設け、テーブルベース内に第２層のスルーホールに当接する第２プローブ６１を設けた。 （もっと読む）

【課題】安定した温度特性計測を実現できる温度特性検査装置を提供する。
【解決手段】温度特性計測装置１は、電子部品２が収容される凹部１２を有する電子部品搭載プレート１０と、この電子部品搭載プレート１０の電子部品２に対して直接又は間接的に熱を供給する温度制御ユニット３０と、電子部品搭載プレート１０に収容される電子部品の上面の少なくとも一部を覆うカバーユニット４０と、電子部品２の接点に対して電気的接続を確保するプローブユニット５０を備えるようにした。 （もっと読む）

【課題】極めて短時間の放電光を安価な構成で検出できる放電光検出回路を提供する。
【解決手段】放電光検出回路１４は、端子１０ａに基準値以上の電圧が加えられた時に導通する電子部品１０において発生し得る放電光を検出する。放電光検出回路は、受光素子１４ａと、増幅部１４ｂと、判定部１４ｃと、オフディレイ部１４ｄと、制御部１４ｅとを備える。受光素子は、検査電極１１から端子に基準値以上の検査電圧または所定の検査電流が加えられた時に発生し得る放電光Ｌを受光して、電気信号Ａに変換する。増幅部は電気信号を増幅する。判定部は、増幅された電気信号Ｂが予め定められた判定値Ｘ以上である期間に判定信号Ｃを出力する。オフディレイ部は、判定信号のオフタイミングを遅延させた遅延判定信号Ｄを出力する。制御部は、遅延判定信号が出力されているか否か定期的に判定し、遅延判定信号が出力されている場合に放電光検出信号Ｅを出力する。 （もっと読む）

【課題】 対象物を検査選別するための効率的な装置および方法を提供すること
【解決手段】 対象物を受け入れるが、対象物が互いに積み重なるのを防止するようになされた略水平な空間と、複数のトンネルと、対象物が前記複数のトンネルに入るようにさせるガス圧力を伝達するように構成された複数のガス開口部とを含む装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】電子部品の電極に対して十分に接触することができ、プローブの交換頻度が少なく、かつプローブを容易に交換することができる電子部品の特性測定装置および特性測定方法を提供する。
【解決手段】電子部品の特性測定装置１２Ａは、導電性線材１２ｓをコイル状に巻付けてなるコイル部１２ａと、コイル部１２ａの中空部に充填された導電性接着剤１２ｄとを含むプローブ１２と、プローブ１２を支持するインピーダンスコントロール基板Ｃ１と、インピーダンスコントロール基板Ｃ１上に載置されプローブ１２を収納する収納孔１３ａを有する位置決めプレート１３とを備えている。位置決めプレート１３上には、プローブ１２の一部が外方へ突出する開口１４ａを有する抜け止めプレート１４が設けられている。コイル部１２ａの一対の端部１２ｓ_１、１２ｓ_２は抜け止めプレート１４に当接する。 （もっと読む）

【課題】容量素子の特性測定にかかる検査時間を短縮できる特性測定方法、および特性測定装置の提供を図る。
【解決手段】強誘電体からなる容量素子を加熱し（Ｓ２）、予備充電する（Ｓ３）。これにより強誘電体における分極の進行を速める。容量素子を予備充電後に冷却し（Ｓ４）、放電する（Ｓ５）。これにより、分極の進行が進んだ状態を維持する。その後、該容量素子を再充電し（Ｓ６）、短時間で充電電流値を漏洩電流値に到達させてから、容量素子の特性を測定する。 （もっと読む）

【課題】一方の基板の位置補正に要する時間を他方の基板の検査時間内に吸収し、全体的な処理時間の短縮を図った基板検査方法及び基板検査装置を提供する
【解決手段】並んで配置された第１，第２の搬送レール１１，１２にそれぞれ搬入されて所定の検査位置に停止した基板２１，２２に対し、各基板２１，２２の表面に沿って二次元的に移動するプローブ１ａ〜１ｄを用いて電気的検査を行う基板検査方法において、一方の搬送レール１１の検査位置にある基板２１をプローブ１ａ〜１ｃにより検査している期間に、他方の搬送レール１２に搬入された基板２２の位置を位置検出カメラ４ｄにより検出して基板２２を検査位置に停止させる処理を完了し、基板２１の検査終了後に、プローブ１ａ〜１ｃを移動させて直ちに基板２２の検査を開始する。 （もっと読む）

【課題】コストの上昇を抑えつつ小形化する。
【解決手段】基板１００を搬送可能に構成された搬送機構１２と、撮像処理を実行して基板１００の画像を撮像する撮像部１３と、第１位置Ｐ１と第２位置Ｐ２との間で撮像部１３を移動可能に構成された移動機構１４と、制御部とを備え、制御部は、移動機構１４を制御して撮像部１３を第１位置Ｐ１に移動させると共に、撮像部１３を制御して第１位置Ｐ１において撮像処理を実行させた後に、移動機構１４を制御して撮像部１３を第２位置Ｐ２に移動させると共に、撮像部１３を制御して第２位置Ｐ２において撮像処理を実行させ、第１位置Ｐ１における撮像処理によって撮像された画像に基づいて搬送機構１２を制御して第１位置Ｐ１から第２位置Ｐ２に向けての基板１００の搬送を開始させ、第２位置Ｐ２における撮像処理によって撮像された画像に基づいて搬送機構１２を制御して基板１００の搬送を停止させる。 （もっと読む）

【課題】基板が載置される複数の支持プレートが水平方向に移動可能に設けることで、基板を支持プレート上に搬送する工程及び基板に電気信号を印加する工程を効率的且つ安定的に行うこと。
【解決手段】複数の支持プレート間の間隔を調節するために、それら支持プレートを移動可能に支持するガイド部材及び複数の上記支持プレートを移動させる駆動装置を備えて、複数の上記支持プレートのうち少なくとも一つの該支持プレートを移動させるプレート移動ユニットを備えて、アレイテスト装置を構成する。 （もっと読む）

【課題】障害の発生を未然に防いで検査作業の効率化を図る。
【解決手段】故障の発生を予知する故障予知装置において、装置に組み込まされた駆動モータのトルクを検出するトルク検出手段と、当該トルク検出手段で検出したトルクの変動を監視する監視手段と、当該監視手段で監視するトルクが設定基準値の範囲外にあるとき、前記駆動モータの停止、異常メッセージ表示又は警告のいずれか１又は複数を行うことを特徴とする制御部とを備えた。故障予知方法は、前記故障予知装置の処理機能と同様の構成を有する。また、検査装置には、前記故障予知装置の機能を組み込んだ。 （もっと読む）

【課題】 インデックステーブル、揺動管の間にシューターとして投入管を架設し、高圧空気のもとで投入管を介して電子部品が揺動管に送り込まれているため、電子部品にダメージを与えるおそれがあるとともに、高速での送り込み制御が難しい。
【解決手段】 シューターは電子部品を吸着する吸着ヘッド２４を有した４本のアームから形成されて水平面で間欠送りされる十字のアーム形状のターンテーブル２０とされる。十字形アーム２０の供給ステーションａの左右に、揺動管３０に電子部品を送り出す送出ステーションｂ１、ｂ２が設定され、それぞれの送出ステーションに揺動管３０、振分け盤４０、駆動手段５０の組合せが設けられる。十字形アームは電子部品の検査結果に対応していずれかの方向に間欠送りされて送出ステーションで電子部品は揺動管を介して検査結果に対応した振分け盤の振分け孔４０ａに送られて分類される。 （もっと読む）

【課題】生産性向上と装置全体のコンパクト化を図ることができるワーク分類排出システムおよびワーク分類排出方法を提供する。
【解決手段】ワーク分類排出システム５０は、ワークＷを収納するワーク収納孔３が形成された搬送テーブル２と、ワークＷを測定するワーク測定部７と、搬送テーブル２の半径方向外方に設けられワーク収納孔３側へ開口する複数の開口部８ｘを有する排出ブロック８１とを備えている。排出ブロック８１の各開口部８ｘはワークＷの複数の分類に対応して設けられ、かつ各開口部８ｘは対応するワーク収納箱１１５に排出パイプ８５，８６を介して接続されている。排出ブロック８１は多列に設けられた複数の開口部８ｘを有する複数の基本階層８１Ａを多段に積層することにより構成される。ワーク測定部７からの測定結果に基づいて制御部９が搬送テーブル２を回転させ、かつ排出ブロック８１を垂直方向に移動して、ワーク収納孔３内のワークＷを対応する分類の開口部８ｘに位置合わせする。 （もっと読む）

【課題】 特性検査装置或いはテーピング装置でのオフセット教示を簡略化すること、また、オフセット教示することによりチップ部品の特性検査を確実に行うことこと。
【解決手段】 特性検査装置５２は、チップ部品Ａに設けられたバンプ１００に向かい延びた接触端子７５を有したプローブ７３と、プローブとバンプとの重なった像を側方から撮像するカメラ８３を備え、カメラにより撮像された画像を表示するモニタ９０に表示させながら、操作スイッチ９２を操作し、接触端子７５とバンプ１００との位置を相対的に移動させる移動手段させ、移動量に基づいて、接触端子とバンプ１００とのずれを検出する。 （もっと読む）

【課題】検査対象体に対して確実に二重チェック以上のチェックを実行し得る良否判別装置を構成可能とする。
【解決手段】検査装置４，５は、同一のコンデンサ２に対して同一の静電容量値Ｃを測定する測定処理、および測定した静電容量値Ｃを予め設定された共通の判別用基準値Ｃｒと比較してコンデンサ２の良否を検査する検査処理をそれぞれ実行し、検査装置４，５による検査処理での検査結果Ｄｄに基づいてコンデンサ２の最終的な良否を決定する良否決定処理を実行する処理装置６と共に良否判別装置１を構成する。検査装置４は、自らの判別用基準値Ｃｒ４と他の検査装置５に設定されている判別用基準値Ｃｒ５とを比較して、その比較の結果を出力する比較処理を実行し、検査装置５は、自らの判別用基準値Ｃｒ５と検査装置４に設定されている判別用基準値Ｃｒ４とを比較して、その比較の結果を出力する比較処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】マルチ測定方式において、放熱設備などを大型化することなく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる電子部品の特性測定装置を得る。
【解決手段】ターンテーブル５０によって測定位置Ｃに搬送されてくる複数のチップ型コンデンサの外部電極に接触して絶縁抵抗を測定する測定器７５と、ターンテーブル５０や測定機７５などを制御するコントローラ８０を備えた特性測定装置。コントローラ８０は、予め求められている発熱係数と、印加電圧と、電圧印加時間とから発熱量を求めるとともに、予め求められている放熱係数と搬送時間とから放熱量を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、ターンテーブル５０及び測定器７５の動作を停止させる、あるいは、ターンテーブル５０による搬送時間を延長させる。 （もっと読む）

格納装置（６００）を搬送し、格納装置をテストスロット（５００、５００ｂ）内に載置する格納装置搬送器（４００、４００ｂ、４００ｃ）は、格納装置を受け取りサポートするように構成されたフレーム（４１０、４１０ｂ、４１０ｃ）を含む。フレームは、その間に格納装置を受け取るように構成され、格納装置と共にテストスロット中に挿入されるようなサイズを持つ側壁（４１８、４２５ａ、４２５ｂ、４２９ａ、４２９ｂ）を含む。フレームはまた、側壁の少なくとも一つと動作的に関連付けられているクランプ機構（４５０）を含む。クランプ機構は、第一の係合エレメント（４７６、７００、７５０）と、第一の係合エレメントの動きを始動するように動作し得る第一のアクチュエータ（４５４、７１０、７６０）を含む。第一のアクチュエータは、フレームによってサポートされている格納装置がテストスロット中のテスト位置に配置された後に、第一の係合エレメントをテストスロットと係合するよう動かすように動作し得る。
（もっと読む）

記憶装置試験システム（１００）は床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）を規定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）を具備する。ロボットアームは、第１の軸の周囲を所定の円弧で回転することができ、第１の軸から半径方向に延びる。ロボットアームによってサービスされるために、複数の棚（３００）がロボットアームの周囲に配置される。試験のために記憶装置（５００）を運ぶように構成される記憶装置転送部（５５０）をそれぞれが受け取るように構成される複数の試験スロット（３１０）が、それぞれの棚に収納される。転送ステーション（４００）は、ロボットアームによってサービスされるために配置される。転送ステーションは、それぞれが記憶装置運搬部（４５０）を受け取るように構成される複数の運搬収納部（４２０）を具備する。 （もっと読む）

【課題】所望する傾斜状態で電子デバイスの電気的特性の検査を行なうことができる電子デバイス検査装置を提供する。
【解決手段】加速度センサー等の電子デバイスを検査する電子デバイス検査装置に、電子デバイスを温度調整する温度調整手段３０、鉛直方向と直交する第１の水平方向を軸心として第１のモータ３５により回転される第１の軸部３６、第１の水平方向を軸心として回転される挟持手段２８、挟持手段２８の固定された第１の軸部３６を第２のモータ３８により任意の角度に回転させる第２の軸部３９を備える。これにより、挟持手段２８に挟持された電子デバイスを保持した治具７を、第１の軸部３６と第２の軸部３９からなる２軸により任意の方向に自由に傾斜させることができるので、温度調整手段３０で所定の温度になされた電子デバイスを所望する任意の方向に傾斜させた状態で電気的特性の検査を行なうことができる。 （もっと読む）