【課題】従来に比べて蛍光検出をより正確に行うことができる蛍光検出装置、蛍光検出方法、および蛍光検出装置の診断方法を提供する。
【解決手段】蛍光検出装置は、レーザ光の照射により測定対象物が発する蛍光の受光信号を処理して処理信号を生成する信号処理部と、蛍光の蛍光強度および蛍光緩和時間を算出する分析部と、を有する。分析部は、また、処理信号を用いて、蛍光の受光部あるいは前記信号処理部の異常の有無を判定する。さらに、レーザ光の波長を、受光部の前面に設けたフィルタを透過する光の波長にシフトする波長変換素子が、レーザ光の光路上に挿入自在に設けられる。この蛍光検出装置は、前記波長変換素子が前記光路外の位置に配された状態で、蛍光を検出する測定モードと、前記波長変換素子が前記光路内の位置に配され前記測定対象物が前記測定点に位置しない状態で、前記分析部において、装置における伝送・処理遅延を診断する診断モードと、を切り替えて用いる。 （もっと読む）

【課題】装置の動作異常の原因究明を短時間で簡単に行え、その異常部分を短時間で正常にすることができるＸ線分析装置および発光分析装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線分析装置は、試料Ｓに１次Ｘ線２を照射し発生する２次Ｘ線６の強度をＸ線検出器７で測定する装置であって、分析室１０の真空度と温度、Ｘ線検出器７の高電圧、Ｘ線検出器７のフローガス流量のうちの少なくとも１つの計測値を求める計測手段１３と、当該装置の動作の異常を検出する異常検出手段２１と、現時点以前の所定の時間内の計測値の時系列を記憶しながら現時点以前の所定の時間内から外れた計測値の時系列を順に消去する記憶手段２２と、異常検出手段２１が異常を検出すると、記憶手段２２から記憶されている計測値の時系列を読出して記憶し、警告情報または異常情報、および記憶した時系列を表示手段２３に表示させる管理手段２５とを備える。 （もっと読む）

【課題】成分元素のスペクトル強度のばらつきを抑える。
【解決手段】蓄放電手段に蓄えられたエネルギーを、電極と試料との間のギャップに供給してパルス発光を生じる発光分光分析装置において、パルス発光前の前記蓄放電手段に充電するエネルギーを検出する検出手段と、パルス発光後の前記蓄放電手段に残留するエネルギーを検出する検出手段とを備える。検出された光が蓄放電手段に蓄えた十分なエネルギーによって得られた発光か否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】 発光電源にかかる負荷を適切に管理することにより、発光電源のメンテナンスを適切な周期で実行できる発光分析装置システムの提供。
【解決手段】 固体試料６の分析面６ａと対向電極３との間で放電を行うことで発生した発光光が導入されることにより、発光光を輝線スペクトルに分光する分光器４と、複数の受光素子５ａを有する光検出器５と、１回の発光分析で発光電源３３によって対向電極３にパルス状の電圧を印加することにより、固体試料６の分析面６ａと対向電極３との間で複数回の放電を行う発光電源部３０と、輝線スペクトルの強度を示す測定データを取得する発光分析装置制御部４１と、元素の濃度を算出するデータ処理部２０とを備える発光分析装置システム１であって、発光電源部３０は、固体試料６の分析面６ａと対向電極３との間で放電を行った放電回数を計数することにより、放電を過去に行った累積放電回数を記憶する記憶部３２を備える。 （もっと読む）

本発明は、媒体を汚染に晒すことなく媒体中の検体を測定するシステムおよび方法を提供する。システムおよび方法は、ルアーキャップに埋め込まれ、読取りデバイスにデータを無線で送信することができる、小型のセンサデバイスの新規な組み合わせを用いる。
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【課題】安定で制御可能なプラズマを得ること。
【解決手段】プラズマを生成するプラズマ生成部と、独立して制御可能な第１電力と第２電力をプラズマ生成部に付与する電源と、を備え、第１電力は、プラズマを始動する高電圧小電流であり、第２電力は、プラズマを維持する低電圧大電流である、プラズマ生成装置、及び、プラズマガスに高電圧小電流の第１電力を付与してプラズマガスを始動状態にし、プラズマガスの始動状態に低電圧大電流の第２電力を付与してプラズマ状態を維持する、プラズマ生成方法。 （もっと読む）

【課題】１パルスの放電における試料の発光状態について詳細なデータが得られるようにする。
【解決手段】分光部６は、光検出器から出力される光電流を１０μ秒以下の時間分解能をもってＡＤ変換するＡＤ変換部８に電流‐電圧変換部１１を介して接続されている。ＡＤ変換部８はメモリ２４に接続されており、ＡＤ変換部８でデジタル変換されたデータが時系列的にメモリ２４に格納される。演算処理部１２はメモリ２４に格納されているデータを用いて、１パルスの放電において作業者が任意に設定した領域のデジタルデータを積算処理する。
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【課題】透過光を用いて、細胞などの被観察物の位置制御と蛍光記録ができる顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】顕微鏡装置１は、被観察物２を載置し被観察物の位置を制御するためのステージ３と、被観察物を透過しその位置を検出する透過用光源４と、被観察物に蛍光を生じさせる蛍光励起光源５と、被観察物へ透過用光源及び蛍光励起光源からの光を入射する入射光学系１５と、被観察物を透過する光を検出する第１検出光学系１６と、被観察物からの蛍光を検出する第２検出光学系１７と、制御部２０と、を備え、制御部２０は、第１検出光学系１６から被観察物の画像情報が入力され、画像情報によりステージ３を被観察物２を追尾するように制御すると共に、被観察物２の蛍光情報の取得を制御する。 （もっと読む）

【課題】励起光を照射することによって画像担体に記録された画像を読み取る画像読取装置において、経時的な変動に起因する画像の濃度誤差を定量的に判断できるようにする。
【解決手段】画像読取装置のコントローラは、画像読み取りを行う際に、値が変動する可能性のある複数の変動要因を画像データとともに取得する。コントローラには、変動量算出部が設けられている。変動量算出部は、取得された各変動要因の測定結果を基に、各変動要因の変動量を算出する。変動量は、予め各変動要因に設定された定量化係数を乗じることにより、各変動要因が画像データに与える影響を定量化して算出される。これにより、各変動量を見ることによって、画像読取装置の経時的な変動に起因する濃度誤差が、取得した画像データにどの程度含まれているかを定量的に判断することができる。 （もっと読む）

【課題】導電性を備えた部材が他の部材と面接触して用いられる場合の面接触状況の新たな計測手法を提供する。
【解決手段】面接触状況計測器１００は、アクリルプレート１１０と導電プレート１２０との間に、面接触状況の測定対象（例えばガス拡散層２２）を挟持する。アクリルプレート１１０は、面接触計測時において陽極となる透明電極１１２に発光体１１４を積層して備える。この発光体１１４は、透明電極１１２に接合する正孔輸送層１１４ａと測定対象に面接触する電子輸送層１１４ｃを備え、両輸送層の間の有機エレクトロルミネッセンス発光層１１１４ｂは、正孔輸送層１１４ａからの正孔と電子輸送層１１４ｃからの電子との結合による電界発光現象を起こす。この発光現象は、電子輸送層１１４ｃと測定対象との面接触状況に依存することから、光量計測を介して、面接触状況を計測する。 （もっと読む）

【課題】 スパッタリングによる影響を排除して、高精度の測定を安定して行えるようにする。
【解決手段】 グロー放電発光分析装置は、生成した高周波電力の高周波電圧に係る平均電圧値が一定となるように生成する高周波電力の電力値を変更する。グロー放電発光分析装置が有する電源部のジェネレータは、試料へ印加する高周波電圧の平均電圧値を検出し、検出電圧値とユーザにより設定された基準電圧値とを比較し、検出電圧値が基準電圧値に比べて高い場合、生成する高周波電力の値を低下させ、検出電圧値が基準電圧値に比べて低い場合、高周波電力の値を上昇させ、給電中は試料に印加される電圧値を基準電圧値と同等にしてスパッタリングの安定を図り、それに伴い発光強度の振れを抑制して安定した測定結果を得る。 （もっと読む）

【課題】 スパッタリングによる測定レベルの低下を防止して、高精度の測定結果を短時間で取得可能にする。
【解決手段】 グロー放電発光分析装置１は、試料Ｓへ高周波電圧を断続的に印加する電源部３を備えると共に、分光器７から第１基板１６が断続印加中の単位印加の時期に同期して測定値の取得を行い、断続印加中の非印加時に係るノイズが混入した測定値の取得を防止すると共に、試料Ｓの電圧印加に対する悪影響を低減して高電圧値を試料Ｓへ印加し、高レベルの測定値を得る。また、第１基板１６は単位印加の時期に測定値を複数回取得することで、分析制御部８は短時間に多数の測定値を得て、測定時間の短縮化を図る。 （もっと読む）

光信号内に誘起された位相ずれを測定する装置が、サンプル（たとえば、蛍光性サンプル）を含む測定光路に沿って光信号を発する第１の光源と、ダミー測定光路に沿って光信号を発する第２の光源とを含む。光信号を受け取り、それぞれの光信号の位相を表す出力を別々のタイミングで与える測定電子回路が与えられる。運用時には、蛍光性サンプルによって、測定光路内の光に位相ずれが誘起される。第１および第２の光源から発せられた光信号の位相を表す信号を受け取る基準電子回路が与えられる。それら２つの回路から出力される光のそれぞれの位相を比較して、第１の光源の動作時の、第１の測定された位相差を表す出力を与える回路が与えられる。次に、この測定値に補正が適用されるが、それは、第２の光源の動作時に同様の位相差測定値を取得して、２つの位相差を比較することによって行われる。
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