説明

Fターム[4K022BA03]の内容

化学的被覆 (24,530) | 被膜 (7,733) | Au (602)

Fターム[4K022BA03]に分類される特許

601 - 602 / 602


【課題】 金属酸化物と導体膜との間の良好な密着性を確保し、かつ導体損失を低減させて共振特性を向上させることのできるようにした。
【解決手段】 表面の平滑なセラミック素体1を作製した後(a)、Znの酸化還元電位よりも電気化学的に卑な電位を有する両性金属の金属イオン、例えばAl3+、Si4+を添加したZn溶液を調製し、セラミック素体1をZn溶液に浸漬して該セラミック素体1の表面にZn皮膜2を形成し(b)、この後、無電解めっき処理を施してZn皮膜2上にめっき皮膜3を形成する(c)。 (もっと読む)


【課題】半導体装置用テープキャリアにおけるソルダーレジスト下方のリード配線の銅の過剰溶解を防止すると共に、スズめっきのホイスカを抑制する。
【解決手段】絶縁フィルム1上に接着剤層2を介して施された銅箔3の表面の全面にスズめっき層4を厚さ0.01〜0.2μm形成した後、加熱処理し、その後フォトレジストをコートし、露光、現像、エッチング、剥膜処理することにより銅箔3に微細配線パターン30を形成し、その後、前記配線パターン上に、その端子部分を除く所定の位置にソルダーレジスト6を塗布した後、前記端子部分に、厚さ0.15〜0.80μmのスズめっき層4を形成し、加熱処理することにより、厚さ0.20μm以上のスズ−銅合金層5bと厚さ0.15〜0.80μmの純スズ層4bを形成する。 (もっと読む)


601 - 602 / 602