説明

ドープ石英ガラスの製造方法

【課題】半導体製造に用いられかつプラズマ耐食性に優れたドープ石英ガラスの製造方法を提供する。
【解決手段】半導体製造に用いられるプラズマ反応用治具材料としてプラズマ耐食性に優れかつ2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有するドープ石英ガラスをベルヌイ法で石英粉から製造する方法であって、前記石英粉が、2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有し、前記ドープ元素が、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含む混合石英粉であり、該混合石英粉を加熱溶融落下させ石英ガラスインゴットを作成する際、該石英ガラスインゴット表面温度を、1800℃以上に加熱するようにした。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、半導体製造に用いられかつプラズマ耐食性に優れたドープ石英ガラスの製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
半導体の製造、例えば半導体ウェーハの製造においては、近年における大口径化の増大とともにエッチング工程などにおいてプラズマ反応装置を用いることによって処理効率を向上させることが行われている。例えば、半導体ウェーハのエッチング工程においては、プラズマガス、例えばフッ素(F)系プラズマガスを用いたエッチング処理が行われる。
【0003】
しかし、従来の石英ガラスを、例えばF系プラズマガス雰囲気中に置くと、石英ガラス表面でSiOとF系プラズマガスが反応して、SiFが生成し、これは、沸点が−86℃である為容易に昇華し、石英ガラスは多量に腐食して、減肉したり面荒れが進行し、F系プラズマガス雰囲気では、治具としての使用に適さなかった。
【0004】
このように、従来の石英ガラスは、半導体製造におけるプラズマ反応、特にF系プラズマガスを用いるエッチング処理に対しては耐食性、即ちプラズマ耐食性に大きな問題が生じていた。そこで、アルミニウムやアルミニウム化合物を石英ガラス部材表面に被覆してプラズマ耐食性を向上させる提案(特許文献1〜3)や、石英ガラスに対してアルミニウムを含有せしめることによってプラズマ耐食性を向上させたプラズマ耐食性ガラスについての提案がなされている(特許文献4)。
【0005】
この手法によると、石英ガラス粉にアルミナ粉を5wt%混合したものを、真空下で加熱溶融して石英ガラスを作成し、プラズマ耐食性を調査した。すると、全くドープしていない石英ガラス部材に比べてエッチング速度が40%〜50%低下する。
というのも、F系プラズマガスと反応して生成するAlFの沸点は1290℃で、SiFよりもはるかに高温である為、SiF部分が多量に腐食する一方で、AlF部分は表面における昇華が少なく、エッチング量の差違が拡大する為と推定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0006】
【特許文献1】特開平9−95771号公報
【特許文献2】特開平9−95772号公報
【特許文献3】特開平10−139480号公報
【特許文献4】特開平11−228172号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
しかし、これらの部材のエッチング速度は、セラミック治具などに比較してまだまだ大きく、さらなるエッチング速度の低下が、強く求められた。
本発明は、半導体製造に用いられかつプラズマ耐食性に優れたドープ石英ガラスの製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
上記課題を解決するため、本発明のドープ石英ガラスの製造方法は、半導体製造に用いられるプラズマ反応用治具材料としてプラズマ耐食性に優れかつ2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有するとともに、前記ドープ元素として、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含むドープ石英ガラスをベルヌイ法で石英粉から製造する方法であって、前記石英粉が、2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有し、前記ドープ元素が、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含む混合石英粉であり、該混合石英粉を加熱溶融落下させ石英ガラスインゴットを作成する際、該石英ガラスインゴット表面温度を、1800℃以上に加熱することを特徴とする。前記石英ガラスが2種以上のドープ元素を併せて1.0〜17質量%含有することがより好ましい。
【0009】
加熱雰囲気エリアに還元性ガスが供給され、供給される水素/酸素の比率が2.5以上であることが好ましい。また、加熱雰囲気エリアにNまたはCを含むガスが供給されることが好適である。
【0010】
本発明のドープ石英ガラスの製造方法において、前記作成された石英ガラスインゴットを2kg/cm以上の圧力下の不活性ガス雰囲気中にて1500℃以上の温度で再度加熱成型することが好ましい。該加熱成型処理により、ガラスインゴット中に残留する泡、クラックを除去することができる。
【0011】
前記ドープ石英ガラス及び前記混合石英粉における前記第1の元素の総和(M1)と、前記第2の元素の総和(M2)の配合比が、原子数比率で(M1)/(M2)=0.1〜20であることが好ましい。
【0012】
前記ドープ元素が、さらにAlを含むことが好適である。その場合、前記ドープ石英ガラス及び前記混合石英粉における前記第1の元素及びAlの総和(M1+Al)と、前記第2の元素の総和(M2)の配合比が、原子数比率で(M1+Al)/(M2)=0.1〜20であることが好適である。
【0013】
前記混合石英粉が、前記ドープ元素を各々又は併せて含有する1種以上の揮発性物質の気体を、水酸基を有する石英粉中に拡散させて、200℃〜1100℃の温度領域で加熱処理することによって得られるのが好ましい。このような加熱処理を行うことによって混合石英粉が好適に製造される。
【0014】
また、前記混合石英粉が、前記ドープ元素及び石英粉を含む溶液を乾燥することによって得られるのが好適である。該方法により混合石英粉が好適に製造される。
【発明の効果】
【0015】
本発明によれば、半導体製造に用いられかつプラズマ耐食性に優れたドープ石英ガラスの製造方法が提供される。
【発明を実施するための形態】
【0016】
以下に本発明の実施の形態を説明するが、これらは例示的に示されるもので、本発明の技術思想から逸脱しない限り種々の変形が可能なことはいうまでもない。
【0017】
本発明のドープ石英ガラスの製造方法によって製造されるドープ石英ガラスは、2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%、より好ましくは1.0〜17質量%含有する石英ガラスであって、前記ドープ元素として、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含むものである。
【0018】
前記第1の元素は、F系プラズマガスとの化学的エッチング反応を抑制し、全体のエッチング速度を低下させることができる。さらに、前記第2の元素は、Alに比べて弗化物となったときの沸点が高く、エッチング速度をより低下させることができる。例えばNdFの沸点は2327℃であるので、プラズマ耐食性を調査すると、全くドープしていない石英ガラス部材に比べてエッチング速度を低下させることができる。結果として、エッチング速度は、70%〜95%低下した。
【0019】
また、前記第1の元素は、前記第2の元素と共存することで、電気的に安定し、原子状態での分散がよくなり、縮合して白色異物を形成することがなくなり、クラック発生からのパーティクル発生が抑制されるとともに、石英ガラス内でより安定化して、エッチング速度をより低下させることができる。さらに、前記第1の元素は、半導体製造工程では最も影響の小さい元素であるので、好適である。
【0020】
上記石英ガラスにおいて、前記第1及び第2の元素に加えて、Alが含有された場合、石英ガラス中での電気的安定性は増し、白色異物の発生の抑制により効果的である。
【0021】
前記第1の元素及びAlの総和(M1+Al)と、前記第2の元素の総和(M2)の配合比が、原子数比率で(M1+Al)/(M2)=0.1〜20、より好ましくは0.2〜18であると、電気的な安定度がよく、白濁、泡、異物等の発生が少量に抑制される為、好適である。
【0022】
本発明のドープ石英ガラスの製造方法は、半導体製造に用いられるプラズマ反応用治具材料としてプラズマ耐食性に優れかつ2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有するとともに、前記ドープ元素として、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含むドープ石英ガラスをベルヌイ法で石英粉から製造する方法であって、前記石英粉が、2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有し、前記ドープ元素が、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含む混合石英粉であり、該混合石英粉を加熱溶融落下させ石英ガラスインゴットを作成する際、該石英ガラスインゴット表面温度を、1800℃以上に加熱することを特徴とする。前記ドープ石英ガラス及び前記混合石英粉において、上記したドープ元素の含有量としては、1.0〜17質量%がさらに好ましい。
【0023】
言い換えれば、本発明のドープ石英ガラスの製造方法は、石英粉を用いてベルヌイ法により石英ガラスインゴットを作成するもので、該石英粉としては混合石英粉を用いるものである。該混合石英粉を加熱溶融落下させ、石英ガラスインゴットを作成する際に、該石英ガラスインゴットの表面温度を1800℃以上、好ましくは1900〜2100℃に加熱することが十分な溶融に好適である。
【0024】
該混合石英粉は、ドープ元素として前記第1の元素及び第2の元素に加えてAlをさらに含むことが好ましい。前記混合石英粉の平均粒度が0.1〜100μmであることが好ましく、10〜50μmがより好ましい。
【0025】
該混合石英粉中の各ドープ元素の配合割合は、ドープ元素の総含有量が0.1〜20質量%となる範囲内であればよく特に限定されないが、前記第1の元素とAlの総和(M1+Al)と、第2の元素の総和(M2)の配合比が、原子数比率で(M1+Al)/(M2)=0.1〜20であることが好ましく、0.2〜18であることがより好ましい。
【0026】
前記ベルヌイ法が、酸水素火炎を用いるベルヌイ法である場合、加熱雰囲気エリアに還元性ガスが供給され、供給される水素/酸素の比率が2.5以上であることが好ましく、3.0〜6.0がより好ましい。
また、加熱雰囲気エリアにNまたはCを含むガスが供給されることにより、NまたはCを効率的に混合することができる。前記N又はCを含むガスとしては、N、NH、揮発性有機珪素化合物、プロパンガスなどが好適である。
【0027】
本発明の石英ガラスの製造方法において、作成された石英ガラスインゴット中に、泡やクラックが残留している場合、そのインゴットを2kg/cm以上、好ましくは4.0〜10kg/cmの圧力下の不活性ガス雰囲気中にて1300℃以上、好ましくは1600〜1900℃の温度で加熱成型することにより、インゴット中に残留していた泡及びクラックを減少させることができる。前記不活性ガスとしては、例えば、He、N、Ar等が挙げられる。
【0028】
該混合石英粉の製造方法は特に限定されないが、例えば、ドープ元素を含む粉体と石英粉とを混合することにより得ることが好適である。前記ドープ元素を含む粉体としては、特に限定されず、ドープ元素からなる単体又はドープ元素を含む化合物の粉体を用いることができる。具体的には、例えば、SiN、SiC、AlF3、Alの酸化物、第2の元素の酸化物等が挙げられる。
【0029】
また、前記ドープ元素を含む1種以上の揮発性物質の気体を、水酸基を有する石英粉中に拡散させて、200〜1100℃の温度領域で加熱処理し、混合石英粉を得ることができる。前記ドープ元素を含む揮発性物質としては、該ドープ元素を1種以上含む揮発性物質であれば特に限定されないが、例えば、塩化アルミニウム、塩化イットリウム、ヘキサメチルジシラザン、SiF4等の揮発性ガスが挙げられる。前記石英粉中に含まれる水酸基の含有量は特に限定されないが、50〜200ppmが好ましい。
【0030】
またさらに、前記ドープ元素と石英粉とを含む溶液を乾燥して混合石英粉を作成してもよい。該溶液は、ドープ元素を含む物質を溶媒に混合溶解して作成された溶液と、石英粉とを混合して得られるスラリー溶液が好ましい。前記溶媒としては特に制限はなく、例えば、純水、酸性溶液、塩基性溶液及び有機溶媒等が挙げられる。
前記ドープ元素を含む物質は、1種以上のドープ元素を含み且つ用いる溶媒に溶解される物質であればよく特に限定されず、ドープ元素からなる単体やドープ元素を含む化合物が使用でき、例えば、硝酸アンモニウム、硝酸アルミニウム及び硝酸イットリウム等のドープ元素を含む硝酸塩,シリコーン化合物,弗化アンモニウム,アンモニア,SiF4,ドープ元素の酸化物等が挙げられる。
【実施例】
【0031】
以下に実施例をあげて本発明をさらに具体的に説明するが、これらの実施例は例示的に示されるもので限定的に解釈されるべきでないことはいうまでもない。
【0032】
(実施例1)
石英粒子933g、Y粉38g、SiN粉13g及びSiC粉17gを混合して得た混合石英粉を、酸水素火炎中に、50g/分の速度で、1rpmで回転するターゲットインゴット上に溶融落下させ、100mmφ×60mmの石英インゴットを作成した。使用するガス条件は、Hが300L/分、Oが100L/分、とした。インゴット成長面の温度は1950℃であった。
前記得られたインッゴット内部の泡、異物を光学的目視法で検査したところ、泡と異物の含有量が100cm当りの投影面積で5mmであった。また、可視光線の内部透過率が80%/cmであった。
【0033】
前記作成されたインゴットを加熱処理炉中にセットして、N雰囲気中にて6kg/cmの圧力下で、1800℃に1時間保持して、240mmφ×10mm厚に成形した。
得られたガラス成形体からサンプルを切り出し、ガラス体中の元素濃度を蛍光X線分析で測定したところ、Y:3.0wt%であった。1000℃の脱ガス分析から、NとCの含有量を測定した結果、Nが500ppm、Cが500ppm検知された。
【0034】
また、得られたガラス成形体から外径220mmφ×内径170mmφ×5mmtのリング状冶具を切り出し加工した。切り出した冶具の内径部分にシリコンウェーハをセットし、併せてエッチング装置中にセットして、CF+O(20%)のプラズマガスを50sccm掛け流し、30torr、1kw、100時間のエッチング試験を行った。試験前後の厚さ変化からエッチング速度を算出し、10nm/分の結果を得た。
【0035】
(実施例2)
石英粒子946g、Al粉38g、Y粉13g、SiN粉1g、SiC粉1g及びAlF粉1gを混合して得た混合石英粉を、酸水素火炎中に、50g/分の速度で、1rpmで回転するターゲットインゴット上に溶融落下させ、100mmφ×60mmの石英インゴットを作成した。使用するガス条件は、Hが300L/分、Oが100L/分、NHが10L/分、プロパンガスが10L/分、とした。インゴット成長面の温度は1950℃であった。
【0036】
作成されたインゴットを実施例1と同様に処理し、評価し、同等の結果を得た。但し、インッゴット内部の泡、異物を光学的目視法で検査したところ、泡と異物の含有量が100cm当りの投影面積で4mmであった。また、Y、Al、N、C及びFについて、得られたガラス成形体からサンプルを切り出し、ガラス体中の元素濃度を蛍光X線分析で測定したところ、順に、1.0wt%、2.0wt%、300ppm、300ppm、300ppmであった。
【0037】
(実施例3)
石英粒子721g、Al粉246g、Y粉32g、SiN粉1g、SiC粉1g及びAlF粉1gを混合して得た混合石英粉を、酸水素火炎中に、50g/分の速度で、1rpmで回転するターゲットインゴット上に溶融落下させ、100mmφ×60mmの石英インゴットを作成した。使用するガス条件は、Hが300L/分、Oが100L/分、NHが10L/分、プロパンガスが10L/分、とした。インゴット成長面の温度は1950℃であった。
【0038】
作成されたインゴットを実施例1と同様に処理し、評価し、同等の結果を得た。但し、インッゴット内部の泡、異物を光学的目視法で検査したところ、泡と異物の含有量が100cm当りの投影面積で4mmであった。また、Y、Al、N、C及びFについて、得られたガラス成形体からサンプルを切り出し、ガラス体中の元素濃度を蛍光X線分析で測定したところ、順に、2.5wt%、13.0wt%、300ppm、300ppm、300ppmであった。
【0039】
(実施例4)
石英粒子960g、Al粉38g、Nd粉12g、SiN粉1g、SiC粉1g及びAlF粉1gを混合して得た混合石英粉を、酸水素火炎中に、50g/分の速度で、1rpmで回転するターゲットインゴット上に溶融落下させ、100mmφ×60mmの石英インゴットを作成した。使用するガス条件は、Hが300L/分、Oが100L/分、NHが10L/分、プロパンガスが10L/分、とした。インゴット成長面の温度は1950℃であった。
【0040】
作成されたインゴットを実施例1と同様に処理し、評価し、同等の結果を得た。但し、インッゴット内部の泡、異物を光学的目視法で検査したところ、泡と異物の含有量が100cm当りの投影面積で4mmであった。また、Nd、Al、N、C及びFについて、得られたガラス成形体からサンプルを切り出し、ガラス体中の元素濃度を蛍光X線分析で測定したところ、順に、1.0wt%、2.0wt%、300ppm、300ppm、300ppmであった。
【0041】
(実施例5)
塩化アルミニウム、塩化イットリウム、ヘキサメチルジシラザン、SiF4の揮発性ガスを、水酸基を有する石英粉中に拡散させて600℃で加熱処理し、Nを300ppm、Cを300ppm、Fを300ppm、Alを2.0wt%、Yを1.0wt%含有させた混合石英粉を得た。
得られた混合石英粉を用いて、実施例2と同様な方法で石英ガラス体を作成/評価し、実施例2と同等の結果を得た。
【0042】
(実施例6)
石英粉を、硝酸アルミニウムと硝酸イットリウムと弗化アンモニウムとシリコーン化合物の混合溶液中に溶いて、実施例2と各金属濃度が同等になるようにして作成されたスラリー溶液を乾燥し、Nを300ppm、Cを300ppm、Fを300ppmとAlを2.0wt%、Yを1.0wt%含有させた混合石英粉を得た。
得られた混合石英粉を用いて、実施例2と同様な方法で石英ガラス体を作成/評価し、実施例2と同等の結果を得た。
【0043】
(実験例1)
実施例2と同様の混合石英粉をカーボン鋳型に充填し、1800℃、N2ガス中で、4kg/cm2の圧力下で加熱溶融し、インゴットを作成し、その後、実施例1と同じ処理を行い、石英ガラス成形体を作成した。実施例2と同様のサンプルを作成し、各評価を行ったところ、実施例2と同様の評価結果が得られた。
【0044】
(実験例2)
実施例2と同様の混合石英粉を、石英管の中に詰めて、管内を減圧に引きながら管外面より1800℃に加熱溶融してインゴットを作成し、その後実施例1と同じ処理を行い、石英ガラス成形体を作成した。実施例2と同様のサンプルを作成し、各評価を行ったところ、実施例2と同様の評価結果が得られた。
【0045】
(実験例3)
塩化アルミニウム、塩化イットリウム、ヘキサメチルジシラザン、SiF4の揮発性ガスを、水酸基を有する石英スート中に拡散させて600℃で加熱処理した後、1800℃、N2ガス中で、4kg/cm2の圧力下で加熱溶融してインゴットを作成し、その後、実施例2と同じ処理を行い、石英ガラス成形体を作成した。実施例1と同様のサンプルを作成し、各評価を行ったところ、それぞれ実施例2と同様の評価結果が得られた。
【0046】
(実験例4)
硝酸アルミニウム、硝酸イットリウム、アンモニア、エチルアルコール、SiF4の混合溶解された溶液中に、石英スート体を漬し、乾燥後、1800℃、N2ガス中で、4kg/cm2の圧力下で加熱溶融した以外は実施例2と同じ処理を行い、石英ガラス成形体を作成した。実施例2と同様のサンプルを作成し、各評価を行ったところ、それぞれ実施例2と同様の評価結果が得られた。
【0047】
(実験例5)
実施例2と各ドープ元素濃度が同等になるように硝酸アルミニウムと硝酸イットリウムと弗化アンモニウムの濃度を調整した水溶液中に、石英粉を混合溶解して作成されたスラリー溶液を乾燥し、得られた多孔質体を、ヘキサメチルジシラザン気体中に置いて、600℃で1時間処理し、その後、1800℃、N2ガス中で、4kg/cm2の圧力下で加熱溶融してインゴットを作成し、その後、実施例1と同じ処理を行い、石英ガラス成形体を作成した。実施例2と同様のサンプルを作成し、各評価を行ったところ、実施例2と同様の評価結果が得られた。
【0048】
(実験例6)
塩化アルミニウム、塩化イットリウム、ヘキサメチルジシラザン、SiF4の揮発性ガ
スを、水酸基を有する石英粉中に拡散させて600℃で加熱処理し、Nを300ppm、Cを300ppm、Fを300ppm、Alを2.0wt%、Yを1.0wt%含有させた混合石英粉を得た。
得られた混合石英粉を用いて、実施例5又は6と同様な方法で石英ガラス体を作成/評価し、実施例2と同等の結果を得た。
【0049】
(実験例7)
石英粉を、硝酸アルミニウムと硝酸イットリウムと弗化アンモニウムとシリコーン化合物の混合溶液中に溶いて、実施例2と各金属濃度が同等になるようにして作成されたスラリー溶液を乾燥し、Nを300ppm、Cを300ppm、Fを300ppmとAlを2.0wt%、Yを1.0wt%含有させた混合石英粉を得た。
得られた混合石英粉を用いて、実施例5又は6と同様な方法で石英ガラス体を作成/評価し、実施例2と同等の結果を得た。
【0050】
(比較例1)
石英粒子1000gをカーボン鋳型に充填し、真空雰囲気において、1800℃、1時間の加熱処理を行い、100mmφ×60mmの透明ガラス体を作成した。また、実施例1と同様のサンプルを作成し、プラズマエッチングテストを行ったところ、エッチング速度は、120nm/分であった。その他の評価結果は実施例1と同じであった。
【0051】
(比較例2)
石英粒子944g及びAl粉56gを混合して得た混合石英粉を用いて、実施例1と同様にサンプルを作成し、評価を行った。エッチング速度は、70nm/分であった。
【0052】
(比較例3)
石英粒子962g及びY粉38gを混合して得た混合石英粉を用いて、実施例1と同様にサンプル作成し、評価した。石英ガラス体中には、多数の白濁点(異物)が残った。エッチング速度は、60nm/分であった。
【0053】
(比較例4)
石英粒子546g、Al粉416g及びY粉38gを混合して得た混合石英粉を用いた以外は実施例1と同様にして実験を行った。前記混合石英粉中の金属元素濃度は25質量%、Al/Yの原子数比は24であった。得られた石英ガラス体中には、多数の泡が残った。エッチング速度は、60nm/分であった。
【0054】
【表1】


【特許請求の範囲】
【請求項1】
半導体製造に用いられるプラズマ反応用治具材料としてプラズマ耐食性に優れかつ2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有するとともに、前記ドープ元素として、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含むドープ石英ガラスをベルヌイ法で石英粉から製造する方法であって、前記石英粉が、2種以上のドープ元素を併せて0.1〜20質量%含有し、前記ドープ元素が、N、C及びFからなる群から選択される1種以上の第1の元素と、Mg、Ca、Sr、Ba、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、ランタノイド及びアクチノイドからなる群から選択される1種以上の第2の元素とを含む混合石英粉であり、該混合石英粉を加熱溶融落下させ石英ガラスインゴットを作成する際、該石英ガラスインゴット表面温度を、1800℃以上に加熱することを特徴とするドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項2】
加熱雰囲気エリアに還元性ガスが供給され、供給される水素/酸素の比率が2.5以上であることを特徴とする請求項1記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項3】
加熱雰囲気エリアにNまたはCを含むガスが供給されることを特徴とする請求項1記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項4】
前記製造された石英ガラスインゴットを2kg/cm以上の圧力下の不活性ガス雰囲気中にて1500℃以上の温度で加熱成型することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項5】
前記ドープ石英ガラス及び前記混合石英粉における前記第1の元素の総和(M1)と、前記第2の元素の総和(M2)の配合比が、原子数比率で(M1)/(M2)=0.1〜20であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項6】
前記ドープ石英ガラス及び前記混合石英粉における前記ドープ元素が、さらにAlを含むことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項7】
前記ドープ石英ガラス及び前記混合石英粉における前記第1の元素及びAlの総和(M1+Al)と、前記第2の元素の総和(M2)の配合比が、原子数比率で(M1+Al)/(M2)=0.1〜20であることを特徴とする請求項6記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項8】
前記混合石英粉が、前記ドープ元素を各々又は併せて含有する1種以上の揮発性物質の気体を、水酸基を有する石英粉中に拡散させて、200℃〜1100℃の温度領域で加熱処理することによって得られることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項記載のドープ石英ガラスの製造方法。
【請求項9】
前記混合石英粉が、前記ドープ元素及び石英粉を含む溶液を乾燥することによって得られることを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項記載のドープ石英ガラスの製造方法。

【公開番号】特開2012−224544(P2012−224544A)
【公開日】平成24年11月15日(2012.11.15)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2012−178754(P2012−178754)
【出願日】平成24年8月10日(2012.8.10)
【分割の表示】特願2006−236178(P2006−236178)の分割
【原出願日】平成18年8月31日(2006.8.31)
【出願人】(000190138)信越石英株式会社 (183)
【Fターム(参考)】