【課題】ＩＣチップのパッドとそれに接続される伝送線路との間のインピーダンス不整合によって起こる反射を抑制する。
【解決手段】ＩＣチップ１０とコネクタの間に設けられた中継用基板３０Ａ、３０Ｂとして、インジウム・リンまたはガリウム・砒素からなる基板に半導体製造プロセスの微細加工技術により、コプレーナ線路の線路導体３２ａ、３２ｂを、ＩＣチップ寄りの一端側の幅および間隔がＩＣチップ１０のパッド１１ａ、１１ｂの幅および間隔とほぼ等しく、且つＩＣチップ１０から離間する方向へ延びた他端側の間隔が一端側より広くなるように形成し、その一端側とＩＣチップ１０のパッド１１ａ、１１ｂの間を接続するボンディングワイヤ４５によるインピーダンス上昇を抑制するための可変容量回路３５を、線路導体３２ａ、３２ｂの一端側とアースとの間に形成している。 （もっと読む）

【課題】本発明は、自励発振型の光パルス発生器２を用いた場合に、サンプリング周波数を調整してアイ波形の時間軸方向のデータの欠落を回避することを目的とする。
【解決手段】本願発明の光信号モニタ装置は、サンプリング用光パルスＰｓを出力する光パルス発生器２と、サンプリング用光パルスＰｓに従って被測定光信号Ｐｘをサンプリングする光サンプリングゲートとしての電界吸収型光変調器３と、電界吸収型光変調器３から出力された光信号Ｐｙを電気信号Ｅｙに変換する受光器５と、を備え、等価サンプリング方式で被測定光信号Ｐｘの波形評価を行なう光信号モニタ装置であって、光パルス発生器２内の光共振器の実効光路長を変化させる光路長可変手段２２を有し、光共振器の実効光路長を変化させることによりサンプリング用光パルスＰｓの繰返し周波数を変化させることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、自由なテストシナリオを簡単に記述することのできるプロトコル試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明に係るプロトコル試験装置は、ＯＳＩ参照モデルのセッション層のプロトコルの適合性を試験するプロトコル試験装置であって、リクエストメッセージ及びレスポンスコードのテストイベントの順番であるテストシナリオをＳＤＬ言語で記述したイベントチャートの作成を行うチャートエディタ部８１と、チャートエディタ部８１の作成するイベントチャートに含まれるテストイベントをテキスト表示し、当該テストイベントを高級言語で記述することによって編集するテキストエディタ部８２と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】簡易で安価な構成で且つ高いサンプリング効率で光信号をサンプリングでき、高速な光信号の波形情報を安定に得ることができるようにする。
【解決手段】光サンプリング装置２２のサンプリング用素子としてカーボンナノチューブ素子２３を用い、その一方の光端子２３ａに監視対象の光信号Ｐｘを入射させ、サンプリングパルス用光パルス発生器２１から出射されたサンプリング用光パルスＰｓを、光カプラ２５を介してカーボンナノチューブ素子２３の他方の光端子２３ｂへ入射させ、そのサンプリング用光パルスＰｓが入射したときに生じる過飽和吸収特性により光信号Ｐｘに対する吸収率を低下させて他方の光端子２３ｂから出射させて、サンプリングを行っている。 （もっと読む）

【課題】測定装置での操作に基づいてＧＰＩＢコマンドシーケンスを自動的に作成することにより、操作者が所望するＧＰＩＢコマンドシーケンスの作成を容易にし、また、不具合が発生したときの操作を簡易に再現できる構成にして、保守サービスを容易にする。
【解決手段】操作部１１から各種の測定条件もしくは各種の測定機能の一連の設定入力に対応する実行指示を受けたコマンドシーケンス生成部３０が、その一連のＧＰＩＢコマンドに翻訳して外部記憶媒体８０へ出力する。そして、外部記憶媒体８０から読み出された一連のＧＰＩＢコマンドを受けたＧＰＩＢＩ／Ｆ部５０が、一連のＧＰＩＢコマンドを測定実行部が実行できる実行指示に翻訳して測定実行部に送って実行させる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、電界吸収型光変調器の相互吸収飽和特性を用いた光信号モニタ装置において、サンプリング用光パルスの強度に対する相互吸収変調の発生効率を向上することを目的とする。
【解決手段】本願発明の光信号モニタ装置は、サンプリング用光パルスＰｓを出射する光パルス発生器２と、サンプリング用光パルスＰｓと被測定光信号Ｐｘとの相互吸収飽和特性を利用して被測定光信号Ｐｘのサンプリングを行う電界吸収型光変調器３と、を備え、等価サンプリング方式で被測定光信号Ｐｘの波形評価を行う光信号モニタ装置であって、サンプリング用光パルスＰｓの波長が被測定光信号Ｐｘの波長よりも短波長であることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】駆動棒の傾斜を抑えてベース孔と接触することを防ぎ、接点バネが動作するときの時間的な遅れを防止する。
【解決手段】筐体１３内に接点バネ１２が設けられ、接点開閉によって特性インピーダンスを一定に保持したまま共通接点１４とアース接点１５のいずれかに切り換えるリレー１１に、ベース孔２０が形成されたベース１６と、ベース１６に電磁石２２を固定させるフレーム２３と、電磁石２２に対して一端が当接するとともに他端が隙間をあけて支持され、揺動可能に設けられたアーマチュア２５と、アーマチュア２５に設けられたカード２７とからなる略Ｌ字形状のカード組立２４と、ベース孔２０に挿通され、カード２７の押圧部２７ａと接点バネ１２の自由端１２ｂの間に設けられてカード組立２４と接点バネ１２を動作的に連結する駆動棒２８と、カード２７の押圧部２７ａと駆動棒２８の間に介在する略板バネ状の傾斜抑制手段３０を備えた。 （もっと読む）

【課題】入射光ファイバがシングルモードファイバ、マルチモードファイバの何れであっても、光損失が少なく、分解能や測定レベル確度の性能を悪化させない。
【解決手段】第１コア３０ａと第２コア３０ｂを有し、第２コア３０ｂのコア径が第１コア３０ａのコア径よりも小さく、且つ第２コア３０ｂのコア中心が第１コア３０ａのコア中心と同軸上に配置されるデュアルコア光ファイバからなる内部光ファイバ３０が、被測定光を入射する外部光ファイバ１０が接続される光コネクタ２０と分光手段４０におけるコリメータ４１との間に接続される。そして、外部光ファイバ１０からの被測定光を内部光ファイバ３０を介して分光手段４０に入射する。 （もっと読む）

【課題】６４Ｂ／６６Ｂ符号化あるいは復号化の処理部に対する任意のパターンの試験を正確に且つ高い再現性で行えるようにする。
【解決手段】イーサネット（登録商標）の物理コーディングサブレイヤより上位のフレームデータをフレーム発生部２１から発生させ、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２に入力して物理コーディングサブレイヤの６４Ｂ／６６Ｂの符号化処理を行う。一方、シーケンスパターン発生部２３は予め書き込まれた任意の６６Ｂシーケンスパターンを発生する。制御部５０は、シーケンスパターン発生部２３に所望のシーケンスパターンを書き込むとともに、データ選択部２４を制御し、６４Ｂ／６６Ｂ符号化処理部２２によって符号化されたデータとシーケンスパターン発生部２３から出力されるシーケンスパターンとのいずれか一方を選択して被試験対象装置に与える。 （もっと読む）

【課題】スペクトラム線幅が広い光をモードホップなしの状態で掃引できるようにする。
【解決手段】リトマン方式の外部共振器型の波長掃引光源で、回動ミラー３０を、フレーム３１の内側に配置された反射板３２を一対の連結部３３、３４を介して支持し、その連結部３３、３４の捩れ変形により反射板３２を往復回動させる構造とし、さらに、レーザ用電源２８から半導体レーザ２２に供給される電流または電圧にノイズ信号Ｎを重畳して出射光の線幅を拡げたものにおいて、半導体レーザ２２から回折格子２５の回折面に入射された光に対する０次回折光を受ける受光器６０と、出射光波長が掃引されている間にモードホップによって生じる受光器６０の出力信号の不連続変化を検出するモードホップ検出手段６１と、モードホップによって生じる受光器６０の出力信号の不連続変化が無くなるように、ノイズ信号Ｎの振幅を制御するノイズ振幅制御手段７５とを設けている。 （もっと読む）