【課題】本発明は、高い波長分解能かつ広いダイナミックレンジにて、アクティブ光部品とパッシブ光部品の両方の光部品を評価可能な光部品評価装置を提供することを目的とする。
【解決手段】上記目的を達成するために、本願発明の光部品評価装置１０１は、波長可変光源１１からの出力光を外部に出力しかつローカル光として利用するための出力光分波部１２と、当該出力光をパッシブ光部品に入力させるための光出力端子１３と、被測定光と出力光の干渉光を２光束に偏光分離する光合分波部１５ａと、光合分波部１５ａからの干渉光を光電変換する第１受光器１６ａ及び第２受光器１６ｂと、パッシブ光部品からの出力光を被測定光として光電変換する第３受光器と、を備えることを特徴とする。これにより、ヘテロダイン検波を用いたアクティブ光部品の評価とパッシブ光部品の評価を可能とした。 （もっと読む）

【課題】発光領域から位相調整領域へのキャリアのリークを抑制することが可能な半導体発光素子とそれを用いた波長可変レーザ光源を提供する。
【解決手段】半導体基板１１上に、一方の端面１０ａから他方の端面１０ｂに向かって活性層１３と導波路層１４とが連続して形成され、活性層１３側の領域に発光領域Ｉと光出力補償領域ＩＩとが他方の端面１０ｂに向かってこの順で形成され、導波路層１４側の領域に位相調整領域ＩＩＩが形成され、発光領域Ｉと光出力補償領域ＩＩと位相調整領域ＩＩＩとは電気的に絶縁されており、発光領域Ｉは、第１の電流Ｉ₁を受けて光を発し、位相調整領域ＩＩＩは、第３の電流Ｉ₃を受けて活性層１３から導波された光の位相を変化させ、光出力補償領域ＩＩは、その電位が位相調整領域ＩＩＩの電位と等しくなる第２の電流Ｉ₂を受け、発光領域Ｉからの光を増幅して導波路層１４へ導波する。 （もっと読む）

【課題】突き当てブロックにレンズホルダを溶接止めする際に、レンズホルダの回転による光軸ずれが生じないようにする。
【解決手段】ケース１内に固定された一対の突き当てブロック３５、３６の一方の端面にチップ支持台がその一端面を当接させた状態で固定され、さらに、端面を突き当てブロックの他方の端面３５ｂ、３６ｂに接した状態で、チップ支持台上の光半導体素子と保持したレンズとの結合効率が高くなるように位置決めされて溶接止めされたレンズホルダ３７とを有する光半導体素子モジュールにおいて、突き当てブロック３５、３６とレンズホルダ３７は、突き当てブロック３５、３６の端面３５ｂ、３６ｂとレンズホルダ３７の端面とが、位置決めの可動範囲内において、溶接止めされるポイントＰを挟む上下の位置で接する形状に形成されている。 （もっと読む）

【課題】インデックス情報の作成を速やかに行え、フレームデータを格納してから実際に読み出して解析できる状態となるまでの待ち時間を短くする。
【解決手段】インデックス情報生成部３２は、高速ロジック回路によるハードウエア処理でシーケンシャルに実行するように設計されており、フレームデータがフレームデータメモリ１５に格納された段階で、スイッチ３１を第１入力端子３１ａ側に切り替えるとともにその第１入力端子３１ａに読出要求信号を与え、フレームデータメモリ１５に格納されているフレームデータを格納時とほぼ同等のビットレートで読み出させ、各フレームデータのインデックス情報を速やかに生成し、インデックス情報生成後にスイッチ３１を第２入力端子３１ｂ側に切り替える。解析処理部２０′はインデックス情報生成部３２によって得られたインデックス情報に基づいて解析対象のフレームデータの読出処理を行う。 （もっと読む）

【課題】本発明は、複雑な試験内容を簡単なシナリオで記述可能なプロトコル試験装置の提供を目的とする。
【解決手段】本発明に係るプロトコル試験装置は、ＩＰを用いてパケットを送受信するＩＰ機器１００のプロトコル試験装置９０であって、上位シナリオの実行を指示する上位シナリオ制御部４０と、上位シナリオ制御部の指示に従って、送受信部１０を介してＩＰ機器１００との間でパケットを送受信することで、下位シナリオを実行する下位シナリオ制御部３０と、を備え、上位シナリオは、プロトコル試験装置９０の擬似する特定端末の機種又はサービスに依存しない特定端末の振る舞いや合否判定が記述された命令群であり、下位シナリオは、予め定められたフォーマットに従って記述された命令群であって、特定端末の機種又はサービスに応じて定義されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】装置内の遅延量の変動があっても測定対象の遅延量を正確に測定できる。
【解決手段】トリガ生成部２２は遅延測定起動用のトリガ信号ＴｇをＳＤＨフレーム先頭タイミングと同期させて生成する。送信データ処理部２３は、トリガ信号を受けてペイロード領域の所定位置にエラーが挿入されたＳＤＨフレームを生成して測定対象１に送信する。送信遅延量測定部２４は、トリガ信号生成時からＳＤＨフレームの先頭データが送出されるまでの時間を送信遅延量として測定する。受信遅延量測定部３４は、測定対象１から出力された特定のＳＤＨフレームが受信データ処理部３２に入力されてからエラー検出部３３に到達するまでの時間を受信遅延量として測定する。遅延量算出部４０は、トリガ信号生成時からエラー検出部３３でエラー検出されるまでの時間から、送信遅延量と受信遅延量の合計を差し引いて、測定対象１の遅延量を求める。 （もっと読む）

【目的】駆動電流の大きさにかかわらず，活性層温度をほぼ一定に保つことができるようにする。
【構成】半導体ゲインチップ11に駆動電流が供給されると，半導体ゲインチップ11の前方端面から光が出射する。半導体ゲインチップ11の後方端面および光ファイバ４中のＦＢＧ４ａによって光反射が繰返されてレーザ発振が生じる。さらに，半導体ゲインチップ11の後方端面から出射される光が当たる位置に，温度を測定するサーミスタ13が設けられている。半導体ゲインチップ11およびサーミスタ13はいずれもＴＥＣ15上に載置され，ＴＥＣ15はサーミスタ13の温度が所定温度に保たれるように制御される。半導体ゲインチップ11の後方端面から出射される光によってサーミスタ13が加熱されるので，半導体ゲインチップ11とサーミスタ13の温度の乖離幅が小さくなる。このため，サーミスタ13を所定温度に保つと，半導体ゲインチップ11の温度も所定温度に保たれる。 （もっと読む）

【課題】入力側と出力側両方の反射特性（特に通過帯域以降）がよく、小型化、低価格化に適し、広範囲の伝送レートにも対応できる構造を持ったベッセルフィルタを提供する。
【解決手段】入力端子１と出力端子２との間に直列接続されているシリーズ素子Ｌ１，Ｌ２に対して、抵抗Ｒ１，Ｒ２を各々並列接続する。さらに、入力端子１とシリーズ素子Ｌ１，Ｌ２の接続点と出力端子２の３箇所に一端が接続され、他端が接地されているシャント素子Ｃ１〜Ｃ３に対して、抵抗Ｒ３〜Ｒ５を各々直列接続する。 （もっと読む）

【課題】高周波帯の広帯域信号の実時間のスペクトラム情報を、デジタル処理しやすいより低い周波数帯へ高いダイナミックレンジで且つ精度よく変換する。
【解決手段】信号を信号分波部２１により複数の帯域成分に分けて、ローカル信号Ｌ_１〜Ｌ_Ｍとともに周波数変換部２６に入力し中間周波数帯にそれぞれ変換し、その各変換出力をデジタル信号列に変換する構成を有している。変換対象信号の代わりに校正用信号Ｃａを分岐回路４２を介して信号分波部２１と校正用周波数変換部４４に与え、校正用周波数変換部４４の特性を基準とする周波数変換部２６の各帯域の特性差を求め、その特性差を無くすための補正係数を算出して補正係数メモリ３６に記憶し、校正用信号の代わりに変換対象信号が入力されたときに、周波数特性補正処理部３７により前記周波数特性差を補正し、信号再生部５０で所望周波数領域のデジタルの信号として再生する。 （もっと読む）

【課題】小型化と省電力化を同時に実現する。
【解決手段】基板１と、光導波路２及び光変調のために電圧を印加する中心電極４及び接地電極５ａ，５ｂとを備え、光導波路２が、入力光導波路２ａと、分岐光導波路２ｂと、相互作用光導波路２ｃ₁ ，２ｃ₂ と、合波光導波路２ｄと、合波点２ｇと、出力光導波路２ｅとからなり、位相変調された光が合波された高次モード光が出力光導波路２ｅをほとんど伝搬せずに合波点２ｇから放射光６ａ，６ｂとして放射される光変調器１００と、キャピラリ１４と、放射光６ａ，６ｂを受光するフォトディテクタ９と、光変調器１００、キャピラリ１４及びフォトディテクタ９を収容する筐体１２とを備える光変調器モジュール１０１において、筐体１２はその内壁面１３が放射光６ａ，６ｂを反射するように形成され、フォトディテクタ９を内壁面１３で反射した放射光６ａ，６ｂを受光する位置に配置した。 （もっと読む）