【課題】 Ｘ線撮像時においても、操作者により容易にＸ線撮像条件を変更することが可能なＸ線撮像装置を提供する。
【解決手段】 高画質が必要な診断や治療を行うときには、操作者は自らの足によりフットスイッチ１４、１５または１６を操作し、フットスイッチ１４、１５または１６の押圧量を増加させる。これにより、被検者２に照射される単位時間あたりのＸ線量が増加し、高画質の撮影画像または透視画像を得ることができる。これに対して、例えば、カテーテルを目的部まで導く場合等においては、操作者は自らの足によりフットスイッチ１４、１５または１６を操作し、フットスイッチ１４、１５または１６の押圧量を減少させる。これにより被検者２に照射される単位時間あたりのＸ線量が減少し、被検者２に対する被曝量を低減させることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】液漏れの防止の可能な試料容器への通気方法を提供する。
【解決手段】試料溶液８を内部に収容し、開口部を薄膜弾性体４で封止した試料容器３に対し、側部に通気溝５ｃ,５ｄ、先端部近傍に試料取水孔５ａ、内部に試料取水孔５ａに連続し長手方向に延伸する取水管５ｂを備える管状の採取ニードル５を、通気溝５ｃ,５ｄが薄膜弾性体４に接するように、薄膜弾性体４に突き刺して試料取水孔５ａを試料溶液８内に挿入する工程と、採取ニードル５を薄膜弾性体４に突き刺したことで生じた薄膜弾性体４の試料溶液８方向に向う歪みを緩和するように、採取ニードル５を試料溶液８の反対側に引き上げる工程と、採取ニードル５の取水管５ｂを介して試料容器３内部にガスを送りこむガス通気工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】ＥＩ法によるイオン源でパルス的にイオンを出射させる場合に、同一m/zのイオンの収束性を高める。
【解決手段】熱電子生成用のフィラメント１２とイオン化室１０の熱電子導入口１０２との間にゲート電極１５を配置する。熱電子をイオン化室１０に導入して試料分子をイオン化した後に、ゲート電極１５に所定電圧を印加することで熱電子を遮断する。そして、その直前にイオン化室１０に導入された熱電子がイオン化室１０を通り抜けた後にリペラ電極１４にイオン出射用電圧を印加し、イオン化室１０内のイオンに初期運動エネルギを付与してイオン化室１０からパルス的に出射させる。その時点ではイオン化室１０内に熱電子が殆ど存在しないため、熱電子による電場の乱れはなく、イオンの挙動は熱電子の影響を受けない。また、熱電子がリペラ電極１４に衝突することによるノイズも抑制できる。 （もっと読む）

【課題】 Ｘ線照射部に付設した超音波センサを利用して被検者の体表面とＸ線管との距離を自動的に測定した場合においても、誤動作を生ずることなく正確に距離の測定を実行することができるＸ線撮像装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線撮像装置は、Ｘ線検出器１１を有する撮影台１と、Ｘ線管２１と超音波センサ２４とを有するＸ線照射部２から構成される。Ｘ線照射部２と撮影台１との距離Ｄは、ポテンショメータ２７により測定される。また、被検者の体表面を検出する超音波センサ２４はＸ線照射部２に付設される。そして、超音波センサ２４の受信部による受信信号のうち、Ｘ線照射部２と撮影台１との距離と最も近い距離に相当する受信信号が被検者で反射した超音波の信号と認識される。 （もっと読む）

【課題】点灯状態を判定するための設定値を、基板種やスキャン条件によって調整することを要することなく、パネルの点灯状態を判定する。
【解決手段】電子線を基板に形成されるパネル上を走査して得られる二次電子を検出することによりパネルのＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、パネルのＴＦＴアレイに検査信号を印加して、パネル上に所定パターンの電位分布を形成する検査信号印加手段と、二次電子の検出強度を用いてパネルの点灯状態を判定する信号処理手段とを備える。二次電子の検出強度に対するデータ数から得られる強度分布を求め、この強度分布を正常に点灯した際に得られる強度分布と比較することによってパネルの点灯状態の正否を判定する。この強度分布による判定は基板種やスキャン条件に依存しないため、基板種やスキャン条件が変化した場合であっても判定のための調整は不要である。 （もっと読む）

【課題】長尺撮影時に、操作者が長尺撮影範囲の設定を簡単かつ的確に行えるようにする。
【解決手段】天板１を挟んで対向配置されたＸ線管２およびＸ線検出器３を備える。Ｘ線管は、Ｘ線管移動機構６によって支持され、長尺撮影の間に首振り運動する。Ｘ線検出器３は、Ｘ線検出器移動機構７によって支持され、Ｘ線管の首振り運動に追従して天板に対して平行移動する。Ｘ線管およびＸ線検出器が、被検者の長尺撮影範囲に対応する移動範囲内で動かされ、その間に複数の撮影位置においてＸ線管から被検者に対してＸ線が照射され、連続した複数のＸ線画像が取得され、それらのＸ線画像から長尺Ｘ線画像が生成される。長尺撮影範囲の一端が手動によって設定されると、長尺撮影範囲の他端と、長尺撮影範囲に対応するＸ線管およびＸ線検出器の移動範囲の両端の位置が自動的に設定される。 （もっと読む）

【課題】プラズマの軸方向観測又は横方向観測を行う場合に、軸方向観測にあってはバックグラウンドの上昇を防ぎ、横方向観測にあっては十分な光量を得て、安定したICP発光分析を可能にする
【解決手段】軸方向観測の場合は、分光部１の入口スリットにピンホール型スリット１３を用いて分析を行うことにより、プラズマ発生方向の中心軸近傍の光をピンホールの領域に限定して、分光部へ導入することができ、バックグラウンドの導入を防止することができる。一方、横方向観測の場合は、直線型スリット１４に切り換え、プラズマ発生方向の中心軸に対して直交する方向から、直線状に設けられたスリットの領域における中心軸近傍の光を分光部へ導入する。直線型スリット１４の方が、ピンホール型スリット１３と比べて、多くのプラズマ光を分光部１へ導入することができ、横方向観測の精度があがる。 （もっと読む）

【課題】被検体の被曝量を抑制しつつ、好適な放射線線量で一連の透視画像を撮影し、鮮明で診断に好適な放射線撮影装置を提供することにある。
【解決手段】本発明の構成によれば、ＦＰＤ４に入射するＸ線の線量を測定するフォトタイマ５を備えている。Ｘ線管制御部６は、Ｘ線の線量の累積値が所定値以上となったところで、Ｘ線管３のＸ線照射を中断させる。この様にすると、初回の透視画像Ｐは、適切な照射条件で取得されることになる。そして、次回以降の透視画像Ｐの撮影は、初回の透視画像Ｐと同一の照射条件で行われる。この様に、本発明によれば、初回の透視画像Ｐは、断層画像の生成に用いられるとともに、照射条件の決定にも用いられる。したがって、照射条件の決定のみに用いる画像を取得しなければならない従来の構成に比べて、被検体Ｍに照射されるＸ線の線量を抑制することができる。 （もっと読む）

【課題】 風防の内部への空気の流れをできるだけ防止し、さらに計量皿の載置面の中央部に被測定物を載置するために、測定者の手が風防の内部へ入ることを防止することにより、風防の内部の雰囲気状態が安定化されるまでに必要とされる時間を短くすることができる電子天秤の提供。
【解決手段】 風防２０の内部に大計量皿１４０ｂが配置される電子天秤１であって、大計量皿１４０ｂの載置面の面積より小さい面積の載置面を有する小計量皿４０ｂを備え、側壁３０には、大開口部の面積より小さい面積の小開口部２２ｂと小開口部２２ｂを開閉可能とする小開口部開閉部材５０とが形成されているとともに、小計量皿４０ｂは、風防２０の内部で小開口部２２ｂ近傍に配置されるように連結部材４０ｃを介して取付部４０ａを有する。 （もっと読む）

【課題】 複数方向への引張試験に適応する。
【解決手段】
コネクタ固定治具１００を使用した引張試験機２００は、コネクタ３００に接続されたケーブル３１０を巻き取るマンドレル２２０と、マンドレル２２０を軸線Ａ１方向に引っ張るアクチュエータ２３０とを有する。クロスヘッド２３０によってマンドレル２２０を軸線Ａ１方向に駆動すると、ケーブル３１０は軸線Ａ１方向に引っ張られる。コネクタ固定治具１００には、ケーブル３１０が軸線Ａ１に沿った状態でコネクタ３００を保持する保持部１１０と、軸線Ａ１に対して４５度傾いた軸線Ａ２、Ａ３に、ケーブル３１０が沿った状態で、コネクタ３００をそれぞれ保持する保持部１２０、１３０とが設けられている。 （もっと読む）