【課題】装置全体の構成を複雑化することなく、試料溶液を増やすことなく、試料溶液の濃度によらず、正確に測定できる電解質測定方法及び電解質測定装置を実現する。
【解決手段】電極部を用いて標準液と試料溶液それぞれの起電力を測定する測定部１９０と、試料液を希釈液により希釈して試料溶液を生成する希釈槽１１０と、試料液を希釈槽に供給する試料供給手段１４０と、希釈液を希釈槽に供給する希釈液供給手段１２０と、標準液を希釈槽に供給する標準液供給手段１３０と、希釈槽から標準液と試料溶液とを電極部に供給する測定液供給手段１５０と、標準液と試料溶液とを希釈槽から交互に電極部に供給するよう制御すると共に、試料溶液を生成する前に、希釈槽に希釈液を所定量供給して排出するよう制御する制御部１０１とを備える。 （もっと読む）

【課題】精密質量情報が得られる高分解能質量分析装置においては、精密質量情報を有するライブラリー・データ自体が存在しないため、精密質量情報と強度比との比較による解析は行なわれて来なかった。混合物の定性分析においては、クロマトグラフなどによる十分な成分分離を予め行なうことが必須である。また、夾雑物を多く含む試料においては、クロマトグラフによる成分分離だけでは不十分な場合もあり、そのような場合は、データシステムを用いて波形を分離するデコンボリューションなどの波形処理が必要であった。成分分離やデコンボリューションが不要な高分解能精密質量スペクトルの定性・定量方法を提供する。
【解決手段】理論的な精密質量と経験的な強度値に基づいて構築した高分解能精密質量スペクトルを、実測の高分解能精密質量スペクトルと比較する。 （もっと読む）

【課題】装置全体の構成を複雑化することなく、試料溶液に含まれる被測定成分の電解質濃度を温度補正演算をせずに正確に測定する。
【解決手段】作用電極と比較電極を有する電極部１８０を用いて標準液と試料溶液それぞれの起電力を測定する測定部１９０と、試料液を希釈液により希釈して試料溶液を生成するための希釈槽１１０と、前記試料液を前記希釈槽に供給する試料供給手段１４０と、前記希釈液を前記希釈槽に供給する希釈液供給手段１２０と、前記標準液を前記希釈槽に供給する標準液供給手段１３０と、前記標準液と前記試料溶液とを前記希釈槽から交互に前記電極部に供給する測定液供給手段１５０と、前記希釈槽１１０と前記電極部１８０との間の前記測定液供給手段１５０に設けられる熱交換部１６０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】複数のラインで試料と試薬を反応させることによって生成された複合物質を、共通の測定部で測定する場合であっても、スループットを低下させることがない、測定装置及び測定方法を提供すること。
【解決手段】試料を収容した反応容器を搬送する複数のラインを備え、当該複数のラインにおいて反応容器を搬送させつつ試料に含まれる所定物質を測定する測定装置１であって、複数のラインとして、反応容器を第１搬送速度で搬送する第１反応ライン３０と、反応容器を第２搬送速度で搬送する第２反応ライン４０と、第１反応ライン３０において反応容器の内部で試薬と反応された試料と、第２反応ライン４０において反応容器の内部で試薬と反応された試料とを対象として、これら試料に含まれる所定物質を測定する測定ライン５０であって、反応容器を第１搬送速度及び第２搬送速度よりも速い第３搬送速度で搬送する測定ライン５０とを備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は電子顕微鏡用針状試料の作製方法に関し、針状試料を簡単に作製することを目的としている。
【解決手段】電子顕微鏡で観察するための針状試料を作製する方法であって、目的試料を載置用試料上に載置する工程と、前記目的試料を前記載置用試料上に固定する工程と、前記目的試料と前記載置用試料に集束イオンビームを照射して、前記目的試料と前記載置用試料からなる薄片試料を作製する工程と、前記薄片試料を溶液に入れて、前記載置用試料を溶解せしめて目的試料のみにする工程と、残った目的試料を溶液から取り出す工程とを含んで構成される。 （もっと読む）

【課題】反応時間が短くなる分析方法及び装置を提供することを課題とする。
【解決手段】
反応容器１１と、保冷された濃縮試薬をサンプリングする試薬サンプリング手段１７、６３と、希釈水を加温する加温手段５１，５３と、試薬サンプリング手段１７，６３でサンプリングされた保冷濃縮試薬と、加温手段５１，５３で加温された加温水とを反応容器１１に希釈分注する希釈分注手段５５，６３とで構成し、試料と試薬との反応を測定する。 （もっと読む）

【課題】撹拌装置において回転する撹拌子の停止位置を正確に検知して制御する。
【解決手段】第１方向に回転する第１方向回転磁界を発生させて撹拌子を第１方向に回転させ、第１方向に回転する撹拌子内部の磁石の磁界を検知部で検知した第１方向接近検知位置から、第１方向と反対の第２方向に回転する第２方向回転磁界を発生させて撹拌子を第２方向に回転させ、第２方向に回転する撹拌子内部の磁石について第１方向接近検知位置と同一の磁極の磁界を検知部で検知した第２方向接近検知位置に関して、第１方向接近検知位置から第２方向接近検知位置までの撹拌子の第２方向の回転角度から補正角度を算出し、第１方向接近検知位置から補正角度分を第１方向、もしくは、第２方向接近検知位置から補正角度分を第２方向に撹拌子を回転させる回転磁界を回転磁界発生部に発生させて、撹拌子を所定方向で停止するよう回転させる。 （もっと読む）

【課題】ポインティング手段による指定位置をユーザに正確に把握させることが可能な、画像表示方法、画像表示装置、プログラム及び情報記憶媒体を提供すること。
【解決手段】表示画面ＳＣに表示されたＳＥＭ画像ＳＩのうち、ユーザが指先ＦＧを表示画面ＳＣに接触させて指定した指定位置ＳＰを含む領域ＡＲの画像であって、指定位置ＳＰを示すマーカーＭＫを含むサブ画像ＳＵを表示画面ＳＣの一部に表示する。ユーザが指先ＦＧを表示画面ＳＣに接触させたまま指示位置ＳＰを移動させると、ＳＥＭ画像ＳＩのうち移動後の指示位置ＳＰを含む領域ＡＲの画像であって、移動後の指示位置ＳＰを示すマーカーＭＫを含むサブ画像ＳＵを表示する。ユーザが指先ＦＧを表示画面ＳＣから離す第２の指定を行うと、指定位置ＳＰを確定する。 （もっと読む）

【課題】イオンビームの照射を受けて遮蔽板が高温度となって遮蔽板の支持部材に熱膨張が発生して遮蔽板が移動しても、良好な断面試料を作製する試料作製装置を提供する。
【解決手段】遮蔽板を試料の一部が露出しその他が遮蔽されるように配置し、遮蔽板と試料６の露出部分に跨るようにイオンビームを試料６に照射することにより、試料６の露出部分をエッチングして試料断面を作製する試料作製装置であって、遮蔽板ステージ９と、前記遮蔽板ステージ９により基端部を支持され、先端側が自由端となされた支持部材と、前記支持部材の先端側に支持された遮蔽板とを備え、前記支持部材は、前記遮蔽板の前記支持部材の基端側に向かう一側縁が前記イオンビームの照射位置となるように該遮蔽板を保持し、この遮蔽板により前記イオンビームが遮蔽される位置に設置された前記試料の該遮蔽板の一側縁から露出した箇所への前記イオンビームによる加工を行わせるようにした。 （もっと読む）

【課題】本発明はＥＰＭＡ(電子プローブマイクロアナライザ)におけるＸ線像データ処理方法及び装置に関し、異なるシーケンスで取得し位置ずれが存在しているＸ線像データ同士であっても、相関演算処理を正確に行なうことができるようにすることを目的としている。
【解決手段】 ＥＰＭＡを用いて試料の同一領域について異なるタイミングでそれぞれＸ線像のデータを取得して記憶する場合において、各タイミングで前記領域について２次電子又は反射電子検出に基づく電子像データを併せて取得して記憶し、異なるタイミングで取得した電子像データを比較して位置ずれ量を算出し、算出した位置ずれ量に基づき、前記異なるタイミングで得た各Ｘ線像データに対して、各Ｘ線像データに共通して存在する領域を切り出す処理を施すことを特徴とする。 （もっと読む）