電子部品を分析するために、この部品を集束させたレーザビームにさらす。部品の感度帯域の位置および深さに関係するレーザマッピングによって提供される情報を、予測コード内の入力パラメータとして使用して、自然の放射環境内の電離粒子に対するマッピングされた部品の感度を定量化する。予測コードを使用して、電子部品内の誤動作の発生を決定する。放射環境に関連するリスクの決定には、２つの態様が要求される。一方は確率論的であり、粒子／物質の相互作用を考慮し、他方は電気的であり、電子部品内の電荷収集を考慮する。

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