【課題】好適な狭帯域共振回路を提供すること。
【解決手段】チューニング可能強誘電体コンポーネント（６１０〜６１４）、強誘電体コンポーネントの損失測定するための狭帯域共振回路（６１０〜６２０）が開示される。強誘電体コンポーネントは、共振回路に一体化されたキャパシタであり得る。この試験方法は、損失の他のソースを消去して、強誘電体材料に起因する損失を隔離し、かつこの損失が小さいことを実証する。本方法は、強誘電体コンポーネントを備える回路を製造する工程と、強誘電体コンポーネントに起因する挿入損失および他の損失ソースに起因する他の損失を含む、組み合わされた損失を測定する工程と、他の損失ソースに起因する、挿入損失のコンポーネントを決定する工程と、測定された組み合わされた損失から、他の損失ソースに起因するコンポーネントを除去して、強誘電体コンポーネントと関連した損失を決定する工程とを包含する。 （もっと読む）

【課題】 ストリップ線路やマイクロストリップ線路に用いるための測定検体の電磁気特性が測定可能であり、薄い測定検体であっても測定可能である電磁気特性の測定冶具及びその測定法を提供する。
【解決手段】 空胴共振器を用いた電磁気特性測定治具において、測定検体が測定検体保持部により電気力線と垂直に保持される構造を有することを特徴とする電磁気特性測定治具。前記電磁気特性測定治具を備えた測定システムを用いた電磁気特性の測定方法であって、前記電磁気特性測定治具に、一定の大きさの信号を与え、周波数に対する出力信号の大きさを測定する工程と、共振周波数とＱ値とを求め、誘電特性及び透磁特性を求める工程を少なくとも含むことを特徴とする電磁気特性の測定方法。 （もっと読む）

【課題】導体の高周波信号伝達特性を評価するための装置を提供する。
【解決手段】導体の高周波信号伝達特性測定用の円筒型空洞共振器であって、パイプ部と該パイプ部の両端に位置する二つの蓋部と少なくとも一つのループコイルとを備え、該パイプ部及び該蓋部によって該空洞共振器内に円筒形の閉鎖空間が形成され、該パイプ部、該蓋部及び該ループコイルは導体を材料としている空洞共振器。 （もっと読む）

【課題】バンデージまたはドレッシングの接着剤とヒトまたは何らかの他の哺乳動物の皮膚との間の漏れを検出するセンサを実現する。
【解決手段】本発明は、少なくとも部分的に電気伝導性の物体の表面に貼付されるドレッシングの剥離を検出するための方法およびドレッシングに関する。ドレッシングは、ドレッシングを電気伝導性物体に取り付けるための接着剤と、電気伝導性物体からある距離に配置された少なくとも２つの電極とを備える。第１の電極と電気伝導性物体との間の第１のコンデンサと第２の電極と電気伝導性物体との間の第２のコンデンサとを備える電気回路を確立する第１および第２の電極に電圧が印加される。前記第１および第２の電極の少なくとも１つと電気伝導性物体との間の静電容量の変化が検出され、静電容量の変化が所定の値に達した時警報が作動される。これは有利にも、漏れを迅速に検出できる方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】 上下面に導体が配置された誘電体薄層の誘電定数を高い精度で測定でき、特に厚さが５０μｍ以下となっても無負荷Ｑ値の低下を抑制する誘電定数測定方法および両端開放形半波長共振器を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明の両端開放形半波長共振器Ａ１は、誘電体薄層１の一方の面に矩形状のストリップ導体３を設けるとともに、誘電体薄層１の他方の面に環状のグランド導体４を設け、ストリップ導体３の長軸方向における少なくとも一方の端部とグランド導体４の一部とが積層方向から見て重なり合うように配置されていることを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】誘電率薄膜の誘電定数をマイクロ波やミリ波で高精度に測定できる誘電定数測定方法及び両端開放形半波長コプレナーライン共振器を提供する。
【解決手段】誘電体基板１上に中心導体２とグラウンド導体３とを有し、かつ中心導体２の両端とグラウンド導体３との間の少なくとも一方の開放部に測定試料４を配設した両端開放形半波長コプレナーライン共振器を励振させる共振器励振工程と、該共振器の共振周波数及び／又は無負荷Ｑ値を測定する測定工程と、該共振周波数及び／又は無負荷Ｑ値の測定値から測定試料４の面方向における誘電定数を算出する算出工程とを具備する。 （もっと読む）

【課題】 測定治具の小型化により誘電体基板を突き当てる部分も小さくなり、誘電体基板を安定して保持することが困難になってきた。測定される誘電体基板の中心位置を合わせることを容易にすることによって、測定精度を向上させる。
【解決手段】 二つに分割された円筒形の空洞共振器間に誘電体基板を挟んで測定する誘電体基板の比誘電率測定治具において、二つの円筒形の誘電体共振器の側面を当接させる断面がＶ字形の第１の溝を備える。第１の溝の底部には、長方形の誘電体基板の角部を当接させるための断面がＶ字形の第２の溝を備える。また、第１の溝の上部に長方形の誘電体基板の側面に当接させるための突起が設けられる。
【効果】 誘電体基板の空洞部分への中心位置だしが可能になるので、測定精度を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】所望の測定精度を保って周波数測定を実施できる反射測定治具を提供する。
【解決手段】反射測定治具は本体１と、本体１内に設けられ、ネットワーク・アナライザと結ぶケーブルの端からワークの端子までの延長線路のインピーダンスを保障する、プリント化された伝送線路を有する基板２と、基板２の伝送線路からワークの端子にかけて延在し、入射波および反射波を授受する一対のプローブ５、６とを備える。 （もっと読む）

【課題】マイクロ波帯やミリ波帯、特に１ＧＨｚ以上の周波数帯において、誘電体薄膜の比誘電率や誘電正接、並びにそれらの直流電界強度依存性、温度依存性等の誘電特性を高精度に測定することのできるリング共振器およびこれを用いた誘電体薄膜の誘電特性測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のリング共振器は、誘電体支持基板１上に誘電体薄膜２が形成され、さらにこの誘電体薄膜２の上面に、リング状の間隙３１により内側導体３２と外側導体３３とに分割された導体膜３が積層された構造を特徴とする。 （もっと読む）

【課題】３０ＧＨｚ以上のミリ波帯で精度よく測定できる誘電体薄膜の誘電特性測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、主面に誘電体薄膜１を形成してなる誘電体基板２を前記誘電体薄膜１が上側を向くように導体板６の上に載置し、開口部３１を有する有底筒状導体３を前記誘電体薄膜１に前記開口部３１が当接するように配置して空洞共振器を構成した後、該空洞共振器のＴＥモードの共振周波数および無負荷Ｑを測定し、前記共振周波数および前記無負荷Ｑから前記誘電体薄膜１の誘電特性を求める工程を含むことを特徴とする誘電体薄膜の誘電特性測定方法である。 （もっと読む）

【課題】 誘電体の材料特性の偏りや温度による材料特性の変化に対応した複素誘電率を求めることができる測定方法を提供すること。
【解決手段】 ＴＥ_１０３モ−ド空胴共振器１０に丸棒状の被測定物Ａ、Ｂを挿入して摂動法にしたがって被測定物Ａ、Ｂの挿入前後の共振角周波数の変化量△ω_１を測定し、続いて、被測定物Ａ、Ｂの挿入位置を変えて上記同様に共振角周波数の変化量△ω_２を測定し、さらに、上記△ω_１と△ω_２とから得られる連立方程式を計算して被測定物Ａ、Ｂ各々の複素誘電率を求める構成となっている。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの容量あるいはコイルのインダクタンスを高精度に測定することができる素子測定装置を提供すること。
【解決手段】発振回路におけるコンデンサの容量やコイルのインダクタンスの値を用いて水晶振動子と発振回路とからなる発振器の発振周波数を計算する手法を逆に用い、実際にコンデンサやコイルである被測定素子と水晶振動子との直列回路を形成する装置を作成し、その直列共振周波数を測定してその測定値と水晶振動子の等価回路定数とに基づいて演算により被測定素子の容量あるいはインダクタンスを求める。 （もっと読む）

【課題】伝送線路の幅Ｗや、伝送線路の側面の凹凸形状が、誘電体の実効的な比誘電率へ与える影響を測定できる誘電定数測定法及び伝送線路設計法を提供することを目的とする。
【解決手段】誘電体基板２と、該誘電体基板２上に設けられた導体からなる伝送線路３とを具備するとともに、伝送線路３の側面３ａの凹凸形状が一定で、かつ、伝送線路３の線路幅Ｗの異なる共振器１を複数個準備し、それらの共振器１の共振周波数ｆを測定し、それぞれの共振周波数ｆから、誘電体基板２の実効的な比誘電率を求め、該実効的な比誘電率の線路幅Ｗに対する依存性を求める。 （もっと読む）

【課題】導体上に形成された誘電体薄層あるいは誘電体薄膜の誘電定数を、マイクロ波帯、特に１ＧＨｚ以上で測定することが可能な誘電定数測定法及び測定用治具並びに同軸共振器を提供する。
【解決手段】筒状導体４と、該筒状導体４内に軸長方向に設けられた中心導体３と、筒状導体３の両側開口部にそれぞれ設けられた短絡導体５、６とを具備するとともに、中心導体３と短絡導体６との間に誘電体からなる被測定試料１を介装し、筒状導体４と短絡導体６との間に空隙２を設けた同軸共振器の共振周波数と無負荷Ｑの測定値から、被測定試料１の比誘電率及び／又は誘電正接を求める。 （もっと読む）

【課題】ミリ波帯において、ミリ波帯において、ある程度任意の大きさの導体層に対して測定でき、また、従来と同等の測定精度を持ち、簡易に導体層と誘電体の界面導電率を測定することができる電気的物性値測定法を提供する。
【解決手段】円筒導体２の両端開口部を第１、第２遮蔽体１ａ、１ｂにより閉塞してなる円筒空洞共振器であって、第１、第２遮蔽体を導体から構成したときの円筒空洞共振器の共振周波数ｆ１と無負荷Ｑ１を測定し、円筒空洞共振器の誘電率、誘電損失及び寸法を求める第１の工程と、導体層４ａ、４ｂを内層した誘電体基板３ａ、３ｂ、又は片側表面に導体層５ａ、５ｂが設けられた誘電体基板６ａ、６ｂで円筒導体２の両端開口部を閉塞し、この円筒空洞共振器の共振周波数ｆ２と無負荷Ｑ２を測定し、該共振周波数ｆ２と無負荷Ｑ２、及び第１の工程で求めた円筒空洞共振器の誘電率、誘電損失及び寸法から、導体層４ａ、４ｂ、５ａ、５ｂと誘電体３ａ１、３ｂ１との界面の界面導電率を求める第２の工程を具備する。 （もっと読む）