【課題】デルタ回路を構成する第１ないし第３のインピーダンス要素のうちの第１のインピーダンス要素のインピーダンス測定において、第２のインピーダンス要素と第３のインピーダンス要素の間に流れる電流をゼロに抑え、第１のインピーダンス要素のインピーダンスを正確に測定できるインピーダンス測定装置を提供する。
【解決手段】このインピーダンス測定装置では、第２の導電路Ｌ２と電気接続された出力端子及び反転入力端子と、所定の基準電位（例えば、グランド電位）に電気接続された非反転入力端子とを有するオペアンプ３４が備えられる。そして、第１のインピーダンス要素Ｚ１と第２のインピーダンス要素Ｚ２の間の第１の導電路Ｌ１の電位、及び第２のインピーダンス要素Ｚ２と第３のインピーダンス要素Ｚ３の間の第２の導電路Ｌ２の電位を基準電位に誘導しつつ、第１のインピーダンス要素Ｚ１のインピーダンスが測定される。 （もっと読む）

【課題】専用検査器を必要とせず、コンデンサ１個当たりに要する検査時間を短縮してＤＣバイアス−容量特性を計測する。
【解決手段】計測装置１は、素子接続部４、制限抵抗３、ＤＣバイアス源２、電流測定器５、および演算部６を備える。素子接続部４はセラミックコンデンサ５０が接続される。制限抵抗３は既知の抵抗値であり、セラミックコンデンサ５０に直列に接続される。ＤＣバイアス源２は、制限抵抗３とセラミックコンデンサ５０とからなる直列回路７に既知のＤＣ電圧を印加する。電流測定器５は、直列回路７の電流瞬時値を測定する。演算部６は、電流瞬時値を既知の時間間隔で取得し、電流瞬時値に基づいてセラミックコンデンサ５０の容量瞬時値を導出し、ＤＣ電圧と抵抗値と電流瞬時値とに基づいてセラミックコンデンサ５０に印加される電圧瞬時値を導出し、電圧瞬時値および容量瞬時値によりＤＣ電圧値に対応した被測定素子の容量値を求める。 （もっと読む）

【課題】マルチ測定方式において、放熱設備などを大型化することなく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる電子部品の特性測定装置を得る。
【解決手段】ターンテーブル５０によって測定位置Ｃに搬送されてくる複数のチップ型コンデンサの外部電極に接触して絶縁抵抗を測定する測定器７５と、ターンテーブル５０や測定機７５などを制御するコントローラ８０を備えた特性測定装置。コントローラ８０は、予め求められている発熱係数と、印加電圧と、電圧印加時間とから発熱量を求めるとともに、予め求められている放熱係数と搬送時間とから放熱量を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、ターンテーブル５０及び測定器７５の動作を停止させる、あるいは、ターンテーブル５０による搬送時間を延長させる。 （もっと読む）

【課題】測定試料の電気的特性の合否判定を行うために用いる、複数の測定ポイントにおける測定値の上限許容値および下限許容値を、測定ポイントの数が多くても簡便に設定することができる検査装置、および、測定試料の合否範囲設定方法を提供する。
【解決手段】本発明は、ステップ４１で複数の測定ポイントの設定を予め行い、ステップ４２で良品試料の測定数を設定し、ステップ４３で良品試料の電気的特性を各測定ポイントで測定し記録することを、すべての良品試料で繰り返し、ステップ４６で測定ポイントごとに測定値を平均することで検査基準値を算出し、ステップ４７で上限幅および下限幅を設定して、ステップ４８で各検査基準値に上限幅を足して各測定ポイントにおける上限許容値として算出し、ステップ４９で各検査基準値から下限幅を引いて各測定ポイントにおける下限許容値として算出する方法、および、この処理を行う検査装置である。 （もっと読む）

【課題】非破壊、非接触で効率的にかつ高精度で透明導電膜の抵抗率を計測すること。
【解決手段】事前に行われた検査条件選定方法により選定された波長を有するＰ偏光の照明光を該方法により選定された入射角で、製造ラインを搬送される透光性基板上に製膜された透明導電膜に膜面側から照射する光照射装置３と、透明導電膜において反射された反射光を検出する光検出装置２と、検出した光の強度に基づいて該波長についての反射光の光量に係る評価値を算出し、評価値と抵抗率とが予め関連付けられている相関特性を用いて、算出した評価値から抵抗率を求める情報処理装置７とを具備する抵抗率検査装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 単一の搬送系上で、複数の温度で安定して特性測定の行える電子部品特性測定装置および電子部品選別装置を構成する。
【解決手段】 電気特性測定ユニット８ａ〜８ｃと排出ユニット９ａ〜９ｃとからなる常温での選別部、および、下搬送テーブル７に組み込まれたヒータ１０ａ〜１０ｃと電気特性測定ユニット８ｄ〜８ｆと排出ユニット９ｄ〜９ｆとからなる高温での選別部を、歯車状の上搬送テーブル１３と円盤状の下搬送テーブル７とからなる搬送系に備える。また、該搬送系に、電子部品１を供給するパーツフィーダ５、リニアフィーダ６、パッケージングテープ１４に良品部品をパッケージングするパッケージングユニット１１をそれぞれ備える。 （もっと読む）

【課題】被検査基板の導通検査を正確に行う。
【解決手段】制御部のＣＰＵ８１１は、予め選択された基準基板について測定点セット間の抵抗値である基準抵抗値を測定する基準抵抗測定部８１１ａと、測定点セット毎に閾値を設定する閾値設定部８１１ｃと、被検査基板の測定点セット間の抵抗値を検査抵抗値として測定する検査抵抗測定部８１１ｄと、測定点セット毎に閾値に基づいて検査抵抗値の良否を判定する判定部８１１ｅとを備えている。 （もっと読む）

【課題】電子部品が許容できる値を有するかどうかを判定するために電子部品のパラメータを自動的に試験する。
【解決手段】本方法（１０００，１１００，１２００，１３００，１４００）は、パラメータが測定できる少なくとも第１及び第２の測定位置を有する自動的電子部品試験機（２）を使用する。上記値が実際に許容範囲内にあるとき、試験工程それ自体によって、その値が誤って許容範囲内でないように思わせる。本方法は、電子部品（１２，１２０）を第１の測定位置に載置し、その第１の測定位置でパラメータを測定し、それによって、第１の測定パラメータ値を生成する。本方法もまた、電子部品（１２，１２０）を第２の測定位置に載置し、その第２の測定位置でパラメータを測定し、それによって、第２の測定パラメータ値を生成する。本方法は、全測定パラメータ値が許容範囲内にない場合にのみ、その電子部品（１２，１２０）を不合格にして、それによって、電子部品（１２，１２０）を誤って不合格にする確率は単一の測定ステップのみが行われる場合より小さい。 （もっと読む）

【課題】 標準試料の測定を減らすことできる、測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】 試験治具と基準治具とに実装した状態で、対応する少なくとも１つのポート（以下、「特定ポート」という。）について、少なくとも３種類の補正データ取得用試料５０，５２，５４をそれぞれ測定し、特定ポートについて試験治具及び基準治具の測定値を関係付ける第１の数式を決定する。試験治具と基準治具とに実装した状態で、特定ポートと他のポートとの間を接続する補正データ取得用スルーデバイス４６，４８をそれぞれ測定し、他のポートについて試験治具及び基準治具の測定値を関係付ける第２の数式を決定する。任意の電子部品を試験治具に実装した状態で測定し、第１の数式と第２の数式とを用いて、当該電子部品を基準治具に実装して測定したならば得られるであろう電子部品の電気特性の推定値を算出する。 （もっと読む）