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国際特許分類[H01L21/304]の内容

国際特許分類[H01L21/304]に分類される特許

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【課題】仮接着及び剥離が容易である仮接着材。
【解決手段】(A)下記の(A1)と(A2)とのヒドロシリル化により得られた、重量平均分子量15,000以上のオルガノポリシロキサン、
(A1):T単位シロキサン単位35〜99モル%及びM単位のシロキサン単位1〜25モル%を含み、ケイ素原子に結合したアルケニル基をケイ素原子結合全有機基の2モル%以上含有し、且つ、重量平均分子量が2,000を超えるアルケニル基含有オルガノポリシロキサン、
(A2)特定の、ケイ素原子結合水素原子を少なくとも2個を有するオルガノハイドロジェンポリシロキサン又はヒドロシリル基含有化合物、
及び、
(B)沸点220℃以下の有機溶剤、
を含有してなる仮接着材組成物。 (もっと読む)


【課題】電子材料上のレジストを短時間で確実に剥離除去する。
【解決手段】電子材料を過硫酸含有硫酸溶液で洗浄してレジストを剥離洗浄し、その後ガス溶解水でウェット洗浄する。過硫酸含有硫酸溶液によるレジスト剥離後のウェット洗浄を、ガス溶解水を用いて行うことにより、洗浄に要する時間を従来法に比べて大幅に短縮することができる。過硫酸含有硫酸溶液は、硫酸溶液を電気分解することによって製造されたものであることが好ましく、レジストの剥離洗浄装置からの過硫酸濃度が低下した硫酸溶液を電解反応装置に送給して再生し、過硫酸濃度を十分に高めた硫酸溶液を洗浄装置に循環することにより、高濃度の過硫酸によりレジストを効率的に剥離除去すると共に、硫酸溶液を繰り返し使用することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】凍結洗浄技術を用いて基板表面に付着したパーティクル等の汚染物質を除去する基板処理技術を、簡易な設備で、しかも低ランニングコストで提供する。
【解決手段】基板Wの表面に常温よりも高い凝固点を有する凝固対象液を供給して液膜を形成し、その液膜を凝固させて基板表面に凝固対象液の凝固体を形成した後、その凝固体を融解除去している。したがって、従来技術において凝固のために必須となっていた極低温ガスを使用する必要がなくなる。このため、ランニングコストを抑制することができる。また、供給ラインの断熱が不要となるため、装置や周辺設備の大規模化を防止することができ、プットプリントの低減を図ることができるとともに、装置や周辺設備のコストも抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】プラズマエッチング装置の温度差の大きい2つのフォーカスリングの隙間において低温の部品に堆積物が付着するのを防止する。
【解決手段】プラズマエッチング装置の処理室15内に配置されたウエハWの周縁を囲む内側フォーカスリング25a及び外側フォーカスリング25bからフォーカスリング25を構成し、内側フォーカスリング25aはウエハWに隣接して配置され且つ冷却され、外側フォーカスリング25bは内側フォーカスリング25aを囲み且つ冷却されず、更に、ブロック部材25cが、内側フォーカスリング25a及び外側フォーカスリング25bの間に配される。 (もっと読む)


【課題】剥離処理により被処理基板と支持基板の剥離処理を行う際に発生するパーティクルが、当該剥離装置の外部に拡散することを抑制する。
【解決手段】剥離システム1は、被処理ウェハW、支持ウェハS又は重合ウェハTを搬入出する搬入出ステーション2と、被処理ウェハW、支持ウェハS及び重合ウェハTに所定の処理を行う剥離処理ステーション3と、搬入出ステーション2と剥離処理ステーション3との間に設けられた搬送ステーション7とを有している。剥離処理ステーション3は、重合ウェハTを剥離する剥離装置30と、第1の洗浄装置31と、第2の洗浄装置33とを有している。搬送ステーション7内の圧力は、剥離装置30内の圧力、第1の洗浄装置31内の圧力及び第2の洗浄装置33内の圧力に対して陽圧である。 (もっと読む)


【課題】洗浄品質の高い枚葉式ウェーハ洗浄装置を提供する。
【解決手段】チャンバー11内においてウェーハ1を支持する回転テーブル12と、ウェーハ1の表面に洗浄液を供給する洗浄液供給ノズル13と、回転テーブル12の外周部に設けられたスピンカップ14と、回転テーブル12の外周部に設けられた排気口15と、スピンカップ14を昇降制御するスピンカップ昇降機構16と、チャンバー11の側面側に設けられた排気口17と、排気口17を開閉するシャッター18とを備え、シャッター18は、スピンカップ14に連動して昇降し、スピンカップ14が上昇して排気口15を開放しているときには排気口17を閉止し、スピンカップ14が降下して排気口15を閉止しているときには排気口17を開放する。これにより、チャンバー11の内圧をほぼ一定に保持することができる。 (もっと読む)


【課題】ワークの種類によらずワークの厚さを確実に測定することができる加工装置を提供する。
【解決手段】保持手段20に保持したワーク1のリング補強部4の上面4aに砥石37の下面37aを押し当てて研削加工する加工装置10において、測定手段50によって砥石37の下面37aの高さを検出し、該下面37aの高さ位置をワーク1の上面4aの高さ位置としてワーク1の厚さを測定する。 (もっと読む)


【課題】位置センサを備えることなく押圧手段を所定位置にセットアップでき、装置全体にかかるコストを低減すること。
【解決手段】本実施の形態に係るワーク保持装置は、気体供給部637によって供給される気体を吸引口から噴出しながら保持部(保持板624)とステージ602との間の距離を変化させ、このときの圧力変化のマップを圧力センサ633によって検出し、圧力センサ633の検出する圧力の値と前記マップに基づいて保持部とステージ602との間の距離を算出する構成とした。 (もっと読む)


【課題】ステージ上面に気密に貼り付けられたシートを、ステージ上面から容易に剥がすこと。
【解決手段】本実施の形態に係るステージ602は、シートSの外周領域を保持する第一の保持面652と、シートSの内側領域に対応して設けられた凹部622の内底面において、シートSの内側領域を保持する第二の保持面653と、凹部622の内周面にて、シートSと第二の保持面653と共に閉空間657を形成する側面654と、閉空間657からエアを吸引する吸引口813とが形成され、吸引口813からのエアの吸引により、第一の保持面652に保持されたシートSを引き伸ばしつつ、第二の保持面653に保持させる構成とした。 (もっと読む)


【課題】 所定深さの円形凹部と該円形凹部を囲繞する環状凸部を有するウエーハの研削方法を提供することである。
【解決手段】 ウエーハ裏面の中央部を研削砥石で第1の厚みまで研削して、該第1の厚みを有する円形凹部と該円形凹部を囲繞する環状凸部とを形成するウエーハの研削方法であって、ウエーハの直径の略1/2の直径を有する研削砥石でウエーハ裏面の少なくとも該環状凸部部分を含むウエーハの外周縁領域を該第1の厚みに所定値を加算した第2の厚みまで研削する第1研削ステップと、該第1研削ステップを実施した後、該研削砥石で該環状凸部部分を除くウエーハ裏面の中央部を該第1の厚みまで研削して底部に該第1の厚みを有する円形凹部と該円形凹部を囲繞する該第2の厚みからなる環状凸部とを形成する第2研削ステップと、を具備したことを特徴とする。 (もっと読む)


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