試験モジュール生成装置、試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置
【課題】試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語に詳しくないユーザでも、試験プログラムを容易に作成させる装置を提供する。
【解決手段】被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置を提供する。
【解決手段】被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置を提供する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験モジュール生成装置、試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被試験デバイスを試験装置で試験する場合、ユーザは、当該試験装置用のプログラム言語を用いて試験に応じた試験プログラムを作成し、試験プログラムをデバッグしてから試験に用いていた（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１ 特開２００６−３２３７０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、このような試験プログラムを作成するには、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語の知識およびプログラミング経験等が求められ、試験プログラムを簡単に作成することが困難であった。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の第１の態様においては、被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置、ならびに試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置を提供する。
【０００５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の構成例を試験モジュール１０と共に示す。
【図２】本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の動作フローを示す。
【図３】本実施形態に係る試験手順生成装置２００の構成例を試験手順２０と共に示す。
【図４】本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第１の構成例を示す。
【図５】本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第２の構成例を示す。
【図６】本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。
【図７】コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の構成例を示す。試験モジュール生成装置１００は、被試験デバイスを試験するために試験装置上で実行する試験モジュール１０を生成する。
【０００９】
試験モジュール生成装置１００は、例えば、被試験デバイスへの条件設定、または測定方法といった定型化されたアルゴリズムである試験メソッド１３２に、種々の試験条件を組み合わせることで様々な試験モジュール１０を生成する。試験モジュール生成装置１００は、条件ファイル生成部１１０と、条件ファイル記憶部１２０と、試験メソッド記憶部１３０と、試験メソッド選択部１４０と、条件ファイル選択部１５０と、試験モジュール生成部１６０と、を備える。
【００１０】
条件ファイル生成部１１０は、試験条件を入力し、入力された試験条件を定義する条件ファイル１２２を生成する。ここで、試験条件は、例えば、電源電圧値、測定対象ピン、電圧測定レンジ、およびスルーレート等といった試験実行に用いられる設定値である。条件ファイル生成部１１０は、編集部１１２を用いて、試験条件をユーザに入力させて条件ファイル１２２を生成する。
【００１１】
編集部１１２は、ユーザからの試験条件の入力に応じて、条件ファイル１２２を生成するグラフィカルユーザインターフェース（ＧＵＩ）ツールである。例えば、編集部１１２は、「電源電圧値」、「電圧測定レンジ」、または「スルーレート」等の設定項目と入力する値の単位とを、入力コントロールまたは入力コンポーネントと共に表示し、ユーザの数値入力によって試験条件を入力させる。
【００１２】
また、編集部１１２は、ラジオボタン、チェックボックス、スライダー、スピンボタン、リストボックス、ドロップダウンリスト、およびテキストボックス等のＧＵＩを用いてユーザからの試験条件を入力させてよい。また、編集部１１２は、過去に生成した条件ファイル１２２をユーザの指定により読み出して、ユーザの入力により試験条件を編集してよい。
【００１３】
編集部１１２は、生成する条件ファイル１２２に応じて、条件ファイル生成部１１０に複数備わる。例えば、編集部１１２ａは、被試験デバイスに電源を供給する場合の電圧値、電流値、およびリミット値等の電源供給条件が記述された条件ファイル１２２ａを生成する電源供給条件編集部として動作する。例えば、編集部１１２ｂは、被試験デバイスの各信号ピンの接続等のピン条件が記述された条件ファイル１２２ｂを生成するピン条件編集部として動作する。例えば、編集部１１２ｃは、信号電圧を被試験デバイスに供給するシーケンス等の電源シーケンス条件が記述される条件ファイル１２２ｃを生成する電源シーケンス条件編集部として動作する。
【００１４】
また、編集部１１２は、試験に応じて複数の条件ファイル１２２を生成してよい。例えば、電源供給条件編集部として動作する編集部１１２ａは、電源供給条件が記述された条件ファイル１２２ａ、１２２ｄ、１２２ｅ等を生成する。
【００１５】
条件ファイル記憶部１２０は、編集部１１２が生成した条件ファイル１２２を記憶する。条件ファイル記憶部１２０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００１６】
試験メソッド記憶部１３０は、試験メソッド１３２を記憶する。試験メソッド記憶部１３０は、予め生成させた複数の試験メソッド１３２を記憶してよい。試験メソッド記憶部１３０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００１７】
試験メソッド１３２は、基本試験プログラムの呼び出し順を指定する。また、試験メソッド１３２は、試験条件の定義を記述した定義部と、定義部が定義した試験条件と当該試験条件を設定すべきハードウェアモジュールとの対応づけを記述する変換部と、当該試験メソッド１３２における試験のシーケンスを記述した実行処理部と、を含む。
【００１８】
試験メソッド１３２は、条件ファイル１２２の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定との対応付けを記述する。これによって、試験メソッド１３２は、条件ファイル１２２に記述されたユーザの実行したい試験条件を、試験装置のハードウェアモジュールの設定に変換することができる。
【００１９】
また、試験メソッド１３２は、基本試験プログラムの呼び出し順である試験のシーケンスと共に、条件ファイル１２２の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定の対応付けを記述する。これによって、ユーザが条件ファイル１２２と試験メソッド１３２とを組み合わせることで、当該試験メソッド１３２の実行処理部に記述されたシーケンスを、ユーザの入力する試験条件で実行することができる。
【００２０】
即ち、ユーザは、試験条件とハードウェアモジュールの条件設定との対応付けを意識することなく、当該試験条件を入力することができる。試験メソッド１３２は、基本試験プログラムを順次呼び出して、被試験デバイスへの条件設定のシーケンス、または被試験デバイスの測定方法等を実行させるシーケンスが記述される。
【００２１】
例えば、試験メソッド１３２ａは、被試験デバイスの全ての信号ピンをオープンにして、条件ファイル１２２ａに指定された電源供給条件で電圧測定する処理と、測定結果が条件ファイル１２２ａに設定されたリミット範囲内であればパス、リミット範囲外であればフェイルと判断する処理と、を実行するシーケンスが記述される。
【００２２】
また、例えば、試験メソッド１３２ｂは、条件ファイル１２２ｄに指定された電源供給条件の電源電圧を被試験デバイスに印加する処理と、条件ファイル１２２ｂに記述されたピン条件に指定された信号ピンに、条件ファイル１２２ｃの電源シーケンス条件に従って信号電圧を印加する処理と、条件ファイル１２２ｄの電源供給条件に従って電源ピンの電流測定する処理と、条件ファイル１２２ｄに指定されたリミット値で測定結果のパス／フェイル判定する処理と、を実行するシーケンスが記述される。このように、試験メソッド１３２は、試験条件の設定値は記述されないまま、定型化された試験のシーケンスが記述される。
【００２３】
試験メソッド選択部１４０は、生成すべき試験モジュール１０に応じた試験メソッド１３２の選択指示をユーザから受け取る。試験メソッド選択部１４０は、試験メソッド記憶部１３０に記憶された複数の試験メソッド１３２に付されたファイル名またはラベル等を一覧表示させ、ユーザに試験メソッド１３２を選択させてよい。
【００２４】
条件ファイル選択部１５０は、選択された試験メソッド１３２が要求するパラメータに対応する条件ファイル１２２の選択指示をユーザから受け取る。ここで、条件ファイル選択部１５０は、試験メソッド１３２に対応する複数の条件ファイル１２２に付されたファイル名またはラベル等を一覧表示させ、ユーザに条件ファイル１２２を選択させてよい。例えば、試験メソッド１３２ａが条件ファイル１２２として電源供給条件を用いる場合、条件ファイル選択部１５０は、電源供給条件が記述された条件ファイル１２２ａ、１２２ｄ、１２２ｅ等を一覧表示してユーザに選択指示させる。
【００２５】
また、試験メソッド１３２ｂが条件ファイル１２２として電源供給条件、ピン条件、および電源シーケンス条件を用いる場合、条件ファイル選択部１５０は、それぞれの試験条件が記述された条件ファイル１２２を、試験条件毎に一覧表示してユーザに選択指示させてよい。このような場合に、ユーザは、試験メソッド１３２ａに対して条件ファイル１２２ａを、試験メソッド１３２ｂに対して条件ファイル１２２ｂ、１２２ｃ、および１２２ｄを選択指示してよい。
【００２６】
試験モジュール生成部１６０は、選択された試験メソッド１３２に応じた試験を選択された条件ファイル１２２により定義されたパラメータで実行する試験モジュール１０を生成する。例えば、試験モジュール生成部１６０は、試験メソッド１３２ａを条件ファイル１２２ａで実行し、次に、試験メソッド１３２ｂを条件ファイル１２２ｂ、１２２ｃ、および１２２ｄで実行する試験モジュール１０を生成する。
【００２７】
図２は、本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の動作フローを示す。まず、条件ファイル生成部１１０は、実行すべき試験の試験条件をユーザに入力させて試験条件を記述した条件ファイルを生成する（Ｓ２００）。ここで、ユーザは、条件ファイルに応じた編集部１１２のＧＵＩを用いて試験条件を入力する。
【００２８】
次に、試験モジュール生成部は、試験メソッド選択部１４０を用いて実行すべき試験に応じた試験メソッド１３２をユーザに選択させる（Ｓ２１０）。ここで、試験モジュール生成部１６０は、ユーザから選択された試験メソッド１３２内にパラメータ入力が指定されている場合、当該ユーザにパラメータを入力させる。
【００２９】
これによって、試験モジュール生成部１６０は、条件ファイル１２２に記述されていない例えば被試験デバイスの測定対象ピン等のパラメータをユーザに入力させることができる。この場合、試験モジュール生成装置１００は、測定対象ピン毎に条件ファイル１２２を生成することなく、被試験デバイスの異なる複数のピンに対して略同一の試験を実行させる試験モジュール１０を効率的に生成することができる。
【００３０】
また、試験モジュール生成部１６０は、パラメータを入力する入力画面において、詳細ボタンが押されると、対応するハードウェアモジュールに関する他のパラメータを設定する設定画面を表示する。このように、試験モジュール生成部１６０は、ユーザが詳細なパラメータを操作したい場合に、詳細ボタンを押すことで詳細パラメータを設定する画面を表示する。したがって、試験モジュール生成部１６０は、詳細なパラメータについてはユーザに意識させずに試験モジュール１０を生成することができる。この場合、試験モジュール生成部１６０は、詳細なパラメータを予め定められた値に設定してよい。
【００３１】
次に、試験モジュール生成部１６０は、条件ファイル選択部１５０を用いてユーザが選択した試験メソッド１３２に応じた条件ファイル１２２をユーザに選択させる（Ｓ２２０）。即ち、試験モジュール生成部１６０は、ユーザから選択された試験メソッド１３２内にファイル入力が指定されている場合、当該ユーザに条件ファイル１２２を指定させる。
【００３２】
試験モジュール生成部１６０は、生成すべき試験モジュール１０に含まれる試験メソッド１３２をユーザが選択し終えるまでステップＳ２１０からステップＳ２２０を繰り返す（Ｓ２３０）。試験モジュール生成部１６０は、ユーザが試験メソッド１３２の選択と、選択した試験メソッド１３２に対応する条件ファイル１２２の指定が終了してから、試験モジュール１０を生成する（Ｓ２４０）。
【００３３】
このように、ユーザは、実行したい試験に応じた試験メソッド１３２を選択し、試験メソッド１３２の試験条件である条件ファイル１２２を生成して選択した試験メソッド１３２と対応づけることで、当該試験メソッド１３２に記述された試験を試験装置に実行させる試験モジュール１０を生成することができる。したがって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、試験モジュール１０を生成することができる。
【００３４】
試験モジュール生成装置１００は、例えば、被試験デバイスの電気的接続を試験するコンタクト試験、待機時の電源電流試験、動作時の電源電流試験、入力電流試験、出力電流試験、ファンクション試験、およびタイミング・パラメータ試験等を実行する試験モジュール１０を生成することができる。また、試験モジュール生成装置１００は、特殊な試験を実行する試験モジュール１０を生成してよい。この場合、試験モジュール生成装置１００は、ユーザの入力によって、特殊な試験メソッド１３２を生成してよい。
【００３５】
即ち、ユーザは、基本試験プログラムの呼び出し順である試験のシーケンスと共に、条件ファイル１２２の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定の対応付けを記述することで、試験メソッド１３２を生成することができる。このように、試験モジュール生成装置１００は、試験プログラムをプログラミングできるユーザに対しては、試験メソッド１３２を生成させて特殊な試験を実行する試験モジュール１０を生成させることができる。
【００３６】
図３は、本実施形態に係る試験手順生成装置２００の構成例を示す。試験手順生成装置２００は、被試験デバイスの試験手順２０を生成する。ここで、試験手順２０は、複数の試験モジュール１０を１つの試験フローとして管理する。試験手順生成装置２００は、図１および図２で説明した試験モジュール生成装置１００と、試験モジュール記憶部２１０と、テーブル表示部２２０と、試験指定部２３０とを備える。
【００３７】
試験モジュール記憶部２１０は、試験モジュール生成装置１００が生成した試験モジュール１０を記憶する。試験モジュール記憶部２１０は、予め生成させた複数の試験モジュール１０を記憶してよい。試験モジュール記憶部２１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００３８】
テーブル表示部２２０は、試験手順２０に含める試験モジュール１０を各行に割り当てる試験フローテーブルを表示する。テーブル表示部２２０は、試験モジュール１０と共に、試験モジュール１０に含まれる試験メソッド１３２と、当該試験メソッド１３２と組み合わせる条件ファイル１２２とを、当該試験モジュール１０が割り当てられた試験フローテーブルの行に割り当てて表示してよい。
【００３９】
試験指定部２３０は、試験フローテーブル中において試験モジュール１０を指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、試験モジュール１０の名称を試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる。ここで、試験モジュール１０の名称は、試験モジュール１０に付されたファイル名であってよく、これに代えて、試験モジュールに付されたラベルであってよい。試験手順生成装置２００は、テーブル表示部２２０および試験指定部２３０が生成した試験フローテーブルを、試験手順２０として出力する。
【００４０】
図４は、本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第１の構成例を示す。試験フローテーブル３００は、試験モジュール１０を実行順に並べて表形式で表示する。
【００４１】
試験フローテーブル３００は、動作表示モードと、状態表示モードとを有してよい。本図において、試験フローテーブル３００の動作表示モードを説明する。試験フローテーブル３００は、表示モード切替部３１２と、行追加／削除部３１４と、行操作部３１６と、実行指定列３２０と、試験モジュール列３３０と、後処理指定列３４２と、分岐条件指定列３４４と、条件成立時分岐先指定列３４６と、条件不成立時分岐先指定列３４８とを備える。
【００４２】
表示モード切替部３１２は、試験フローテーブル３００の表示モードを切り替える。表示モード切替部３１２は、ラベルを「Ａｃｔｉｏｎ」と付されたボタンと、ラベルを「Ｃｏｎｄｉｔｉｏｎ」と付されたボタンとを有してよい。例えば、表示モード切替部３１２は、「Ａｃｔｉｏｎ」ボタンをユーザが押したことに応じて、表示モードを動作表示モードにし、「Ｃｏｎｄｉｔｉｏｎ」ボタンを押したことに応じて、表示モードを状態表示モードにする。本図は、表示モードが動作表示モードになった試験フローテーブル３００の一例を示す。
【００４３】
行追加／削除部３１４は、表示されている表の行を追加または削除する。行追加／削除部３１４は、ラベルを「Ａｄｄ」と付されたボタンと、ラベルを「Ｄｅｌ」と付されたボタンとを有してよい。例えば、行追加／削除部３１４は、「Ａｄｄ」ボタンをユーザが押したことに応じて表に１行追加し、「Ｄｅｌ」ボタンを押したことに応じて表から１行削除する。
【００４４】
行操作部３１６は、ユーザが指定した行と、１つ上の行または１つ下の行と入れ替える。行操作部３１６は、上方向の矢印のアイコンが付されたボタンと、下方向の矢印のアイコンが付されたボタンとを有してよい。例えば、行操作部３１６は、ユーザが第３行を指定して選択した後に、上矢印ボタンを押したことに応じて第３行と第２行とを入れ替える。ここで、ユーザは、マウス、トラックボール、ペンタブレット、またはカーソル入力等によって、行を指定して選択してよい。
【００４５】
実行指定列３２０は、対応する試験モジュール１０を実行するか否かを指定する。実行指定列３２０は、行番号を示す列である。実行指定列３２０は、表の第１行から、番号を１から順に割り当ててよい。本図において、実行指定列３２０は、第１行から第６行に行番号を割り当てた例を示す。実行指定列３２０は、チェックボックス３２２を有し、ユーザが当該チェックボックス３２２にチェックを入れたことに応じて、チェックを入れた行に入力された試験モジュール１０を実行すべき試験モジュール１０としてよい。
【００４６】
試験モジュール列３３０は、ユーザが入力した試験手順２０に含める試験モジュール１０を１行毎に表示する列である。試験モジュール列３３０は、試験モジュール記憶部２１０に記憶された試験モジュール１０のファイル名またはラベル等の名称を表示するドロップダウンリスト３３２を有してよい。これによって、試験指定部２３０は、複数の試験モジュール１０の中から一の試験モジュール１０をユーザに選択させ、当該試験モジュール１０の名称を試験フローテーブル３００の捜査対象のセルに表示させることができる。
【００４７】
本図において、ユーザが第６行に試験モジュール１０を入力する例を示す。例えば、試験モジュール１０の名称である「Ｉｓｔｂ」、「Ｌｅａｋａｇｅ」、「ＰＧＭ ｍｏｄｅ」、「Ｅｒａｓｅ ｍｏｄｅ」、および「Ｒｅａｄ」を表示するドロップダウンリスト３３２から、ユーザが「Ｉｓｔｂ」を選択することに応じて、試験指定部２３０は、第６行の試験モジュール列３３０である操作対象セルに「Ｉｓｔｂ」を表示させる。
【００４８】
後処理指定列３４２は、試験モジュール１０の実行後に被試験デバイスの電源を遮断するか否かを指定する。後処理指定列３４２は、ユーザの入力に応じて、試験モジュール１０が試験実行された後の状態の指定を表示する列である。後処理指定列３４２は、例えば、試験モジュール１０の実行後に、電圧電流設定状態を維持する指定を「−」と表示し、電圧電流設定状態を予め定められた順に遮断する指定を「ＰＷＲ ＯＦＦ」と表示する。本図において、ユーザは、全ての試験モジュール１０に対して、試験実行後に電圧電流設定状態を維持することを入力した例を示す。
【００４９】
分岐条件指定列３４４は、分岐条件を指定する。即ち、分岐条件指定列３４４は、ユーザの入力に応じて、試験モジュール１０が試験実行された後の分岐条件を表示する列である。例えば、分岐条件指定列３４４は、試験モジュール１０の試験のパス／フェイル結果に基づいて試験フローを分岐することをユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルを「Ｐ／Ｆ」と表示する。本図において、ユーザが、全ての試験モジュール１０に対して、試験後はパス／フェイル結果に応じて分岐することを入力した例を示す。
【００５０】
条件成立時分岐先指定列３４６は、分岐条件指定列３４４の分岐条件を満たす場合の分岐先を指定する。条件不成立時分岐先指定列３４８は、分岐条件指定列３４４の分岐条件を満たさない場合の分岐先を指定する。条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、ユーザの入力に応じて、分岐先として次の行を指定してよく、これに代えて、行番号または試験モジュール１０の名称等で指定してよい。また、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、試験フローの停止を指定してよい。
【００５１】
例えば、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、分岐先を次の行にすることをユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルを「ｎｅｘｔ」と表示する。また、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、行番号または試験モジュール１０の名称等を分岐先としてユーザに入力されたことに応じて、当該行番号または試験モジュール１０の名称等を操作対象セルに表示してよい。
【００５２】
また、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、試験フローの停止をユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルを「ｓｔｏｐ」と表示してよい。本図において、ユーザが、全ての試験モジュール１０に対して、分岐条件指定列３４４の分岐条件を満たす場合および満たさない場合において、分岐先を次の行にすることを入力した例を示す。この場合、試験フローテーブル３００は、第１行の試験モジュール１０から、第６行の試験モジュール１０までを順次実行する試験フローを示す。
【００５３】
図５は、本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第２の構成例を示す。本図において、試験フローテーブル３００の状態表示モードを説明する。本構成例の試験フローテーブル３００において、図４に示された本実施形態に係る試験フローテーブル３００の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。試験フローテーブル３００は、試験メソッド列３５０と、試験条件列３６０とを備える。
【００５４】
試験メソッド列３５０は、試験モジュール１０が使用する試験メソッド１３２を表示する。試験メソッド列３５０の各行のセルは、試験モジュール１０が使用する試験メソッド１３２を列挙してよい。例えば、５番目に実行される「Ｒｅａｄ」試験モジュール１０は、「Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」という名称の試験メソッド１３２を実行する。
【００５５】
ここで、テーブル表示部２２０は、ユーザが試験フローテーブル３００中の各行の試験メソッド１３２をクリックされたことに応じて、当該試験メソッド１３２を編集させる編集画面を表示させてよい。これによって、ユーザは、実行すべき試験の試験フローを確認させつつ、試験メソッド１３２を編集することができる。
【００５６】
試験条件列３６０は、試験に用いる試験条件を指定する条件ファイル１２２を表示する。試験条件列３６０の各行のセルには、同一の行に表示された試験メソッド１３２に対応する少なくとも１つの条件ファイル１２２が列挙されてよい。例えば、３番目に実行される「ＰＧＭ ｍｏｄｅ」試験モジュール１０が用いる「Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」試験メソッド１３２は、「Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」、「Ｐａｔｔｅｒｎ Ｅｄｉｔｏｒ」、および「Ｓａｍｐｌｅ」という名称の条件ファイル１２２に記述された試験条件で試験を実行する。
【００５７】
テーブル表示部２２０は、試験フローテーブル３００中の各行の条件ファイル１２２をクリックすると、条件ファイル１２２を編集させる編集画面を表示する。ここで、テーブル表示部２２０は、試験モジュール生成装置１００に通知して、条件ファイル生成部１１０内の条件ファイル１２２に対応する編集部１１２に当該条件ファイル１２２を編集させてよい。これによって、ユーザは、実行すべき試験の試験フローを確認しつつ、条件ファイル１２２を編集することができる。
【００５８】
以上の本実施例の試験手順生成装置２００によれば、ユーザの入力によって、試験で実行させる試験モジュール１０と、当該試験モジュール１０を実行させる順序と、当該試験モジュール１０の試験実行後の被試験デバイスの電源状態と、試験のパス／フェイル結果に応じた分岐処理とを指定する試験手順を生成することができる。また、試験手順生成装置２００は、ユーザに試験装置のハードウェア仕様およびプログラム言語を意識することなく、実行すべき試験の試験手順を生成することができる。
【００５９】
図６は、本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。本実施形態の試験装置５００において、図３に示された本実施形態に係る試験手順生成装置２００の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。試験装置５００は、被試験デバイス３０を試験する。試験装置５００は、図３から５で説明した試験手順生成装置２００と、試験手順記憶部５１０と、試験プログラム生成部５２０と、試験プログラム記憶部５３０と、試験実行部５４０とを備える。
【００６０】
試験手順記憶部５１０は、試験手順生成装置２００が生成した試験手順２０を記憶する。試験手順記憶部５１０は、予め生成させた複数の試験手順２０を記憶してよい。試験手順記憶部５１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００６１】
試験プログラム生成部５２０は、試験手順生成装置２００が生成した試験手順２０に基づき、試験プログラムを生成する。試験プログラム生成部５２０は、実行形式の試験プログラムを生成してよい。試験手順２０には、ハードウェアモジュールのアルゴリズム等を記述した試験メソッド１３２、試験メソッド１３２が用いる試験条件が記述された条件ファイル１２２、および試験モジュール１０の試験フローおよび分岐処理の情報を有するので、試験プログラム生成部５２０は、これらの情報に応じた試験プログラムを自動で生成することができる。
【００６２】
試験プログラム記憶部５３０は、試験プログラム生成部５２０が生成した試験プログラムを記憶する。試験プログラム記憶部５３０は、予め生成させた複数の試験プログラムを記憶してよい。試験プログラム記憶部５３０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００６３】
試験実行部５４０は、試験プログラム記憶部５３０に記憶された試験プログラムを実行して被試験デバイス３０を試験する。試験実行部５４０は、アナログ回路、デジタル回路、アナログ／デジタル混載回路、メモリ、およびシステム・オン・チップ（ＳＯＣ）等の少なくとも１つの被試験デバイス３０を試験してよい。試験実行部５４０は、被試験デバイス３０を試験するための試験プログラムに基づく試験信号を被試験デバイス３０に入力して、試験信号に応じて被試験デバイス３０が出力する出力信号に基づいて被試験デバイス３０の良否を判定する。
【００６４】
また、試験実行部５４０は、試験手順記憶部５１０に記憶された試験手順２０を直接受け取って、試験手順２０に応じた試験を実行してよい。即ち、試験実行部５４０は、試験手順２０に含めた各試験モジュール１０を順次実行して被試験デバイス３０を試験する。例えば、試験実行部５４０は、試験フローテーブル３００において、ユーザが試験手順２０の実行を入力したことに応じて、当該試験手順２０を実行する。
【００６５】
また、試験実行部５４０は、試験モジュール記憶部２１０に記憶された試験モジュール１０を直接受け取って、試験モジュール１０に応じた試験を実行してよい。例えば、試験実行部５４０は、試験フローテーブル３００の操作または試験モジュール生成装置１００の試験モジュール１０生成の操作において、ユーザが試験モジュール１０の実行を入力したことに応じて、当該試験モジュール１０を実行する。
【００６６】
このように、試験実行部５４０は、試験モジュール生成装置１００でユーザが生成させた試験モジュール１０、または試験手順生成装置２００でユーザが生成させた試験手順２０を実行することができる。
【００６７】
以上の本実施例において、試験実行部５４０は、試験手順生成装置２００と共に試験装置５００に備わることを説明した。これに代えて、試験実行部５４０は、試験手順生成装置２００の外部に設置される試験装置であってよい。この場合、例えば、試験手順生成装置２００、試験手順記憶部５１０、試験プログラム生成部５２０、および試験プログラム記憶部５３０は、試験プログラム生成装置であり、当該試験プログラム生成装置と試験装置とは電気的に接続される。ここで、試験プログラム生成装置と試験装置とは、有線および／または無線通信によるネットワークで接続されてよい。
【００６８】
これによって、試験プログラム生成装置は、パーソナル・コンピュータまたはワークステーション等の計算機装置で構築することができ、試験装置とは異なる場所で試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置内で試験プログラムを生成できるので、当該試験プログラムをデバッグするアプリケーションを当該計算機装置内で実行することで、効率的に試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置は、試験結果の評価・解析アプリケーションを実行することで、試験装置が試験を実行中に、ユーザは試験結果の評価および解析作業をすることができる。
【００６９】
図７は、コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、および表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、およびＤＶＤドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部と、を備える。
【００７０】
ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００およびグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０およびＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
【００７１】
入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラムおよびデータを格納する。ＤＶＤドライブ２０６０は、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。
【００７２】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、および／または、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０を入出力コントローラ２０８４へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ２０８４へと接続する。
【００７３】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５、またはＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。
【００７４】
プログラムは、コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験モジュール生成装置１００、試験手順生成装置２００、または試験プログラム生成装置として機能させる。
【００７５】
プログラムに記述された情報処理は、コンピュータ１９００に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である試験モジュール生成装置１００、試験手順生成装置２００、または試験プログラム生成装置として機能する。そして、この具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ１９００の使用目的に応じた情報の演算または加工を実現することにより、使用目的に応じた特有の条件ファイル生成部１１０、条件ファイル記憶部１２０、試験メソッド記憶部１３０、試験メソッド選択部１４０、条件ファイル選択部１５０、試験モジュール生成部１６０、試験モジュール記憶部２１０、テーブル表示部２２０、試験指定部２３０等が構築される。
【００７６】
一例として、コンピュータ１９００と外部の装置等との間で通信を行う場合には、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス２０３０に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス２０３０は、ＣＰＵ２０００の制御を受けて、ＲＡＭ２０２０、ハードディスクドライブ２０４０、フレキシブルディスク２０９０、またはＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス２０３０は、ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、ＣＰＵ２０００が転送元の記憶装置または通信インターフェイス２０３０からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス２０３０または記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。
【００７７】
また、ＣＰＵ２０００は、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０（ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５）、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０（フレキシブルディスク２０９０）等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をＤＭＡ転送等によりＲＡＭ２０２０へと読み込ませ、ＲＡＭ２０２０上のデータに対して各種の処理を行う。そして、ＣＰＵ２０００は、処理を終えたデータを、ＤＭＡ転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、ＲＡＭ２０２０は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはＲＡＭ２０２０および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはＲＡＭ２０２０の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもＲＡＭ２０２０、メモリ、および／または記憶装置に含まれるものとする。
【００７８】
また、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、ＲＡＭ２０２０へと書き戻す。例えば、ＣＰＵ２０００は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合（または不成立であった場合）に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。
【００７９】
また、ＣＰＵ２０００は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第１属性の属性値に対し第２属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、ＣＰＵ２０００は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第１属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第２属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第１属性に対応付けられた第２属性の属性値を得ることができる。
【００８０】
以上に示したプログラムまたはモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤまたはＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスクまたはＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。
【００８１】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００８２】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【００８３】
１０ 試験モジュール、２０ 試験手順、３０ 被試験デバイス、１００ 試験モジュール生成装置、１１０ 条件ファイル生成部、１１２ 編集部、１２０ 条件ファイル記憶部、１２２ 条件ファイル、１３０ 試験メソッド記憶部、１３２ 試験メソッド、１４０ 試験メソッド選択部、１５０ 条件ファイル選択部、１６０ 試験モジュール生成部、２００ 試験手順生成装置、２１０ 試験モジュール記憶部、２２０ テーブル表示部、２３０ 試験指定部、３００ 試験フローテーブル、３１２ 表示モード切替部、３１４ 行追加／削除部、３１６ 行操作部、３２０ 実行指定列、３２２ チェックボックス、３３０ 試験モジュール列、３３２ ドロップダウンリスト、３４２ 後処理指定列、３４４ 分岐条件指定列、３４６ 条件成立時分岐先指定列、３４８ 条件不成立時分岐先指定列、３５０ 試験メソッド列、３６０ 試験条件列、５００ 試験装置、５１０ 試験手順記憶部、５２０ 試験プログラム生成部、５３０ 試験プログラム記憶部、５４０ 試験実行部、１９００ コンピュータ、２０００ ＣＰＵ、２０１０ ＲＯＭ、２０２０ ＲＡＭ、２０３０ 通信インターフェイス、２０４０ ハードディスクドライブ、２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ、２０６０ ＤＶＤドライブ、２０７０ 入出力チップ、２０７５ グラフィック・コントローラ、２０８０ 表示装置、２０８２ ホスト・コントローラ、２０８４ 入出力コントローラ、２０９０ フレキシブルディスク、２０９５ ＤＶＤ−ＲＯＭ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験モジュール生成装置、試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被試験デバイスを試験装置で試験する場合、ユーザは、当該試験装置用のプログラム言語を用いて試験に応じた試験プログラムを作成し、試験プログラムをデバッグしてから試験に用いていた（例えば、特許文献１参照）。
特許文献１ 特開２００６−３２３７０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、このような試験プログラムを作成するには、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語の知識およびプログラミング経験等が求められ、試験プログラムを簡単に作成することが困難であった。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の第１の態様においては、被試験デバイスの試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、生成すべき試験モジュールに応じた試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択部と、選択された試験メソッドが要求するパラメータに対応する条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、選択された試験メソッドに応じた試験を選択された条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、を備える試験モジュール生成装置、ならびに試験手順生成装置、生成方法、プログラム、および試験装置を提供する。
【０００５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の構成例を試験モジュール１０と共に示す。
【図２】本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の動作フローを示す。
【図３】本実施形態に係る試験手順生成装置２００の構成例を試験手順２０と共に示す。
【図４】本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第１の構成例を示す。
【図５】本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第２の構成例を示す。
【図６】本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。
【図７】コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【０００８】
図１は、本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の構成例を示す。試験モジュール生成装置１００は、被試験デバイスを試験するために試験装置上で実行する試験モジュール１０を生成する。
【０００９】
試験モジュール生成装置１００は、例えば、被試験デバイスへの条件設定、または測定方法といった定型化されたアルゴリズムである試験メソッド１３２に、種々の試験条件を組み合わせることで様々な試験モジュール１０を生成する。試験モジュール生成装置１００は、条件ファイル生成部１１０と、条件ファイル記憶部１２０と、試験メソッド記憶部１３０と、試験メソッド選択部１４０と、条件ファイル選択部１５０と、試験モジュール生成部１６０と、を備える。
【００１０】
条件ファイル生成部１１０は、試験条件を入力し、入力された試験条件を定義する条件ファイル１２２を生成する。ここで、試験条件は、例えば、電源電圧値、測定対象ピン、電圧測定レンジ、およびスルーレート等といった試験実行に用いられる設定値である。条件ファイル生成部１１０は、編集部１１２を用いて、試験条件をユーザに入力させて条件ファイル１２２を生成する。
【００１１】
編集部１１２は、ユーザからの試験条件の入力に応じて、条件ファイル１２２を生成するグラフィカルユーザインターフェース（ＧＵＩ）ツールである。例えば、編集部１１２は、「電源電圧値」、「電圧測定レンジ」、または「スルーレート」等の設定項目と入力する値の単位とを、入力コントロールまたは入力コンポーネントと共に表示し、ユーザの数値入力によって試験条件を入力させる。
【００１２】
また、編集部１１２は、ラジオボタン、チェックボックス、スライダー、スピンボタン、リストボックス、ドロップダウンリスト、およびテキストボックス等のＧＵＩを用いてユーザからの試験条件を入力させてよい。また、編集部１１２は、過去に生成した条件ファイル１２２をユーザの指定により読み出して、ユーザの入力により試験条件を編集してよい。
【００１３】
編集部１１２は、生成する条件ファイル１２２に応じて、条件ファイル生成部１１０に複数備わる。例えば、編集部１１２ａは、被試験デバイスに電源を供給する場合の電圧値、電流値、およびリミット値等の電源供給条件が記述された条件ファイル１２２ａを生成する電源供給条件編集部として動作する。例えば、編集部１１２ｂは、被試験デバイスの各信号ピンの接続等のピン条件が記述された条件ファイル１２２ｂを生成するピン条件編集部として動作する。例えば、編集部１１２ｃは、信号電圧を被試験デバイスに供給するシーケンス等の電源シーケンス条件が記述される条件ファイル１２２ｃを生成する電源シーケンス条件編集部として動作する。
【００１４】
また、編集部１１２は、試験に応じて複数の条件ファイル１２２を生成してよい。例えば、電源供給条件編集部として動作する編集部１１２ａは、電源供給条件が記述された条件ファイル１２２ａ、１２２ｄ、１２２ｅ等を生成する。
【００１５】
条件ファイル記憶部１２０は、編集部１１２が生成した条件ファイル１２２を記憶する。条件ファイル記憶部１２０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００１６】
試験メソッド記憶部１３０は、試験メソッド１３２を記憶する。試験メソッド記憶部１３０は、予め生成させた複数の試験メソッド１３２を記憶してよい。試験メソッド記憶部１３０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００１７】
試験メソッド１３２は、基本試験プログラムの呼び出し順を指定する。また、試験メソッド１３２は、試験条件の定義を記述した定義部と、定義部が定義した試験条件と当該試験条件を設定すべきハードウェアモジュールとの対応づけを記述する変換部と、当該試験メソッド１３２における試験のシーケンスを記述した実行処理部と、を含む。
【００１８】
試験メソッド１３２は、条件ファイル１２２の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定との対応付けを記述する。これによって、試験メソッド１３２は、条件ファイル１２２に記述されたユーザの実行したい試験条件を、試験装置のハードウェアモジュールの設定に変換することができる。
【００１９】
また、試験メソッド１３２は、基本試験プログラムの呼び出し順である試験のシーケンスと共に、条件ファイル１２２の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定の対応付けを記述する。これによって、ユーザが条件ファイル１２２と試験メソッド１３２とを組み合わせることで、当該試験メソッド１３２の実行処理部に記述されたシーケンスを、ユーザの入力する試験条件で実行することができる。
【００２０】
即ち、ユーザは、試験条件とハードウェアモジュールの条件設定との対応付けを意識することなく、当該試験条件を入力することができる。試験メソッド１３２は、基本試験プログラムを順次呼び出して、被試験デバイスへの条件設定のシーケンス、または被試験デバイスの測定方法等を実行させるシーケンスが記述される。
【００２１】
例えば、試験メソッド１３２ａは、被試験デバイスの全ての信号ピンをオープンにして、条件ファイル１２２ａに指定された電源供給条件で電圧測定する処理と、測定結果が条件ファイル１２２ａに設定されたリミット範囲内であればパス、リミット範囲外であればフェイルと判断する処理と、を実行するシーケンスが記述される。
【００２２】
また、例えば、試験メソッド１３２ｂは、条件ファイル１２２ｄに指定された電源供給条件の電源電圧を被試験デバイスに印加する処理と、条件ファイル１２２ｂに記述されたピン条件に指定された信号ピンに、条件ファイル１２２ｃの電源シーケンス条件に従って信号電圧を印加する処理と、条件ファイル１２２ｄの電源供給条件に従って電源ピンの電流測定する処理と、条件ファイル１２２ｄに指定されたリミット値で測定結果のパス／フェイル判定する処理と、を実行するシーケンスが記述される。このように、試験メソッド１３２は、試験条件の設定値は記述されないまま、定型化された試験のシーケンスが記述される。
【００２３】
試験メソッド選択部１４０は、生成すべき試験モジュール１０に応じた試験メソッド１３２の選択指示をユーザから受け取る。試験メソッド選択部１４０は、試験メソッド記憶部１３０に記憶された複数の試験メソッド１３２に付されたファイル名またはラベル等を一覧表示させ、ユーザに試験メソッド１３２を選択させてよい。
【００２４】
条件ファイル選択部１５０は、選択された試験メソッド１３２が要求するパラメータに対応する条件ファイル１２２の選択指示をユーザから受け取る。ここで、条件ファイル選択部１５０は、試験メソッド１３２に対応する複数の条件ファイル１２２に付されたファイル名またはラベル等を一覧表示させ、ユーザに条件ファイル１２２を選択させてよい。例えば、試験メソッド１３２ａが条件ファイル１２２として電源供給条件を用いる場合、条件ファイル選択部１５０は、電源供給条件が記述された条件ファイル１２２ａ、１２２ｄ、１２２ｅ等を一覧表示してユーザに選択指示させる。
【００２５】
また、試験メソッド１３２ｂが条件ファイル１２２として電源供給条件、ピン条件、および電源シーケンス条件を用いる場合、条件ファイル選択部１５０は、それぞれの試験条件が記述された条件ファイル１２２を、試験条件毎に一覧表示してユーザに選択指示させてよい。このような場合に、ユーザは、試験メソッド１３２ａに対して条件ファイル１２２ａを、試験メソッド１３２ｂに対して条件ファイル１２２ｂ、１２２ｃ、および１２２ｄを選択指示してよい。
【００２６】
試験モジュール生成部１６０は、選択された試験メソッド１３２に応じた試験を選択された条件ファイル１２２により定義されたパラメータで実行する試験モジュール１０を生成する。例えば、試験モジュール生成部１６０は、試験メソッド１３２ａを条件ファイル１２２ａで実行し、次に、試験メソッド１３２ｂを条件ファイル１２２ｂ、１２２ｃ、および１２２ｄで実行する試験モジュール１０を生成する。
【００２７】
図２は、本実施形態に係る試験モジュール生成装置１００の動作フローを示す。まず、条件ファイル生成部１１０は、実行すべき試験の試験条件をユーザに入力させて試験条件を記述した条件ファイルを生成する（Ｓ２００）。ここで、ユーザは、条件ファイルに応じた編集部１１２のＧＵＩを用いて試験条件を入力する。
【００２８】
次に、試験モジュール生成部は、試験メソッド選択部１４０を用いて実行すべき試験に応じた試験メソッド１３２をユーザに選択させる（Ｓ２１０）。ここで、試験モジュール生成部１６０は、ユーザから選択された試験メソッド１３２内にパラメータ入力が指定されている場合、当該ユーザにパラメータを入力させる。
【００２９】
これによって、試験モジュール生成部１６０は、条件ファイル１２２に記述されていない例えば被試験デバイスの測定対象ピン等のパラメータをユーザに入力させることができる。この場合、試験モジュール生成装置１００は、測定対象ピン毎に条件ファイル１２２を生成することなく、被試験デバイスの異なる複数のピンに対して略同一の試験を実行させる試験モジュール１０を効率的に生成することができる。
【００３０】
また、試験モジュール生成部１６０は、パラメータを入力する入力画面において、詳細ボタンが押されると、対応するハードウェアモジュールに関する他のパラメータを設定する設定画面を表示する。このように、試験モジュール生成部１６０は、ユーザが詳細なパラメータを操作したい場合に、詳細ボタンを押すことで詳細パラメータを設定する画面を表示する。したがって、試験モジュール生成部１６０は、詳細なパラメータについてはユーザに意識させずに試験モジュール１０を生成することができる。この場合、試験モジュール生成部１６０は、詳細なパラメータを予め定められた値に設定してよい。
【００３１】
次に、試験モジュール生成部１６０は、条件ファイル選択部１５０を用いてユーザが選択した試験メソッド１３２に応じた条件ファイル１２２をユーザに選択させる（Ｓ２２０）。即ち、試験モジュール生成部１６０は、ユーザから選択された試験メソッド１３２内にファイル入力が指定されている場合、当該ユーザに条件ファイル１２２を指定させる。
【００３２】
試験モジュール生成部１６０は、生成すべき試験モジュール１０に含まれる試験メソッド１３２をユーザが選択し終えるまでステップＳ２１０からステップＳ２２０を繰り返す（Ｓ２３０）。試験モジュール生成部１６０は、ユーザが試験メソッド１３２の選択と、選択した試験メソッド１３２に対応する条件ファイル１２２の指定が終了してから、試験モジュール１０を生成する（Ｓ２４０）。
【００３３】
このように、ユーザは、実行したい試験に応じた試験メソッド１３２を選択し、試験メソッド１３２の試験条件である条件ファイル１２２を生成して選択した試験メソッド１３２と対応づけることで、当該試験メソッド１３２に記述された試験を試験装置に実行させる試験モジュール１０を生成することができる。したがって、ユーザは、試験装置のハードウェア仕様および試験装置用のプログラム言語等を意識することなしに、試験モジュール１０を生成することができる。
【００３４】
試験モジュール生成装置１００は、例えば、被試験デバイスの電気的接続を試験するコンタクト試験、待機時の電源電流試験、動作時の電源電流試験、入力電流試験、出力電流試験、ファンクション試験、およびタイミング・パラメータ試験等を実行する試験モジュール１０を生成することができる。また、試験モジュール生成装置１００は、特殊な試験を実行する試験モジュール１０を生成してよい。この場合、試験モジュール生成装置１００は、ユーザの入力によって、特殊な試験メソッド１３２を生成してよい。
【００３５】
即ち、ユーザは、基本試験プログラムの呼び出し順である試験のシーケンスと共に、条件ファイル１２２の条件設定とハードウェアモジュールの条件設定の対応付けを記述することで、試験メソッド１３２を生成することができる。このように、試験モジュール生成装置１００は、試験プログラムをプログラミングできるユーザに対しては、試験メソッド１３２を生成させて特殊な試験を実行する試験モジュール１０を生成させることができる。
【００３６】
図３は、本実施形態に係る試験手順生成装置２００の構成例を示す。試験手順生成装置２００は、被試験デバイスの試験手順２０を生成する。ここで、試験手順２０は、複数の試験モジュール１０を１つの試験フローとして管理する。試験手順生成装置２００は、図１および図２で説明した試験モジュール生成装置１００と、試験モジュール記憶部２１０と、テーブル表示部２２０と、試験指定部２３０とを備える。
【００３７】
試験モジュール記憶部２１０は、試験モジュール生成装置１００が生成した試験モジュール１０を記憶する。試験モジュール記憶部２１０は、予め生成させた複数の試験モジュール１０を記憶してよい。試験モジュール記憶部２１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００３８】
テーブル表示部２２０は、試験手順２０に含める試験モジュール１０を各行に割り当てる試験フローテーブルを表示する。テーブル表示部２２０は、試験モジュール１０と共に、試験モジュール１０に含まれる試験メソッド１３２と、当該試験メソッド１３２と組み合わせる条件ファイル１２２とを、当該試験モジュール１０が割り当てられた試験フローテーブルの行に割り当てて表示してよい。
【００３９】
試験指定部２３０は、試験フローテーブル中において試験モジュール１０を指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、試験モジュール１０の名称を試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる。ここで、試験モジュール１０の名称は、試験モジュール１０に付されたファイル名であってよく、これに代えて、試験モジュールに付されたラベルであってよい。試験手順生成装置２００は、テーブル表示部２２０および試験指定部２３０が生成した試験フローテーブルを、試験手順２０として出力する。
【００４０】
図４は、本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第１の構成例を示す。試験フローテーブル３００は、試験モジュール１０を実行順に並べて表形式で表示する。
【００４１】
試験フローテーブル３００は、動作表示モードと、状態表示モードとを有してよい。本図において、試験フローテーブル３００の動作表示モードを説明する。試験フローテーブル３００は、表示モード切替部３１２と、行追加／削除部３１４と、行操作部３１６と、実行指定列３２０と、試験モジュール列３３０と、後処理指定列３４２と、分岐条件指定列３４４と、条件成立時分岐先指定列３４６と、条件不成立時分岐先指定列３４８とを備える。
【００４２】
表示モード切替部３１２は、試験フローテーブル３００の表示モードを切り替える。表示モード切替部３１２は、ラベルを「Ａｃｔｉｏｎ」と付されたボタンと、ラベルを「Ｃｏｎｄｉｔｉｏｎ」と付されたボタンとを有してよい。例えば、表示モード切替部３１２は、「Ａｃｔｉｏｎ」ボタンをユーザが押したことに応じて、表示モードを動作表示モードにし、「Ｃｏｎｄｉｔｉｏｎ」ボタンを押したことに応じて、表示モードを状態表示モードにする。本図は、表示モードが動作表示モードになった試験フローテーブル３００の一例を示す。
【００４３】
行追加／削除部３１４は、表示されている表の行を追加または削除する。行追加／削除部３１４は、ラベルを「Ａｄｄ」と付されたボタンと、ラベルを「Ｄｅｌ」と付されたボタンとを有してよい。例えば、行追加／削除部３１４は、「Ａｄｄ」ボタンをユーザが押したことに応じて表に１行追加し、「Ｄｅｌ」ボタンを押したことに応じて表から１行削除する。
【００４４】
行操作部３１６は、ユーザが指定した行と、１つ上の行または１つ下の行と入れ替える。行操作部３１６は、上方向の矢印のアイコンが付されたボタンと、下方向の矢印のアイコンが付されたボタンとを有してよい。例えば、行操作部３１６は、ユーザが第３行を指定して選択した後に、上矢印ボタンを押したことに応じて第３行と第２行とを入れ替える。ここで、ユーザは、マウス、トラックボール、ペンタブレット、またはカーソル入力等によって、行を指定して選択してよい。
【００４５】
実行指定列３２０は、対応する試験モジュール１０を実行するか否かを指定する。実行指定列３２０は、行番号を示す列である。実行指定列３２０は、表の第１行から、番号を１から順に割り当ててよい。本図において、実行指定列３２０は、第１行から第６行に行番号を割り当てた例を示す。実行指定列３２０は、チェックボックス３２２を有し、ユーザが当該チェックボックス３２２にチェックを入れたことに応じて、チェックを入れた行に入力された試験モジュール１０を実行すべき試験モジュール１０としてよい。
【００４６】
試験モジュール列３３０は、ユーザが入力した試験手順２０に含める試験モジュール１０を１行毎に表示する列である。試験モジュール列３３０は、試験モジュール記憶部２１０に記憶された試験モジュール１０のファイル名またはラベル等の名称を表示するドロップダウンリスト３３２を有してよい。これによって、試験指定部２３０は、複数の試験モジュール１０の中から一の試験モジュール１０をユーザに選択させ、当該試験モジュール１０の名称を試験フローテーブル３００の捜査対象のセルに表示させることができる。
【００４７】
本図において、ユーザが第６行に試験モジュール１０を入力する例を示す。例えば、試験モジュール１０の名称である「Ｉｓｔｂ」、「Ｌｅａｋａｇｅ」、「ＰＧＭ ｍｏｄｅ」、「Ｅｒａｓｅ ｍｏｄｅ」、および「Ｒｅａｄ」を表示するドロップダウンリスト３３２から、ユーザが「Ｉｓｔｂ」を選択することに応じて、試験指定部２３０は、第６行の試験モジュール列３３０である操作対象セルに「Ｉｓｔｂ」を表示させる。
【００４８】
後処理指定列３４２は、試験モジュール１０の実行後に被試験デバイスの電源を遮断するか否かを指定する。後処理指定列３４２は、ユーザの入力に応じて、試験モジュール１０が試験実行された後の状態の指定を表示する列である。後処理指定列３４２は、例えば、試験モジュール１０の実行後に、電圧電流設定状態を維持する指定を「−」と表示し、電圧電流設定状態を予め定められた順に遮断する指定を「ＰＷＲ ＯＦＦ」と表示する。本図において、ユーザは、全ての試験モジュール１０に対して、試験実行後に電圧電流設定状態を維持することを入力した例を示す。
【００４９】
分岐条件指定列３４４は、分岐条件を指定する。即ち、分岐条件指定列３４４は、ユーザの入力に応じて、試験モジュール１０が試験実行された後の分岐条件を表示する列である。例えば、分岐条件指定列３４４は、試験モジュール１０の試験のパス／フェイル結果に基づいて試験フローを分岐することをユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルを「Ｐ／Ｆ」と表示する。本図において、ユーザが、全ての試験モジュール１０に対して、試験後はパス／フェイル結果に応じて分岐することを入力した例を示す。
【００５０】
条件成立時分岐先指定列３４６は、分岐条件指定列３４４の分岐条件を満たす場合の分岐先を指定する。条件不成立時分岐先指定列３４８は、分岐条件指定列３４４の分岐条件を満たさない場合の分岐先を指定する。条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、ユーザの入力に応じて、分岐先として次の行を指定してよく、これに代えて、行番号または試験モジュール１０の名称等で指定してよい。また、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、試験フローの停止を指定してよい。
【００５１】
例えば、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、分岐先を次の行にすることをユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルを「ｎｅｘｔ」と表示する。また、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、行番号または試験モジュール１０の名称等を分岐先としてユーザに入力されたことに応じて、当該行番号または試験モジュール１０の名称等を操作対象セルに表示してよい。
【００５２】
また、条件成立時分岐先指定列３４６および条件不成立時分岐先指定列３４８は、試験フローの停止をユーザに入力されたことに応じて、操作対象セルを「ｓｔｏｐ」と表示してよい。本図において、ユーザが、全ての試験モジュール１０に対して、分岐条件指定列３４４の分岐条件を満たす場合および満たさない場合において、分岐先を次の行にすることを入力した例を示す。この場合、試験フローテーブル３００は、第１行の試験モジュール１０から、第６行の試験モジュール１０までを順次実行する試験フローを示す。
【００５３】
図５は、本実施形態に係る試験フローテーブル３００の第２の構成例を示す。本図において、試験フローテーブル３００の状態表示モードを説明する。本構成例の試験フローテーブル３００において、図４に示された本実施形態に係る試験フローテーブル３００の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。試験フローテーブル３００は、試験メソッド列３５０と、試験条件列３６０とを備える。
【００５４】
試験メソッド列３５０は、試験モジュール１０が使用する試験メソッド１３２を表示する。試験メソッド列３５０の各行のセルは、試験モジュール１０が使用する試験メソッド１３２を列挙してよい。例えば、５番目に実行される「Ｒｅａｄ」試験モジュール１０は、「Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」という名称の試験メソッド１３２を実行する。
【００５５】
ここで、テーブル表示部２２０は、ユーザが試験フローテーブル３００中の各行の試験メソッド１３２をクリックされたことに応じて、当該試験メソッド１３２を編集させる編集画面を表示させてよい。これによって、ユーザは、実行すべき試験の試験フローを確認させつつ、試験メソッド１３２を編集することができる。
【００５６】
試験条件列３６０は、試験に用いる試験条件を指定する条件ファイル１２２を表示する。試験条件列３６０の各行のセルには、同一の行に表示された試験メソッド１３２に対応する少なくとも１つの条件ファイル１２２が列挙されてよい。例えば、３番目に実行される「ＰＧＭ ｍｏｄｅ」試験モジュール１０が用いる「Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」試験メソッド１３２は、「Ｆｕｎｃｔｉｏｎ」、「Ｐａｔｔｅｒｎ Ｅｄｉｔｏｒ」、および「Ｓａｍｐｌｅ」という名称の条件ファイル１２２に記述された試験条件で試験を実行する。
【００５７】
テーブル表示部２２０は、試験フローテーブル３００中の各行の条件ファイル１２２をクリックすると、条件ファイル１２２を編集させる編集画面を表示する。ここで、テーブル表示部２２０は、試験モジュール生成装置１００に通知して、条件ファイル生成部１１０内の条件ファイル１２２に対応する編集部１１２に当該条件ファイル１２２を編集させてよい。これによって、ユーザは、実行すべき試験の試験フローを確認しつつ、条件ファイル１２２を編集することができる。
【００５８】
以上の本実施例の試験手順生成装置２００によれば、ユーザの入力によって、試験で実行させる試験モジュール１０と、当該試験モジュール１０を実行させる順序と、当該試験モジュール１０の試験実行後の被試験デバイスの電源状態と、試験のパス／フェイル結果に応じた分岐処理とを指定する試験手順を生成することができる。また、試験手順生成装置２００は、ユーザに試験装置のハードウェア仕様およびプログラム言語を意識することなく、実行すべき試験の試験手順を生成することができる。
【００５９】
図６は、本実施形態に係る試験装置５００の構成例を被試験デバイス３０と共に示す。本実施形態の試験装置５００において、図３に示された本実施形態に係る試験手順生成装置２００の動作と略同一のものには同一の符号を付け、説明を省略する。試験装置５００は、被試験デバイス３０を試験する。試験装置５００は、図３から５で説明した試験手順生成装置２００と、試験手順記憶部５１０と、試験プログラム生成部５２０と、試験プログラム記憶部５３０と、試験実行部５４０とを備える。
【００６０】
試験手順記憶部５１０は、試験手順生成装置２００が生成した試験手順２０を記憶する。試験手順記憶部５１０は、予め生成させた複数の試験手順２０を記憶してよい。試験手順記憶部５１０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００６１】
試験プログラム生成部５２０は、試験手順生成装置２００が生成した試験手順２０に基づき、試験プログラムを生成する。試験プログラム生成部５２０は、実行形式の試験プログラムを生成してよい。試験手順２０には、ハードウェアモジュールのアルゴリズム等を記述した試験メソッド１３２、試験メソッド１３２が用いる試験条件が記述された条件ファイル１２２、および試験モジュール１０の試験フローおよび分岐処理の情報を有するので、試験プログラム生成部５２０は、これらの情報に応じた試験プログラムを自動で生成することができる。
【００６２】
試験プログラム記憶部５３０は、試験プログラム生成部５２０が生成した試験プログラムを記憶する。試験プログラム記憶部５３０は、予め生成させた複数の試験プログラムを記憶してよい。試験プログラム記憶部５３０は、データを記憶するメモリ装置でよく、外部記憶装置等であってよい。
【００６３】
試験実行部５４０は、試験プログラム記憶部５３０に記憶された試験プログラムを実行して被試験デバイス３０を試験する。試験実行部５４０は、アナログ回路、デジタル回路、アナログ／デジタル混載回路、メモリ、およびシステム・オン・チップ（ＳＯＣ）等の少なくとも１つの被試験デバイス３０を試験してよい。試験実行部５４０は、被試験デバイス３０を試験するための試験プログラムに基づく試験信号を被試験デバイス３０に入力して、試験信号に応じて被試験デバイス３０が出力する出力信号に基づいて被試験デバイス３０の良否を判定する。
【００６４】
また、試験実行部５４０は、試験手順記憶部５１０に記憶された試験手順２０を直接受け取って、試験手順２０に応じた試験を実行してよい。即ち、試験実行部５４０は、試験手順２０に含めた各試験モジュール１０を順次実行して被試験デバイス３０を試験する。例えば、試験実行部５４０は、試験フローテーブル３００において、ユーザが試験手順２０の実行を入力したことに応じて、当該試験手順２０を実行する。
【００６５】
また、試験実行部５４０は、試験モジュール記憶部２１０に記憶された試験モジュール１０を直接受け取って、試験モジュール１０に応じた試験を実行してよい。例えば、試験実行部５４０は、試験フローテーブル３００の操作または試験モジュール生成装置１００の試験モジュール１０生成の操作において、ユーザが試験モジュール１０の実行を入力したことに応じて、当該試験モジュール１０を実行する。
【００６６】
このように、試験実行部５４０は、試験モジュール生成装置１００でユーザが生成させた試験モジュール１０、または試験手順生成装置２００でユーザが生成させた試験手順２０を実行することができる。
【００６７】
以上の本実施例において、試験実行部５４０は、試験手順生成装置２００と共に試験装置５００に備わることを説明した。これに代えて、試験実行部５４０は、試験手順生成装置２００の外部に設置される試験装置であってよい。この場合、例えば、試験手順生成装置２００、試験手順記憶部５１０、試験プログラム生成部５２０、および試験プログラム記憶部５３０は、試験プログラム生成装置であり、当該試験プログラム生成装置と試験装置とは電気的に接続される。ここで、試験プログラム生成装置と試験装置とは、有線および／または無線通信によるネットワークで接続されてよい。
【００６８】
これによって、試験プログラム生成装置は、パーソナル・コンピュータまたはワークステーション等の計算機装置で構築することができ、試験装置とは異なる場所で試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置内で試験プログラムを生成できるので、当該試験プログラムをデバッグするアプリケーションを当該計算機装置内で実行することで、効率的に試験プログラムを生成することができる。また、計算機装置は、試験結果の評価・解析アプリケーションを実行することで、試験装置が試験を実行中に、ユーザは試験結果の評価および解析作業をすることができる。
【００６９】
図７は、コンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、および表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、およびＤＶＤドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部と、を備える。
【００７０】
ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００およびグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０およびＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
【００７１】
入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラムおよびデータを格納する。ＤＶＤドライブ２０６０は、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。
【００７２】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、および入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、および／または、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラムまたはデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０を入出力コントローラ２０８４へと接続すると共に、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を入出力コントローラ２０８４へと接続する。
【００７３】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５、またはＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。
【００７４】
プログラムは、コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験モジュール生成装置１００、試験手順生成装置２００、または試験プログラム生成装置として機能させる。
【００７５】
プログラムに記述された情報処理は、コンピュータ１９００に読込まれることにより、ソフトウェアと上述した各種のハードウェア資源とが協働した具体的手段である試験モジュール生成装置１００、試験手順生成装置２００、または試験プログラム生成装置として機能する。そして、この具体的手段によって、本実施形態におけるコンピュータ１９００の使用目的に応じた情報の演算または加工を実現することにより、使用目的に応じた特有の条件ファイル生成部１１０、条件ファイル記憶部１２０、試験メソッド記憶部１３０、試験メソッド選択部１４０、条件ファイル選択部１５０、試験モジュール生成部１６０、試験モジュール記憶部２１０、テーブル表示部２２０、試験指定部２３０等が構築される。
【００７６】
一例として、コンピュータ１９００と外部の装置等との間で通信を行う場合には、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０上にロードされた通信プログラムを実行し、通信プログラムに記述された処理内容に基づいて、通信インターフェイス２０３０に対して通信処理を指示する。通信インターフェイス２０３０は、ＣＰＵ２０００の制御を受けて、ＲＡＭ２０２０、ハードディスクドライブ２０４０、フレキシブルディスク２０９０、またはＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５等の記憶装置上に設けた送信バッファ領域等に記憶された送信データを読み出してネットワークへと送信し、もしくは、ネットワークから受信した受信データを記憶装置上に設けた受信バッファ領域等へと書き込む。このように、通信インターフェイス２０３０は、ＤＭＡ（ダイレクト・メモリ・アクセス）方式により記憶装置との間で送受信データを転送してもよく、これに代えて、ＣＰＵ２０００が転送元の記憶装置または通信インターフェイス２０３０からデータを読み出し、転送先の通信インターフェイス２０３０または記憶装置へとデータを書き込むことにより送受信データを転送してもよい。
【００７７】
また、ＣＰＵ２０００は、ハードディスクドライブ２０４０、ＤＶＤドライブ２０６０（ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５）、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０（フレキシブルディスク２０９０）等の外部記憶装置に格納されたファイルまたはデータベース等の中から、全部または必要な部分をＤＭＡ転送等によりＲＡＭ２０２０へと読み込ませ、ＲＡＭ２０２０上のデータに対して各種の処理を行う。そして、ＣＰＵ２０００は、処理を終えたデータを、ＤＭＡ転送等により外部記憶装置へと書き戻す。このような処理において、ＲＡＭ２０２０は、外部記憶装置の内容を一時的に保持するものとみなせるから、本実施形態においてはＲＡＭ２０２０および外部記憶装置等をメモリ、記憶部、または記憶装置等と総称する。本実施形態における各種のプログラム、データ、テーブル、データベース等の各種の情報は、このような記憶装置上に格納されて、情報処理の対象となる。なお、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０の一部をキャッシュメモリに保持し、キャッシュメモリ上で読み書きを行うこともできる。このような形態においても、キャッシュメモリはＲＡＭ２０２０の機能の一部を担うから、本実施形態においては、区別して示す場合を除き、キャッシュメモリもＲＡＭ２０２０、メモリ、および／または記憶装置に含まれるものとする。
【００７８】
また、ＣＰＵ２０００は、ＲＡＭ２０２０から読み出したデータに対して、プログラムの命令列により指定された、本実施形態中に記載した各種の演算、情報の加工、条件判断、情報の検索・置換等を含む各種の処理を行い、ＲＡＭ２０２０へと書き戻す。例えば、ＣＰＵ２０００は、条件判断を行う場合においては、本実施形態において示した各種の変数が、他の変数または定数と比較して、大きい、小さい、以上、以下、等しい等の条件を満たすかどうかを判断し、条件が成立した場合（または不成立であった場合）に、異なる命令列へと分岐し、またはサブルーチンを呼び出す。
【００７９】
また、ＣＰＵ２０００は、記憶装置内のファイルまたはデータベース等に格納された情報を検索することができる。例えば、第１属性の属性値に対し第２属性の属性値がそれぞれ対応付けられた複数のエントリが記憶装置に格納されている場合において、ＣＰＵ２０００は、記憶装置に格納されている複数のエントリの中から第１属性の属性値が指定された条件と一致するエントリを検索し、そのエントリに格納されている第２属性の属性値を読み出すことにより、所定の条件を満たす第１属性に対応付けられた第２属性の属性値を得ることができる。
【００８０】
以上に示したプログラムまたはモジュールは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＤＶＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤまたはＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスクまたはＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。
【００８１】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００８２】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【００８３】
１０ 試験モジュール、２０ 試験手順、３０ 被試験デバイス、１００ 試験モジュール生成装置、１１０ 条件ファイル生成部、１１２ 編集部、１２０ 条件ファイル記憶部、１２２ 条件ファイル、１３０ 試験メソッド記憶部、１３２ 試験メソッド、１４０ 試験メソッド選択部、１５０ 条件ファイル選択部、１６０ 試験モジュール生成部、２００ 試験手順生成装置、２１０ 試験モジュール記憶部、２２０ テーブル表示部、２３０ 試験指定部、３００ 試験フローテーブル、３１２ 表示モード切替部、３１４ 行追加／削除部、３１６ 行操作部、３２０ 実行指定列、３２２ チェックボックス、３３０ 試験モジュール列、３３２ ドロップダウンリスト、３４２ 後処理指定列、３４４ 分岐条件指定列、３４６ 条件成立時分岐先指定列、３４８ 条件不成立時分岐先指定列、３５０ 試験メソッド列、３６０ 試験条件列、５００ 試験装置、５１０ 試験手順記憶部、５２０ 試験プログラム生成部、５３０ 試験プログラム記憶部、５４０ 試験実行部、１９００ コンピュータ、２０００ ＣＰＵ、２０１０ ＲＯＭ、２０２０ ＲＡＭ、２０３０ 通信インターフェイス、２０４０ ハードディスクドライブ、２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ、２０６０ ＤＶＤドライブ、２０７０ 入出力チップ、２０７５ グラフィック・コントローラ、２０８０ 表示装置、２０８２ ホスト・コントローラ、２０８４ 入出力コントローラ、２０９０ フレキシブルディスク、２０９５ ＤＶＤ−ＲＯＭ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験デバイスを試験するために試験装置上で実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、
試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、
試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、
生成すべき前記試験モジュールに応じた前記試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験メソッド選択部と、
選択された前記試験メソッドが要求するパラメータに対応する前記条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、
選択された前記試験メソッドに応じた試験を選択された前記条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する前記試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、
を備える試験モジュール生成装置。
【請求項２】
前記試験モジュール生成部は、ユーザから選択された前記試験メソッド内にパラメータ入力が指定されている場合、当該ユーザにパラメータを入力させる請求項１に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項３】
前記試験モジュール生成部は、ユーザから選択された前記試験メソッド内にファイル入力が指定されている場合、当該ユーザに前記条件ファイルを指定させる請求項１または２に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項４】
前記試験モジュール生成部は、前記パラメータを入力する入力画面において、詳細ボタンが押されると、対応するハードウェアモジュールに関する他のパラメータを設定する設定画面を表示する請求項２に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項５】
前記試験メソッドは、基本試験プログラムの呼び出し順を指定する請求項１から４のいずれか一項に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項６】
前記試験メソッドは、
試験条件の定義を記述した定義部と、
前記定義部が定義した試験条件と、当該試験条件を設定すべきハードウェアモジュールとの対応づけを記述する変換部と、
当該試験メソッドにおける試験のシーケンスを記述した実行処理部と、
を含む請求項５に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項７】
被試験デバイスの試験手順を生成する試験手順生成装置であって、
請求項１から６のいずれか一項に記載の試験モジュール生成装置と、
前記試験モジュール生成装置が生成した前記試験モジュールを記憶する試験モジュール記憶部と、
前記試験手順に含める前記試験モジュールを各行に割り当てる試験フローテーブルを表示するテーブル表示部と、
前記試験フローテーブル中において前記試験モジュールを指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、前記試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる試験指定部と、
を備える試験手順生成装置。
【請求項８】
前記試験指定部は、複数の前記試験モジュールの中から一の試験モジュールをユーザに選択させ、当該試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる請求項７に記載の試験手順生成装置。
【請求項９】
前記試験フローテーブルは、
分岐条件を満たす場合の分岐先を指定する条件成立時分岐先指定列と、
前記分岐条件を満たさない場合の分岐先を指定する条件不成立時分岐先指定列と、
を備える請求項７または８に記載の試験手順生成装置。
【請求項１０】
前記試験フローテーブルは、前記分岐条件を指定する分岐条件指定列を更に備える請求項９に記載の試験手順生成装置。
【請求項１１】
前記試験フローテーブルは、対応する前記試験モジュールを実行するか否かを指定する実行指定列を更に備える請求項７から１０のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。
【請求項１２】
前記試験フローテーブルは、前記試験モジュールの実行後に前記被試験デバイスの電源を遮断するか否かを指定する後処理指定列を備える請求項７から１１のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。
【請求項１３】
前記試験フローテーブルは、試験に用いる試験条件を指定する前記条件ファイルを表示する試験条件列を備える請求項７から１２のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。
【請求項１４】
前記試験条件列の各行のセルには、少なくとも１つの前記条件ファイルが列挙される請求項１３に記載の試験手順生成装置。
【請求項１５】
前記テーブル表示部は、前記試験フローテーブル中の各行の前記条件ファイルをクリックすると、前記条件ファイルを編集させる編集画面を表示する請求項１４に記載の試験手順生成装置。
【請求項１６】
被試験デバイスの試験を実行させる試験プログラムを生成する生成方法であって、
試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成段階と、
試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶段階と、
生成すべき試験モジュールに応じた前記試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択段階と、
選択された前記試験メソッドが要求するパラメータに対応する前記条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択段階と、
選択された前記試験メソッドに応じた試験を選択された前記条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する前記試験モジュールを生成する試験モジュール生成段階と、
前記試験モジュールを記憶する試験モジュール段階と、
試験手順に含める前記試験モジュールを各行に割り当てる試験フローテーブルを表示するテーブル表示段階と、
前記試験フローテーブル中において前記試験モジュールを指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、前記試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる試験指定段階と、
を備える生成方法。
【請求項１７】
請求項１６に記載の生成方法を、コンピュータにより実行させるプログラム。
【請求項１８】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
請求項７から１５のいずれか一項に記載の試験手順生成装置と、
前記試験手順生成装置が生成した前記試験手順を記憶する試験手順記憶部と、
前記試験手順に含めた各試験モジュールを順次実行する試験実行部と、
を備える試験装置。
【請求項１】
被試験デバイスを試験するために試験装置上で実行する試験モジュールを生成する試験モジュール生成装置であって、
試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成部と、
試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶部と、
生成すべき前記試験モジュールに応じた前記試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験メソッド選択部と、
選択された前記試験メソッドが要求するパラメータに対応する前記条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択部と、
選択された前記試験メソッドに応じた試験を選択された前記条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する前記試験モジュールを生成する試験モジュール生成部と、
を備える試験モジュール生成装置。
【請求項２】
前記試験モジュール生成部は、ユーザから選択された前記試験メソッド内にパラメータ入力が指定されている場合、当該ユーザにパラメータを入力させる請求項１に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項３】
前記試験モジュール生成部は、ユーザから選択された前記試験メソッド内にファイル入力が指定されている場合、当該ユーザに前記条件ファイルを指定させる請求項１または２に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項４】
前記試験モジュール生成部は、前記パラメータを入力する入力画面において、詳細ボタンが押されると、対応するハードウェアモジュールに関する他のパラメータを設定する設定画面を表示する請求項２に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項５】
前記試験メソッドは、基本試験プログラムの呼び出し順を指定する請求項１から４のいずれか一項に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項６】
前記試験メソッドは、
試験条件の定義を記述した定義部と、
前記定義部が定義した試験条件と、当該試験条件を設定すべきハードウェアモジュールとの対応づけを記述する変換部と、
当該試験メソッドにおける試験のシーケンスを記述した実行処理部と、
を含む請求項５に記載の試験モジュール生成装置。
【請求項７】
被試験デバイスの試験手順を生成する試験手順生成装置であって、
請求項１から６のいずれか一項に記載の試験モジュール生成装置と、
前記試験モジュール生成装置が生成した前記試験モジュールを記憶する試験モジュール記憶部と、
前記試験手順に含める前記試験モジュールを各行に割り当てる試験フローテーブルを表示するテーブル表示部と、
前記試験フローテーブル中において前記試験モジュールを指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、前記試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる試験指定部と、
を備える試験手順生成装置。
【請求項８】
前記試験指定部は、複数の前記試験モジュールの中から一の試験モジュールをユーザに選択させ、当該試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる請求項７に記載の試験手順生成装置。
【請求項９】
前記試験フローテーブルは、
分岐条件を満たす場合の分岐先を指定する条件成立時分岐先指定列と、
前記分岐条件を満たさない場合の分岐先を指定する条件不成立時分岐先指定列と、
を備える請求項７または８に記載の試験手順生成装置。
【請求項１０】
前記試験フローテーブルは、前記分岐条件を指定する分岐条件指定列を更に備える請求項９に記載の試験手順生成装置。
【請求項１１】
前記試験フローテーブルは、対応する前記試験モジュールを実行するか否かを指定する実行指定列を更に備える請求項７から１０のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。
【請求項１２】
前記試験フローテーブルは、前記試験モジュールの実行後に前記被試験デバイスの電源を遮断するか否かを指定する後処理指定列を備える請求項７から１１のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。
【請求項１３】
前記試験フローテーブルは、試験に用いる試験条件を指定する前記条件ファイルを表示する試験条件列を備える請求項７から１２のいずれか一項に記載の試験手順生成装置。
【請求項１４】
前記試験条件列の各行のセルには、少なくとも１つの前記条件ファイルが列挙される請求項１３に記載の試験手順生成装置。
【請求項１５】
前記テーブル表示部は、前記試験フローテーブル中の各行の前記条件ファイルをクリックすると、前記条件ファイルを編集させる編集画面を表示する請求項１４に記載の試験手順生成装置。
【請求項１６】
被試験デバイスの試験を実行させる試験プログラムを生成する生成方法であって、
試験条件を入力し、入力された前記試験条件を定義する条件ファイルを生成する条件ファイル生成段階と、
試験メソッドを記憶する試験メソッド記憶段階と、
生成すべき試験モジュールに応じた前記試験メソッドの選択指示をユーザから受け取る試験手順選択段階と、
選択された前記試験メソッドが要求するパラメータに対応する前記条件ファイルの選択指示をユーザから受け取る条件ファイル選択段階と、
選択された前記試験メソッドに応じた試験を選択された前記条件ファイルにより定義されたパラメータで実行する前記試験モジュールを生成する試験モジュール生成段階と、
前記試験モジュールを記憶する試験モジュール段階と、
試験手順に含める前記試験モジュールを各行に割り当てる試験フローテーブルを表示するテーブル表示段階と、
前記試験フローテーブル中において前記試験モジュールを指定する試験指定列に対する操作を受けたことに応じて、前記試験モジュールの名称を前記試験フローテーブルの捜査対象のセルに表示させる試験指定段階と、
を備える生成方法。
【請求項１７】
請求項１６に記載の生成方法を、コンピュータにより実行させるプログラム。
【請求項１８】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
請求項７から１５のいずれか一項に記載の試験手順生成装置と、
前記試験手順生成装置が生成した前記試験手順を記憶する試験手順記憶部と、
前記試験手順に含めた各試験モジュールを順次実行する試験実行部と、
を備える試験装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【公開番号】特開２０１３−１１３６６３（Ｐ２０１３−１１３６６３Ａ）
【公開日】平成２５年６月１０日（２０１３．６．１０）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−２５８９０３（Ｐ２０１１−２５８９０３）
【出願日】平成２３年１１月２８日（２０１１．１１．２８）
【出願人】（３９０００５１７５）株式会社アドバンテスト (1,005)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年６月１０日（２０１３．６．１０）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年１１月２８日（２０１１．１１．２８）
【出願人】（３９０００５１７５）株式会社アドバンテスト (1,005)
【Ｆターム（参考）】
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