説明

重合体、レジスト組成物及びレジストパターン形成方法

【課題】リソグラフィー特性及びパターン形状に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規重合体、及び該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、かつ、−SO−含有環式基を含む構成単位(a0)を有する重合体;該重合体を含有するレジスト組成物、及び該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法。


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【特許請求の範囲】
【請求項1】
主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、かつ、
−SO−含有環式基を含む構成単位(a0)を有する重合体。
【請求項2】
前記主鎖の少なくとも一方の末端に下記一般式(I−1)で表される基を有する、請求項1記載の重合体。
【化1】

[式中、Rは炭素数1〜10の炭化水素基であり、Zは炭素数1〜10の炭化水素基又はシアノ基であり、RとZとは相互に結合して環を形成していてもよい。Xは2価の連結基であって、−O−C(=O)−、−NH−C(=O)−、及び−NH−C(=NH)−のいずれかを、少なくとも式中のQと接する末端に有する。pは1〜3の整数である。Qは(p+1)価の炭化水素基であり、pが1の場合のみ、Qは単結合であってもよい。Rは単結合、置換基を有していてもよいアルキレン基、又は置換基を有していてもよい芳香族基であり、qは0又は1であり、rは0〜8の整数である。Mは有機カチオンである。]
【請求項3】
下記一般式(I)で表される化合物からなるラジカル重合開始剤を用いたラジカル重合により得られるラジカル重合体である、請求項2記載の重合体。
【化2】

[式中、Rは炭素数1〜10の炭化水素基であり、Zは炭素数1〜10の炭化水素基又はシアノ基であり、RとZとは相互に結合して環を形成していてもよい。Xは2価の連結基であって、−O−C(=O)−、−NH−C(=O)−、及び−NH−C(=NH)−のいずれかを、少なくとも式中のQと接する末端に有する。pは1〜3の整数である。Qは(p+1)価の炭化水素基であり、pが1の場合のみ、Qは単結合であってもよい。Rは単結合、置換基を有していてもよいアルキレン基、又は置換基を有していてもよい芳香族基であり、qは0又は1であり、rは0〜8の整数である。Mは有機カチオンである。式中の複数のR、Z、X、p、Q、R、q、r、Mはそれぞれ同じであっても異なっていてもよい。]
【請求項4】
前記構成単位(a0)が、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよいアクリル酸エステルから誘導される構成単位である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の重合体。
【請求項5】
前記構成単位(a0)が、下記の一般式(a0−0−11)又は一般式(a0−0−12)で表される構成単位である、請求項4記載の重合体。
【化3】

[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、R40は−O−又は−NH−であり、R20は2価の連結基であり、A’は酸素原子もしくは硫黄原子を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子であり、zは0〜2の整数であり、Rはアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、水酸基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基またはシアノ基であり、R”は水素原子またはアルキル基である。]
【請求項6】
さらに、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)を有する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の重合体。
【請求項7】
請求項1〜6のいずれか一項に記載の重合体を含有するレジスト組成物。
【請求項8】
酸の作用により現像液に対する溶解性が変化し、かつ、露光により酸を発生する基材成分(A)と、
露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)(但し、前記基材成分(A)を除く。)とを含有するレジスト組成物であって、
前記基材成分(A)が、請求項6記載の重合体を含有するレジスト組成物。
【請求項9】
支持体上に、請求項7又は8記載のレジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、及び前記レジスト膜を現像してレジストパターンを形成する工程を含むレジストパターン形成方法。

【公開番号】特開2013−32434(P2013−32434A)
【公開日】平成25年2月14日(2013.2.14)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−168716(P2011−168716)
【出願日】平成23年8月1日(2011.8.1)
【出願人】(000220239)東京応化工業株式会社 (1,407)
【Fターム(参考)】