【課題】公知の方法よりも短時間で安価にデンドリマー修飾磁気微粒子を製造することができ、かつ、ロット間ごとの性能のばらつきが小さくなる、デンドリマー修飾磁気微粒子の製造方法を提供すること。
【解決手段】デンドリマー修飾磁気微粒子の製造方法は、(1)表面に官能基を有する磁気微粒子を準備する工程と、(2)官能基を基端部分に有し、所望の世代まで合成したデンドリマーを準備する工程と、(3)前記磁気微粒子の前記官能基と、前記デンドリマーの前記官能基を直接又は架橋剤を介して間接的に結合させる工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】スキャンシフト動作とスキャンキャプチャ動作によって、スキャンチェインに接続されたフリップフロップの機能テストを、複数のスキャンチェインに対して並行に行なうスキャンテスト回路において、過度のＩＲドロップの発生を防ぐ。
【解決手段】スキャンチェインに並列接続される複数のフリップフロップと、フリップフロップに供給するクロックを発生するクロック発生回路と、第１のフリップフロップに供給するクロックを入力し、第２のフリップフロップに供給するクロックを出力する位相遅延バッファとを備えたスキャンテスト回路。 （もっと読む）

【課題】メモリに格納されたヒストリ波形データに基づいてロジック信号の異常を検出できる波形表示装置を提供すること。
【解決手段】複数ビットのロジック信号波形を共通の画面上に並列表示するように構成された波形表示装置において、前記ロジック信号波形のカーソルで指定される位置におけるデジタル値をヒストリ方向にトレンド表示するトレンド表示処理手段を設けたことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】差動伝送シリアル通信装置において、１組の差動伝送路で、パケット送信とパケットの再送要求を行なえるようにする。
【解決手段】差動伝送路で接続されたパケット送信側装置とパケット受信側装置とを含む差動伝送シリアル通信装置であって、パケット受信側装置は、受信したパケットのデータエラーが検出されると、差動伝送路を短絡する伝送路制御部を備え、パケット送信側装置は、パケット送信後に差動伝送路の短絡を検出すると、パケット受信側装置からパケットの再送要求があったと判定する再送要求検知部を備える。 （もっと読む）

【課題】比較的簡単な操作で、共通の表示画面に複数の測定チャネルそれぞれに異なるデータ表示形態を混在させることができる測定装置を提供すること。
【解決手段】複数の測定点の測定信号を共通の表示画面に表示するように構成された測定装置において、複数の測定チャネルそれぞれに所望の異なる表示形態を設定する表示形態設定手段を設けたことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】容易に特定の通信局の通信波形を区別できる通信波形観測システムを実現することを目的にする。
【解決手段】本発明は、伝送線路の通信波形を観測する通信波形観測システムに改良したものである。本システムは、伝送線路を介して、外部装置と通信し、伝送線路に送信する送信信号の出力期間を示す出力期間信号を少なくとも出力する通信局と、この通信局の出力期間信号を入力し、この出力期間信号により、伝送線路の通信波形を観測する波形観測装置とを備えたことを特徴とするシステムである。 （もっと読む）

【課題】デンドリマーで被覆された磁気微粒子であって、核酸等の目的物質を吸着した後の凝集が起きにくいデンドリマー被覆磁気微粒子並びにその製造方法及びそれを用いた核酸の回収又は精製方法を提供すること。
【解決手段】デンドリマー被覆磁気微粒子は、磁気微粒子と、この磁気微粒子の表面を被覆する脂質二重層と、この脂質二重層を構成する外層に結合されたデンドリマーとを具備する。このデンドリマー被覆磁気微粒子であってデンドリマーが正電荷を帯びている微粒子を、核酸含有溶液と接触させ、該核酸を前記デンドリマーに吸着させ、核酸を吸着させた微粒子を、磁気を用いて収集することにより、溶液中の核酸を回収することができる。 （もっと読む）

【課題】光学素子を回転させる機構を必要としない偏光調整器を提供する。
【解決手段】入力光を２つの光路に分離した後、両者を合成する第１の光学系を備える。前記第１の光学系は、前記第１の光学系における前記２つの光路の一方にのみ挿入された１／２波長板と、前記第１の光学系における前記２つの光路の光路長差を調整する調整部と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】ターゲットミラーの傾きにより生じるレーザ光のオーバーラップの影響を緩和して干渉計光軸調整範囲を広げることにより汎用的な製品を提供する。
【解決手段】レーザ光を分光し、分光したレーザ光の一方をターゲットミラーで反射させて前記分光した他方のレーザ光と干渉させ、干渉により生じた干渉縞を光検出器により電気信号に変換してターゲットミラーの変位を測定するレーザ干渉変位測定装置において、前記レーザ光としてパワー分布がほぼフラットなトップハットレーザを用いた。 （もっと読む）

【課題】複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。
【解決手段】スキャン入力部１２Ａ、１２Ｂと複数のフリップフロップが接続されたスキャンチェインＦＡ、ＦＢとスキャン出力部１５Ａ、１５Ｂとを有して構成されるスキャンパスを複数備えた半導体試験装置であって、スキャンチェインＦＡ、ＦＢを複数に分割して、分割したスキャンチェインＦＡ１、ＦＡ２、ＦＢ１、ＦＢ２をそれぞれ複数のスキャン出力部１５Ａ、１５Ｂに接続する接続経路ＬＡＢ１、ＬＢＡ１、ＬＡＢ２、ＬＢＡ２と、１つのスキャンパスのスキャンチェインＦＡ１、ＦＡ２またはＦＢ１、ＦＢ２がそれぞれ異なるスキャン出力部１５Ａ、１５Ｂに接続するように接続経路の選択を行う経路選択部と、を備えている。 （もっと読む）