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Fターム[2G001PA30]の内容

放射線を利用した材料分析 (46,695) | 測定前後の試料の動き (2,337) | テーマ (47)

Fターム[2G001PA30]に分類される特許

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【課題】安全性の向上や装置の小型化等を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。
【解決手段】錠剤検査装置17は、その外郭をなす外防壁37を備えると共に、当該外防壁37の内部において、PTPフィルム6のポケット部2をポケット受け孔部57に嵌め込みつつ当該PTPフィルム6の搬送に伴い回転する回転ローラ38と、当該回転ローラ38の外側に配置されかつ回転ローラ38の最上部にくるポケット受け孔部57の方に向けX線を照射するX線源41と、当該X線源41に対向して回転ローラ38の内側に配置されかつ前記ポケット受け孔部57に嵌め込まれたポケット部2を透過してくるX線を撮像するX線カメラ42とを備え、X線カメラ42により撮像された画像データを基に錠剤5の検査を行う。 (もっと読む)


【課題】低コストおよび省スペースで、既に構築された搬送ラインに対してX線検査を追加するX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線検査装置100においては、受取部600によりベルトコンベア900から物品Bが受け取られる。次いで、X線検査部700により受取部600から受け取った物品Bの異物検査が行われる。そして、受渡部800によりX線検査部700において検査された物品Bがベルトコンベア900に受け渡される。また、X線漏洩防止カバー910は、X線検査部700から照射されるX線の漏洩を防止する。受取部600および受渡部800は、物品Bの載置部が平面のみからなり、かつ物品Bを載置しつつ搬送する受取テーブル611,受渡テーブル811と、物品Bの移動を補助する案内ガイド板621、補助案内部622,623、案内ガイド板821、補助案内部822,823とを含む。 (もっと読む)


【課題】
デバイス等の不良原因となる1μmほどの微小絶縁物試料等の分析前処理として、帯電の支障を少なくし、周辺の基材を混合することなく目的物のみをサンプリングすることを目的とする。
【解決手段】
試料の観察、サンプリング領域に電位制御が可能で導電性により形成された端子を接触させる機構を考案した。本機構は前記観察、サンプリング領域の周囲に接触する導電性の端子とこの端子の移動を精密に制御する動作機構と端子に電圧を印加するための電位制御機構と端子をアースおよび電位制御機構に接続する機構とから成り、前記端子を試料の近傍に接触させることにより観察、サンプリングの過程で生じる電荷をアース線を通して逃がすものである。 (もっと読む)


【課題】灰中の有害物質が飛散するのを防止し得る重金属濃度の自動計測装置を提供する。
【解決手段】シュート1の側壁部に接続されると共に取出通路部3及び排出通路部4からなる灰排出用通路2の取出通路部3内に、シュート1内を落下する灰を貯め得る灰採取用容器14を支持部材11を介してシリンダ装置12により、シュート1内の灰採取位置(イ)と、排出通路部4内の灰排出位置(ロ)との間で移動自在に設け、取出通路部3の上壁部に容器14内の灰中の重金属濃度を計測するX線計測装置5を設け、支持部材11の前端側に、灰採取用容器14を支持ピン13を介して揺動自在に支持させると共に、後端側を取出通路部3の底壁部に支持させて、灰採取位置(イ)に移動させた際に水平姿勢となるようにすると共に、灰排出位置(ロ)に移動させた際に、取出通路部3側に設けられた傾斜面を介して鉛直姿勢とすることにより、容器14内の灰を排出させるようにしたもの。 (もっと読む)


【課題】一定の処理能力を備えるとともに、検査員の安全性を確保し、製造ライン上で合金組成の適否検査を行うことができる鋼管の材質分析装置を提供することを目的とする。
【解決手段】蛍光X線分析計を鋼管の外周面または端面に押し当てて含有される合金成分を測定する材質分析装置であって、蛍光X線分析計2と、蛍光X線分析計2を装着する保持部3と、装着された蛍光X線分析計2を移動させる機構(移動機構)と、移動機構を動作させる制御手段6とを備えることを特徴とする鋼管の材質分析装置である。移動機構は、蛍光X線分析計を水平方向に移動させる第1送り機構4と、垂直方向に移動させる第2送り機構5とにより構成し、保持部3は、装着された蛍光X線分析計2の角度を変更可能にする機構を備えるのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】 作業効率よく、安全に試料測定を行うことができるX線分析装置及びX線分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 試料上の照射ポイントに放射線を照射する放射線源と、試料から放出される特性X線及び散乱X線を検出し、特性X線及び散乱X線のエネルギー情報を含む信号を出力するX線検出器と、信号を分析する分析器と、試料を載置する試料ステージと、試料ステージ上の試料と放射線源及びX線検出器とを相対的に移動可能な移動機構と、試料における照射ポイントの高さを測定可能な高さ測定機構と、測定した試料における照射ポイントの高さに基づいて移動機構を制御して、試料と放射線源及びX線検出器との距離を調整する制御部とを備えていることを特徴とするX線分析装置を用いる。 (もっと読む)


【課題】雰囲気調整用のガスとして複数種類のガスを利用可能な蛍光X線分析装置及び蛍光X線分析方法を提供する。
【解決手段】蛍光X線分析装置は、X線管(X線照射部)51からの一次X線とX線検出器(検出部)52が検出する蛍光X線とが通過する測定室(内部空間)31内を特定のガスの雰囲気にした上で蛍光X線分析を行う。測定室31へガスを供給する配管1の途中に、ヘリウム用圧力調整器21と窒素用圧力調整器22とを並列に備え、各圧力調整器は、ガスの種類に応じた圧力に調整してあり、ガスを測定室31へ供給する際には、ガスの経路を、ガスの種類に対応する圧力調整器を通過するように切換弁(経路切換手段)26で切り換える。配管1の殆どの部分を共通に使用しながら、雰囲気調整用のガスとして複数種類のガスを使用することができる。 (もっと読む)


【課題】試料表面の帯電現象を防止する為に複雑な形状を有する該試料のあらゆる面及び孔の内部にも出来るだけ均一に導電性薄膜微粒子を付着(コーティング)させる為の前処理装置。
【解決手段】スパッタされたターゲット2の原子がステージ11上に載置された試料10に付着することにより試料表面上に導電性薄膜が形成される。その際、該試料の表面ないしは側壁面上に存在する微細な突起の周囲や孔の内壁に出来るだけ均一な導電性薄膜を一様に形成せしめるべく該試料を載置するステージ11を制御器7を用いて該ステージ面の中心から互いに離間した3つの保持位置の下部に取り付けられている3つのアクチュエータ12を通して上下運動させることにより、該ステージ面上の試料を回転させることなく360度方位全域で該試料を一定傾斜状態のまま保持することで該ステージ上に載置された非導電性試料の表面ないしは側壁面に一様にコーティングが可能となる。 (もっと読む)


【課題】設置スペースの増加を最小限に抑えつつ、再検査の対象の物品を自動で再供給することが可能なX線検査装置を得る。
【解決手段】X線検査装置1は、通常検査の対象の物品50を搬送する領域6Pと、再検査対象物品50Qを搬送する領域6Qとを有するベルトコンベア6と、ベルトコンベア6が搬送している物品の検査を行う検査手段と、領域6Pを搬送されてきた物品50を、検査手段による検査結果に応じて良品50Pと再検査対象物品50Qとに振り分ける振分部10Pと、ベルトコンベア6の下方に配置され、振分部10Pから受け渡された再検査対象物品50Qを、ベルトコンベア6による搬送方向とは逆方向に搬送するベルトコンベア17と、ベルトコンベア17から受け渡された再検査対象物品50Qを、ベルトコンベア6の上流部において領域6Qに供給する供給部14とを備える。 (もっと読む)


【課題】ばら流しで搬送される被検査物に好適な検査効率を得るとともに不良品をピンポイント選別して歩留りの悪化を防止する。
【解決手段】搬送方向Xと直交方向に分割されて検査レーン11を形成し、検査レーン11ごとに多数の被検査物Wをばら流しで搬送するベルトコンベア6と、被検査物WにX線を照射するX線発生器31と、X線発生器31からのX線を検出し、被検査物Wに混入している異物の有無を検出するX線検出器32と、検査レーン11ごとに設けられ異物検出された被検査物Wを不良品として選別する選別シュート14とを備える検査ユニット2を用いたX線異物検出システム1であって、検査ユニット2を搬送方向Xと直交する方向に複数並列して複数の検査レーン11の中から一次検査レーン11a〜11cを設定し、残りを二次検査レーン11dとして設定し、一次検査レーン11a〜11cの一次不良品Wを二次検査レーン11dにて再搬送する。 (もっと読む)


【課題】試料を交換する際に、複雑な機構を用いずに試料の位置ずれを抑制でき、且つ試料軸の正確な回転数を保つことができる試料交換機を提供する。
【解決手段】第1の回転軸の周りを回転可能な複数の試料台10a,10eを円周上に沿って配列した円板状の回転板4と、回転板4を回転させる試料位置逐次移動機構7と、複数の試料台10a,10eの回転軸に接続され極性の異なる複数の第1の磁石の作用極を回転軸を中心軸とする円周面上に交互に周期的に配列した複数の受動磁石配列ユニット12a,12eと、極性の異なる複数の第2の磁石の作用極を回転軸を中心軸とする円周面上に交互に周期的に配列して回転する駆動磁石配列ユニット81と、測定位置の試料台10aに接続された受動磁石配列ユニット12aを、駆動磁石配列ユニット81を回転させることにより第1及び第2の磁石間の磁力を介して回転させる試料台回転駆動部8とを備える。 (もっと読む)


【課題】多列の物品の検査における誤検査を防止する。
【解決手段】X線検査装置10は、コンベア12と、X線照射器13と、X線ラインセンサ14と、品質検査部21cと、初期設定部21bとを備える。コンベア12は、左右方向に並ぶ3つの商品G1〜G3を所定の搬送方向に搬送する。左右方向とは、コンベア12の搬送方向を基準とする。X線照射器13は、商品G1〜G3に向けてX線を扇状に照射する。X線ラインセンサ14は、商品G1〜G3を透過したX線を受光する。品質検査部21cは、X線ラインセンサ14が受光したX線の濃度値に基づいて、各商品G1〜G3を検査する。初期設定部21bは、商品G1〜G3間の左右方向の適正な間隔を判断する。 (もっと読む)


【課題】オペレータが被検査物のX線透視像を目視で観察して、その被検査物の合否判定を行う装置において、不合格品が頻発する状態になっても処理レートが殆ど低下することがなく、しかも、不合格品が合格品として流出するこ恐れのないインラインX線透視目視検査装置を提供する。
【解決手段】X線発生装置2とX線ラインセンサ3よりも搬送方向下流側に振り分け装置9を配置し、オペレータの合否判定結果を入力する入力手段8による入力歩手用に基づき、その入力がなされた対象である被検査物Wが振り分け装置9の配設位置に搬送されるタイミングと合わせて当該振り分け装置9に対して駆動制御信号を供給することにより、オペレータによる合否判定の入力操作が種々に変化しても、該当の被検査物Wが合否判定結果に応じて振り分け装置9により確実に振り分けられることを可能とする。 (もっと読む)


【課題】被検査物に対してX線を斜めに照射して高い検出精度を達成できるX線異物検出装置の具体的な構造を提案する。
【解決手段】 X線異物検出装置1は、X線発生器11と搬送手段6とX線検出器12を備えており、搬送手段6の搬送方向の両側には底面S1と側面S2に接して被検査物Wの移動を案内し、X線検出位置において被検査物Wを所定の傾斜状態に設定する傾斜ガイド13及びサイドガイド14を有する。搬送手段の搬送ベルト9は底面と側面が接する稜線Rに接触して被検査物Wを搬送する。 (もっと読む)


【課題】迅速に3次元的な位置情報を得ることで効率的に精度の高い検査を行うことができるX線検査装置およびX線検査方法を提供する。
【解決手段】被検査体SにX線を照射するX線源110と、被検査体SのX線透過像を、それぞれ異なる照射角度範囲で検出する複数の検出領域を有するX線検出器140と、被検査体を移動可能に支持する移動用ステージ120と、を備え、移動用ステージ120は、一つの被検査体Sに対し複数の照射角度範囲のX線透過像を検出できるように被検査体Sを移動させて、検査を行う。これにより、一つの被検査体Sについて、異なる照射角度範囲のX線透過像が得られ、複数のX線透過像から3次元的な位置情報を得ることができる。また、一回の検出で複数の検出領域についてX線透過像のデータを得て、効率的に精度の高い検査を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】高真空下(10−2Pa以下)にある分析装置内に、正圧(10Pa以上)からガスを精密にかつ安定的に供給し、同一条件を維持し、かつ再現すること共に、所望のガスに短時間で切替えること。
【解決手段】複数の種類のガスをミキシング室で合成し、合成されたガスを導入して減圧ポンプで0.1Paから0.1MPaまでの範囲内の圧力となるまで減圧し、該減圧されたガスをガス切替弁による切替動作によりガス分析装置に導くガス導入装置及び方法。 (もっと読む)


【課題】キャピラリーを回転させながらガスフロー測定が可能なキャピラリー及びガス供給装置の提供。
【解決手段】透過法のX線回折測定等に好適なキャピラリー2である。このキャピラリー2は、試料22を配置するための管状部4と、この管状部4の一端側に設けられたガス導入部6とを備えている。管状部4の両端は開放されている。ガス導入部6の内部から管状部4の内部にまで至るガス通路16が形成されている。ガス導入部6は、その外面から上記ガス通路に至るガス導入孔18を有している。ガス導入部の外面は円周面部を有している。この円周面部は、少なくとも、上記ガス導入孔18よりも軸方向一方側の位置及び上記ガス導入孔18よりも軸方向他方側の位置に設けられている。上記円周面部の中心軸線Z1と、管状部4の中心軸線Z2とが、実質的に一致している。 (もっと読む)


【課題】不良品が良品の搬出経路である後工程に流出してしまうのを確実に防止できる物品検査装置を提供する。
【解決手段】物品Wを搬送する搬送手段10と、搬送物品を順次検知する物品検知手段20と、搬送物品を検査する検査手段30と、物品検知情報および検査結果に応じて、搬送物品を搬送手段10の下流側で分別するための分別指令信号RJ1を出力する分別制御手段50と、を備えた物品検査装置において、物品検知手段20が、物品Wの搬送方向に対して直交する方向に離間する第1の検知位置p1および第2の検知位置p2でそれぞれの位置を通過する物品Wを検知する第1物品検知部21および第2物品検知部22を有し、分別制御手段50は、物品検知部21、22のそれぞれによる物品検出時間に応じて物品搬送状態を判定する搬送状態判定部51を有し、搬送状態判定部51で判定した搬送状態に応じて分別指令信号RJ2を出力する。 (もっと読む)


【課題】 X線検査装置におけるX軸方向移動ステージやY軸方向移動ステージが移動する際に変形が生じることを未然に防止して、スムーズに移動させることができる機構を、ロープによる簡単な構造で提供する。
【解決手段】 X線発生器AとX線検出器Bとが対向した状態で垂直に配置され、これらの間に検査すべきサンプルCを載置するテーブル1が水平面上で直角に交わるX軸並びにY軸方向に移動可能なX−Y移動ステージ上に組み付けられているX線検査装置において、前記X−Y移動ステージのX軸方向移動ステージまたはY軸方向移動ステージ若しくはその両方が、移動方向と直交する左右側部で少なくとも1本の有端状ロープ11によってステージ移動時に同期的に移動方向に引っ張られるように形成されている構造。 (もっと読む)


【課題】特性X線の取出角度と測定深さとの相関を求めることを可能とする斜出射電子線プローブマイクロX線分析方法を提供すること。
【解決手段】斜出射電子線プローブマイクロX線分析方法は、試料内部から発せられる特性X線が試料表面での全反射現象により検出されない角度以下に特性X線の取出角度を設定することにより試料の表層から発せられる特性X線のみを選択的に検出する斜出射電子線プローブマイクロX線分析方法において、試料を試料内部としての下地と試料表層としての所定厚の上地で構成し、下地から発せられる特性X線の取出角度を所定角度から徐々に小さくして前記特性X線の消失角度を見出し、見出された消失角度を所定厚の上地の構成元素のみを選択的に分析できる取出角度として定義する。 (もっと読む)


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