【課題】プローブの確実な接続を実現する。
【解決手段】平面部材で構成される固定部４８のエッジ２４にあるさかとげ１８及び２０をビア１１４の側壁１１６に係合させることで、ポイント電気コンタクトを形成し、挿入後に固定部４８をビア１１４から抜け出にくくする。ビアに挿入される固定部４８の端部には、先が細くなったチップ１２がある。チップ１２の後方には、さかとげ１６があり、これがＤＵＴ１００の底面１１２に係合することで、固定部４８をビア１１４から抜け出にくくする。ビア固定部の本体１４の止め部２２は、ビア固定部４８がビア１１４を超えて入り過ぎるのを防止する。 （もっと読む）

【課題】異種金属からなる線材を接合して構成される検査用プローブにおける接合箇所の品質を向上した検査用プローブの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一方の先端部に検査用接触部が形成される第１の線材及び第２の線材を接合して構成される検査用プローブの製造方法を、第１の線材の端面と第２の線材の端面とを突き合わせた状態でこの突き合わせ部を筒状部材の内径側に配置し、筒状部材にレーザ光を照射することによって筒状部材を第１の線材及び第２の線材とそれぞれレーザ溶接した後に、溶接部の外周面を製品外径まで研磨する構成とする。 （もっと読む）

【課題】プランジャから直接配線に導通して、高周波及び高電流での検査に対応可能とすると共に、プローブの交換を容易に行え得る検査ユニットを提供する。
【解決手段】配線支持ボード２３に、配線１１の線本体１１ｂをレーザ溶射等により一体成形したボール状端子１１ｃを所定量移動自在かつ弾性部材４１により付勢して収納する。ピンボード２２を貫通しかつスプリング２６により付勢されてプランジャ２５が所定量移動自在に支持される。プランジャ２５の後端部に、弾性部材４１により付勢されたボール状端子１１ｃが接触する。 （もっと読む）

【課題】プローブ支持板を短期間かつ低コストで製造する。
【解決手段】プローブ支持板１１の製造方法であって、複数の金属薄板２０をそれぞれエッチングして、各金属薄板２０にプローブ１０を挿入させるための複数の貫通孔２１を形成するエッチング工程と、その後、複数の金属薄板２０の各貫通孔２１が金属薄板２０の厚み方向にそれぞれ連結されるように、複数の金属薄板２０を積層し、当該複数の金属薄板２０を接合する接合工程と、その後、各貫通孔の内側面２１に絶縁膜２２を形成する膜形成工程と、を有する。前記エッチング工程において、最上層と最下層との間に積層される中間層の金属薄板２０ｃの貫通孔２１ｃを、最上層と最下層の金属薄板２０ａ、２０ｂの貫通孔の径２１ａ、２１ｂより大きい径で形成する。 （もっと読む）

【課題】簡易な部品で、その内部のインダクタンスを改善し、導電接触を確実にすることができ、製作及び保守を容易に行なうことができる検査治具と接触子を提供する。
【解決手段】プリント配線板などの電気検査のための検査治具１において、電極部４０は電極４１を電極板４２の表面に配設されてなり、接触子１０は導電性の接触針１１、圧縮コイルばね１２、中継部材１３からなり、同軸に配置して使用される。接触針１１は先端１１１、突出部１１２、大径部１１３、中継部１１４を有し、中継部材１３は円筒の中継端１３１、案内部１３２、電極端１３３からなる。電極端１３３は斜め角度の断面であり、曲げられて中心近傍に基端１３３ａがあり、接触子保持体３０に保持されて初期荷重を有する。電極４１の径は接触子１０の径より小さい。それにより、簡易な部品で、その内部のインダクタンスを改善し、導電接触を確実にすることができ、製作及び保守を容易に行なうことができる検査治具と接触子が実現する。 （もっと読む）

【課題】異種金属からなる線材を接合して構成される検査用プローブにおける接合箇所の品質を向上した検査用プローブの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも一方の先端部に検査用接触部が形成される第１の線材１１０及び第２の線材１２０を接合して構成される検査用プローブの製造方法を、第１の線材と第２の線材の外周面に異なったエネルギ量のレーザ光を照射することによってレーザ溶接し、その後外周面を研磨する構成とする。 （もっと読む）

【課題】測定器の収容およびテストリードの保持を行う際の作業性を向上させる。
【解決手段】測定器を収容する収容部５１の隅部５２ａにおける底壁１１に設けられた第１貫通孔１４ａと側壁１２に設けられた第２貫通孔１４ｂとで測定器に接続されたテストリードのケーブルを挿通可能な挿通孔１４が形成された本体部２と、一端部３ａが挿通孔１４に近接した状態で底壁１１の外面１１ｂに立設されてケーブルを巻き付け可能な巻き付け部３とを備え、巻き付け部３は、側面３ｃの一端部３ａ側から側面３ｄの他端部３ｂ側に向けて形成された切り欠き３ｅによって分割された第１巻き付け部２１および第２巻き付け部２２を備えると共に両側面３ｃ，３ｄ間を斜めに横断する状態でケーブルを切り欠き３ｅ内に配置可能に構成され、側壁１２の外面１２ｂにおける第２貫通孔１４ｂの縁部と切り欠き３ｅとの間に案内溝１５が形成されている。 （もっと読む）

【解決手段】 本発明は、平面構造物（３８）と電気的に接触するための接触側端部（１６）と、ケーブル、特に同軸ケーブルに接続するためのケーブル側端部（１２）、特に同軸ケーブル側端部とを有し、接触側端部（１６）とケーブル側端部（１２）との間に、少なくとも２つの導体（１８，２０）、特に３つの導体を有する共平面導体構造物が配設され、共平面導体構造物（１８，２０）に対して、ケーブル側端部（１２）と接触側端部（１６）との間の所定区間にわたって共平面導体構造物（１８，２０）を支持する誘電体（２４）が片側または両側に配設され、共平面導体構造物の導体（１８，２０）が空間内で自由に、支持誘電体（２４）に対して懸架された状態で配設されるように、誘電体（２４）と接触側端部（１６）との間にテストプロッドが設計され、平面構造物（３８）との接触時に平面構造物（３８）に面するテストプロッドの片側（３２）には、誘電体（２４）と接触側端部（１６）との間で、空間内で自由に、支持誘電体（２４）に対して懸架された状態で配設された共平面導体構造物（１８，２０）の領域（２６）へとシールドエレメント（３４）が延出するように、シールドエレメント（３４）が配設および設計される、高周波測定用のテストプロッドに関する。
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【課題】測定用機器のリード端子またはリード線と、配電盤における所望の端子台ネジとを、容易かつ確実に接続すること。
【解決手段】支点部１０３において回動可能に連結され、支点部１０３を支点として揺動可能に設けられた一対のクリップ片１０１、１０２と、一対のクリップ片１０１、１０２における一端部１０１ａ、１０２ａどうしが当接するように一対のクリップ片１０１、１０２を付勢する付勢部材１０４と、一方のクリップ片１０１の他端部１０１ｂに設けられ、リード端子２０１またはリード線１１０２を保持可能な接続部１０５と、一方のクリップ片１０１の一端部１０１ａに設けられ、接続部１０５に対して電気的に接続された端子部１０７と、他方のクリップ片１０２に設けられ、当該他方のクリップ片１０２における少なくとも配電盤が備えた端子台ネジに接触する部分を絶縁する絶縁部１０８と、を備えた測定用クリップ１００を構成した。 （もっと読む）

【課題】端子部を不必要に露出させることなく、計測対象物に接触させることができるようにして、効率のよい、また、容易な計測作業を実現することのできる計測プローブを提供すること。
【解決手段】電気的特性を計測する計測器に接続されて計測対象物に接触させる電極端子部６４を備える計測プローブであって、前記電極端子部は、把持部１３の先端から突出されて概略円筒形状のカバー部材１４内に内装されており、カバー部材は、離隔方向にスプリング１７で付勢されている外装部材１６を内装部材１５に外装させることにより電極端子部を内装状態にするとともに、その外装部材の底部１６ａにその電極端子部を露出可能に開口する突出穴１６ｈが形成されている。 （もっと読む）

【課題】広帯域にわたってプローブ自身が被測定対象に対して影響を与えずに被測定対象の信号を正確に伝送する波形測定装置用のプローブを実現することにある。
【解決手段】被測定対象の電気信号を波形測定装置に伝送するプローブに改良を加えたものである。本プローブは、被測定対象に電気的に接続され、ゲインの周波数特性をもつ先端部と、先端部からの電気信号を伝送するケーブル部と、ケーブル部からの電気信号を入力端子から入力し、先端部のゲインの周波数特性を補償して出力端子から波形測定装置に出力するアンプ部とを有する。そしてアンプ部は、負入力端子への電気信号が直流的には絶縁され出力端子がアンプ部の出力端子に接続されるオペアンプを有する反転増幅回路と、アンプ部の入力端子と出力端子との間に直列に接続された抵抗と、直列に接続された抵抗同士の接続点の電圧に基づいて、反転増幅回路のオペアンプの負入力端子に入力バイアス電流を出力するバイアス回路とを備えたことを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】遅延時間を調整することが可能なプローブを提供すること。
【解決手段】第１プローブ部１０Ａおよび第２プローブ部１０Ｂは、第１内部導体１１と第２内部導体２１との電気的接続、第１外部導体１３と第２外部導体２３との電気的接続、第１内部導体１１および第２内部導体２１と第１外部導体１３および第２外部導体２３との絶縁を保持した状態で、第１プローブ部１０Ａと第２プローブ部１０Ｂとを互いに挿入するための複数の空間が設けられた調整領域を有する。 （もっと読む）

プローブブロックアセンブリは、ブロックと、そのブロック中に挿入された複数のプローブと電気的に導通するよう構成された同軸コネクタを末端とするケーブルとを含む。この同軸コネクタは、ブロックの開口部に挿入可能な第１プローブに分離可能に接続するよう構成され、ブロックから絶縁されたコネクタ信号接触部と、ブロック内に挿入された１本以上の第２プローブを共通接地するよう構成された弾力性接地ビームとを含む。 （もっと読む）

【課題】プローブの位置精度を保った状態で構造を簡素にしてコスト低減を図る。
【解決手段】本発明のプローブは、１本の線材から構成され、その先端側に設けられた、被検査体の電極部に電気的に接触する針先部と、その中央部分に設けられた、前記針先部に続く針中央部と、その後端側に設けられた、前記針中央部に続く針後部とを備えて構成されたプローブである。前記針後部が基板側に固定されて前記針中央部を支持し、前記針中央部が、弾性を有しかつ一回転以上の環状をなして前記針先部を弾性的に支持すると共に、前記基板側の電極に電気的に接触する。また、被検査体の複数の電極部にそれぞれ電気的に接触して検査するプローブカードに前記プローブを用いる。 （もっと読む）

【課題】プローブから計測機器の間に測定信号にノイズの影響を出難くしたこと。
【解決手段】検査対象の電子機器１の信号端子２に弾接する検出端部１０ａを有し、反対側の出力端部１０ｂから電子機器１の信号端子２から得た信号を測定装置３側に出力すると共に、その検出端部１０ａ及び出力端部１０ｂを除き、その外周の長さ方向に絶縁層１１を形成してなるプランジャー１０を、カバー体１３によってその長さ方向にのみ摺動自在とし、かつ、プランジャー１０とカバー体１３との間に配設したスプリング１４によって、電子機器１の信号端子２にプランジャー１０の測定端を弾接させ、電気信号をプランジャー１０のみを介して測定装置３側に出力する。このとき、プランジャー１０の外周の長さ方向に絶縁層１１を形成しているので、電子機器１の信号端子２から得られた信号に他の部分から入り込む信号を排除できる。また、スプリング１４等の部品がプランジャー１０と通電し、共振周波数が発生することがない。 （もっと読む）

【課題】インピーダンスの変化を抑制すると共に外来ノイズを拾い難い構造とする。
【解決手段】フレキシブル・フラット・ケーブル（３０）の導体を用い、被測定物に対する接触部（３３）の裏面にも第２絶縁フィルム（３ｅ）があり且つシールド箔（４１）がある。
【効果】例えばマイクロストリップライン構造の被測定物に接触させるのに好適である。被測定物に対する接触部（３３）においてもインピーダンスの変化を抑制できると共に外来ノイズを拾い難くすることが出来る。 （もっと読む）

【課題】 集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。
【解決手段】 プローブカードは、印刷回路基板（ＰＣＢ）及びＰＣＢに結合されたプローブリングを含む。プローブカードは、更に、ＰＣＢ及びプローブカードへと結合された複数のプローブ、及びそれぞれ複数のプローブと関連する複数のチューブを含む。各チューブは、チューブが関連するプローブの少なくとも一部を包囲するように構成される。各チューブは、内側の誘電性の部分と外側の導電性部分とを含む。各チューブの導伝性部分はＰＣＢへと電気的に結合される。 （もっと読む）

【課題】所望の位置に測定用プローブを正確かつ容易に接触させる。
【解決手段】信号ケーブル３２が接続された接触子３１ａを有するテストプローブ４，４（測定用プローブ）を介して測定対象体１００に測定用信号Ｓ４を出力して電気的パラメータを測定する測定部１１と、測定部１１を制御する制御部１５とが本体部２（測定装置本体）内に配設された絶縁抵抗計１（測定装置）であって、測定開始スイッチ２３、および測定開始信号Ｓ１を出力する信号出力部１２を備えて一方のテストプローブ４に配設されると共に測定開始スイッチ２３が操作されたときに測定開始信号Ｓ１を接触子３１ａに印加するプローブ側操作部３と、測定開始信号Ｓ１を検出可能に構成されて本体部２内に配設されると共に測定開始信号Ｓ１を検出したときに検出信号Ｓ２を出力する信号検出部１２とを備え、制御部１５は、検出信号Ｓ２が出力されたときに測定用信号Ｓ４の出力を開始させる。 （もっと読む）

【課題】 低コストで高周波への対応が容易で分圧比の調整が可能なプローブを実現する。
【解決手段】 プローブ入力信号を分圧回路で分圧し可変利得増幅回路で増幅した後に同軸ケーブルを介してプローブ出力信号として出力するプローブにおいて、プローブ入力信号が一端に供給される第１の抵抗と、この第１の抵抗の他端に一端がそれぞれ接続され他端から分圧した出力を可変利得増幅回路の入力端子に供給する第２の抵抗及び第１の容量と、可変利得増幅回路の入力端子に一端が接続された第２の容量と、可変利得増幅回路の入力端子に一端が接続され他端が接地された低周波信号の分圧比を調整する第１の可変抵抗手段と、第２の容量の他端に一端が接続され他端が接地された高周波信号の分圧比を調整する第２の可変抵抗手段とから構成された分圧回路を設ける。 （もっと読む）

【課題】 多数のプローブを被検査基板の検査点に接触させ、電気信号を授受し、基板に形成された配線の導通、短絡の有無を検査し、配線の抵抗値を測定するための、多針式基板検査装置、基板検査治具及びその製造方法の提供。
【解決手段】 被検査基板の検査点に線状のプローブの一端を接触させ、検査信号を授受することにより配線の導通や短絡等の検査を行う基板検査装置において、複数のプローブの一端を被検査基板の検査点に接触させ、他端を電極に接触させるプローブ保持体と、演算・制御装置と導通接続されるとともに、プローブの他端と導通接触する電極を複数有し、プローブ保持体と組み合わせられる電極板とを備え、電極は、電極板の表面と面一かつ同心に形成される導電性の内径部と外径部を有し、内径部は、一端が前記プローブと接触し、他端が演算・制御装置と導通接続され、電極板は、外径部及び内径部と嵌合する段付貫通孔を有していることを特徴とする。 （もっと読む）