【課題】測定対象物の周波数特性から推定した等価回路の素子定数に誤差があったときに、この誤差を無くすためにいずれの素子定数をどのように変化させればよいかということを測定者が判断する必要が無く、簡便な操作で正確な素子定数を得ることができる等価回路解析装置を提供する。
【解決手段】等価回路解析装置１は、タッチパネル１０と、ＤＵＴ９０の複素インピーダンスの周波数特性を測定して、タッチパネル１０にグラフで表示させる測定部２と、ＤＵＴ９０の周波数特性に基づいて等価回路の各素子定数を推定する推定部３と、等価回路の周波数特性を算出してそのグラフ及び各素子定数を表示させる理論特性演算部５と、タッチパネル１０に表示されている等価回路のグラフの部位に接触してから、その接触位置をタッチパネル上で移動させる移動操作に対応させて、等価回路の素子定数を変更する素子定数変更処理部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】測定対象物に対する等価回路の近似の度合いを、定量的に表すことができる等価回路解析装置及び等価回路解析方法を提供する。
【解決手段】等価回路解析方法は、測定対象物の複素インピーダンスの周波数特性を測定する測定ステップＳ１と、測定ステップＳ１で測定した該測定対象物の周波数特性に基づいて、複数の電気素子を組み合わせた所定の等価回路の各素子定数を推定する推定ステップＳ２と、等価回路の理論的な複素インピーダンスの周波数特性を演算する理論特性演算ステップＳ３と、測定ステップＳ１で測定した測定対象物の周波数特性と理論特性演算ステップＳ３で演算した等価回路の周波数特性との近似の度合いを示す評価値を演算する残差２乗平均演算ステップＳ４及び残差演算ステップＳ５とを備える方法である。 （もっと読む）

【課題】受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法は、抵抗、インダクタ、キャパシタのうちの２つ以上を含むフィルタが内蔵された印刷回路基板に交流電源を印加する工程と、印加された交流電源に対するフィルタの特性を測定する工程と、測定されたフィルタの特性と設計値を比較して印刷回路基板に異常があるか否かを判断する工程と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】測定系の特性が変わっても効率よく相対補正係数を決定することができる電子部品の電気特性測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象の電子部品に近い特性を持つ少なくとも１つの補正データ取得試料以外の補正データ取得試料について基準測定治具と第１の測定治具とで電気特性を測定した結果６１，６２，６４，６５，６６と、測定対象の電子部品に近い特性を持つ補正データ取得試料について第２の測定治具と基準測定治具とで測定した結果７３とに基づいて、第２の試験測定治具で測定した結果から基準測定治具で測定した電気特性を算出する数式８０の相対補正係数を決定する。電子部品を第２の試験測定治具で測定し、相対補正係数を用いて、基準測定治具で測定した電気特性を算出する。 （もっと読む）

本発明は、電子システムまたは電気機械システムの識別方法であって、前記システムに対する入力として少なくとも1つのノイズ信号(u)を印加するステップと、前記システムの出力信号を1ビットのアナログデジタルコンバータに印加するステップと、前記コンバータの出力端で信号を取得するステップと、前記システムのインパルス応答の推定


を遂行するための手段を利用して、前記システムの出力の推定を実行するステップであり、前記インパルス応答の推定


が、前記コンバータの前記出力端における前記信号と前記ノイズ信号との間の少なくとも1つの相関項をそれぞれ含む所与の基準(J)の複数のnh個の要素(J₀、...、J_i、...、J_nh-1)の反復計算を含むステップとを含む方法に関する。
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【課題】電力変換装置の実態に即したノイズ源を与えることで、ノイズフィルタの減衰特性の測定精度を向上させるようにする。
【解決手段】トラッキングジェネレータ１１とスペクトラムアナライザ１２との間にノイズフィルタ１８を介在させることなく、コンデンサ１５を介してトラッキングジェネレータ１１とスペクトラムアナライザ１２とを接続することで、ノイズフィルタ１８がない時の出力電圧Ｖ₁をスペクトラムアナライザ１２にて測定した後、トラッキングジェネレータ１１とスペクトラムアナライザ１２との間にコンデンサ１５を介してノイズフィルタ１８を接続することで、ノイズフィルタ１８がある時の出力電圧Ｖ₂をスペクトラムアナライザ１２にて測定し、ノイズフィルタ１８がない時の出力電圧Ｖ₁と、ノイズフィルタ１８がある時の出力電圧Ｖ₂との比を求める。 （もっと読む）

【課題】ＬＳＩの外部から効率的にＬＳＩ内部のコンデンサの容量を測定する。
【解決手段】コンデンサ容量測定回路は、容量測定対象であるコンデンサに接続された接続点の電圧と、基準電圧とを比較して比較結果を出力するコンパレータ回路と、コンデンサに供給されるコンデンサ充電電流をミラーリングするカレントミラー回路を有し、外部のＬＳＩテスタから、ＬＳＩの有する外部入出力端子を介して基準電圧及びコンデンサ充電電流を入力すると共に、比較結果及びコンデンサ充電電流を外部入出力端子を介して外部のＬＳＩテスタに出力するものである。 （もっと読む）

【課題】 デバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明はデバイスの動特性を検査する方法として具現化される。その検査方法は、デバイスに入力信号を与える工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えている。その検査方法では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。 （もっと読む）

【課題】ポート間で信号の漏洩がある治具を用いても、精度の良い相対補正が可能である測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】独立ポート１、２について、ポート間の信号の漏洩を無視して試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第１の数式を決定する。非独立ポート３、４と独立ポート１、２とが電気的に接続されたスルーデバイスを基準治具と試験治具に実装し、独立ポート及び非独立ポートについて測定し、第１の数式を用い、ポート間の信号の漏洩を考慮して非独立ポート３、４について試験治具測定値と基準治具測定値とを関連付ける第２の数式を決定する。任意の電子部品を試験治具に実装した状態で非独立ポートについて電気特性を測定し、第２の数式を用いて基準治具測定値を算出する。 （もっと読む）

【課題】低コストで、しかも短時間で基板の検査を実施し得る基板検査装置を提供する。
【解決手段】基板１０に実装または形成されたフィルタ１１について予め規定された４つの周波数に試験信号Ｓ１の周波数を設定してフィルタ１１に供給する試験信号供給部２と、試験信号Ｓ１が供給されているときにフィルタ１１を通過して出力される出力信号Ｓ２のレベルを測定する測定部３と、フィルタ１１について４つの周波数に対応して予め規定された良否判別用データＤ２と測定部３によって測定された各周波数における出力信号Ｓ２の各測定データＤ１とを比較してフィルタ１１の良否を判別する制御部４とを備えている。 （もっと読む）

【課題】電子部品の特性を簡単にかつ正確に安定して測定できる手段を提供する。
【解決手段】特性評価用フィルタモジュール１は、評価対象のＳＡＷフィルタ３を実装しかつ入力側及び出力側コネクタ４，５を一体に結合した配線基板２を有する。配線基板の配線パターンは、スロット１２，１４により分割した配線部分１１ａ，１１ｂ，１３ａ，１３ｂからなる直線状の入力側及び出力側配線１１，１３と、それらの側方に僅かな距離で離隔して配置した接地側配線１５，１６，２１，２２とからなる。入力側及び出力側の配線部分同士の間及びそれらと隣接する接地側配線との間を選択してコイル又はコンデンサで直接接続することにより、所望のインピーダンスマッチング回路を構成する。 （もっと読む）

【課題】位相校正された信号源を直接は適用できない高周波数帯域の振幅測定データを用いて、１つの帯域における複数の周波数の複数の信号を一度に測定する測定装置が含むアナログ信号パスを等化にするフィルタを求める。
【解決手段】正弦波信号源を正確なパワーメータと共に用いて、周波数が所望の周波数帯域に渡ってステップ状に変化する入力信号を、振幅を正確に測定しながらアナログ信号パスに供給する。アナログ信号パスの出力信号をデジタル化し、得られる周波数の振幅を算出する。得られたパワーメータの結果を測定装置で測定した周波数の振幅から差し引いて、アナログ信号パスの振幅応答を求める。所望の周波数帯域が最小位相であるとの仮定に基いて、ヒルベル変換を用いて対応する位相応答を求める。振幅応答及び位相応答から、アナログ信号パスを等化にする逆特性のデジタル等化フィルタを設計できる。 （もっと読む）

【課題】被測定物から出力される変調信号に基づいて、被測定物内の特定箇所の網特性を解析する。
【解決手段】
被測定物の網特性を解析する方法は、前記被測定物に基準変調信号を印加するか、変調信号が印加される時の前記被測定物の出力信号から基準変調信号を生成し、前記被測定物の出力信号から、前記出力信号の各成分を生成し、前記基準変調信号から、前記基準変調信号の各成分を生成し、前記出力信号の成分と対応する前記基準変調信号の成分とに基づいて、前記被測定物の網特性を解析する。 （もっと読む）

【課題】 補正精度を向上することができる、測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】 試験治具２６と基準治具１６とで、相対補正データ取得用試料を測定し、試験治具２６での測定値から基準治具１６での測定値の推定値を算出するための第１の数式を求める。周波数ごとに、試験治具２６と基準治具１６とで、残留誤差補正データ取得用試料を測定し、第１の数式を用いて算出した基準治具１６での測定値の推定値に含まれる誤差を算出するための第２の数式を求める。任意の電子部品について、試験治具２６で測定し、試験治具２６での測定値から第１の数式を用いて基準治具１６での測定値の推定値を算出し、この推定値を第２の数式を用いて補正する。第２の数式は多項式又は有理式である。 （もっと読む）

【課題】π型インピーダンス回路網の各インピーダンス素子のインピーダンスを精度よくかつ簡単に測定できるインピーダンス測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】入力端子と出力端子間に前記第１インピーダンス素子が接続され、入力端子と接地端子間に第２インピーダンス素子が接続され、出力端子と接地端子間に第３インピーダンス素子が接続されたπ型インピーダンス回路網Ａのインピーダンスを測定する方法であって、伝送特性および反射特性の測定が可能な測定器１０にπ型インピーダンス回路網Ａを接続し、π型インピーダンス回路網の伝送特性（Ｓ₂₁またはＳ₁₂）および反射特性（Ｓ_11, Ｓ₂₂）を測定する。測定された伝送特性（Ｓ₂₁またはＳ₁₂）および反射特性（Ｓ_11, Ｓ₂₂）から第１インピーダンス素子１のインピーダンスＺ_dut および第２，第３インピーダンス素子２，３のインピーダンスＺ_C1，Ｚ_C2を算出する。 （もっと読む）

【課題】 標準試料の測定を減らすことできる、測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】 試験治具と基準治具とに実装した状態で、対応する少なくとも１つのポート（以下、「特定ポート」という。）について、少なくとも３種類の補正データ取得用試料５０，５２，５４をそれぞれ測定し、特定ポートについて試験治具及び基準治具の測定値を関係付ける第１の数式を決定する。試験治具と基準治具とに実装した状態で、特定ポートと他のポートとの間を接続する補正データ取得用スルーデバイス４６，４８をそれぞれ測定し、他のポートについて試験治具及び基準治具の測定値を関係付ける第２の数式を決定する。任意の電子部品を試験治具に実装した状態で測定し、第１の数式と第２の数式とを用いて、当該電子部品を基準治具に実装して測定したならば得られるであろう電子部品の電気特性の推定値を算出する。 （もっと読む）