【課題】サンプル装置の平均値を算出する動作を検証する。
【解決手段】トリガ毎に被測定信号の値を指定された平均化期間の間平均化して出力するサンプル装置における、平均化期間の長さを検出する検出装置であって、周期信号をサンプル装置に供給する周期信号供給部と、周期信号に対して位相が異なる複数のトリガをサンプル装置に供給するトリガ供給部と、複数のトリガに応じてサンプル装置が出力する周期信号の複数の平均値に基づいて、平均化期間が周期信号の周期であるか否かを判定する判定部と、を備える検出装置、測定装置、および検出方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】発振周波数可変域の異なる複数の電圧制御発振器を有する局部発振信号発生装置を検査するための検査方法であって、安価な半導体検査装置を用いて実現可能であり且つ検査効率のよい検査方法を提供する。
【解決手段】発振周波数可変域の異なる複数の電圧制御発振器１＿１〜１＿ｎを有する局部発振信号発生装置を検査するための検査方法であって、前記複数の電圧制御発振器１＿１〜１＿ｎの各発振周波数可変域の上端周波数及び下端周波数のうち一部のみ（例えばｆ_A，ｆ_B）を探索し、その探索結果を用いた演算によって得られた周波数ポイント（例えばｆ_D）の正常発振の有無を判定することにより、発振周波数可変域が隣接する電圧制御発振器同士において発振周波数可変域が規定以上重複していることを検査する検査方法。 （もっと読む）

【課題】 周波数変換部や高速な位相復調部を用いることなく、簡単な構成で精度の高い測定ができるようにする。
【解決手段】 標本化部２１は、第１のメモリ２４と第２のメモリ２６に対する基準信号Ｓｒと被測定信号Ｓｘのサンプル値の記憶処理を、クロック信号Ｃｓの周期の複数Ｍ倍より長い所定周期でＭ個ずつ間欠的に行う。演算部２０は、第１のメモリ２４と第２のメモリ２６へのＭ個ずつのサンプル値の記憶が完了した時点から次のＭ個ずつのサンプル値の記憶が開始されるまでの間に、記憶が完了した最新のＭ個ずつのサンプル値に基づいて、基準信号Ｓｒに対する被測定信号Ｓｘの周波数安定度の評価演算に必要な評価サンプル値を算出し、その評価サンプル値から長期または短期の周波数安定度の評価演算を行う。 （もっと読む）